JP2006064637A - プリント基板の検査用治具 - Google Patents

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川 英 哉 吉
Kunihiko Azeyanagi
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Abstract

【課題】 プリント基板の抜き不具合を確実に発見することができる検査用治具を提供すること。
【解決手段】 多数の接触プローブ２が絶縁体３１，３２により支持されてなり、前記接触プローブを繰り出してプリント基板１の面に当接させると前記プリント基板の表面構造に応じて前記接触プローブ相互間が接続または非接続状態となることにより電気的検査を行う検査治具において、前記プリント基板における抜き加工部分に対応して少なくとも２本の検知プローブ２ａ，２ｂを設け、前記検知プローブの繰り出し方向の前記抜き加工部分に対応する位置に導電体５を設けた、ことを特徴とするプリント基板の検査治具。
【選択図】 図１

Description

本発明は、電子機器に使用されるプリント基板の外形加工検査のための治具に関わり、とくに抜き加工個所を電気的手法で検査する治具に関する。
この種のプリント基板は、装着対象である電子機器の形状に基いて外形加工される。通常、外形加工は金型を用いた打抜きにより行う。この場合、金型の摩耗等により打抜き部分が完全に打抜かれずに残ってしまうことがある。この抜き不具合があると、部品実装時の障害になったり電子機器に正常に装着できなかったりする問題が生じるため、除去されなければならない。
そこで、従来、目視による検査を行い、抜き不具合を発見することとしている。
特開昭60-1574号公報
しかしながら、人の検査は種々の不具合を発見することができる反面、ときには見落としもある。金型に起因する抜き不具合の場合は、不具合が連続的に発生するから異常と判別できずに見落としが出易い。
本発明は上述の点を考慮してなされたもので、プリント基板の抜き不具合を確実に発見することができる検査用治具を提供することを目的とする。
上記目的達成のため、本発明では、
多数の接触プローブが絶縁体により支持されてなり、前記接触プローブを繰り出してプリント基板の面に当接させると前記プリント基板の表面構造に応じて前記接触プローブ相互間が接続または非接続状態となることにより電気的検査を行う検査治具において、前記プリント基板における抜き加工部分に対応して少なくとも２本の検知プローブを設け、前記検知プローブの繰り出し方向の前記抜き加工部分に対応する位置に導電体を設けた、ことを特徴とするプリント基板の検査治具、
を提供するものである。
本発明は上述のように、プリント基板の抜き加工部分に少なくとも2本の接触プローブを設けるとともに、このプローブの繰り出し先に導電体を設けたため、抜き加工部分では接触プローブが導通する筈のところ、抜き不具合があれば不導通となり、確実に発見することができる。したがって、回路パターンの断線、短絡の検査と同時に抜き加工部分の検査を行うことができる。
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図３は、本発明の基礎となる従来の検査装置の構成を示したものである。この検査装置は、プリント基板の端子の導通、不導通検査に用いられている。これは、プリント基板１の上下から接触プローブ２を当接させるもので、上下の接触プローブ２の群をそれぞれ絶縁板３１，３２に支持させておき、プリント基板１の端子部に当接させて通電し、断線、短絡を検知するものである。
そして、プリント基板１の打抜き部分は、銅箔が除去されているのが通例である。したがって、プリント基板１の打抜きが正しく行われなかったとき、当該部分に接触プローブを当接させれば、不導通となる。これを前提に、打抜きが正しく行われたときは、接触プローブを当接させると導通するようにすれば、接触プローブを用いて打抜きの良否判定を行うことができることになる。
図１は、本発明の一実施例における一検査状態を示す側面図である。この実施例は、図１に示すように、図３に示した端子検査装置の基本構造を利用したもので、プリント基板１の上下両方向から接触プローブ２に相当するプローブを当接させる点は図３に示した構造と同様である。
この図１の実施例の特徴は、一方の絶縁板３１におけるプリント基板１の打抜き穴４に対応する部分に導電体５を貼付等により設けるとともに、この導電体５に当接するように、接触プローブ２と同様の構造を持つ検知プローブ２ａ，２ｂを設ける点である。
図１では、プリント基板１の打抜き作業が正しく行われて打抜き穴４が形成されている。このため、検知プローブ２ａ，２ｂは、導電体５に当接して検知プローブ２ａ，２ｂ間が導通する。これにより、検知プローブ２ａ，２ｂに接続された検査装置(図示せず)は、打抜き作業が正しく行われて打抜き穴４が形成されていると判定する。
図２は、本発明の一実施例における他の検査状態を示している。この場合、プリント基板１は、正しく打抜きが行われなかった結果、基板材料１ａが残っており打抜き穴が形成されていない。
したがって、検知プローブ２ａ，２ｂはプリント基板１に当接した状態で留まり、導電体５まで到達しないから検知プローブ２ａ，２ｂ間が不導通となる。これにより、検知プローブ２ａ，２ｂに接続された検査装置は、打抜き作業が正しく行われていないと判定する。
本発明の一実施例の一検査状態を示す側面図。 同実施例の他の検査状態を示す側面図。 従来のプリント基板検査装置の構造を示す側面図。
符号の説明
１ プリント基板、１ａ プリント基板材料、２ 接触プローブ、
２ａ，２ｂ 検知プローブ、３１，３２ 絶縁板、４ 打抜き穴、
５ 導電体。

Claims (3)

  1. 多数の接触プローブが絶縁体により支持されてなり、前記接触プローブを繰り出してプリント基板の面に当接させると前記プリント基板の表面構造に応じて前記接触プローブ相互間が接続または非接続状態となることにより電気的検査を行う検査治具において、
    前記プリント基板における抜き加工部分に対応して少なくとも２本の検知プローブを設け、
    前記検知プローブの繰り出し方向の前記抜き加工部分に対応する位置に導電体を設けた、
    ことを特徴とするプリント基板の検査治具。
  2. 請求項1記載のプリント基板の検査治具において、
    前記検知プローブは、前記プリント基板の両面から繰り出される構造であることを特徴とするプリント基板の検査治具。
  3. 請求項１記載のプリント基板の検査治具において、
    前記導電体は、前記絶縁体に設けられたことを特徴とするプリント基板の検査治具。
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