JPH0477680A - Ｔａｂテープの検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はＴＡＢテープの検査方法に関し、特に自動的に
ＴＡＢテープ上の配線の断線や短絡並びにリードの位置
ずれを検査するＴＡＢテープの検査方法に関する。

〔従来の技術〕

従来のＴＡＢテープの検査方法は、ＴＡＢテープ上の配
線の短絡に関しては、アウターリードの外側部分の配線
に金属探針状の測定端子を直接接触させ、隣接配線間の
導通状況を測定することにより検査している。かかる測
定方法は、測定端子の接触面積として１００μｍ角以上
を必要とし、接触領域の間隔を１５０μｍ以上にしてい
る。また、ＴＡＢテープ上の配線パターンの自由な位置
に接触領域を設けることは出来ない。

更に、ＴＡＢテープ上の配線の断線に関しては、配線パ
ターン上のメツキの付き具合いなどを判断材料にして目
視で検査している。また、ＴＡＢテープ上のリードの位
置ずれに関しては、ＴＡＢテープの配線パターンのマス
クを作り、そのマスクパターンと同倍率になるようにＴ
ＡＢテープを拡大投影し、両パターンを位置合わせして
から同様に目視により検査している。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のＴＡＢテープの検査方法は、ＴＡＢテー
プ上の配線の短絡しか自動的に測定することが出来ず、
配線の断線並びにリードの位置ずれに関しては、目視検
査となるため、判定基準を均一化するのが非常に困難で
あり、また習熟による検査効率の向上にも限界があるど
う欠点がある。

また、従来の検査方法は、測定端子の接触面積として１
００μｍ角以上の大きさを必要とし、接触領域の間隔も
１５０μｍ以下にすることができず、ＴＡＢテープ上の
配線パターンの自由な位置に接触領域を設けることが出
来ない。従って、接触領域の配置に関する制約が多く、
ＴＡＢテープ上の配線の引き回しの制限があったり、接
触面積を確保するために’Ｔ”　Ａ　Ｂテープ上に測定
専用の領域を設けたりする必要もあり、ＴＡＢテープの
効率的利用を阻害するという欠点かある。

更に、従来の検査方法における測定端子は、微細面積部
分に接触させられるように先端を鋭く加工しであるなめ
、測定時にＴＡＢテープ上の配線を傷つけたり、最悪の
場合は配線を切断してしまうという欠点もある。

本発明の目的は、かかる検査効率の向上と、ＴＡＢテー
プ上の配線引回し制限等の解消および検査の際の配線へ
の損傷の防止等を実現することのできるＴＡＢテープの
検査方法を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のＴＡＢテープの検査方法は、ＴＡＢテープ上の
各パターンのインナーリード先端部とアウターリードの
外側部とを各々独立に異方性導電ゴムを介してテスター
に接続させ、同回路内の接触抵抗を測定し且つ隣接回路
間の接触抵抗を測定することにより、自動的にＴＡＢテ
ープ上の配線の断線・短絡並びにリードの位置ずれを検
知するものである。

また、本発明はＴＡＢテープ上の各パターンのデバイス
接続用ホール周辺部のリードとアウターリードの外側部
とを各々独立に異方性導電ゴムを介してテスターに接続
させ、同回路内の接触抵抗を測定し且つ隣接回路間の接
触抵抗を測定することにより、自動的に前記デバイス接
続用ホールより外側のＴＡＢテープ上の配線の断線や短
絡を検知する一方、前記デバイス接続用ホール内のイン
ナーリード配線パターンを形状認識装置を用いることに
より、インナーリード部分には触れることなくリードの
位置ずれを検知するものである。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図は本発明の第一の実施例を説明するためのＴＡＢ
テープ検査治具の分解斜視図であり、第２図は第１図に
示す検査治具の組合せ部分の縦断面図である。

第１図および第２図に示すように、本実施例はＴＡＢテ
ープ１に形成した配線等を検査するにあたり、上押え９
と上押え１２とを有している。まず、ＴＡＢテープ１は
、接着剤付き１２５μｍｆｆのポリイミド製ベーステー
プ２の中央に形成した矩形状のデバイス接続用ホール３
と、このデバイス接続用ホールの両側に設けた基板実装
用ホール４並びにスプロケットホール５とを金型で打ち
抜き成形した後、３５μｍ厚の圧延銀箔を張り合わせ、
ウェットエッチ方法で配線６を形成したものである。こ
の時、配線６におけるインナーリード先端部７は、リー
ド幅が６０μｍで且つリード間隔が６０μｍになるよう
に形成し、またアウターリード部分より外側部分く以下
、アウターリード外側部と称す）８は、リード幅が１２
５μｍで且つリード間隔が］、　２５μｍになるように
形成する。

また、上押え９は５００μｍ厚のＰＰｓ製ボードを用い
、前述したＴＡＢテープ１のデバイス接続用ホール３よ
りも一回り小さく切断した接着剤付き１２５μｍ厚のポ
リイミド製ベーステープを中央部分に接着して突起１０
を形成する。この上押え９の周囲には、スプロケットホ
ールらと丁度はまるように位置出しされたビン１１を配
置する。

一方、上押え１２も上押え９と同様に５００μｍ厚のＰ
ＰＳ製ボードを用い、ビン１１がスプロケットホール５
を介してはまるように位置だしされた穴１３を周囲に開
けられ、しかも上下方向にのみ導通するように形成され
たシリコーンベースの異方性導電ゴム１６および１７が
それぞれ配線６のピッチに合わせて、インナーリード先
端部７に相対応する位置１４及びアウターリード外側部
８に相対応する位置１５に組み込まれている。

尚、本実施例における異方性導電ゴム１６゜１７の配線
６への接触形状は、位置１４では幅６０μｍ×長さ１５
０μｍ×突起２０μｍ、位置１５では幅１２５μｍ×長
さ１００μｍ×突起２０μｍに形成している。

丈な、第２図に示すように、かかる検査治具の状態は上
押え９のビン１１を基準として、ＴＡＢテープ１並びに
上押え１２を載せ、インナーリード先端部７に相対応す
る位置１４に形成されたインナー側異方性導電ゴム１６
並びにアウターリード外側部８に相対応する位置１５に
形成されたアウター側異方性導電ゴム１７を電線１８．
１９を介してテスター２０に接続したところである。

この状態においては、ＴＡＢテープ１の配線６のうち、
インナーリード先端部分７とインナー側異方性導電ゴム
１６、およびアウターリード外側部８とアウター側異方
性導電ゴム１７は、ＴＡＢテープ１のパターンが正常で
あれば完全に接触するので、異方性導電ゴム１６および
１７を加圧することにより、テスター２０で抵抗を測定
することができ、パターンが正常か否かを検査すること
が出来る。この異方性導電ゴム１６．１７はシリコーン
ゴムベースであるため、弾力性が高く、しかも配線６と
は面接触するため、配線６にダメージを与えることはな
い。

また、インナーリード先端部７が位置ずれしている場合
は、インナーリード先端部７とインナー側異方性導電ゴ
ム１６との間の導通が正常に取れないので、テスター２
０が高抵抗を示し、位置ずれを検知することが出来る。

このリードの位置ずれ量と抵抗値の間には、正相関があ
り、リードずれ量までを推定することが出来る。

さらに、ＴＡＢテープ１の配線６が短絡している場合は
、ある配線６に接続されている電線１８．１９と、隣接
している配線６に接続されている電線１８．１９とが並
列接続される。従って、この抵抗値が低抵抗を示し、テ
スター２０で検知することが出来る。

このように、測定位置を変えることにより、テスター２
０でＴＡＢテープｌの断線や短絡及びリードの位置ずれ
を検査することが出来る。尚、繰り返し異方性導電ゴム
１６．１７をＴＡＢテープ１上の配線６に接触させると
、ゴム表面にゴミ等が転写され、徐々に接触抵抗が高く
なるなめ、数千回に一回の割合で異方性導電ゴム１６．
１７の表面のゴミを粘着シート等に写し取る清掃作業を
行なえば、上述した検査を継続して行なうことができる
。

第３図は本発明の第二の実施例を説明するためのＴＡＢ
テープ検査治具の分解斜視図である。

第３図に示すように、本実施例もＴＡＢテープ１は前述
した第一の実施例で用いたものと同形状のものである。

まず、上押え２１は５００μｍ厚のＰＰＳ製ボードを用
い、ＴＡＢテープ１のデバイス接続用ホール３と相対す
るところに開口部２２を開け、その周囲にＴＡＢテープ
１のスプロケットホール５がはまるように位置だしされ
たビン１１を形成する。また、この上押え２１の下方に
且つ開口部２２の直下にＣＣＤ受光センサー２３を配置
する。

一方、上押え２４も５００μｍ厚のＰＰＳ製ボードを用
い、ビン１１がスプロケットホール５を介してはまるよ
うに位置だしされた穴１３と、ＴＡＢテープ１のデバイ
ス接続用ホール３と相対する個所に開けられた開口部２
５とを形成する。

その開口部２５には、ＴＡＢテープ１のデバイス接続用
ホール３内のリードパターンの実寸ネガマスク２６がは
め込まれる。さらに、上下方向にのみ導通するように形
成されたシリコーンゴムベースの異方性導電ゴム３０お
よび１７が配線６のピッチに合わせて、デバイス接続用
ホール３の周辺部分の配線２７に相対応する位Ｗ２８と
、アウターリード外側部８に相対応する位置１５とに組
み込まれる。また、上押え２４の上方には、リードパタ
ーンの実寸ネガマスク２６の直上に平行光線発光部２９
を配置する。

第４図は第３図に示す検査治具の組合せ部分の縦断面図
である。

第４図に示すように、かかる検査治具の使用にあたり、
上押え２１のビン１１を基準としてＴＡＢテープ１およ
び上押え２４を載せ、デバイス接続用ホール３の周辺部
分の配線２７に相対応する位ｆｆ２８に形成されたデバ
イス接続用ホール周辺異方性導電ゴム３０と、アウター
リード外側部分８に相対応する位１ｔ１５に形成たアウ
ター側異方性導電ゴム１７とを、電線３１．１９を介し
てテスター２０に接続する。また、上押え２１の開口部
２２の直下にＣＣＤ受光センサー２３を取付け、しかも
上押え２４のリードパターンの実寸マスク２６の直上に
平行光線発光部２９を取付け、ＣＣＤ受光センサー２３
を形状認識装置３２に接続する。

ここで、ＴＡＢテープ１の配線６のうち、デバイス接続
用ホール３の周辺配線２７からアウターリード外側部８
抜では、前述した第一の実施例と同じ方法でＴＡＢテー
プ］、の配線６の断線や短絡を検査することが出来る。

本実施例では、デバイス接続用ホール３内のリードパタ
ーン３３を検査するにあたり、平行光線発光部２９から
実寸ネガマスク２６を透過した平行光線をリードパター
ン３３に当て、それによって遮られなかった光だけをＣ
ＣＤ受光センサー２３に照射する。この時、リードパタ
ーン３３があるべき位置からずれて存在していれば、Ｃ
ＣＤ受光センサー２３に光が照射されることになり、形
状認識袋［３２でリード位置ずれを検出することが出来
る。

本実施例では、リードパターン３３に測定端子を触れる
ことなく検査できるため、リードの変形やリードへのゴ
ミを付着等の問題も解消されるどう利点がある。

要するに、上述した二つの実施例によれば、配線パター
ンにまったく制約を設けず、しかも配線に傷・断線等の
ダメージを与える事なく且つ自動的に、ＴＡＢテープの
配線の断線や短絡並びにリードの位置ずれを検査するこ
とが出来る。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明のＴＡＢテープの検査方法
は、電気的検査によりＴＡＢテープの配線の断線や短終
並びにリードの位置ずれを検査することが出来るので、
ＴＡＢテープの検査を自動化出来るという効果がある。

また、本発明は接触端子の設計上の制限が少ないためＴ
ＡＢテープの配線引き回しに全く影響を与えず、しかも
面接触であるため配線にダメージを与える可能性もない
という効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一の実施例を説明するためのＴＡＢ
テープ検査治具の分解斜視図、第２図は第１図に示す検
査治具の組合せ部分の縦断面図、第３図は本発明の第二
の実施例を説明するための検査治具の斜視図、第４図は
第３図に示す検査治具の組合せ部分の縦断面図である。 １・・・ＴＡＢテープ、２・・・ポリイミド製ベーステ
ープ、３・・・デバイス接続用ホール、４・・・基板実
装用ホール、５・・・スプロケットホール、６・・・配
線、７・・・インナーリード先端部、８・・・アウター
リード外側部、９，２１・・・上押え、１０・・・突起
、１１・・・ビン、１２．２４・・・上押え、１３・・
・穴、１４・・・インナーリード対応位置、１５・・・
アウターリード対応位置、１６・・・インナー側異方性
導電ゴム、１７・・・アウター側異方性導電ゴム、１８
，１９．３１・・・電線、２０・・・テスター　２２・
・・開口部、２３・・・ＣＯＤ受光センサー　２５・・
・開口部、２６・・・実寸ネガマスク、２７・・・ホー
ル周辺部配線、２８・・・周辺部配線対応位置、２９・
・・平行光線発光部、３゜・・・デバイス接続用ホール
周辺異方性導電ゴム、３２・・・形状認識装置、３３・
・・リードパターン。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、ＴＡＢテープを上下から押える上押えおよび下押え
   を有し、前記ＴＡＢテープ上の各パターンのインナーリ
   ード先端部およびアウターリードの外側部を各々独立に
   前記上押えに形成した異方性導電ゴムを介してテスター
   に接続させ、前記ＴＡＢテープの電気的測定を行うこと
   を特徴とするＴＡＢテープの検査方法。 ２、ＴＡＢテープ上の各パターンのデバイス接続用ホー
   ル周辺部分のリードおよびアウターリードの外側部を各
   々独立に前記上押えに形成した異方性導電ゴムを介して
   テスターに接続し、電気的に測定する一方、前記デバイ
   ス接続用ホール内のインナーリード配線パターンを形状
   認識装置を用いて測定することを特徴とするＴＡＢテー
   プの検査方法。