JP2540713Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JP2540713Y2 JP2540713Y2 JP1342691U JP1342691U JP2540713Y2 JP 2540713 Y2 JP2540713 Y2 JP 2540713Y2 JP 1342691 U JP1342691 U JP 1342691U JP 1342691 U JP1342691 U JP 1342691U JP 2540713 Y2 JP2540713 Y2 JP 2540713Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- board
- short
- circuit means
- common potential
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、同時に多数のＩＣを
試験するように構成したＩＣ試験装置に関する。
試験するように構成したＩＣ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣは製造される全を試験し、不良品が
出荷されないようにしている。このため同時に多数のＩ
Ｃを試験し、効率よく検査することが要求されている。
このため従来より一度に１６個乃至３２個或は６４個の
ＩＣを同時に試験することができるＩＣ試験装置が用い
られている。
出荷されないようにしている。このため同時に多数のＩ
Ｃを試験し、効率よく検査することが要求されている。
このため従来より一度に１６個乃至３２個或は６４個の
ＩＣを同時に試験することができるＩＣ試験装置が用い
られている。
【０００３】同時に多数のＩＣを試験することができる
ように構成するには、少なくとも同時に試験したい数の
ＩＣ装着用のソケットボードを用意し、各ソケットボー
ドに被試験ＩＣを動作させるための電源を配給しなけれ
ばならない。図２に従来のＩＣ試験装置におけるソケッ
トボードの部分の電気的な接続構造を示す。図中１は共
通の基板となるパフォーマンスボードを示す。パフォー
マンスボード１には試験装置本体２から電源用ケーブル
３の外に多数の信号線用のケーブル（特に図示しない）
が接続され、パフォーマンスボード１を介して多数のソ
ケットボート４Ａ〜４Ｎが試験装置本体３に電気的に接
続される。
ように構成するには、少なくとも同時に試験したい数の
ＩＣ装着用のソケットボードを用意し、各ソケットボー
ドに被試験ＩＣを動作させるための電源を配給しなけれ
ばならない。図２に従来のＩＣ試験装置におけるソケッ
トボードの部分の電気的な接続構造を示す。図中１は共
通の基板となるパフォーマンスボードを示す。パフォー
マンスボード１には試験装置本体２から電源用ケーブル
３の外に多数の信号線用のケーブル（特に図示しない）
が接続され、パフォーマンスボード１を介して多数のソ
ケットボート４Ａ〜４Ｎが試験装置本体３に電気的に接
続される。
【０００４】パフォーマンスボード１と各ソケットボー
ド４Ａ〜４Ｎはリード線５及び６によって接続され、各
ソケットボード４Ａ〜４Ｎが恒温槽（特に図示しない）
の内部に配置され、パフォーマンスボード１が恒温槽の
外部に配置され、リード線５と６とが恒温槽の壁を貫通
して両者間を電気的に接続し、電源供給回路が構成され
る。
ド４Ａ〜４Ｎはリード線５及び６によって接続され、各
ソケットボード４Ａ〜４Ｎが恒温槽（特に図示しない）
の内部に配置され、パフォーマンスボード１が恒温槽の
外部に配置され、リード線５と６とが恒温槽の壁を貫通
して両者間を電気的に接続し、電源供給回路が構成され
る。
【０００５】図に示すリード線５と６は電源供給用のリ
ード線を示すが、本来はその外に多数の信号線が接続さ
れる。リード線７はソケットボード側の共通電位の検出
線を示す。つまりこの検出線７によって被試験ＩＣ側の
共通電位を検出し、この共通電位を基準に被試験ＩＣに
与える試験パターン信号の波高値、及び信号取込時のＨ
論理とＬ論理の判定値とを設定する。
ード線を示すが、本来はその外に多数の信号線が接続さ
れる。リード線７はソケットボード側の共通電位の検出
線を示す。つまりこの検出線７によって被試験ＩＣ側の
共通電位を検出し、この共通電位を基準に被試験ＩＣに
与える試験パターン信号の波高値、及び信号取込時のＨ
論理とＬ論理の判定値とを設定する。
【０００６】
【考案が解決しようとする課題】各リード線５と６はパ
フォーマンスボード１の所要位置から引出されており、
パフォーマンスボード１上の配線パターンにはわずかで
はあるが抵抗ｒが存在する。また各リード線５と６にも
わずかではあるが抵抗ｒが存在する。これらの抵抗が存
在することから、各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電
位には差が生じてしまう欠点がある。
フォーマンスボード１の所要位置から引出されており、
パフォーマンスボード１上の配線パターンにはわずかで
はあるが抵抗ｒが存在する。また各リード線５と６にも
わずかではあるが抵抗ｒが存在する。これらの抵抗が存
在することから、各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電
位には差が生じてしまう欠点がある。
【０００７】この状態を図３に示す。図に示す抵抗ｒは
各リード線５及び６と、パフォーマンスボード１の配線
パターンに存在する抵抗である。この図から明らかなよ
うに例えばソケットボード４Ｃの共通電位点Ｃの電位を
基準電位とすると、他のソケットボード４Ａ，４Ｂ及び
４Ｄ，４Ｅの共通電位点Ａ，Ｂ及びＤ，Ｅは基準電位点
Ｃの電位からずれた電位になる。
各リード線５及び６と、パフォーマンスボード１の配線
パターンに存在する抵抗である。この図から明らかなよ
うに例えばソケットボード４Ｃの共通電位点Ｃの電位を
基準電位とすると、他のソケットボード４Ａ，４Ｂ及び
４Ｄ，４Ｅの共通電位点Ａ，Ｂ及びＤ，Ｅは基準電位点
Ｃの電位からずれた電位になる。
【０００８】従ってソケットボード４Ｃの共通電位点Ｃ
の電位を基準として試験パターン信号の波高値及び信号
取込時にＨ論理レベルとＬ論理レベルの判定値等を設定
すると、基準に採ったソケットボード４Ｃから大きく離
れたソケットボードでは、その各ソケットボードの共通
電位が、基準となるソケットボード４Ｃの共通電位から
大きくズレてしまう欠点が生じる。このために例えば本
来Ｈ論理と判定すべき信号をＨ論理と判定できなかった
りする事故が起きるおそれがあり、信頼性に問題があ
る。
の電位を基準として試験パターン信号の波高値及び信号
取込時にＨ論理レベルとＬ論理レベルの判定値等を設定
すると、基準に採ったソケットボード４Ｃから大きく離
れたソケットボードでは、その各ソケットボードの共通
電位が、基準となるソケットボード４Ｃの共通電位から
大きくズレてしまう欠点が生じる。このために例えば本
来Ｈ論理と判定すべき信号をＨ論理と判定できなかった
りする事故が起きるおそれがあり、信頼性に問題があ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この考案では複数のソケ
ットボードを具備してＩＣ試験装置において、各ソケッ
トボードに近傍して短絡手段を設け、この短絡手段に各
ソケットボードの共通電位点を接続し、短絡手段によっ
て各ソケットボードの共通電位を平準化するように構成
したものである。
ットボードを具備してＩＣ試験装置において、各ソケッ
トボードに近傍して短絡手段を設け、この短絡手段に各
ソケットボードの共通電位点を接続し、短絡手段によっ
て各ソケットボードの共通電位を平準化するように構成
したものである。
【００１０】この考案の構成によれば各ソケットボード
の共通電位が短絡手段によって平準化されるから、どの
ソケットボードに装着したＩＣも正確に試験を行なうこ
とができる。
の共通電位が短絡手段によって平準化されるから、どの
ソケットボードに装着したＩＣも正確に試験を行なうこ
とができる。
【００１１】
【実施例】図１にこの考案の一実施例を示す。図１にお
いて、図２と対応する部分には同一符号を付して示す。
この考案においては複数のソケットボード４Ａ〜４Ｎに
近接して短絡手段８を設ける。短絡手段８は例えばアル
ミ板のように導電性のよい金属板によって構成すること
ができ、この短絡手段８に各ソケットボード４Ａ〜４Ｎ
の各共通電位点Ａ〜Ｎを電気的に接続する。
いて、図２と対応する部分には同一符号を付して示す。
この考案においては複数のソケットボード４Ａ〜４Ｎに
近接して短絡手段８を設ける。短絡手段８は例えばアル
ミ板のように導電性のよい金属板によって構成すること
ができ、この短絡手段８に各ソケットボード４Ａ〜４Ｎ
の各共通電位点Ａ〜Ｎを電気的に接続する。
【００１２】この接続は例えばソケットボード４Ａ〜４
Ｎをフレームに取付るためのビス等を利用して行なうこ
とができる。この考案の構成によれば各ソケットボード
４Ａ〜４Ｎの共通電位に差があったとしても、短絡手段
８の接続によって各ソケットボード間の共通電位はほぼ
等しい状態に合せることができる。つまりソケットボー
ド４Ａ〜４Ｎの共通電位に差がある状態で短絡手段８を
接続した場合、短絡手段８には共通電位相互の電位差に
よる電流が流れる。然し乍らソケットボード４Ａ〜４Ｎ
の共通電位の電位差は本来わずかな電圧であるから短絡
手段８に流れる電流は小さい。然も短絡手段８は導電性
のよい材料で構成するからその電圧降下は小さい。よっ
て各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの相互の共通電位はほぼ
等しいと見ることができる。
Ｎをフレームに取付るためのビス等を利用して行なうこ
とができる。この考案の構成によれば各ソケットボード
４Ａ〜４Ｎの共通電位に差があったとしても、短絡手段
８の接続によって各ソケットボード間の共通電位はほぼ
等しい状態に合せることができる。つまりソケットボー
ド４Ａ〜４Ｎの共通電位に差がある状態で短絡手段８を
接続した場合、短絡手段８には共通電位相互の電位差に
よる電流が流れる。然し乍らソケットボード４Ａ〜４Ｎ
の共通電位の電位差は本来わずかな電圧であるから短絡
手段８に流れる電流は小さい。然も短絡手段８は導電性
のよい材料で構成するからその電圧降下は小さい。よっ
て各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの相互の共通電位はほぼ
等しいと見ることができる。
【００１３】
【考案の効果】上述したように、この考案によれば、各
ソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電位を平準化すること
ができるから、どのソケットボードに装着したＩＣも正
確に試験を行なうことができる。よって信頼性の高いＩ
Ｃ試験装置を提供することができる。
ソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電位を平準化すること
ができるから、どのソケットボードに装着したＩＣも正
確に試験を行なうことができる。よって信頼性の高いＩ
Ｃ試験装置を提供することができる。
【図１】この考案の一実施例を示す接続配置図。
【図２】従来の技術を説明するための接続配置図。
【図３】従来の技術の欠点を説明するための等価回路
図。
図。
１ パフォーマンスボード ２ 試験装置本体 ３ 電源用ケーブル ４Ａ〜４Ｎ ソケットボード ５，６ リード線 ７ 電位検出線 ８ 短絡手段
Claims (1)
- 【請求項１】 共通の基板となるパフォーマンスボード
と、このパフォーマンスボードからリード線を通じて電
源電圧の供給を受け被試験ＩＣに動作電源を与える複数
のソケットボードとを具備して構成されるＩＣ試験装置
において、上記ソケットボードに近接して短絡手段を設
け、この短絡手段に各ソケットボードの共通電位点を接
続し、短絡手段によって各ソケットボードの共通電位点
の電位を平準化するように構成したＩＣ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1342691U JP2540713Y2 (ja) | 1991-03-11 | 1991-03-11 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1342691U JP2540713Y2 (ja) | 1991-03-11 | 1991-03-11 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04110990U JPH04110990U (ja) | 1992-09-25 |
| JP2540713Y2 true JP2540713Y2 (ja) | 1997-07-09 |
Family
ID=31901446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1342691U Expired - Lifetime JP2540713Y2 (ja) | 1991-03-11 | 1991-03-11 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2540713Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5135611B2 (ja) * | 2008-09-30 | 2013-02-06 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | テスト装置 |
-
1991
- 1991-03-11 JP JP1342691U patent/JP2540713Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04110990U (ja) | 1992-09-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970114 |
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