JPH04110990U - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 多数のＩＣを同時に試験するＩＣ試験装置に
おいて、多数のＩＣ装着用のソケットボードの共通電位
を平準化する。 【構成】 複数のソケットボード４Ａ〜４Ｎに近接して
短絡手段８を設け、この短絡手段８に各ソケットボード
の共通電位点を電気的に接続し、各ソケットボードの共
通電位点を相互に短絡して共通電位を平準化する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、同時に多数のＩＣを試験するように構成したＩＣ試験装置に関す る。

【０００２】

【従来の技術】

ＩＣは製造される全を試験し、不良品が出荷されないようにしている。このた め同時に多数のＩＣを試験し、効率よく検査することが要求されている。 このため従来より一度に１６個乃至３２個或は６４個のＩＣを同時に試験する ことができるＩＣ試験装置が用いられている。

【０００３】 同時に多数のＩＣを試験することができるように構成するには、少なくとも同 時に試験したい数のＩＣ装着用のソケットボードを用意し、各ソケットボードに 被試験ＩＣを動作させるための電源を配給しなければならない。 図２に従来のＩＣ試験装置におけるソケットボードの部分の電気的な接続構造 を示す。図中１は共通の基板となるパフォーマンスボードを示す。パフォーマン スボード１には試験装置本体２から電源用ケーブル３の外に多数の信号線用のケ ーブル（特に図示しない）が接続され、パフォーマンスボード１を介して多数の ソケットボート４Ａ〜４Ｎが試験装置本体３に電気的に接続される。

【０００４】 パフォーマンスボード１と各ソケットボード４Ａ〜４Ｎはリード線５及び６に よって接続され、各ソケットボード４Ａ〜４Ｎが恒温槽（特に図示しない）の内 部に配置され、パフォーマンスボード１が恒温槽の外部に配置され、リード線５ と６とが恒温槽の壁を貫通して両者間を電気的に接続し、電源供給回路が構成さ れる。

【０００５】 図に示すリード線５と６は電源供給用のリード線を示すが、本来はその外に多 数の信号線が接続される。リード線７はソケットボード側の共通電位の検出線を 示す。つまりこの検出線７によって被試験ＩＣ側の共通電位を検出し、この共通 電位を基準に被試験ＩＣに与える試験パターン信号の波高値、及び信号取込時の Ｈ論理とＬ論理の判定値とを設定する。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

各リード線５と６はパフォーマンスボード１の所要位置から引出されており、 パフォーマンスボード１上の配線パターンにはわずかではあるが抵抗ｒが存在す る。また各リード線５と６にもわずかではあるが抵抗ｒが存在する。これらの抵 抗が存在することから、各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電位には差が生じて しまう欠点がある。

【０００７】 この状態を図３に示す。図に示す抵抗ｒは各リード線５及び６と、パフォーマ ンスボード１の配線パターンに存在する抵抗である。この図から明らかなように 例えばソケットボード４Ｃの共通電位点Ｃの電位を基準電位とすると、他のソケ ットボード４Ａ，４Ｂ及び４Ｄ，４Ｅの共通電位点Ａ，Ｂ及びＤ，Ｅは基準電位 点Ｃの電位からずれた電位になる。

【０００８】 従ってソケットボード４Ｃの共通電位点Ｃの電位を基準として試験パターン信 号の波高値及び信号取込時にＨ論理レベルとＬ論理レベルの判定値等を設定する と、基準に採ったソケットボード４Ｃから大きく離れたソケットボードでは、そ の各ソケットボードの共通電位が、基準となるソケットボード４Ｃの共通電位か ら大きくズレてしまう欠点が生じる。このために例えば本来Ｈ論理と判定すべき 信号をＨ論理と判定できなかったりする事故が起きるおそれがあり、信頼性に問 題がある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】

この考案では複数のソケットボードを具備してＩＣ試験装置において、各ソケ ットボードに近傍して短絡手段を設け、この短絡手段に各ソケットボードの共通 電位点を接続し、短絡手段によって各ソケットボードの共通電位を平準化するよ うに構成したものである。

【００１０】 この考案の構成によれば各ソケットボードの共通電位が短絡手段によって平準 化されるから、どのソケットボードに装着したＩＣも正確に試験を行なうことが できる。

【００１１】

【実施例】

図１にこの考案の一実施例を示す。図１において、図２と対応する部分には同 一符号を付して示す。 この考案においては複数のソケットボード４Ａ〜４Ｎに近接して短絡手段８を 設ける。短絡手段８は例えばアルミ板のように導電性のよい金属板によって構成 することができ、この短絡手段８に各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの各共通電位点 Ａ〜Ｎを電気的に接続する。

【００１２】 この接続は例えばソケットボード４Ａ〜４Ｎをフレームに取付るためのビス等 を利用して行なうことができる。 この考案の構成によれば各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電位に差があった としても、短絡手段８の接続によって各ソケットボード間の共通電位はほぼ等し い状態に合せることができる。つまりソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電位に差 がある状態で短絡手段８を接続した場合、短絡手段８には共通電位相互の電位差 による電流が流れる。然し乍らソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電位の電位差は 本来わずかな電圧であるから短絡手段８に流れる電流は小さい。然も短絡手段８ は導電性のよい材料で構成するからその電圧降下は小さい。よって各ソケットボ ード４Ａ〜４Ｎの相互の共通電位はほぼ等しいと見ることができる。

【００１３】

【考案の効果】

上述したように、この考案によれば、各ソケットボード４Ａ〜４Ｎの共通電位 を平準化することができるから、どのソケットボードに装着したＩＣも正確に試 験を行なうことができる。よって信頼性の高いＩＣ試験装置を提供することがで きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案の一実施例を示す接続配置図。

【図２】従来の技術を説明するための接続配置図。

【図３】従来の技術の欠点を説明するための等価回路
図。

【符号の説明】

１ パフォーマンスボード ２ 試験装置本体 ３ 電源用ケーブル ４Ａ〜４Ｎ ソケットボード ５，６ リード線 ７ 電位検出線 ８ 短絡手段

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 共通の基板となるパフォーマンスボード
   と、このパフォーマンスボードからリード線を通じて電
   源電圧の供給を受け被試験ＩＣに動作電源を与える複数
   のソケットボードとを具備して構成されるＩＣ試験装置
   において、上記ソケットボードに近接して短絡手段を設
   け、この短絡手段に各ソケットボードの共通電位点を接
   続し、短絡手段によって各ソケットボードの共通電位点
   の電位を平準化するように構成したＩＣ試験装置。