JPH10153635A - エレベータ制御回路基板の試験装置 - Google Patents
エレベータ制御回路基板の試験装置Info
- Publication number
- JPH10153635A JPH10153635A JP8312201A JP31220196A JPH10153635A JP H10153635 A JPH10153635 A JP H10153635A JP 8312201 A JP8312201 A JP 8312201A JP 31220196 A JP31220196 A JP 31220196A JP H10153635 A JPH10153635 A JP H10153635A
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- Japan
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- test
- control circuit
- connector
- terminals
- lead
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- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Maintenance And Inspection Apparatuses For Elevators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来技術は、エレベータの制御定数の測定試
験時に誤って制御回路を電気的に破損させてしまった
り、該測定試験を行う作業員に特別な経験や知識が要求
されたり、制御定数の変更を作業員が一人で行うことが
困難である等の問題点があった。 【解決手段】 エレベータの制御定数測定用の試験装置
を、制御回路基板１上の所定位置に設けられた端子装置
７の複数本の試験端子７Ａ〜７Ｄに結合可能なコネクタ
９と、計測器（デジタルテスタ）８のリード棒８Ａ，８
Ｂにそれぞれ結合可能な接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂ
と、これらの接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂからそれぞれ
導出されてコネクタ９に接続されているリード線１１
Ａ，１１Ｂとによって構成した。
験時に誤って制御回路を電気的に破損させてしまった
り、該測定試験を行う作業員に特別な経験や知識が要求
されたり、制御定数の変更を作業員が一人で行うことが
困難である等の問題点があった。 【解決手段】 エレベータの制御定数測定用の試験装置
を、制御回路基板１上の所定位置に設けられた端子装置
７の複数本の試験端子７Ａ〜７Ｄに結合可能なコネクタ
９と、計測器（デジタルテスタ）８のリード棒８Ａ，８
Ｂにそれぞれ結合可能な接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂ
と、これらの接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂからそれぞれ
導出されてコネクタ９に接続されているリード線１１
Ａ，１１Ｂとによって構成した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、エレベータの制御
回路の制御定数、例えば駆動モータ用過電流検出回路の
過電流設定値などを、電気的に検出する試験に用いられ
る、エレベータ制御回路基板の試験装置に関する。
回路の制御定数、例えば駆動モータ用過電流検出回路の
過電流設定値などを、電気的に検出する試験に用いられ
る、エレベータ制御回路基板の試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の試験装置の従来技術を、図２を
参照しつつ説明する。同図において、符号１で総括的に
示す制御回路基板には、例えばＬＳＩ２Ａ，２Ｂや抵抗
器３Ａ〜３Ｃやトリマ抵抗器４Ａ〜４ＣやＯＰアンプ５
Ａ〜５Ｃやコンデンサ６Ａ〜６Ｃや図示せぬダイオード
やトランジスタなどを配線して構成される、エレベータ
の制御回路が設けられている。そして、エレベータの保
守管理作業のひとつに、このような制御回路の制御定数
（例えば駆動モータ用過電流検出回路の過電流設定値）
を定期的に測定するという試験作業があり、測定結果に
よっては該制御定数の変更が必要な場合もある。
参照しつつ説明する。同図において、符号１で総括的に
示す制御回路基板には、例えばＬＳＩ２Ａ，２Ｂや抵抗
器３Ａ〜３Ｃやトリマ抵抗器４Ａ〜４ＣやＯＰアンプ５
Ａ〜５Ｃやコンデンサ６Ａ〜６Ｃや図示せぬダイオード
やトランジスタなどを配線して構成される、エレベータ
の制御回路が設けられている。そして、エレベータの保
守管理作業のひとつに、このような制御回路の制御定数
（例えば駆動モータ用過電流検出回路の過電流設定値）
を定期的に測定するという試験作業があり、測定結果に
よっては該制御定数の変更が必要な場合もある。
【０００３】かかるエレベータの制御定数の測定試験、
すなわち所望の制御定数の設定値を電気的に検出すると
いう測定試験は、従来、図２に示すような端子装置７や
計測器（デジタルテスタ）８を使用して行われている。
具体的に述べると、駆動モータ用過電流検出回路の過電
流設定値を検出する際には、通常、制御回路基板１上の
所定位置に、複数本の試験端子７Ａ〜７Ｄを有する端子
装置７を設けて、このうちの２本の試験端子７Ａ，７Ｂ
をそれぞれ、抵抗器３Ａおよびトリマ抵抗器４Ａと配線
パターンで接続されている過電流検出用のＯＰアンプ５
Ａの相異なる入力端子に接続する。しかる後、これらの
試験端子７Ａ，７Ｂに、デジタルテスタ８のリード棒８
Ａ，８Ｂをそれぞれ接触させて、ＯＰアンプ５Ａの前記
入力端子間の電圧を計測することにより、駆動モータ用
過電流検出回路に設定されている過電流値が検出できる
ようになっている。
すなわち所望の制御定数の設定値を電気的に検出すると
いう測定試験は、従来、図２に示すような端子装置７や
計測器（デジタルテスタ）８を使用して行われている。
具体的に述べると、駆動モータ用過電流検出回路の過電
流設定値を検出する際には、通常、制御回路基板１上の
所定位置に、複数本の試験端子７Ａ〜７Ｄを有する端子
装置７を設けて、このうちの２本の試験端子７Ａ，７Ｂ
をそれぞれ、抵抗器３Ａおよびトリマ抵抗器４Ａと配線
パターンで接続されている過電流検出用のＯＰアンプ５
Ａの相異なる入力端子に接続する。しかる後、これらの
試験端子７Ａ，７Ｂに、デジタルテスタ８のリード棒８
Ａ，８Ｂをそれぞれ接触させて、ＯＰアンプ５Ａの前記
入力端子間の電圧を計測することにより、駆動モータ用
過電流検出回路に設定されている過電流値が検出できる
ようになっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、建屋に設置
されているエレベータの制御定数の測定試験を行う際に
は、エレベータの主電源や制御電源を投入して制御回路
に電源を供給した状態で試験作業を実施しなければなら
ないが、従来技術においては、試験端子（例えば７Ａ，
７Ｂ）にデジタルテスタ８のリード棒８Ａ，８Ｂを接触
させるときに、誤って両試験端子を短絡させてしまった
り、制御回路基板１上に実装されている他の電子部品の
導電部（例えばＬＳＩ２Ａの端子）にリード棒８Ａや８
Ｂを接触させてしまって、制御回路を電気的に破損させ
てしまう虞があった。また、制御定数を変更する場合に
はトリマ抵抗器等の調整を行う必要があるが、作業員が
一人で、リード棒８Ａ，８Ｂを試験端子に接触させなが
らトリマ抵抗器の調整を行うことは困難なので、制御定
数の変更時には複数の作業員が協力して作業を行わねば
ならないという煩雑さがあった。さらにまた、試験端子
７Ａ〜７Ｄのうちどれにリード棒８Ａ，８Ｂを接触させ
れば制御回路の所定部位間の電圧が計測できるのか、つ
まり所望の制御定数が測定できるのかは、ある程度の経
験と知識を有する作業員でないと正確に特定できないの
で、この種の測定試験を行うことのできる作業員が限定
されてしまうという不具合があった。
されているエレベータの制御定数の測定試験を行う際に
は、エレベータの主電源や制御電源を投入して制御回路
に電源を供給した状態で試験作業を実施しなければなら
ないが、従来技術においては、試験端子（例えば７Ａ，
７Ｂ）にデジタルテスタ８のリード棒８Ａ，８Ｂを接触
させるときに、誤って両試験端子を短絡させてしまった
り、制御回路基板１上に実装されている他の電子部品の
導電部（例えばＬＳＩ２Ａの端子）にリード棒８Ａや８
Ｂを接触させてしまって、制御回路を電気的に破損させ
てしまう虞があった。また、制御定数を変更する場合に
はトリマ抵抗器等の調整を行う必要があるが、作業員が
一人で、リード棒８Ａ，８Ｂを試験端子に接触させなが
らトリマ抵抗器の調整を行うことは困難なので、制御定
数の変更時には複数の作業員が協力して作業を行わねば
ならないという煩雑さがあった。さらにまた、試験端子
７Ａ〜７Ｄのうちどれにリード棒８Ａ，８Ｂを接触させ
れば制御回路の所定部位間の電圧が計測できるのか、つ
まり所望の制御定数が測定できるのかは、ある程度の経
験と知識を有する作業員でないと正確に特定できないの
で、この種の測定試験を行うことのできる作業員が限定
されてしまうという不具合があった。
【０００５】本発明はこのような従来技術の課題に鑑み
てなされたもので、その目的は、エレベータの制御回路
の制御定数の測定試験が、特別な経験や知識を持たない
作業員でも簡単かつ正確に行えるとともに、制御定数の
変更作業が一人でも支障なく行える、エレベータ制御回
路基板の試験装置を提供することにある。
てなされたもので、その目的は、エレベータの制御回路
の制御定数の測定試験が、特別な経験や知識を持たない
作業員でも簡単かつ正確に行えるとともに、制御定数の
変更作業が一人でも支障なく行える、エレベータ制御回
路基板の試験装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、本発明は、エレベータの制御回路が形成されている
基板に、該制御回路の所定部位に接続するための複数本
の試験端子を設け、これらの試験端子と計測器のリード
棒とを導通させて前記制御回路の制御定数を電気的に検
出する試験装置において、前記複数本の試験端子に結合
可能なコネクタと、前記リード棒に結合可能な接続アダ
プタと、この接続アダプタと前記コネクタとを導通せし
めるリード線とを備える構成とした。
め、本発明は、エレベータの制御回路が形成されている
基板に、該制御回路の所定部位に接続するための複数本
の試験端子を設け、これらの試験端子と計測器のリード
棒とを導通させて前記制御回路の制御定数を電気的に検
出する試験装置において、前記複数本の試験端子に結合
可能なコネクタと、前記リード棒に結合可能な接続アダ
プタと、この接続アダプタと前記コネクタとを導通せし
めるリード線とを備える構成とした。
【０００７】本発明による上述した試験装置は、コネク
タを前記複数本の試験端子に結合させ、かつ接続アダプ
タを計測器のリード棒に結合させた状態で、電源を投入
することにより、制御回路の所定部位間の電圧が計測で
きるので、計測器のリード棒を試験端子に接触させるこ
となく、所望の制御定数が測定できる。そして、このよ
うにリード棒を試験端子に接触させる作業が不要となる
ことから、作業中に誤って制御回路を電気的に破損させ
る虞がなくなるとともに、制御定数の変更を作業員が一
人で行うことができる。また、この試験装置は、測定の
対象となる制御定数の種類に応じて、予めコネクタとリ
ード線と接続アダプタとを一体化しておけば、特別な経
験や知識を持たない作業員でも接続個所を間違えること
なく簡単かつ正確に所望の制御定数を測定することがで
きる。
タを前記複数本の試験端子に結合させ、かつ接続アダプ
タを計測器のリード棒に結合させた状態で、電源を投入
することにより、制御回路の所定部位間の電圧が計測で
きるので、計測器のリード棒を試験端子に接触させるこ
となく、所望の制御定数が測定できる。そして、このよ
うにリード棒を試験端子に接触させる作業が不要となる
ことから、作業中に誤って制御回路を電気的に破損させ
る虞がなくなるとともに、制御定数の変更を作業員が一
人で行うことができる。また、この試験装置は、測定の
対象となる制御定数の種類に応じて、予めコネクタとリ
ード線と接続アダプタとを一体化しておけば、特別な経
験や知識を持たない作業員でも接続個所を間違えること
なく簡単かつ正確に所望の制御定数を測定することがで
きる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明によるエレベータ制
御回路基板の試験装置の一実施形態を、図１に基づいて
説明する。なお、図１において、従来技術の説明に用い
た図２と対応する部分には同一符号が付してあるので、
重複する説明は適宜省略する。図１に示す制御定数測定
用の試験装置は、制御回路基板１上の所定位置に設けら
れた端子装置７の複数本の試験端子７Ａ〜７Ｄに結合可
能なコネクタ９と、計測器（デジタルテスタ）８のリー
ド棒８Ａ，８Ｂにそれぞれ結合可能な接続アダプタ１０
Ａ，１０Ｂと、これらの接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂか
らそれぞれ導出されてコネクタ９に接続されているリー
ド線１１Ａ，１１Ｂとによって構成されており、駆動モ
ータ用過電流検出回路の過電流設定値を検出しようとし
ている本実施形態では、コネクタ９の端子９Ａ，９Ｂが
それぞれ試験端子７Ａ，７Ｂに接続されるようになって
いて、各端子９Ａ，９Ｂにそれぞれリード線１１Ａ，１
１Ｂが接続されている。また、リード線１１Ａ，１１Ｂ
のうち少なくともいずれか一方には、この試験装置が適
用される試験内容を記した銘板１２が付設されている。
御回路基板の試験装置の一実施形態を、図１に基づいて
説明する。なお、図１において、従来技術の説明に用い
た図２と対応する部分には同一符号が付してあるので、
重複する説明は適宜省略する。図１に示す制御定数測定
用の試験装置は、制御回路基板１上の所定位置に設けら
れた端子装置７の複数本の試験端子７Ａ〜７Ｄに結合可
能なコネクタ９と、計測器（デジタルテスタ）８のリー
ド棒８Ａ，８Ｂにそれぞれ結合可能な接続アダプタ１０
Ａ，１０Ｂと、これらの接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂか
らそれぞれ導出されてコネクタ９に接続されているリー
ド線１１Ａ，１１Ｂとによって構成されており、駆動モ
ータ用過電流検出回路の過電流設定値を検出しようとし
ている本実施形態では、コネクタ９の端子９Ａ，９Ｂが
それぞれ試験端子７Ａ，７Ｂに接続されるようになって
いて、各端子９Ａ，９Ｂにそれぞれリード線１１Ａ，１
１Ｂが接続されている。また、リード線１１Ａ，１１Ｂ
のうち少なくともいずれか一方には、この試験装置が適
用される試験内容を記した銘板１２が付設されている。
【０００９】次に、この試験装置を使用して駆動モータ
用過電流検出回路の過電流設定値を検出する場合の手順
について説明する。まず、エレベータの制御盤の主電源
を切って、端子装置７にコネクタ９を結合させるととも
に、デジタルテスタ８のリード棒８Ａ，８Ｂにそれぞれ
接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂを結合させる。そして、デ
ジタルテスタ８の図示せぬ電源を投入し、適切なるレン
ジ切替を行った後、前記制御盤の主電源を投入すれば、
過電流検出用のＯＰアンプ５Ａの相異なる入力端子に接
続されている試験端子７Ａ，７Ｂとコネクタ９の端子９
Ａ，９Ｂとが接続されていることから、リード線１１
Ａ，１１Ｂや接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂ等を介して、
デジタルテスタ８によりＯＰアンプ５Ａの前記入力端子
間の電圧が計測でき、それゆえ駆動モータ用過電流検出
回路に設定されている過電流値が検出できる。また、上
述した測定試験の結果、制御定数（過電流設定値）を変
更する必要が生じた場合には、トリマ抵抗器４Ａ等の調
整を行う。
用過電流検出回路の過電流設定値を検出する場合の手順
について説明する。まず、エレベータの制御盤の主電源
を切って、端子装置７にコネクタ９を結合させるととも
に、デジタルテスタ８のリード棒８Ａ，８Ｂにそれぞれ
接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂを結合させる。そして、デ
ジタルテスタ８の図示せぬ電源を投入し、適切なるレン
ジ切替を行った後、前記制御盤の主電源を投入すれば、
過電流検出用のＯＰアンプ５Ａの相異なる入力端子に接
続されている試験端子７Ａ，７Ｂとコネクタ９の端子９
Ａ，９Ｂとが接続されていることから、リード線１１
Ａ，１１Ｂや接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂ等を介して、
デジタルテスタ８によりＯＰアンプ５Ａの前記入力端子
間の電圧が計測でき、それゆえ駆動モータ用過電流検出
回路に設定されている過電流値が検出できる。また、上
述した測定試験の結果、制御定数（過電流設定値）を変
更する必要が生じた場合には、トリマ抵抗器４Ａ等の調
整を行う。
【００１０】このように本実施形態においては、コネク
タ９を端子装置７の試験端子７Ａ〜７Ｄに結合させ、か
つ接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂをデジタルテスタ８のリ
ード棒８Ａ，８Ｂにそれぞれ結合させた状態で、電源を
投入することにより、制御回路の所定部位間の電圧が計
測できるので、リード棒８Ａ，８Ｂを該試験端子に接触
させることなく、所望の制御定数（例えば駆動モータ用
過電流検出回路の過電流設定値）が測定できる。そし
て、本実施形態ではこのように、リード棒８Ａ，８Ｂを
端子装置７の試験端子に接触させる作業が不要となって
いることから、作業中に誤って制御回路を短絡させるな
どの電気的破損事故を起こす危険性が極めて少なく、安
心して測定試験が行えるとともに、制御定数を変更させ
る必要が生じた場合に、その変更作業を作業員が一人で
行えるようになっている。また、本実施形態において
は、測定の対象となる制御定数の種類に応じて、予めコ
ネクタ９とリード線１１Ａ，１１Ｂと接続アダプタ１０
Ａ，１０Ｂとを一体化して試験装置を組み立てておくこ
とにより、特別な経験や知識を持たない作業員であって
も、接続個所を間違えることなく簡単かつ正確に所望の
制御定数が測定できるようになっている。
タ９を端子装置７の試験端子７Ａ〜７Ｄに結合させ、か
つ接続アダプタ１０Ａ，１０Ｂをデジタルテスタ８のリ
ード棒８Ａ，８Ｂにそれぞれ結合させた状態で、電源を
投入することにより、制御回路の所定部位間の電圧が計
測できるので、リード棒８Ａ，８Ｂを該試験端子に接触
させることなく、所望の制御定数（例えば駆動モータ用
過電流検出回路の過電流設定値）が測定できる。そし
て、本実施形態ではこのように、リード棒８Ａ，８Ｂを
端子装置７の試験端子に接触させる作業が不要となって
いることから、作業中に誤って制御回路を短絡させるな
どの電気的破損事故を起こす危険性が極めて少なく、安
心して測定試験が行えるとともに、制御定数を変更させ
る必要が生じた場合に、その変更作業を作業員が一人で
行えるようになっている。また、本実施形態において
は、測定の対象となる制御定数の種類に応じて、予めコ
ネクタ９とリード線１１Ａ，１１Ｂと接続アダプタ１０
Ａ，１０Ｂとを一体化して試験装置を組み立てておくこ
とにより、特別な経験や知識を持たない作業員であって
も、接続個所を間違えることなく簡単かつ正確に所望の
制御定数が測定できるようになっている。
【００１１】
【発明の効果】本発明によるエレベータ制御回路基板の
試験装置は、以上説明したような形態実施され、以下に
記載されるような効果を奏する。計測器のリード棒を試
験端子に接触させることなく所望の制御定数が測定でき
るので、作業中に誤って制御回路を電気的に破損させる
虞がなくなるとともに、制御定数の変更を作業員が一人
で行うことができる。また、測定の対象となる制御定数
の種類に応じて、予めコネクタとリード線と接続アダプ
タとを一体化しておけば、特別な経験や知識を持たない
作業員であっても、接続個所を間違えることなく簡単か
つ正確に所望の制御定数を測定することができる。
試験装置は、以上説明したような形態実施され、以下に
記載されるような効果を奏する。計測器のリード棒を試
験端子に接触させることなく所望の制御定数が測定でき
るので、作業中に誤って制御回路を電気的に破損させる
虞がなくなるとともに、制御定数の変更を作業員が一人
で行うことができる。また、測定の対象となる制御定数
の種類に応じて、予めコネクタとリード線と接続アダプ
タとを一体化しておけば、特別な経験や知識を持たない
作業員であっても、接続個所を間違えることなく簡単か
つ正確に所望の制御定数を測定することができる。
【図１】本発明によるエレベータ制御回路基板の試験装
置の一実施形態を示す説明図である。
置の一実施形態を示す説明図である。
【図２】この種の試験装置の従来技術を示す説明図であ
る。
る。
１ 制御回路基板 ３Ａ〜３Ｃ 抵抗器 ４Ａ〜４Ｃ トリマ抵抗器 ５Ａ〜５Ｃ ＯＰアンプ ７ 端子装置 ７Ａ〜７Ｄ 試験端子 ８ 計測器（デジタルテスタ） ８Ａ，８Ｂ リード棒 ９ コネクタ １０Ａ，１０Ｂ 接続アダプタ １１Ａ，１１Ｂ リード線 １２ 銘板
Claims (1)
- 【請求項１】 エレベータの制御回路が形成されている
基板に、該制御回路の所定部位に接続するための複数本
の試験端子を設け、これらの試験端子と計測器のリード
棒とを導通させて前記制御回路の制御定数を電気的に検
出する試験装置において、前記複数本の試験端子に結合
可能なコネクタと、前記リード棒に結合可能な接続アダ
プタと、この接続アダプタと前記コネクタとを導通せし
めるリード線とを備えていることを特徴とするエレベー
タ制御回路基板の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8312201A JPH10153635A (ja) | 1996-11-22 | 1996-11-22 | エレベータ制御回路基板の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8312201A JPH10153635A (ja) | 1996-11-22 | 1996-11-22 | エレベータ制御回路基板の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10153635A true JPH10153635A (ja) | 1998-06-09 |
Family
ID=18026432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8312201A Pending JPH10153635A (ja) | 1996-11-22 | 1996-11-22 | エレベータ制御回路基板の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10153635A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112295945A (zh) * | 2020-09-28 | 2021-02-02 | 日立楼宇技术（广州）有限公司 | 召唤箱检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
-
1996
- 1996-11-22 JP JP8312201A patent/JPH10153635A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112295945A (zh) * | 2020-09-28 | 2021-02-02 | 日立楼宇技术（广州）有限公司 | 召唤箱检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
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