JPH0354312B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリント配線板のパターン検査装置
における自己診断方法、更に詳しくは、プリント
配線板のパターン検査に先立つて当該検査装置の
機能が正常であるか否かを簡易迅速に自己診断で
きる、パターン検査装置の自己診断方法に関す
る。

〔従来技術〕

プリント配線板のパターン検査方法は、一般
に、被検査体であるプリント配線板におけるパタ
ーンの一部であるランドに、プローブピンを接触
させ、各ランド間の導通状態の有無を検査するも
のである。

そして、パターン検査に当たつては、あらかじ
め、中央制御装置（ICメモリ）に記憶させてお
いた良品のプリント配線板のパターンの基準デー
タと、上記各被検査体のデータとを比較する。こ
れにより、プリント配線板の断線或いは短絡など
の不良回路部分が検出できる。

ところが、上記検査においては、当該パターン
検査装置のプローブピンに、不良個所があつた
り、プローブピンと検査機本体とを連結する中継
ケーブルに断線不良があると、プリント配線板の
パターンを正確に検査することができない。

そのため、パターン検査に当たつては、常時そ
の検査に使用する当該パターン検査装置の機能が
正常であるかどうかを自己診断しておく必要があ
る。

このようなことに鑑み、自己診断に当たつて
は、検査装置の機能を自己診断するためのデータ
を、ICメモリに書き込みさせる。そして、両者
のデータを比較し、検査装置の機能が正常である
かどうかを定期的に自己診断していた。

〔解決しようとする課題〕

しかしながら、このような操作をプリント配線
板のパターンの種類が変更されるごとに行うこと
は、自己診断のために多くの準備作業と時間とを
必要とする。

本発明は、かかる従来の問題点に鑑み、自己診
断を簡易迅速に行うことができ、プリント配線板
のパターン検査装置における、自己診断方法を提
供しようとするものである。

〔課題の解決手段〕

本発明は、検査機本体と、多数のプローブピン
と、両者の間を連結する中継ケーブルとを有する
プリント配線板検査用のパターン検査装置におけ
る自己診断方法であつて、上記多数のプローブピ
ンのうちで、プリント配線板を検査するための本
検査の際には明らかに短絡することのない、一対
のプローブピンを予め指定しておき、次いで、上
記全てのプローブピンの先端部分を、全面に導通
面を有するベタパターン基板に接触させ、上記一
対の指定プローブピンが導通状態を形成するとき
には自己診断工程に入り、各プローブピンに連結
した各中継ケーブルにおける導通状態を診断する
ことを特徴とするパターン検査装置の自己診断方
法にある。

上記において、自己診断に当たつて予め指定す
る一対の指定プローブピンは、プリント配線板を
検査するための本検査の際には明らかに短絡する
ことがないプローブピンである。

かかる関係は、検査しようとするプリント配線
板の回路構成において、互いに連結されていない
パターンにおけるランドを選び、本検査時にその
ランドに接触させるべき一対の指定プローブピン
を選出することにより行う。

通常、かかる関係にある指定プローブピンは、
互いに遠くに離れており、かつパターン回路構成
において互いに短絡することがないプローブピン
同志を選出する（第３図参照）。もしも近くのプ
ローブピン同志を選出した場合には、被検査用の
プリント配線板において、その一対の指定プロー
ブピンが接触しているランド間でシヨート（エツ
チング不良）が生じているおそれがあり、自己診
断ができなくなるからである。

〔作用及び効果〕

本発明の自己診断方法は、前記のごとくプリン
ト配線板のパターン検査、即ち本検査に先立つて
行うものである。

そして、自己診断に当たつては、まずパターン
検査装置における多数のプローブピンの中で、上
記のごとく本検査の際に絶対に短絡することのな
い一対の指定プローブピンを選出する。一方、上
記ベタパターン基板を準備する。

次いで、上記、全てのプローブピンの先端部分
を、上記ベタパターン基板の導通面に接触させ
る。このとき、上記一対の指定プローブピンが上
記導通面を経由する電流によつて短絡したこと、
即ち導通状態を形成したことが検出されれば、自
己診断工程に入つてよいことが確認できる。

換言すれば、上記一対の指定プローブピンが短
絡したときには、当該検査は、本検査ではなく、
自己診断用の検査であることが分かる。

また、プローブピンの接触相手が、プリント配
線板かベタパターン基板であるかが分からないと
きでも、指定プローブピンが導通状態を示せば自
己診断であり、導通状態を示さなければ本検査で
ある。なお、指定プローブピン自体の故障により
非導通状態を示した場合には、他の殆どのプロー
ブピンは導通状態である。それ故、当該指定プロ
ーブピンの故障であることが直ちに分かる（実施
例参照）。

それ故、プローブピンを相手方（プリント配線
板又はベタパターン基板）に当接させれば、自動
的に自己診断か本検査かを区別することができ
る。

そこで、次に自己診断工程に入る。つまり、上
記一対の指定プローブピンのうちの１つのプロー
ブピンと、多数の各プローブピンとの間の導通状
態を検査する。この自己診断工程において、上記
１つの指定プローブピンと他の被検査プローブピ
ンとの間が、ベタパターン基板の導通面を経由す
る短絡、即ち上記導通状態を生じている場合に
は、当該他の被検査プローブピンは正常である。

一方、導通状態を生じない場合には、プローブ
ピン自体の故障、該プローブピンの中継ケーブル
の断線等が予想される。そこで、当該プローブピ
ンにつき、詳しい故障原因を検査することとな
る。このようにして自己診断を行う。

上記のごとく、本発明においては、上記ベタパ
ターン基板を用いて、上記一対の指定プローブピ
ンの導通状態を確認することにより、自己診断工
程に入り、また自己診断を容易に行うことができ
る。

したがつて、本発明によれば、自己診断を簡易
迅速に行うことができる、プリント配線板のパタ
ーン検査装置における、自己診断方法を提供する
ことができる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例にかかるパターン検査装
置の自己診断方法につき、具体的に説明する。

第１図は、プリント配線板のパターン検査方
法、即ち本検査法の概要説明図、第２図及び第３
図はベタパターン基板を用いた自己診断法の概要
説明図である。

第１図において、１は被検査体であるプリント
配線板の基板、２はプリント配線板上のパターン
（導体回路）、３はプリント配線板上のランド（導
体部分）、４はパターン検査装置におけるプロー
ブピン、５はプローブピンの保持体、６は中継ケ
ーブル、７はパターン検査機本体、８はパターン
検査機本体の主要部分である中央制御装置（IC
メモリ）である。

第２図において、１から８までは上記第１図と
同様であり、９は全面に導通面を有するベタパタ
ーン基板、１０は導通面（例えば銅箔面）であ
る。

まず、上記第１図により、プリント配線板のパ
ターン検査（本検査）方法について説明する。被
検査体であるプリント配線板１は、通常、ガラ
ス・エポキシ材料の基板、又は紙・フエノール又
はエポキシ材料の基板であり、この基板上には導
体回路であるパターン２が形成されている。ま
た、このパターンの一部には、スルーホール２′
があり、このスルホールの周辺には導体部分とし
てのランド３が形成されている。

そのため、パターン検査装置Ａにおけるプロー
ブピン４はその保持体５により支持されつつ、例
えば油圧プレス昇降機などにより持ち上げられ、
プローブピンの先端部分がランド３と接触する。
これにより、従来と同様に、プリント配線板の自
己診断における各ランド間の導通状態を検査する
ことができる。

次に、上記第２図及び第３図により、ベタパタ
ーン基板を用いた自己診断方法について説明す
る。

まず、表面に導通面を有するベタパターン基板
９は、通常、プリント配線板の基材となるガラ
ス・エポキシ材料基板又は紙・フエノール又はエ
ポキシ材料基板である。そして、少なくとも片面
の表面には銅箔などの導通面１０が貼着形成され
ている。なお、望ましくは全面に導通面が貼着形
成されたものである。また、プローブピンと接触
することのない部分、たとえば該基板の周辺部分
などは絶縁不導体面であつてもよい。

次に、自己診断に当たつては、まず、多数のプ
ローブピン４の中から、本検査時に明らかに短絡
することのない一対の指定プローブピンを指定す
る。

即ち、まず第２図に示すごとく、保持体５には
多数のプローブピン４が立設してある。そして、
第２図及び第３図に示すごとく、これらプローブ
ピン４の中で例えばB₁とB₂、C₁とC₂とは、本検
査時において互いに短絡する関係にある検査一対
ピンである。このことは、第１図に示すごとく、
プローブピンB₁とB₂、C₁とC₂とは、それぞれプ
リント配線板上のパターン２によつて互いに短絡
するランド３に、接触するものであることから分
かる。

そこで、上記多数のプローブピン４のうち、本
検査時に明らかに短絡しない指定プローブピン
は、B₁とC₁又はC₂，B₂とC₁又はC₂である。そこ
で、本例においては、一対の指定プローブピンと
してB₁とC₂とを指定することとする。

上記指定プローブピンB₁とC₂とは、第３図に
示すごとく、平面上では遠く離れた位置にあるラ
ンド３，３に接触するものである。そして、プリ
ント配線板におけるパターン形成時にエツチング
不良があつたとしても、上記の指定プローブピン
B₁とC₂と接触するランド３，３は、絶対にパタ
ーン間シヨートによる短絡を生じない関係にあ
る。

次に、前記ベタパターン基板９を準備し、その
導通面１０に対して、上記全てのプローブピン４
を接触させる。この接触により、本検査時には明
らかに短絡しない、指定プローブピンB₁とC₂と
が短絡する。

また、他の全てのプローブピン４が、上記ベタ
パターン基板９の導通面１０によつて、互いに全
て短絡される。

上記のごとく、本検査時には明らかに短絡しな
い指定プローブピンB₁とC₂とが短絡するため、
検査機本体７においては、指定プローブピンB₁
とC₂とがシヨートしたことを示すシヨート表示
がなされる。

そこで、このシヨート表示がなされたときに
は、自己診断工程に入る。そして、自己診断工程
においては、上記のごとく、全てのプローブピン
４がベタパターン基板の導通面１０に接触してい
る。そのため、各プローブピン、中継ケーブルが
正常であれば、全てのプローブピン４についてシ
ヨート表示がなされているはずである。

そこで、もしもシヨート表示がなされない（オ
ープン表示）プローブピンがあるときには、それ
を検知する。そして、そのプローブピンに関し
て、プローブピン自体の故障或いは中継ケーブル
の断線等につき更に具体的な検査を行う。

上記のごとく、自己診断においては、ベタパタ
ーン基板９を用いることにより、上記一対の指定
プローブピンが短絡して導通状態を表示（シヨー
ト表示）する。そのため、上記１対の指定プロー
ブピンをICメモリに記憶させておけば、上記ベ
タパターン基板９に対して全プローブピン４を接
触させれば、その操作が自己診断操作であること
が一瞬にして分かる。

一方、上記全プローブピン４の接触操作時に、
検査機本体７において、上記指定プローブピン
B₁，C₂がシヨート表示されず、オープン表示さ
れた場合には、その接触操作は本検査であること
が分かる。

なお、このとき、上記操作がベタパターン基板
への接触であり、万一プローブピンB₁又はC₂に
故障があつて、オープン表示されてしまうときで
も、他のプローブピンが殆どシヨート表示されて
しまうので、上記故障を知ることができる。

しかし、実際上は500〜1000個のランド間のパ
ターンを検査するのであるから、プローブピンも
それに相応する多数である。そのため、このよう
に多くの中から指定したプローブピンB₁又はC₂
が故障していて、オープン表示となることは殆ど
ない。それ故、上記シヨート表示、オープン表示
は、殆んどの場合正確である。

したがつて、上記指定プローブピンB₁，C₂間
についての表示が、シヨート表示であるか、オー
プン表示であるかによつて、上記プローブピンの
接触操作が自己診断であるか、本検査であるか
を、迅速、かつ容易に区別することもできる。

また、そのため、上記シヨート表示によつて自
己診断であることが検出され、自己診断工程に入
つた場合には、前記のごとく、各プローブピン４
についての自己診断が行われる。

以上のように、本発明によればプリント配線板
のパターンの検査を行いつつ、必要に応じてパタ
ーン検査装置の自己診断を簡易迅速に行うことが
できる。また、そのため、自己診断に要する作業
時間を大幅に短縮できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はプリント配線板の本検査方法の概要を
示す説明図、第２図はパターン検査装置の自己診
断方法の概要を示す説明図、第３図は明らかに短
絡しない一対の指定プローブピンの選定説明図で
ある。 １……プリント配線板の基板、２……パター
ン、３……ランド、４……プローブピン、５……
プローブピン保持体、６……中継ケーブル、７…
…パターン検査機本体、８……中央制御装置、９
……ベタパターン基板、１０……導通面。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 検査機本体と、多数のプローブピンと、両者
   の間を連結する中継ケーブルとを有するプリント
   配線板検査用のパターン検査装置における自己診
   断方法であつて、 上記多数のプローブピンのうちで、プリント配
   線板を検査するための本検査の際には明らかに短
   絡することのない、一対のプローブピンを予め指
   定しておき、 次いで、上記全てのプローブピンの先端部分
   を、全面に導通面を有するベタパターン基板に接
   触させ、上記一対の指定プローブピンが導通状態
   を形成するときには自己診断工程に入り、各プロ
   ーブピンに連結した各中継ケーブルにおける導通
   状態を診断することを特徴とするパターン検査装
   置の自己診断方法。