JP2607447Y2 - 表示体駆動用半導体装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は液晶表示パネルに代表さ
れる表示素子の駆動に使用する表示体駆動用半導体装置
に関し、特に検査測定の速さを向上するための検査用回
路を有する表示体駆動用半導体装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】表示体駆動用半導体装置を含むほとんど
の半導体装置は、入出力端子のすべてに対して外部の測
定装置に電気的に接続するための針立て（以下触針と記
載する）を行って検査測定している。

【０００３】これら半導体装置の入出力端子は、触針す
るために大きな面積のパッドを必要とし、なおかつそれ
ぞれの入出力端子に触針する針が互いに接触しないよう
に端子と端子の間隔を広くとる必要がある。

【０００４】上記の要因のために入出力端子を高集積化
できず半導体装置が大きくなってしまったり、一つの半
導体装置に多くの入出力端子を集積することができない
といった課題がある。

【０００５】この課題を解決するために従来技術とし
て、ほとんどの出力端子に対して触針することなく検査
測定できる図２に示す表示体駆動用半導体装置の提案が
ある。

【０００６】図２は、従来例における表示体駆動用半導
体装置を示すブロック図である。以下に図２を用いて従
来例における表示体駆動用半導体装置の構成を説明す
る。

【０００７】図２で示す表示体駆動用半導体装置８は、
表示体駆動用半導体装置８の主な回路動作を行う機能回
路２と、機能回路２の回路動作を制御するための入力端
子群６と、出力回路４と、出力回路４に第１の電圧を供
給する第１の電源端子２０と、出力回路４に第２の電圧
を供給する第２の電源端子２２と、検査回路１６と、検
査回路１６を制御するための検査用制御端子１８と、出
力端子群１０とで構成する。

【０００８】また出力回路４は第１の電圧を出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎで構成する出力端子群１
０に出力するための第１のスイッチ素子１１ａ，１１
ｂ，・・・，１１ｎと、第２の電圧を出力するための第
２のスイッチ素子１３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎとで
構成する。

【０００９】さらに検査回路１６は検査時に検査用制御
端子１８からの信号により出力端子１０ａ，１０ｂ，・
・・，１０ｎを強制的に短絡するための第３のスイッチ
素子１５ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎで構成する。

【００１０】つづいて、図２を用いて従来例における表
示体駆動用半導体装置に対する検査測定方法を説明す
る。

【００１１】検査測定方法は第１の測定方法と第２の測
定方法との２つの方法で成り立っている。まず、第１の
測定方法を説明する。

【００１２】はじめに、第１の電源端子２０と、第２の
電源端子２２と、入力端子群６と、検査用制御端子１８
に触針し、さらに出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１
０ｎのうち１つの端子に触針する。ここでは出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのうち出力端子１０ａに
触針した場合について説明する。

【００１３】つづいて第１の電源端子２０に第１の電圧
を供給し、第２の電源端子２２に第２の電圧を供給す
る。

【００１４】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎすべてが第１の電圧を出力するためには入力端子
群６を制御して機能回路２を動作し、出力回路４を制御
して、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎに第１
の電圧を出力する。

【００１５】ここで出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうちただ１つ触針している出力端子１０ａの電
圧値を測定して、第１の電圧を正しく出力しているかど
うか検査確認する。

【００１６】次に、検査用制御端子１８に信号を入力し
て検査回路１６を構成する第３のスイッチ素子１５ａ，
１５ｂ，・・・，１５ｎすべてを短絡して、出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎを短絡する。

【００１７】このとき表示体駆動用半導体装置８が良品
であれば出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎの電
圧値は同一であるため、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎを検査回路１６で短絡しても出力端子間に電
流は流れない。この場合、出力端子１０ａはすでに第１
の電圧を出力していることを確認してあるので、すべて
の出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎは第１の電
圧を出力していると判断できる。

【００１８】もし出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１
０ｎのなかに第１の電圧を出力していない出力端子が少
なくとも１つ以上ある場合には、第１の電圧を出力して
いない出力端子と第１の電圧を出力している出力端子と
の間に短絡電流が流れる。したがって、もし短絡電流が
流れれば表示体駆動用半導体装置８には何らかの不良が
あると判定できる。

【００１９】短絡電流の有無は、第１の電源端子２０に
表示体駆動用半導体装置８の外部から第１の電圧を供給
する電源装置（図示せず）と第１の電源端子２０との間
に電流計を挿入するか、または第２の電源端子２２に表
示体駆動用半導体装置８の外部から第２の電圧を供給す
る電源装置（図示せず）と第２の電源端子２２との間に
電流計を挿入して短絡電流を測定することができる。

【００２０】以上の測定ではすべての出力端子１０ａ，
１０ｂ，・・・，１０ｎに第１の電圧を出力する場合の
測定を行なったが、つぎにはすべての出力端子１０ａ，
１０ｂ，・・・，１０ｎに第２の電圧を出力して上述と
同じ測定を行う。

【００２１】またすべての出力端子１０ａ，１０ｂ，・
・・，１０ｎに第１の電圧を出力したり、または第２の
電圧を出力するためには、入力端子群６からの入力信号
を入力し、所望の出力を得るようにする。この場合、入
力端子群６からの入力信号の組み合わせが複数ある場合
は、その組み合わせすべてに対しても上述と同じ測定を
繰り返し機能回路２の動作の良否を検査する。

【００２２】以上第１の測定方法を行うことによって、
出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのすべてに同
一の電圧値を出力するための機能回路２の動作機能の良
否と、出力回路４をを構成する第１のスイッチ素子１１
ａ，１１ｂ，・・・，１１ｎと、第２のスイッチ素子１
３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎのすべてのスイッチ素子
について短絡、開放の制御の良否と、開放状態でのリー
ク不良の有無と、さらには表示体駆動用半導体装置８内
部で第１の電圧を供給する配線と第２の電圧を供給する
配線との間に短絡不良が無いこととを検査確認すること
ができる。

【００２３】なお、上記第１の測定方法で検査確認でき
ない表示体駆動用半導体装置の不良は第２の測定方法に
よって検査確認できる。

【００２４】以下に、第２の測定方法を説明する。

【００２５】まず、第１の測定方法で触針したのと同じ
端子に触針する。第２の測定方法では出力端子群１０に
触針する必要はない。しかし、ここでは触針用治具を第
１の測定方法と共用するために出力端子１０ａにも触針
するがこの出力端子１０ａの測定は行なわない。

【００２６】つづいて第１の電源端子２０に第１の電圧
を供給し、第２の電源端子２２に第２の電圧を供給す
る。

【００２７】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうち出力端子１０ａのみに第１の電圧を出力
し、他のすべての出力端子１０ｂ，・・・，１０ｎに第
２の電圧を出力するように入力端子群６を制御し、機能
回路２を動作し出力回路４を制御する。

【００２８】この状態で、検査用制御端子１８に信号を
入力して検査回路１６を構成する第３のスイッチ素子１
５ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎすべてを短絡して、出力
端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎを短絡する。

【００２９】このとき表示体駆動用半導体装置８が正常
である場合には出力端子１０ａと他の全ての出力端子１
０ｂ，・・・，１０ｎとの間に短絡電流が流れる。

【００３０】上記短絡電流の有無は、第１の電源端子２
０に表示体駆動用半導体装置８の外部から第１の電圧を
供給する電源装置（図示せず）と第１の電源端子２０と
の間に電流計を挿入するか、または第２の電源端子２２
に表示体駆動用半導体装置８の外部から第２の電圧を供
給する電源装置（図示せず）と第２の電源端子２２との
間に電流計を挿入して測定することができる。

【００３１】上記測定で得られた短絡電流値が所望する
値であれば、機能回路２は意図した通りに正常に機能
し、出力端子１０ａに接続する第１のスイッチ素子１１
ａの短絡と、第３のスイッチ素子１５ａ，１５ｂ，・・
・，１５ｎすべての短絡と、各スイッチ素子の特性が正
常であると判断できる。また第１の電源端子から第１の
スイッチ素子１１ａに至る第１の電圧の配線経路に断線
不良がないことも確認できる。

【００３２】以上の測定を、排他的に第１の電圧を出力
する出力端子を出力端子１０ａから出力端子１０ｂ，１
０ｃ，・・・，１０ｎに順次１つづつ入れ替えて同様の
測定を繰り返すことにより、出力端子１０ｂ，１０ｃ，
・・・，１０ｎそれぞれの端子に接続する第１のスイッ
チ素子１１ｂ，１１ｃ，・・・，１１ｎと、第３のスイ
ッチ素子１５ｂ，１５ｃ，・・・，１５ｎすべてについ
ての短絡と、各スイッチ素子の特性を検査し、さらに第
１の電源端子からスイッチ素子１１ｂ，１１ｃ，・・
・，１１ｎそれぞれに至る第１の電圧の配線経路に断線
不良がないこととを確認する。

【００３３】さらに今度は上記の測定での第１の電圧と
第２の電圧との関係を入れ換えて、排他的に特定の１つ
の出力端子のみに第２の電圧を出力し、他の出力端子に
第１の電圧を出力し、上述の測定を行うことにより、出
力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎそれぞれの端子
に接続する第２のスイッチ素子１３ａ，１３ｂ，・・
・，１３ｎと、第３のスイッチ素子１５ａ，１５ｂ，・
・・，１５ｎすべてについての短絡と、各スイッチ素子
の特性を検査し、さらに第２の電源端子から第２のスイ
ッチ素子１３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎそれぞれに至
る第２の電圧の配線経路に断線不良がないこととを確認
する。

【００３４】最後に検査制御端子１８に信号を入力して
検査回路１６を構成する第３のスイッチ素子１５ａ，１
５ｂ，・・・，１５ｎすべてを開放し出力端子１０ａ，
１０ｂ，・・・，１０ｎの１つづつに順次排他的に第１
の電圧を出力し、他のすべての出力端子に第２の電圧を
出力して、その都度出力端子間の短絡電流の有無を測定
する。この測定で前記短絡電流が流れないならば検査回
路１６を構成する第３のスイッチ素子１５ａ，１５ｂ，
・・・，１５ｎすべてのスイッチ素子は正しく開放状態
に制御でき、かつ開放状態でリーク不良がないことを検
査確認できる。

【００３５】以上第２の測定方法を行うことにより、出
力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのそれぞれに接
続する出力回路４を構成する第１のスイッチ素子１１
ａ，１１ｂ，・・・，１１ｎと第２のスイッチ素子１３
ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎすべてのをそれぞれ独立に
正しく制御する機能回路２の動作が正常であることが検
査確認できる。

【００３６】また出力回路４を構成する第１のスイッチ
素子１１ａ，１１ｂ，・・・，１１ｎと第２のスイッチ
素子１３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎすべての短絡への
制御と短絡状態での各スイッチ素子の特性の良否の検査
確認ができる。

【００３７】検査回路１６を構成する第３のスイッチ素
子１５ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎが正しく制御できか
つ短絡状態と開放状態の素子特性が正常であることが検
査確認できる。

【００３８】さらに出力回路４と検査回路１６との間に
配線の断線不良が無いことと、第１の電源端子２０と第
２の電源端子２２それぞれから出力回路４にいたる間の
配線に断線不良がないことを検査確認することができ
る。

【００３９】以上で説明した第１の測定方法と第２の測
定方法の両測定方法を行うことにより、図２に示す従来
例における表示体駆動用半導体装置８に対して、ほとん
どの出力端子に対して触針することなく検査測定を行う
ことが可能である。

【００４０】

【考案が解決しようとする課題】図２に示す従来例の表
示体駆動用半導体装置８を検査測定するためには、極め
て多くの回数の電流測定と測定値の良否判定を行なう必
要がある。しかも表示体駆動用半導体装置８において、
機能回路が複雑になればなるほど、また表示体駆動用半
導体装置８において出力端子の数が多くなればなるほど
検査測定に必要な電流測定の回数が増加する。

【００４１】半導体装置を検査測定するための半導体試
験機においては、電圧測定による機能試験を行なう半導
体試験機が一般的である。この半導体試験機は機能試験
を高速に検査測定する機能を備えているが、電流測定を
高速に行なうことができない。

【００４２】上記内容より明らかなように、図２に示す
従来例の表示体駆動用半導体装置８を検査測定するため
には、著しく長い時間がかかってしまうという課題があ
る。

【００４３】また電流測定を高速に行なうためには、非
常に高価な半導体試験機を用いなければならないという
課題もある。

【００４４】本考案の目的は、上記課題を解決して、簡
易にかつ短い時間で検査測定を行うことが可能な表示体
駆動用半導体装置を提供することにある。

【００４５】

【課題を解決するための手段】表示体駆動用半導体装置
の主な回路動作を行う機能回路と、機能回路を制御する
ための入力端子と、出力端子と、出力回路と、出力回路
に第１の電圧を供給する第１の電源端子と、出力回路に
第２の電圧を供給する第２の電源端子と、検査回路と、
検査回路を制御するための検査用制御端子と、検査用の
第３の電源端子と、検査用の抵抗素子とを有することを
特徴とする。

【００４６】

【作用】本考案によれば、検査用の第３の電源端子と、
検査用の抵抗素子とを設けることにより、検査測定を電
圧測定のみで行なうことができ、検査測定時間を大幅に
短縮でき、また高価な半導体測定装置を使うことなく安
価な半導体測定装置でも実現が可能となる。

【００４７】

【実施例】以下本考案の実施例を図面に基づいて詳述す
る。図１は、本考案の実施例における表示体駆動用半導
体装置を示すブロック図である。まず、図１を用いて本
考案の実施例における表示体駆動用半導体装置の構成を
説明する。

【００４８】図１で示す表示体駆動用半導体装置８は、
表示体駆動用半導体装置８の主な回路動作を行う機能回
路２と、機能回路２の回路動作を制御するための入力端
子群６と、出力回路４と、検査測定以外のとき出力回路
４に第１の電圧を供給する第１の電源端子２０と、出力
回路４に第２の電圧を供給する第２の電源端子２２と、
検査回路１６と、検査回路１６を制御するための検査用
制御端子１８と、検査用の抵抗素子２４と、検査測定の
ときに出力回路４に第１の電圧を供給する第３の電源端
子２６と出力端子群１０とで構成する。

【００４９】また出力回路４は第１の電圧を出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎで構成する出力端子群１
０に出力するための第１のスイッチ素子１１ａ，１１
ｂ，・・・，１１ｎと、第２の電圧を出力するための第
２のスイッチ素子１３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎとで
構成する。

【００５０】さらに検査回路１６は検査時に検査用制御
端子１８からの信号により出力端子１０ａ，１０ｂ，・
・・，１０ｎを強制的に短絡するための第３のスイッチ
素子１５ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎで構成する。

【００５１】つづいて、図１を用いて本考案における表
示体駆動用半導体装置に対する検査測定方法を説明す
る。

【００５２】検査測定方法は第１の測定方法と第２の測
定方法との２つの方法で成り立っている。まず、第１の
測定方法を説明する。

【００５３】はじめに、第１の電源端子２０と、第２の
電源端子２２と、第３の電源端子２６と、入力端子群６
と、検査用制御端子１８に触針し、さらに出力端子１０
ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのうち１つの端子に触針す
る。ここでは出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎ
のうち出力端子１０ａに触針した場合について説明す
る。

【００５４】つづいて第３の電源端子２６に第１の電圧
を供給し、第２の電源端子２２の第２の電圧を供給す
る。

【００５５】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎすべてが第１の電圧を出力するように入力端子群
６を制御して、機能回路２を動作し、出力回路４を制御
して、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎに第１
の電圧を出力する。

【００５６】ここで出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうちただ１つ触針している出力端子１０ａの電
圧値を測定して、第１の電圧を正しく出力しているかど
うか検査確認する。

【００５７】次に、検査用制御端子１８に信号を入力し
て検査回路１６を構成する第３のスイッチ素子１５ａ，
１５ｂ，・・・，１５ｎすべて短絡させて、出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎを短絡する。

【００５８】このとき表示体駆動用半導体装置８が良品
であれば出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎの電
圧値は同一であるため、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎを検査回路１６で短絡しても出力端子間に電
流は流れない。この場合、出力端子１０ａはすでに第１
の電圧を出力していることを確認してあるので、すべて
の出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎは第１の電
圧を出力していると判断できる。

【００５９】もし出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１
０ｎのなかに第１の電圧を出力していない出力端子が少
なくとも１つ以上ある場合には、第１の電圧を出力して
いない出力端子と第１の電圧を出力している出力端子と
の間に短絡電流が流れる。したがって、もし短絡電流が
流れれば表示体駆動用半導体装置８には何らかの不良が
あると判定できる。

【００６０】短絡電流は、第３の電源端子２６と抵抗素
子２４と第２の電源端子２２とを通して流れるため、短
絡電流の有無およびその値は、抵抗素子２４の抵抗値と
短絡電流値に応じて抵抗素子２４の両端に発生する電位
差を、第１の電源端子２０と第３の電源端子２６との端
子間の電位差として測定することにより検査確認するこ
とができる。

【００６１】以上の測定ではすべての出力端子１０ａ，
１０ｂ，・・・，１０ｎに第１の電圧を出力する場合の
測定を行なったが、つぎにはすべての出力端子１０ａ，
１０ｂ，・・・，１０ｎに第２の電圧を出力して上述と
同じ測定を行う。

【００６２】またすべての出力端子１０ａ，１０ｂ，・
・・，１０ｎに第１の電圧を出力したり、または第２の
電圧を出力するためには、入力端子群６からの入力信号
を入力し、所望の出力を得るようにする。この場合、入
力端子群６からの入力信号の組み合わせが複数ある場合
は、その組み合わせすべてに対しても上述と同じ測定を
繰り返し機能回路２の動作の良否を検査する。

【００６３】以上第１の測定方法を行うことによって、
出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのすべてに同
一の電圧値を出力するような機能回路２の動作機能の良
否と、出力回路４をを構成する第１のスイッチ素子１１
ａ，１１ｂ，・・・，１１ｎと、第２のスイッチ素子１
３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎのすべてのスイッチ素子
について短絡、開放の制御の良否と、開放状態でのリー
ク不良の有無と、さらには表示体駆動用半導体装置８内
部で第１の電圧を供給する配線と第２の電圧を供給する
配線との間に短絡不良が無いこととを検査確認すること
ができる。

【００６４】なお、上記第１の測定方法で検査確認でき
ない表示体駆動用半導体装置の不良とは第２の測定方法
によって検査確認できる。

【００６５】以下に、第２の測定方法を説明する。

【００６６】まず、第１の測定方法で触針したのと同じ
端子に触針する。第２の測定方法では出力端子群１０に
触針する必要はない。しかし、ここでは触針用治具を第
１の測定方法と共用するために出力端子１０ａにも触針
するがこの出力端子１０ａの測定は行なわない。

【００６７】つづいて第３の電源端子２６に第１の電圧
を供給し、第２の電源端子２２の第２の電圧を供給す
る。

【００６８】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうち出力端子１０ａのみに第１の電圧を出力
し、他のすべての出力端子１０ｂ，・・・，１０ｎに第
２の電圧を出力するように入力端子群６を制御し、機能
回路２を動作し出力回路４を制御する。

【００６９】この状態で、検査用制御端子１８に信号を
入力して検査回路１６を構成する第３のスイッチ素子１
５ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎすべてを短絡して、出力
端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎを短絡する。

【００７０】このとき表示体駆動用半導体装置８が正常
である場合には出力端子１０ａと他の全ての出力端子１
０ｂ，・・・，１０ｎとの間に短絡電流が流れる。

【００７１】上記短絡電流は、第３の電源端子２６と抵
抗素子２４と第２の電源端子２２とを通して流れるた
め、短絡電流の有無およびその値は、抵抗素子２４の抵
抗値と短絡電流値に応じて抵抗素子２４の両端に発生す
る電位差を第１の電源端子２０と第３の電源端子２６と
の端子間の電位差として測定することによって検査確認
することができる。

【００７２】上記測定で得られた電位差が所望する値で
あれば、前記短絡電流値は正常であり、機能回路２は意
図した通りに正常に機能し、出力端子１０ａに接続する
第１のスイッチ素子１１ａと第３のスイッチ素子１５
ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎすべての短絡と、各スイッ
チ素子の特性が正常であると判断できる。また第１の電
源端子から第１のスイッチ素子１１ａに至る第１の電圧
の配線経路に断線不良がないことも確認できる。

【００７３】以上の測定を、排他的に第１の電圧を出力
する出力端子を出力端子１０ａから出力端子１０ｂ，１
０ｃ，・・・，１０ｎに順次１つづつ入れ替えて同様の
測定を繰り返すことにより、出力端子１０ｂ，１０ｃ，
・・・，１０ｎそれぞれの端子に接続する第１のスイッ
チ素子１１ｂ，１１ｃ，・・・，１１ｎと、第３のスイ
ッチ素子１５ｂ，１５ｃ，・・・，１５ｎすべてについ
ての短絡と、各スイッチ素子の特性を検査し、さらに第
１の電源端子からスイッチ素子１１ｂ，１１ｃ，・・
・，１１ｎそれぞれに至る第１の電圧の配線経路に断線
不良がないこととを確認する。

【００７４】さらに今度は上記の測定での第１の電圧と
第２の電圧との関係を入れ換えて、排他的に特定の１つ
の出力端子のみに第２の電圧を出力し、他の出力端子に
第１の電圧を出力し、上述の測定を行うことにより、出
力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎそれぞれの端子
に接続する第２のスイッチ素子１３ａ，１３ｂ，・・
・，１３ｎと、第３のスイッチ素子１５ａ，１５ｂ，・
・・，１５ｎすべてについての短絡と、各スイッチ素子
の特性を検査し、さらに第２の電源端子から第２のスイ
ッチ素子１３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎそれぞれに至
る第２の電圧の配線経路に断線不良がないこととを確認
する。

【００７５】最後に検査制御端子１８に信号を入力して
検査回路１６を構成する第３のスイッチ素子１５ａ，１
５ｂ，・・・，１５ｎすべてを開放し出力端子１０ａ，
１０ｂ，・・・，１０ｎの１つずつに順次排他的に第１
の電圧を出力し、他のすべての出力端子に第２の電圧を
出力して、その都度出力端子間の短絡電流の有無を第３
の電源端子２６と第２の電源端子２２との端子間の電位
差を測定することにより判定する。この測定で前記短絡
電流が流れないならば検査回路１６を構成する第３のス
イッチ素子１５ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎすべてのス
イッチ素子は正しく開放状態に制御でき、かつ開放状態
でリーク不良がないことを検査確認できる。

【００７６】以上第２の測定方法を行うことにより、出
力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのそれぞれに接
続する出力回路４を構成する第１のスイッチ素子１１
ａ，１１ｂ，・・・，１１ｎと第２のスイッチ素子１３
ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎすべてのをそれぞれ独立に
正しく制御する機能回路２の動作が正常であることが検
査確認できる。

【００７７】また出力回路４を構成する第１のスイッチ
素子１１ａ，１１ｂ，・・・，１１ｎと第２のスイッチ
素子１３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎすべての短絡への
制御と短絡状態での各スイッチ素子の特性の良否の検査
確認ができる。

【００７８】検査回路１６を構成する第３のスイッチ素
子１５ａ，１５ｂ，・・・，１５ｎが正しく制御できか
つ短絡状態と開放状態の素子特性が正常であることが検
査確認できる。

【００７９】さらに出力回路４と検査回路１６との間に
配線の断線不良が無いことと、第３の電源端子２６と第
２の電源端子２２それぞれから出力回路にいたる間の配
線に断線不良がないこととを検査確認することができ
る。

【００８０】以上で説明した第１の測定方法と第２の測
定方法の両測定方法を行うことにより、図１に示す本考
案における表示体駆動用半導体装置８に対して、ほとん
どの出力端子に対して触針することなく、なおかつ時間
と手間のかかる電流測定を行わずに検査測定を行うこと
が可能である。

【００８１】しかも電流測定が不要であるため、上記一
連の信号入力による機能回路２および出力回路４の制御
と、電位差の測定およびその良否判定は、すべて入力パ
ターン発生器（図示せず）の動作に同期して高速にかつ
断続することなく一続きの検査測定作業として行うこと
ができる。

【００８２】つまり、パターン発生器の動作に同期して
高速に検査測定を行うことができる半導体試験機使用し
て、図２に示す従来例で極めて多数回の電流測定を行っ
て実施したのと同等な検査測定をすることが可能であ
る。

【００８３】このために、本考案の表示体駆動用半導体
装置の構成を採用することにより、従来例の表示体駆動
用半導体装置の課題である検査測定に著しく長い時間が
掛かるという問題点が解決することができる。

【００８４】以上本実施例で用いたスイッチ素子は全て
トランジスタ素子で構成でき、したがって表示体駆動用
半導体装置内に作り込むことができる。

【００８５】また、本考案での表示体駆動用半導体装置
の構成の一つの要素である抵抗素子は半導体素子として
表示体駆動用半導体装置内に作り込むことができる。

【００８６】

【考案の効果】表示体駆動用半導体装置において検査回
路と、検査回路を制御するための検査用制御端子と、検
査用の第３の電源端子と、検査用の抵抗素子とを設ける
ことにより、検査測定を電圧測定のみで行なうことが可
能となり、検査測定に要する時間を大幅に低減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案における表示体駆動用半導体装置の構成
を示すブロック図である。

【図２】従来例における表示体駆動用半導体装置の構成
を示すブロック図である。

【符号の説明】

２ 機能回路 ４ 出力回路 ６ 入力端子群 ８ 表示体駆動用半導体装置 １０ 出力端子群 １６ 検査回路 １８ 検査用制御端子 ２０ 第１の電源端子 ２２ 第２の電源端子 ２４ 抵抗素子 ２６ 第３の電源端子

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 表示体駆動用半導体装置の主な回路動作
   を行う機能回路と、その機能回路を制御するための入力
   端子と、出力端子と、出力回路と、その出力回路に第１
   の電圧を供給する第１の電源端子と、上記出力回路に第
   ２の電圧を供給する第２の電源端子と、検査時に上記出
   力端子を相互に短絡する検査回路と、その検査回路を制
   御するための検査用制御端子と、検査用の第３の電源端
   子と、検査用の抵抗素子とを有することを特徴とする表
   示体駆動用半導体置。