JP2010014508A - 測定装置および測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】回路基板100の導体パターン101a,101bと第1プローブ11a,11bおよび第2プローブ12a,12bとの接触状態が良好と判別したときに、導体パターン101a,101bに測定用電流Itを供給している状態における第2プローブ12a,12b間の電圧Vmと測定用電流Itとに基づく所定の物理量を測定する制御部17と、第2プローブ12a,12b同士の接断を行うスキャナユニット16とを備え、制御部17は、スキャナユニット16を制御して第2プローブ12a,12b同士を接続させた後に、第1プローブ11a,11bに測定用電流Itを供給している状態における第1プローブ11a,11b間の電圧Vmと測定用電流Itとに基づいて接触状態の良否を判別する。
【選択図】図1
Description
11a,11b 第1プローブ
12a,12b 第2プローブ
13 電源部
14 電流検出部
15 電圧検出部
16 スキャナユニット
17 制御部
100 回路基板
101 導体パターン
Cm 容量
It 測定用電流
Vm 電圧
Claims (2)
- 測定対象体における一対の被接触部にそれぞれ接触させた一対の第1プローブおよび当該各被接触部にそれぞれ接触させた一対の第2プローブと当該各被接触部との接触状態の良否を判別する接触状態検査を実行すると共に、前記各第1プローブに測定用電流を供給している状態における前記各第2プローブ間の電圧と当該測定用電流とに基づく所定の物理量の測定を前記接触状態が良好と判別したときに実行する制御部を備えた測定装置であって、
前記各第2プローブ同士の接断を行う接断部を備え、
前記制御部は、前記接触状態検査の実行時において、前記接断部を制御して前記各第2プローブ同士を接続させた後に、前記各第1プローブに前記測定用電流を供給している状態における当該各第1プローブ間の電圧と当該測定用電流とに基づいて前記接触状態の良否を判別する測定装置。 - 測定対象体における一対の被接触部にそれぞれ接触させた一対の第1プローブおよび当該各被接触部にそれぞれ接触させた一対の第2プローブと当該各被接触部との接触状態の良否を判別する接触状態検査を実行すると共に、前記各第1プローブに測定用電流を供給している状態における前記各第2プローブ間の電圧と当該測定用電流とに基づく所定の物理量の測定を前記接触状態が良好と判別したときに実行する測定方法であって、
前記接触状態検査の実行時において、前記各第2プローブ同士を接続させた後に、前記各第1プローブに前記測定用電流を供給している状態における当該各第1プローブ間の電圧と当該測定用電流とに基づいて前記接触状態の良否を判別する測定方法。
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