CZ298035B6 - Prístroj pro elektrické testování tištených obvodu na kartách - Google Patents

Prístroj pro elektrické testování tištených obvodu na kartách Download PDF

Info

Publication number
CZ298035B6
CZ298035B6 CZ0187498A CZ187498A CZ298035B6 CZ 298035 B6 CZ298035 B6 CZ 298035B6 CZ 0187498 A CZ0187498 A CZ 0187498A CZ 187498 A CZ187498 A CZ 187498A CZ 298035 B6 CZ298035 B6 CZ 298035B6
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
detection
panel
panels
needles
pair
Prior art date
Application number
CZ0187498A
Other languages
English (en)
Other versions
CZ187498A3 (cs
Inventor
Vodopivec@Jozef
Fumo@Cesare
Original Assignee
New System S.R.L.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by New System S.R.L. filed Critical New System S.R.L.
Publication of CZ187498A3 publication Critical patent/CZ187498A3/cs
Publication of CZ298035B6 publication Critical patent/CZ298035B6/cs

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Perforating, Stamping-Out Or Severing By Means Other Than Cutting (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

Prístroj pro elektrické testování tištených obvodu na kartách (2) zahrnuje detekcní panel (1SS, 1SD, 1IS, 1ID), nesoucí na své lícové, ke karte (2) skontrolovaným tišteným obvodem privrácené, stranemnožství vodivých detekcních jehel (10, 10´), pripojených na vrubové strane detekcního panelu (1SS,1SD, 1IS, 1ID) k prostredkum pro analýzu elektrických parametru snímaných jednou a další detekcní jehlou (10, 10´). Prístroj obsahuje alespon dva k sobe priléhající koplanární detekcní panely (1SS, 1IS) a (1SD, 1ID), pricemž panely (1SS, 1IS) a (1SD, 1ID) jsou vuci sobe a/nebo oba vuci karte (2) nezávisle pohyblivé, a naopak.

Description

(54) Název vynálezu:
Přístroj pro elektrické testování tištěných obvodů na kartách (57) Anotace:
Přístroj pro elektrické testování tištěných obvodů na kartách (2) zahrnuje detekční panel (1SS, 1SD, 1IS, 1ID), nesoucí na své lícové, ke kartě (2) s kontrolovaným tištěným obvodem přivrácené, straně množství vodivých detekčních jehel (10, 10'), připojených na vrubové straně detekčního panelu (1SS, 1SD, 1IS, 1 ID) k prostředkům pro analýzu elektrických parametrů snímaných jednou a další detekční jehlou (10, 10'). Přístroj obsahuje alespoň dva k sobě přiléhající koplanámí detekční panely (1SS, 1IS) a (1SD, 1 ID), přičemž panely (1SS, 1IS) a (1SD, 1 ID) jsou vůči sobě a/nebo oba vůči kartě (2) nezávisle pohyblivé, a naopak.
10'
Přístroj pro elektrické testování tištěných obvodů na kartách
Oblast techniky
Vynález se týká přístroje pro elektrické testování tištěných obvodů na kartách.
Dosavadní stav techniky
Známé přístroje pro kontrolu tištěných obvodů na kartách jsou obecně vybaveny lůžkem neboli panelem, který zahrnuje množství elektricky vodivých detekčních jehel, na kterých je umístěna karta tištěného obvodu, přičemž je možné, pomocí vhodně aktivované elektrické vodivosti mezi různými jehlami a jejího měření, kontrolovat závadnost tištěného obvodu.
Při takové kontrole je nutné, aby jehly kontaktovaly tištěný obvod ve vhodné poloze.
Jelikož ale existují různé tištěné obvody, je nutné přiřazovat nad základnu panelu s detekčními jehlami adaptační panel, který zahrnuje stejné jehly, které jsou však rozmístěny jiným způsobem, a to podle druhu kontrolovaného tištěného obvodu. Nevýhodou tohoto řešení je jistá omezenost přístroje v možnosti kontrolovat pouze ty tištěné obvody, pro které jsou k dispozici odpovídající adaptační panely. Toto řešení tedy vyžaduje tolik adaptačních panelů, kolik je karet s různými tištěnými obvody určenými ke kontrole.
Kromě toho je známo, že povrchy tištěných obvodů nejsou vždy koplanámí, což znamená, že není vždy pro činný kontakt zajištěna elektrická vodivost.
Jiné známé řešení nabízí k odstranění tohoto nedostatku pohyblivé detekční jehly nastavitelné nezávisle vůči sobě. Toto řešení je velmi složité a tím i nákladné, vyžaduje rovněž dlouhé průběžné doby kontroly, jelikož nelze nikdy mít k dispozici dostatečný počet pohyblivých jehel, pročež je nutné kontrolovat prakticky každý obvod.
Podobné znaky a nevýhody lze nalézt i v řešení podle patentu US 5 436 567, který uvádí mechanismus dvoustranného testovacího zařízení, tvořící lůžko pro testované zařízení a mající horní panel se seskupením odpružených testovacích elektrických sond, tvořených jehlami elektricky spojovatelnými s množstvím testovacích míst na první straně testovaného zařízení (užívá se označení DUT odvozené od device-under-test), dále mající spodní panel se seskupením elektrických testovacích sond, tvořených jehlami elektricky spojovatelnými s množstvím testovacích míst na druhé straně zmíněného DUT, která je umístěna proti první straně, dále mající stlačovací prostředky mechanicky skloubené s horním panelem a vzorované seskupení odpružených kontaktů upevněných ke spodní straně spodního seskupení elektrických testovacích sond pro sevření se zmíněným DUT a ještě dále mající páku, mechanicky spojenou se stlačovacími prostředky, kloubově spojenou se seskupením odpružených elektrických sond a mající prostředky jednak pro příjem tlačné síly v prvním směru kolmém k rovině seskupení odpružených elektrických sond a jednak pro přenos této tlačné síly za účelem vedení seskupení odpružených elektrických sond, nezávisle členěných v rámci stlačovacího prostředku, v druhém směru opačném vůči prvnímu směru do kolmého elektrického kontaktu s množstvím testovacích bodů na první straně DUT a nakonec mající prostředek aktivace tvořený prostředkem komprese, připojeným ke spodní straně lůžka pro uzamčení DUT během testování a pro generování síly tlačné tyče, a to za účelem vedení spodního seskupení testovacích sond do elektrického kontaktu s testovanými body na druhé straně DUT, přičemž kontrolovaná karta je pohyblivá vůči hornímu a spodnímu panelu, či uvedené dva panely jsou pohyblivé vůči zmíněné kartě.
- 1 CZ 298035 B6
Podstata vynálezu
Cílem vynálezu je vyhnout se zmíněným nedostatkům a zvláště pak umožnit vytvoření přístroje, který by byl schopný kontrolovat různé tištěné obvody, a to pomocí detekčního vodivého jehlového systému, který by se dal přizpůsobit jakémukoliv typu obvodu. Tohoto, ale i jiných cílů, se dosahuje pomocí přístroje pro elektrické testování tištěných obvodů na kartách, a to typu zahrnujícího detekční panel, nesoucí na své lícové, ke kartě s kontrolovaným tištěným obvodem přivrácené, straně množství vodivých detekčních jehel, připojených na rubové straně detekčního panelu k prostředkům pro analýzu elektrických parametrů snímaných dvěma detekčními jehlami, jehož podstatou je, že obsahuje alespoň dva, jeden ke druhému přilehlý, koplanámí detekční panely nezávisle pohyblivé jeden na druhém, přičemž i karta a panely jsou vzájemně nezávisle pohyblivé.
Tímto způsobem lze dosáhnout okamžité výhody, a to zjednodušení celého systému vytvořením univerzální aplikace přístroje pro různé tištěné obvody aniž by se musely použít adaptery.
Takto lze aktivovat jeden panel jehel v jakékoliv pozici předního konce obvodu a rovněž aktivovat jinou jehlu jiného panelu, která díky pohyblivosti tohoto panelu může dosáhnout kteréhokoliv koncového testovaného bodu, a to nezávisle na své poloze, místě a tvaru.
Tímto způsobem je všestrannost testovacího systému zajištěna pro jakoukoliv kartu.
Ve skutečnosti to znamená, že jestliže oba body kontrolovaného tištěného obvodu leží tak, že jeden se nachází pod prvním panelem a další pod druhým panelem a přitom se nekryjí s detekčními jehlami, potom je dostačující pohybovat oběma panely (nebo pohybovat rovněž kartou) tak, aby se dostaly do polohy odpovídající protilehlým bodům, které se mají kontrolovat.
Nebo, jestliže dva body kontrolovaného tištěného obvodu jsou tak blízko u sebe, že je lze pokrýt pouze jedním panelem, potom stačí pohybovat kontrolovanou kartou se zmíněným obvodem do přesně střední polohy mezi zmíněnými dvěma panely (stejně tak je možné pohybovat oběma panely) tak, že jeden bod obvodu leží pod prvním panelem a druhý pod druhým panelem, přičemž následným pohybem oběma panely se umožní krytí obou bodů jednou příslušnou detekční jehlou z každého ze zmíněných dvou panelů.
Ve výhodném provedení obsahuje přístroj jeden par k sobě přilehlých koplanámích detekčních panelů navzájem pohyblivých.
Výhodné je, jsou-li panely s jehlami nastaveny pod a nad kontrolovanou kartou tak, že karta je umístěna mezi nimi.
Za tím účelem může přístroj obsahovat dva protilehlé páry detekčních panelů, kde každý pár je tvořen k sobě přiléhajícími koplanámími detekčními panely, přičemž detekční panely obou párů jsou umístěny jeden proti druhému. Tímto způsobem se dosahuje větší všestrannosti použití.
Dále je výhodné, když jsou detekční jehly upraveny stavitelně ve směru kolmém na detekční panel. Tímto způsobem je možné dosáhnout toho, aby pouze některé z množství jehel v panelu navzájem spolupracovaly a tím snadněji středily požadované polohy tištěného obvodu.
Další výhodou odvozenou z axiální pohyblivosti jehel je to, že je možné lépe kontaktovat příslušné požadované body obvodu, a to i tehdy, není-li karta povrchu obvodu přesně koplanámí ve všech svých bodech.
-2CZ 298035 B6
Výhodně je pohyblivost jehel realizovaná tím, že detekční jehly jsou spojeny s elektromagnetickými prostředky pro vyvození stavítelnosti jehel. Takto je určená jehla uvedena do činnosti bezpečným a jednoduchým způsobem.
Ve výhodném provedení přístroj obsahuje jeden detekční panel s jednou vodicí detekční jehlou pro krytí jednoho z páru kontrolovaných bodů tištěného obvodu na jedné straně a jiný detekční panel s jednou vodicí detekční jehlou pro krytí druhého z páru kontrolovaných bodů tištěného obvodu na druhé straně, přičemž uvedený jeden detekční panel vůči druhému nebo oba navzájem a/nebo karta jsou pohyblivé pro jejich vzájemné vystředění.
Přehled obrázků na výkresech
Výhody vynálezu budou zřejmé z dalšího popisu provedení, a to pomocí výkresů, na kterých zobrazené podrobnosti nejsou považovány za limitující, ale pouze slouží jako příklady provedení vynálezu.
Obr. 1 znázorňuje perspektivní pohled na detekční panel, obr. 2 schematicky znázorňuje perspektivní pohled na příčný řez detekční jehlou pohyblivou v axiálním směru a obr. 3 znázorňuje perspektivní pohled na provedení, kterému se dává přednost, se dvěma páry detekčních panelů, kdy panely jsou pohyblivé, a to nezávisle na sobě a mají kontrolovanou kartu umístěnou mezi sebou.
Příklady provedení vynálezu
Na obr. 1 je schematický pohled na detekční panel 1 se seskupením vodivých detekčních jehel 10. Panel 1 je, jak je naznačeno šipkami, pohyblivý ve dvou vzájemně kolmých směrech v rovině. Na obr. 2 je šipkami naznačeno, že detekční jehly 10 jsou pohyblivé v axiálním směru, kolmém na rovinu panelu 1, a to pomocí elektromagnetu 11. Vztahovou značkou 12 je označeno propojení detekční jehly 10 na prostředky pro analýzu elektrických parametrů snímaných dvěma detekčními jehlami 10, jak bude popsáno ještě dále.
Na obr. 3 je znázorněno provedení zařízení, kterému se dává přednost, s více než dvěma detekčními panely 1, a sice se dvěma protilehlými páry detekčních panelů 1, z nichž každý pár obsahuje dva k sobě přiléhající koplanámí detekční panely, přičemž pro rozlišení jsou jednotlivé detekční panely 1 rozlišeny pomocí písmen. Na obrázku jsou dva horní, navzájem levý a pravý, detekční panely jednoho páru označeny písmeny 1SS a 1SD a dva spodní detekční panely, navzájem levý a pravý, druhého páru označeny písmeny 1 IS a 1ID.
Každý detekční panel 1 SS, 1SD, 1IS, 1ID zahrnuje množství vodivých detekčních jehel 10, které se mohou pohybovat v axiálním směru pomocí elektromagnetu 11. Každá detekční jehla 10 je elektrickým spojením 12 propojena se systémem dosavadního stavu techniky pro kontrolu elektrických parametrů.
Všechny detekční panely 1SS, 1SD, 1 IS, 1ID se mohou, z důvodu nastavení do pracovní polohy, navzájem a nezávisle na sobě pohybovat, vždy ve dvou kolmých směrech v rovině.
Karta 2 s kontrolovaným tištěným obvodem je umístěná mezi nimi a je rovněž pohyblivá ve dvou kolmých směrech v rovině.
Systém provádí kontrolu vždy pomocí síťového seznamu, tzv. „net-list“, s uvedenými relativními polohami jednotlivých kontrolovaných bodů.
-3 CZ 298035 B6
Test spojení se provádí od bodu k bodu tak, že pro testování spojení sítě o „n“ bodech je zapotřebí provádět „n-l“ testů mezi páry vybraných bodů, aby se pokryla všechna spojení.
Test na krátké spojení mezi různými sítěmi se provádí výběrem jednoho bodu z každého páru sítí. Maximální počet testů u „n“ sítí se může vypočítat pomocí vzorce n * (n -1) / 2.
Počet může být snížen výběrem pouze blízkých sítí, zvláště těch, které jsou blízko sebe v předem stanoveném rozmezí.
Polohy testovaných bodů jsou rozděleny do sektorů, které odpovídají seskupení detekčních jehel 10 v příslušném detekčním panelu 1SS, 1SD, 1IS, 1ID, takže testovaného bodu lze dosáhnout pomocí polohy a detekčních jehel 10.
Po dosažení testovaných bodů, alespoň párem panelů 1 SS, 1SD, 1IS, 1ID, je nutné kontrolovat spojení s kvalitou izolace.
Pro zkrácení času, nutného pro pohyby, je třeba optimalizovat dráhy, které modifikují frekvenci každého testu. Přístroj je opatřený rámem, ke kterému jsou dva protilehlé páry panelů 1SS, 1SD a 1IS, 1ID, nezávisle pohyblivých po jedné ze dvou pravoúhlých os, upevněny.
Karta 2 se zjišťovaným obvodem je nejprve umístěna na nosný rám, který kartu 2 dopravuje mezi panely 1SS, 1SD, 1IS, 1ID. V této poloze zůstává karta 2 upevněna. Pokud je karta 2 v poloze v pořadí pro test, může se dále pohybovat.
Panely 1SS, 1SD, 1IS, 1 ID se nastaví těsně ke kartě 2 a test může začít.
Každý panel 1SS, 1SD, 1 IS, 1ID je kontrolován a ovládán nezávisle tak, že maximální potřebný zdvih je definován vzdáleností mezi testovacími sondami.
Při správné poloze je prostřednictvím elektromagnetu 11 testovací sonda přiřazena ke kontaktovanému povrchu a tak je možné pomocí páru současně fungujících testovacích sond kontrolovat funkčnost obvodu mezi dvěma určenými body, příslušnou kontinuitu a možné zkraty. Pracuje se přitom například s jednou detekční jehlou 10' panelu 1SS na jedné straně a jednou detekční jehlou 10' jiného panelu 1SD na druhé, po vykonání příslušného středícího pohybu jednoho z panelů 1 SS, 1SD, 1IS, 1ID vůči druhému a/nebo obou od kontrolované karty 2 a naopak.
Proces pokračuje po bodech, příslušným způsobem a podle přání.
Jak již bylo řečeno, vedle pohyblivosti jednoho panelu 1SS, 1SD, 1IS, 1ID nezávisle na druhém přednost se dává tomu, aby se i karta 2 pohybovala nezávisle na jednom nebo druhém páru panelů 1SS, 1SD, US, 1ID.
Tímto způsobem se dosáhne větší univerzálnosti procesu.
-4 CZ 298035 B6
PATENTOVÉ NÁROKY

Claims (6)

1. Přístroj pro elektrické testování tištěných obvodů na kartách, zahrnující detekční panel (1SS, 1SD, 1IS, 11D), nesoucí na své lícové, ke kartě (2) s kontrolovaným tištěným obvodem přivrácené, straně množství vodivých detekčních jehel (10, 10'), připojených na rubové straně detekčního panelu (1SS, 1SD, 1IS, 1 ID) k prostředkům pro analýzu elektrických parametrů snímaných jednou a další detekční jehlou (10, 10'), vyznačující se t í m , že obsahuje alespoň dva k sobě přiléhající koplanámí detekční panely (1SS, 1IS) a (1SD, 1ID), přičemž panely (1SS, 1IS) a (1SD, 1ID) jsou vůči sobě a/nebo oba vůči kartě (2) nezávisle pohyblivé, a naopak.
2. Přístroj podle nároku 1, vyznačující se tím, že obsahuje jeden pár k sobě přiléhajících koplanámích detekčních panelů (1SS, 1IS) a (1SD, 1ID), navzájem vůči sobě pohyblivých.
3. Přístroj podle nároku 1, vyznačující se tím, že obsahuje dva protilehlé páry z k sobě přiléhajících koplanámích detekčních panelů, z nichž jeden pár se skládá z levého horního panelu (1SS) a pravého horního panelu (1SD) a druhý pár z levého dolního panelu (1IS) a pravého dolního panelu (1ID).
4. Přístroj podle nároku 1,vyznačující se tím, že detekční jehly (10, 10') jsou upraveny stavitelně ve směru kolmém na detekční panel (1SS, 1SD, 1IS, 1ID).
5. Přístroj podle nároku 4, vyznačující se tím, že detekční jehly (10, 10') jsou spojeny s elektromagnetem (11) pro vyvození stavitelnosti jehel (10, 10').
6. Přístroj podle některého z předcházejících nároků, vyznačující se tím, že obsahuje jeden detekční panel (1SS, 1SD, 1IS, 1ID) s jednou detekční jehlou (10') pro krytí jednoho z páru kontrolovaných bodů tištěného obvodu na jedné straně a jiný detekční panel (1SS, 1SD, 1IS, 1ID) s jednou vodicí detekční jehlou (10') pro krytí druhého z páru kontrolovaných bodů na druhé, přičemž uvedený jeden detekční panel (1SS, 1SD, 1IS, 1ID) vůči druhému a/nebo oba vůči kartě (2), a naopak, jsou pohyblivé pro jejich vzájemné vystředění.
1 výkres
- 5 CZ 298035 B6
I I I
I
I
I
I
I I I
I
I I I
I
FIG. 1
I
I I I
I
I I
I
I I
CZ0187498A 1995-12-22 1996-08-09 Prístroj pro elektrické testování tištených obvodu na kartách CZ298035B6 (cs)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT95UD000251A IT1282829B1 (it) 1995-12-22 1995-12-22 Macchina di test elettrico per circuiti stampati con posizione registrabile degli aghi di sonda

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CZ187498A3 CZ187498A3 (cs) 1998-11-11
CZ298035B6 true CZ298035B6 (cs) 2007-05-30

Family

ID=11421986

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ0187498A CZ298035B6 (cs) 1995-12-22 1996-08-09 Prístroj pro elektrické testování tištených obvodu na kartách

Country Status (27)

Country Link
US (1) US6124722A (cs)
EP (1) EP0876619B1 (cs)
JP (1) JP2000502791A (cs)
KR (1) KR100526744B1 (cs)
CN (1) CN1175270C (cs)
AT (1) ATE202850T1 (cs)
AU (1) AU718507B2 (cs)
BR (1) BR9612251A (cs)
CA (1) CA2241326C (cs)
CZ (1) CZ298035B6 (cs)
DE (1) DE69613717T2 (cs)
DK (1) DK0876619T3 (cs)
ES (1) ES2160830T3 (cs)
GR (1) GR3036790T3 (cs)
HU (1) HUP9901931A3 (cs)
IT (1) IT1282829B1 (cs)
MX (1) MX9805100A (cs)
NO (1) NO315877B1 (cs)
NZ (1) NZ315085A (cs)
PL (1) PL327496A1 (cs)
PT (1) PT876619E (cs)
RO (1) RO119659B1 (cs)
RU (1) RU2212775C2 (cs)
SI (1) SI9620133B (cs)
TR (1) TR199801178T2 (cs)
UA (1) UA28121C2 (cs)
WO (1) WO1997023784A1 (cs)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1282827B1 (it) 1995-09-22 1998-03-31 New System Srl Macchina per il controllo contrapposto dei circuiti stampati
WO2002008773A2 (en) 2000-07-19 2002-01-31 Orbotech Ltd. Apparatus and method for electrical testing of electrical circuits
CN100357752C (zh) * 2004-03-26 2007-12-26 广辉电子股份有限公司 线路缺陷检测维修设备及方法
WO2005093441A1 (fr) * 2004-03-26 2005-10-06 Quanta Display Inc. Dispositif et procede de reparation et de mise a l'essai d'un defaut de ligne
CN100388001C (zh) * 2004-05-24 2008-05-14 名威科技实业有限公司 具有多个侦测单元的检测芯片
DE102009004555A1 (de) 2009-01-14 2010-09-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
WO2020053782A1 (en) * 2018-09-11 2020-03-19 Magicmotorsport Di Bogdan Jan Skutkiewicz Tool and assembly for carrying out tests on electrical and/or electronic circuits
KR102501995B1 (ko) * 2019-12-18 2023-02-20 주식회사 아도반테스토 하나 이상의 피시험 장치를 테스트하기 위한 자동식 테스트 장비 및 자동식 테스트 장비의 작동 방법
JP7217293B2 (ja) 2019-12-18 2023-02-02 株式会社アドバンテスト 1または複数の被テストデバイスをテストするための自動テスト装置、および、自動テスト装置を操作するための方法
TWI797552B (zh) * 2020-02-06 2023-04-01 日商愛德萬測試股份有限公司 用於測試一或多個受測裝置之自動測試設備及用於操作自動測試設備的方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU563614A1 (ru) * 1974-04-17 1977-06-30 Московский Ордена Ленина Энергетический Институт Вихретоковый преобразователь
US5436567A (en) * 1993-02-08 1995-07-25 Automated Test Engineering, Inc. Double-sided automatic test equipment probe clamshell with vacuum-actuated bottom probe contacts and mechanical-actuated top probe contacts

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2628428C3 (de) * 1976-06-24 1979-02-15 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Adapter zum Verbinden von Anschluß- und/oder Prüfpunkten einer Baugruppe mit einer Mefischaltung
EP0256368B1 (de) * 1986-08-07 1992-09-30 Siemens Aktiengesellschaft Prüfeinrichtung für beidseitige, zweistufige Kontaktierung bestückter Leiterplatten
US4841241A (en) * 1986-08-07 1989-06-20 Siemens Aktiengesellschaft Testing device for both-sided contacting of component-equipped printed circuit boards
US4975637A (en) * 1989-12-29 1990-12-04 International Business Machines Corporation Method and apparatus for integrated circuit device testing

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU563614A1 (ru) * 1974-04-17 1977-06-30 Московский Ордена Ленина Энергетический Институт Вихретоковый преобразователь
US5436567A (en) * 1993-02-08 1995-07-25 Automated Test Engineering, Inc. Double-sided automatic test equipment probe clamshell with vacuum-actuated bottom probe contacts and mechanical-actuated top probe contacts

Also Published As

Publication number Publication date
MX9805100A (es) 1998-10-31
CZ187498A3 (cs) 1998-11-11
NO315877B1 (no) 2003-11-03
DE69613717D1 (de) 2001-08-09
KR19990076663A (ko) 1999-10-15
RU2212775C2 (ru) 2003-09-20
NZ315085A (en) 2007-12-21
CN1205774A (zh) 1999-01-20
BR9612251A (pt) 1999-07-13
AU6668496A (en) 1997-07-17
UA28121C2 (uk) 2000-10-16
JP2000502791A (ja) 2000-03-07
DK0876619T3 (da) 2001-10-22
PL327496A1 (en) 1998-12-21
SI9620133B (sl) 2005-10-31
EP0876619A1 (en) 1998-11-11
CA2241326C (en) 2001-11-27
WO1997023784A1 (en) 1997-07-03
KR100526744B1 (ko) 2005-12-21
NO982707D0 (no) 1998-06-12
CN1175270C (zh) 2004-11-10
ATE202850T1 (de) 2001-07-15
GR3036790T3 (en) 2002-01-31
ITUD950251A1 (it) 1997-06-22
HUP9901931A3 (en) 1999-11-29
ES2160830T3 (es) 2001-11-16
IT1282829B1 (it) 1998-03-31
ITUD950251A0 (cs) 1995-12-22
DE69613717T2 (de) 2002-05-16
SI9620133A (sl) 1998-12-31
AU718507B2 (en) 2000-04-13
EP0876619B1 (en) 2001-07-04
NO982707L (no) 1998-07-13
TR199801178T2 (xx) 1998-12-21
US6124722A (en) 2000-09-26
CA2241326A1 (en) 1997-07-03
RO119659B1 (ro) 2005-01-28
PT876619E (pt) 2001-12-28
HUP9901931A2 (hu) 1999-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH022547B2 (cs)
JPH07151834A (ja) プローブのロボット式位置決めを用いた電子アセンブリの検査システム
CZ298035B6 (cs) Prístroj pro elektrické testování tištených obvodu na kartách
GB2278965A (en) Electrical continuity testing apparatus
US7071716B2 (en) Apparatus for scan testing printed circuit boards
RU98113859A (ru) Установка для электрической проверки печатных схем с регулируемым положением зондирующих игл
TW381180B (en) Scan test machine for densely spaced test sites
KR100407068B1 (ko) 인쇄회로 카드 검사방법
EP1022572B1 (en) Scan test apparatus for continuity testing of bare printed circuit boards
KR101981653B1 (ko) 기판 테스트 장비
JP2005517153A (ja) 回路ボードをテストする装置および方法
WO1997011378A1 (en) Machine for the control of printed circuits
JPH03186773A (ja) 抵抗測定装置
JPH0567188B2 (cs)
JP2000046898A (ja) 電子部品の導通試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
PD00 Pending as of 2000-06-30 in czech republic
MM4A Patent lapsed due to non-payment of fee

Effective date: 20080809