JPH03186773A - 抵抗測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野１ 本発明は、プリント配線板などの導通試験をする際に用
いる抵抗測定装置に関する。

［従来の技術１ プリント配線板の断線を検査するに当たっては、プリン
ト配線板の所定のパターンの端部間の抵抗値を検査して
断線しているかどうか等の検査をしｆいムーＪＰ＋ブー
従央【−ふ−ｆけ　ピンプローブから垂下した測定ピン
をプリント配線板の所定のパターンの端部に押し当てて
抵抗値の測定をおこなっていた。

【発明が解決しようとする課題１ ところが、従来のようにピンプローブから垂下した針状
の測定ピンをプリント配線板の所定のパターンのｌ８部
に押し当てるものにあっては、単一の測定ピンを用いて
おり、この結果、測定ピンの接触面積を広く取った方が
良い場合や、鋭く一点で取った方が良い場合、あるは弾
性電気良導体で接触させた方が良い場合等プリント配線
板の種類等により測定ピンを選択したい時があるが、こ
のような時に単一の測定ピンでは無理があり、また、交
換する事自体にも信頼性からいっても無理があった。更
に、検査しようとする配線パターンの２点の位置及Ｖ２
　、Ｉ！１．間の距離が異なる場合には測定ピンの位置
変更及び測定ピン間の距離を変更しなければならず、手
間がかかるという問題があった。

本発明は上記の従来例の問題点に鑑みて発明しす・Ｌの
−ｒｈ本Ａｆ−矛の目的ン十ムシ、−＾社員ｔ７＾種類
の測定ピンの中から最適の測定ピンを選択して使用でき
、また、検査しようとする配線パターンの距離が変わっ
ても簡単に対応することができる抵抗測定装置を提供す
るにある。

［課題を解決するための手段］ 本発明の抵抗測定装置は、プローグ基体１に平面視で重
複しない位置に測定接触部２の太さや硬度等の異なる複
数の測定ピン３をプローグ基体１に対して上ド移動自在
に設け、上記プローグ基体１を前後方向移動手段４によ
り前後方向に移動自在とし且つ左右方向移動手段５によ
り左右方向に移動自在とし、上記プローグ基体１を一対
設けて成ることを特徴とするものであって、このような
構成を採用することで、上記した従来例の問題点を解決
したものである。

［作用１ しかして、複数の測定ピン３の中から最適の測定ピン３
を選んで下降させて目的とするプリント配線板６の配線
パターン７の両端部にそれぞれ測定ピン３の測定用接触
部２を接触させて抵抗値をチエツクして導通試験をする
ものであり、この場合、前後方向移動手段４、左右方向
移動手段５によりプローグ基体１の前後方向、左右方向
の位置ｉｌ！整をし、複数の測定ピン３のなかから選ぶ
最適の測定ピン３の位置及び当該測定ピン３間の距離を
調整するものである。

［実施例１ 以下本発明を添付図面に示す実施例に基づいて詳述する
。

第１図には本発明の抵抗測定装置の一実施例の概略を示
す斜視図が示してあり、第３図には本発明の抵抗測定装
置の他の実施例の概略斜視図が示してあり、第２図には
抵抗測定装置による測定状態の概略断面図が示しである
。

ＰＩＩＪ１図、第３図に示すようにプローグ基体１には
平面視で重複しない位置に複数の測定ピン３が設けてあ
り、この測定ピン３は上下移動装置９によりそれぞれ独
立して上下移動するようになっている。プローグ基体１
に設けた複数の測定ピン３は先端の測定接触部２の太さ
さ硬度等が異なるものである０例えば、測定ピン３の先
端の測定接触部２が太くて接触面積が広いもの、測定接
触部２の先端が鋭くなったもの、測定接触ｌｌ５２がイ
ンダクタンスを最小にするため針よりも毛に近いもの、
あるいは接触圧を強くするため測定接触部２が弾性電気
良導体となったもの等の複数種のものが用いられる。ま
た、第１図、第３図に示す実施例においてはプローグ基
体１には更に上下移動装置９ａにより上下移動自在にな
ったバフ部材３ａを設けである。なお、第１図に示す実
施例では、同一円周上に複数の測定ピン３及びバフ部材
３ａを配置したプローグ基体１が回転装置１３により回
転自在となっている。

上記プローグ基体１は一対設けてあり、この−対のプロ
ーグ基体１はそれぞれ、前後方向移動手段４により前後
方向に移動自在となっていると共に左右方向移動手段５
により左右方向に移動自在となっている。すなわち、前
後方向のレール１０に対して左右方向のレール１１が前
後方向に移動プローグ基体１が左右方向に移動自在に取
り付けである。そして、上記前後方向のレール１０とこ
れに前後に移動自在に取り付けた左右方向のレール１１
とこの移動機構とで前後方向移動手段４が構成してあり
、左右方向のレール１１とこれに移動自在に取り付けた
プローグ基体３とこの移動機構により左右方向移動手段
５が構成しである。

しかして、プリント配線板６の導通試験をするに当たっ
ては、導通試験をしようとするプリント配線板を試験台
の上に載せ、複数の測定ピン３の中から試験をしようと
するプリント配線板６の配線パターン７に対応する最適
の測定ピン３を選んで上下移動装置９により下降させて
目的とするプリント配線板６のパターン７の両端部にそ
れぞれ測定ピン３の測定用接触部２を接触させて抵抗値
をチエツクして導通試験をするものである。この場合、
前後方向移動子Ｐｉ４、左右方向移動手段５によりプロ
ーグ基体１の前後方向、左右方向の位ｒａｉ１ｉ！整を
し、複数の測定ピン３のなかから選）最離を調整するも
のである。このようにして最適の測定ピン３の先端の測
定用接触部２をプリント配線板６の所定配線パターン７
の！ａ部に接触させ、一対の測定ピン３間の抵抗値を測
定回路本体１２によりチエツクし、所定の抵抗値のもの
は良品とし、所定の抵抗値でないものは不良品と判別す
るものである。ここで、プリント配線板６を載置する試
験台を保温ブース等の中に入れて、加熱雰囲気中で上記
測定を行うようにすると、プリント配線板６に断線があ
る場合、常温で断線部分が接触していても断線により自
由端となった部分が加熱により膨張して浮き上がったり
して非接触状態となり、この非接触状態で検査するので
断線が確実に判断できるようになるのである。勿論、常
温で測定をしてもよいものである。

ところで、プローグ基体１にバフ部材３ａを設けである
ので、測定に先立ってバフ部材３ａを下降させてプリン
ト配線板６の配線パターン７の測定すべき部分の表面を
バフ処理し、バフ処理が終わった後でバフ部材３ａを上
昇させ、次に最適の測定ピン３を下降させて測定するよ
うにしてもよい。この場合、バフ部材３ａでバフ処理し
た後でバフ部材３ａに付設するエアー噴き出し装ｆ！１
（図示せず）によりエアーを噴き出してバフ処理した表
面を清浄にするようにしてもよい。

また、第１図に示す実施例では同一円周上に複数の測定
ピン３及びバフ部材３ａを配置したプローグ基体１が回
転装置１３により回転自在となっており、このようにし
た場合、前後移動手段４、左右移動手段５により位置調
整をした後、回転装置１３を回転してバフ部材３ａを所
定の位置に位ｆａさせてバフ部材３ａを下降させてバフ
処理し、その後バフ部材３ａを上昇させた後で回転ｉ置
１３を回転して最適の測定ピン３を所定の位置に位置さ
せ、次にこれを下降させて配線パターン７の所定の位置
に接触させて測定するようにすることができるようにな
っている。

［発明の効果］ 本発明にあっては、叙述のようにプローグ基体に平面視
で重複しない位置に測定接触部の太さや硬度等の異なる
複数の測定ピンをプローグ基体に対して上下移動自在に
設け、上記プローグ基体を前後方向移動手段により前後
方向に移動自在とし且つ左右方向移動手段により左右方
向に移動自在とし、上記プローグ基体を一対設けである
ので、複数の測定ピンの中から最適の測定ピンを選んで
下降させて目的とするプリント配線板の配線パターンの
両端部にそれぞれ測定ピンの測定用接触部を接触させて
抵抗値をチエツクして導通試験ができるものであり、こ
の結果、異なる種類の測定ピンの中から最適の測定ピン
を選択して使用できるという利点がある。また、前後方
向移動手段、左右方向移動手段によりプローグ基体の前
後方向、左右方向の位置調整をし、複数の測定ピンのな
かから選ぶＲ適の測定ピンの位置及び当該測定ピン開の
距離を調整することができるので、プリント配線板の種
類の違いによる測定位置や測定距離の違いを簡単にｌｌ
！整できるものである。

【図面の簡単な説明】

略を示す斜視図、第２図は同上の抵抗測定装置による測
定状態の概略断面図、第３図は本発明の抵抗測定装置の
他の実施例の概略斜視図であって、１はプローグ基体、
２は測定接触部、３は測定ピン、４は前後方向移動手段
、５は左右方向移動手段である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）プローグ基体に平面視で重複しない位置に測定接
   触部の太さや硬度等の異なる複数の測定ピンをプローグ
   基体に対して上下移動自在に設け、上記プローグ基体を
   前後方向移動手段により前後方向に移動自在とし且つ左
   右方向移動手段により左右方向に移動自在とし、上記プ
   ローグ基体を一対設けて成ることを特徴とする抵抗測定
   装置。