JPH0427882A - 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 - Google Patents
回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法Info
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- JPH0427882A JPH0427882A JP2134292A JP13429290A JPH0427882A JP H0427882 A JPH0427882 A JP H0427882A JP 2134292 A JP2134292 A JP 2134292A JP 13429290 A JP13429290 A JP 13429290A JP H0427882 A JPH0427882 A JP H0427882A
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はＸ−Ｙユニットを備えた回路基板検査装置お
よびそのプローブピン自体の検査方法に関するものであ
る。
よびそのプローブピン自体の検査方法に関するものであ
る。
Ｘ−Ｙユニットを備えた回路基板検査装置は、ピンボー
ドを有するフィクスチュアを使用するものに比べて被測
定回路基板ごとにピンボードを作成しなくともよいとい
う利点がある。その従来例が示されている第３図を参照
すると、同回路基板検査装置ｌｌは、−組のＸ−Ｙユニ
ット２，３を備えている。各Ｘ−Ｙユニット２，３は、
例えばＸ方向に沿って配置された案内レール２ａ、３ａ
と、例えばＹ方向に配向されていて同案内レール２ａ。
ドを有するフィクスチュアを使用するものに比べて被測
定回路基板ごとにピンボードを作成しなくともよいとい
う利点がある。その従来例が示されている第３図を参照
すると、同回路基板検査装置ｌｌは、−組のＸ−Ｙユニ
ット２，３を備えている。各Ｘ−Ｙユニット２，３は、
例えばＸ方向に沿って配置された案内レール２ａ、３ａ
と、例えばＹ方向に配向されていて同案内レール２ａ。
３ａに沿って摺動するアーム２ｂ、３ｂとを有し、各ア
ーム２ｂ、３ｂには、図示しないサーボモータなどによ
ってＹ方向に移動する可動部４，５が設けられている。
ーム２ｂ、３ｂには、図示しないサーボモータなどによ
ってＹ方向に移動する可動部４，５が設けられている。
第４図に示されているように、各可動部４，５には１例
えばエアシリンダもしくはステッピングモータなどの上
下動機構６によって上下動されるプローブホルダー７が
設けられており、同プローブホルダー７にプローブピン
８が取付けられている。なお図示されていないが、この
プローブピン８はスキャナ（スイッチ）を介して選択的
に測定信号発生部と信号測定部とに接続される。
えばエアシリンダもしくはステッピングモータなどの上
下動機構６によって上下動されるプローブホルダー７が
設けられており、同プローブホルダー７にプローブピン
８が取付けられている。なお図示されていないが、この
プローブピン８はスキャナ（スイッチ）を介して選択的
に測定信号発生部と信号測定部とに接続される。
測定に際しては、被測定回路基板ＰＢを可動部４゜５の
可動領域内に配置し、その一方の可動部４側のプローブ
ピン８を例えば被測定部品Ｘの一方のリード端子に接触
させるとともに、他方の可動部５側のプローブピン８を
被測定部品Ｘの他方のリード端子に接触させる。そして
、一方のプローブピン８側から測定信号を供給し、他方
のプローブピン８にてその信号を検出する。
可動領域内に配置し、その一方の可動部４側のプローブ
ピン８を例えば被測定部品Ｘの一方のリード端子に接触
させるとともに、他方の可動部５側のプローブピン８を
被測定部品Ｘの他方のリード端子に接触させる。そして
、一方のプローブピン８側から測定信号を供給し、他方
のプローブピン８にてその信号を検出する。
上記のように、Ｘ−Ｙユニット２．３によれば、その可
動部４，５を被測定ポイントに移動させればよいため、
被測定回路基板ＰＢごとにピンボードを用意する必要が
ないのであるが、その代わりに、例えば２本のプローブ
ピン８にて各被測定ポイントを受は持つことになるため
、−枚の基板あたりのプローブピン８の使用頻度が大幅
に増大する。
動部４，５を被測定ポイントに移動させればよいため、
被測定回路基板ＰＢごとにピンボードを用意する必要が
ないのであるが、その代わりに、例えば２本のプローブ
ピン８にて各被測定ポイントを受は持つことになるため
、−枚の基板あたりのプローブピン８の使用頻度が大幅
に増大する。
このことは、プローブピンが早期に摩耗したり損傷し易
くなることを意味し、例えばＮＧ（不良）信号が連続し
て出た時などは、それが被測定回路基板ＰＢ本来のＮＧ
なのか、プローブピン自体によるＮＧなのか判断できず
、その都度プローブピンを検査しなければならないとい
う欠点があった。
くなることを意味し、例えばＮＧ（不良）信号が連続し
て出た時などは、それが被測定回路基板ＰＢ本来のＮＧ
なのか、プローブピン自体によるＮＧなのか判断できず
、その都度プローブピンを検査しなければならないとい
う欠点があった。
この発明は上記従来の欠点を解決するためになされたも
ので、その構成上の特徴は、被測定回路基板が載置され
る基台の基台面と平行な平面に沿って移動し得る少なく
とも一対の可動部を有し、同可動部の各々に測定信号発
生部と信号測定部とに接続されるプローブピンを上下動
可能に設け、同プローブピンを上記被測定回路基板の測
定部位に接触させて同基板の電気的検査を行なう回路基
板検査装置において、上記基台上の上記被測定回路基板
載置部位以外であって上記プローブピンが接触可能な所
定個所に上記測定信号発生部と上記信号測定部とに接続
されるプローブピン検査用導電体を設置してなることに
ある。
ので、その構成上の特徴は、被測定回路基板が載置され
る基台の基台面と平行な平面に沿って移動し得る少なく
とも一対の可動部を有し、同可動部の各々に測定信号発
生部と信号測定部とに接続されるプローブピンを上下動
可能に設け、同プローブピンを上記被測定回路基板の測
定部位に接触させて同基板の電気的検査を行なう回路基
板検査装置において、上記基台上の上記被測定回路基板
載置部位以外であって上記プローブピンが接触可能な所
定個所に上記測定信号発生部と上記信号測定部とに接続
されるプローブピン検査用導電体を設置してなることに
ある。
例えば測定開始に先立って、プローブピン自体を検査す
るには、そのプローブピンをプローブピン検査用導電体
に接触させるとともに、同プローブピンを例えばスキャ
ナを介して測定信号発生部と信号測定部とに接続する。
るには、そのプローブピンをプローブピン検査用導電体
に接触させるとともに、同プローブピンを例えばスキャ
ナを介して測定信号発生部と信号測定部とに接続する。
また、プローブピン検査用導電体も同様に例えばスキャ
ナを介して測定信号発生部と信号測定部とに接続する。
ナを介して測定信号発生部と信号測定部とに接続する。
そして、測定信号発生部からプローブピンに測定電流を
供給し、その時に同プローブピンに発生する電圧を信号
測定部の電圧計にて読み取る。すなわち、四端子法にて
プローブピンの抵抗値を測定し、その値によって良否を
判定する。
供給し、その時に同プローブピンに発生する電圧を信号
測定部の電圧計にて読み取る。すなわち、四端子法にて
プローブピンの抵抗値を測定し、その値によって良否を
判定する。
以下、この発明の実施例を第１図および第２図を参照し
ながら詳細に説明する。
ながら詳細に説明する。
この回路基板検査装置は、先に説明の従来例と同様のＸ
−Ｙユニット２，３を備えている。なお、この実施例に
おいては、各案内レール２ａ、３ａにはアーム２ｂ、３
ｂ邸動用のサーボモータ１１ａ。
−Ｙユニット２，３を備えている。なお、この実施例に
おいては、各案内レール２ａ、３ａにはアーム２ｂ、３
ｂ邸動用のサーボモータ１１ａ。
１１ｂが取付けられ、また、各アーム２ｂ、３ｂには可
動部４，５を動かすためのサーボモータ１２ａ。
動部４，５を動かすためのサーボモータ１２ａ。
１２ｂが取付けられた状態が図解されている。
被測定回路基板ＰＢは、この装置の基台１３上に載置さ
れるのであるが、同基台１３上の所定部位、すなわち可
動部４，５の移動領域内であって、被測定回路基板ＰＢ
の載置部以外の場所にはプローブピン検査用導電体１４
が配置されている。この例では、２個所にプローブピン
検査用導電体１４が設けられている。以下、この導電体
１４の位置を説明の便宜上、チエツクポイントという。
れるのであるが、同基台１３上の所定部位、すなわち可
動部４，５の移動領域内であって、被測定回路基板ＰＢ
の載置部以外の場所にはプローブピン検査用導電体１４
が配置されている。この例では、２個所にプローブピン
検査用導電体１４が設けられている。以下、この導電体
１４の位置を説明の便宜上、チエツクポイントという。
なお、導電体１４は種々の金属から作ることができるが
、最も簡単にはハンダ材であってよい。
、最も簡単にはハンダ材であってよい。
第２図を合せて参照すると、プローブピン８はスキャナ
ＳＷＩを介して測定信号発生部１５に接続可能、また、
スキャナ５１１２を介して信号測定部１６にも接続可能
とされている。これに対して、プローブピン検査用導電
体１４もスキャナＳＷ３を介して測定信号発生部１５に
接続可能であるとともに、スキャナＳＷ４を介して信号
測定部１６にも接続可能となっている。
ＳＷＩを介して測定信号発生部１５に接続可能、また、
スキャナ５１１２を介して信号測定部１６にも接続可能
とされている。これに対して、プローブピン検査用導電
体１４もスキャナＳＷ３を介して測定信号発生部１５に
接続可能であるとともに、スキャナＳＷ４を介して信号
測定部１６にも接続可能となっている。
プローブピン８を検査するには、各可動部４゜５をチエ
ツクポイントにまで移動させ、プローブピン８を導電体
１４に接触させるとともに、各スキャナＳｗｌ〜ＳＷ４
を閉じる。これにより、測定信号発生部１５からプロー
ブピン８に測定電流が供給され、その時に同プローブピ
ン８に生ずる電圧が信号測定部１６にて測定される。す
なわち、四端子計測法にてプローブピン８の抵抗値が測
定され、その値が許容範囲内であれば、そのプローブピ
ン８は正常、許容範囲外であればＮＧ（不良）と判断さ
れる。
ツクポイントにまで移動させ、プローブピン８を導電体
１４に接触させるとともに、各スキャナＳｗｌ〜ＳＷ４
を閉じる。これにより、測定信号発生部１５からプロー
ブピン８に測定電流が供給され、その時に同プローブピ
ン８に生ずる電圧が信号測定部１６にて測定される。す
なわち、四端子計測法にてプローブピン８の抵抗値が測
定され、その値が許容範囲内であれば、そのプローブピ
ン８は正常、許容範囲外であればＮＧ（不良）と判断さ
れる。
このプローブピン検査の実行時期は、電源投入時、被測
定回路基板の機種切換え時、もしくは前もって設定され
た回数のＮＧが連続して発生した場合などプログラムに
応じて任意に設定することができる。また、プローブピ
ン８の上下動機構６（第４図参照）としてステッピング
モータが用いられている場合には、与えたパルス数によ
りその移動量が決まっているため、その時の抵抗値を測
定することで、プローブピン８が正常な長さになってい
るかなどをも判断することができる。
定回路基板の機種切換え時、もしくは前もって設定され
た回数のＮＧが連続して発生した場合などプログラムに
応じて任意に設定することができる。また、プローブピ
ン８の上下動機構６（第４図参照）としてステッピング
モータが用いられている場合には、与えたパルス数によ
りその移動量が決まっているため、その時の抵抗値を測
定することで、プローブピン８が正常な長さになってい
るかなどをも判断することができる。
なお、この実施例においては、プローブピン８の測定信
号発生部１５および信号測定部１６に対するオンオフを
スキャナＳＷＩ〜ＳＷ４によって行なっているが、プロ
ーブピン検査時には、測定信号発生部１５および信号測
定部１６内のそれに使用する電源や測定回路を切換える
ようにしてもよい。また、通常の測定時には、一方のプ
ローブピン８が測定信号発生部１５に接続され、他方の
プローブピン８が信号測定部１６に接続される。
号発生部１５および信号測定部１６に対するオンオフを
スキャナＳＷＩ〜ＳＷ４によって行なっているが、プロ
ーブピン検査時には、測定信号発生部１５および信号測
定部１６内のそれに使用する電源や測定回路を切換える
ようにしてもよい。また、通常の測定時には、一方のプ
ローブピン８が測定信号発生部１５に接続され、他方の
プローブピン８が信号測定部１６に接続される。
以上説明したように、この発明によれば、Ｘ−Ｙユニッ
トに用いられている使用頻度の高いプローブピンの良、
不良を適格に判断することができる回路基板検査装置が
提供される。
トに用いられている使用頻度の高いプローブピンの良、
不良を適格に判断することができる回路基板検査装置が
提供される。
第１図はこの発明に係る一実施例を示した概略的な斜視
図、第２図はプローブピン検査時の回路接続状態を説明
するための回路図、第３図は従来例を示した概略的な平
面図、第４図は同従来例の可動部を示した側面図である
。 図中、２，３はＸ−Ｙユニット、２ａ、３ａは案内レー
ル、２ｂ、３ｂはアーム、４，５は可動部、８はプロー
ブピン、ｌｌａ 、 １１ｂ、１２ａ 、１２ｂはサー
ボモータ、１３は基台、１４はプローブピン検査用導電
体、１５は測定信号発生部、１６は信号測定部である。 特許出願人 日置電機株式会社 代理人 弁理士 大 原 拓 也 第 図 第 図 第 図 第４ 図 ％
図、第２図はプローブピン検査時の回路接続状態を説明
するための回路図、第３図は従来例を示した概略的な平
面図、第４図は同従来例の可動部を示した側面図である
。 図中、２，３はＸ−Ｙユニット、２ａ、３ａは案内レー
ル、２ｂ、３ｂはアーム、４，５は可動部、８はプロー
ブピン、ｌｌａ 、 １１ｂ、１２ａ 、１２ｂはサー
ボモータ、１３は基台、１４はプローブピン検査用導電
体、１５は測定信号発生部、１６は信号測定部である。 特許出願人 日置電機株式会社 代理人 弁理士 大 原 拓 也 第 図 第 図 第 図 第４ 図 ％
Claims (2)
- （１）被測定回路基板が載置される基台の基台面と平行
な平面に沿って移動し得る少なくとも一対の可動部を有
し、同可動部の各々に測定信号発生部と信号測定部とに
接続されるプローブピンを上下動可能に設け、同プロー
ブピンを上記被測定回路基板の測定部位に接触させて同
基板の電気的検査を行なう回路基板検査装置において、 上記基台上の上記被測定回路基板載置部位以外であって
上記プローブピンが接触可能な所定個所に上記測定信号
発生部と上記信号測定部とに接続されるプローブピン検
査用導電体を設置してなることを特徴とする回路基板検
査装置。 - （２）被測定回路基板が載置される基台の基台面と平行
な平面に沿って移動し得る少なくとも一対の可動部を有
し、同可動部の各々に測定信号発生部と信号測定部とに
接続されるプローブピンを上下動可能に設け、同プロー
ブピンを上記被測定回路基板の測定部位に接触させて同
基板の電気的検査を行なう回路基板検査装置において、 上記基台上の上記被測定回路基板載置部位以外であって
上記プローブピンが接触可能な所定個所に上記測定信号
発生部と上記信号測定部とに接続されるプローブピン検
査用導電体を設置し、同導電体に上記プローブピンを適
宜接触させるとともに、同プローブピンおよび同導電体
に上記測定信号発生部から測定電流を供給し、かつ、そ
の時に同プローブピンに発生する電圧値を上記信号測定
部にて測定することにより、同プローブピン自体の良否
を四端子法にて検査することを特徴とするプローブピン
の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02134292A JP3078562B2 (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02134292A JP3078562B2 (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0427882A true JPH0427882A (ja) | 1992-01-30 |
| JP3078562B2 JP3078562B2 (ja) | 2000-08-21 |
Family
ID=15124876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02134292A Expired - Fee Related JP3078562B2 (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3078562B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004069447A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Ibiden Engineering Kk | プリント配線板通電検査治具の検査装置 |
| CN112097701A (zh) * | 2020-08-05 | 2020-12-18 | 海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司 | 一种三坐标测量机安全位信号采集装置及方法 |
-
1990
- 1990-05-24 JP JP02134292A patent/JP3078562B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004069447A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Ibiden Engineering Kk | プリント配線板通電検査治具の検査装置 |
| CN112097701A (zh) * | 2020-08-05 | 2020-12-18 | 海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司 | 一种三坐标测量机安全位信号采集装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3078562B2 (ja) | 2000-08-21 |
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|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090616 Year of fee payment: 9 |
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