JPS63181394A - プリント基板検査装置 - Google Patents
プリント基板検査装置Info
- Publication number
- JPS63181394A JPS63181394A JP62012400A JP1240087A JPS63181394A JP S63181394 A JPS63181394 A JP S63181394A JP 62012400 A JP62012400 A JP 62012400A JP 1240087 A JP1240087 A JP 1240087A JP S63181394 A JPS63181394 A JP S63181394A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit board
- inspection
- probe
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 30
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プリント基板の検査装置に係り、特く、未実
装のプリント基板の配線パターンの検査に好適なプリン
ト基板検査装置に関するものである。
装のプリント基板の配線パターンの検査に好適なプリン
ト基板検査装置に関するものである。
未実装のプリント基板の検査装置として、たとえば、特
開昭５９−１６８３７５号に示きれるような検査装置が
知られている。このような検査装置では、プリント基板
に散在する検査点へプローブ１ −を移動させるため、特開昭５８−３１７９９号に示さ
れるようなＸ−Ｙ移動機構を用いている。
開昭５９−１６８３７５号に示きれるような検査装置が
知られている。このような検査装置では、プリント基板
に散在する検査点へプローブ１ −を移動させるため、特開昭５８−３１７９９号に示さ
れるようなＸ−Ｙ移動機構を用いている。
ブ。
そして、一方のプローブをプリント基板の検査点に当て
ることにより、検査点に接続された配線パターンとチー
グルの導電板との間の静電容量を１゜ 測定し、両方のプロー４に配線パターンの両端の検査点
に当て、配線パターンの′１気抵抗を測定するようにな
っている。そして、検査点は、通常スルーホール部にな
っている。
ることにより、検査点に接続された配線パターンとチー
グルの導電板との間の静電容量を１゜ 測定し、両方のプロー４に配線パターンの両端の検査点
に当て、配線パターンの′１気抵抗を測定するようにな
っている。そして、検査点は、通常スルーホール部にな
っている。
実際のプリント基板においては、大きさの異なる数種類
のスルーホールが形成され、各々が検査プ。
のスルーホールが形成され、各々が検査プ。
点に指定される。そして、各検査点にプローブをグ
位置決めし、プローブを検査点に接触させたとき、ブ
プローブの先端が検査点のスルーホールに嵌合して抜け
なくなることがある。
なくなることがある。
このだめ、プローブを最小のスルーホールの径より細く
すると、ブロー−の剛性が低下し、所要の接触圧が得ら
れなくなる。
すると、ブロー−の剛性が低下し、所要の接触圧が得ら
れなくなる。
グ
また、プローグを最大のスルーホールの径より大きくす
ると、線間の巾の狭いプリント基板では複数の配線パタ
ーンと同時に接触し、所要の配線パターンの検査ができ
ないなどの問題点があった。
ると、線間の巾の狭いプリント基板では複数の配線パタ
ーンと同時に接触し、所要の配線パターンの検査ができ
ないなどの問題点があった。
本発明の目的は、上記した問題点に鑑み、検査ブ′
点の大きさに合せてプローグを交換し得るようにしたプ
リント基板検査装置を提供するにある。
リント基板検査装置を提供するにある。
上記目的を達成するための本発明の手段を、実施例に対
応する図面に基づいて説明する。
応する図面に基づいて説明する。
同図において、１はプリント基板検査装置のキ２パ
ヤリア。４はプローブホルダで、キャリア１に昇降可能
に支持されたインデックス装置２に回転可能に支持され
ている。５ａ、５ｂ、５０はブローク゛
ブ′ タゝダで、グローブホルｆ４
に所定の間隔で保持されている。６はプリント基板、７
は検査点である。
に支持されたインデックス装置２に回転可能に支持され
ている。５ａ、５ｂ、５０はブローク゛
ブ′ タゝダで、グローブホルｆ４
に所定の間隔で保持されている。６はプリント基板、７
は検査点である。
そして、キャリヤ１を所要の検査点７へ移動させる間に
、グロー−ホルダ４を回転させ、検査点プ” ７に適合するプローグ５ａ（５ｂ、５ｃ）を選択する。
、グロー−ホルダ４を回転させ、検査点プ” ７に適合するプローグ５ａ（５ｂ、５ｃ）を選択する。
このようにして、検査点７の大きさに合せてプフ゛。
ローｆ ５ ａ〜５ｃを選択することにより、検査時に
発生する問題点を解決することができる。
発生する問題点を解決することができる。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
図において、１はプリント基板検査装置のキャリア。２
はインデックス装置で、キャリア１に昇降可能に支持さ
れ、図示しない駆動手段によって移動される。３はモー
タで、インデックス装置のブ 駆動源である。４はプローブホルダで、インデックス族
ｆ２の出力軸に固定されている。５ａ、５１′ ｋ）ｔ５ｃはプローグで、それぞれ異る大きさに形プ′ 成され、プローブホルダ４に所定の間隔で固定されてい
る。６はプリント基板。７は検査点で、プリント基板６
上に形成されている。８はプリント基板検査装置のテー
ブルである。
はインデックス装置で、キャリア１に昇降可能に支持さ
れ、図示しない駆動手段によって移動される。３はモー
タで、インデックス装置のブ 駆動源である。４はプローブホルダで、インデックス族
ｆ２の出力軸に固定されている。５ａ、５１′ ｋ）ｔ５ｃはプローグで、それぞれ異る大きさに形プ′ 成され、プローブホルダ４に所定の間隔で固定されてい
る。６はプリント基板。７は検査点で、プリント基板６
上に形成されている。８はプリント基板検査装置のテー
ブルである。
そして、検査点７の大きさが変る場合、キアリブ。
ア１の移動時にモータ３を作動させ、プロー≠ホフ゛。
ルダ４を所要の方向に回転させて、プローグ５ａ（５ｂ
ｔ５ｃ）を変える。
ｔ５ｃ）を変える。
このようにして、検査点７の大きさに合せて検査を行な
うことにより、最適な状態で検査を行なうことができる
。
うことにより、最適な状態で検査を行なうことができる
。
以上述べた如く、本発明によれば、検査点の大フ゛
き１に合せてブロークを選択することができるので、検
査時に発生するトラブルをなくすことができる。
査時に発生するトラブルをなくすことができる。
図は、本発明の要部を示す側面図である。
グ′
１・・・キャリア、 ４・・・プローブホルダ、２゛
５ ａ ｔ ５ ｂ 、 ｓ ｃ−・・ブローク６・・
・プリント基板、 ７・・・検査点。 代理人弁理士 小 川 勝 男 図面の浄書 手 続 補 正 書 （方式）昭和 ６年
４月３０日
・プリント基板、 ７・・・検査点。 代理人弁理士 小 川 勝 男 図面の浄書 手 続 補 正 書 （方式）昭和 ６年
４月３０日
Claims (1)
- １、プリント基板と平行な面内を移動するキヤリアに支
持されたプローブを、プリント基板に形成された配線パ
ターンの検査点に接触させて、配線パターンの検査を行
なうプリント基板検査装置において、キャリアにインデ
ックス回転可能なプローブホルダを設け、このプローブ
ホルダに所定の間隔で放射状に複数のプローブを設けた
ことを特徴とするプリント基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62012400A JPS63181394A (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | プリント基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62012400A JPS63181394A (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | プリント基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63181394A true JPS63181394A (ja) | 1988-07-26 |
Family
ID=11804213
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62012400A Pending JPS63181394A (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | プリント基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63181394A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03186773A (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 抵抗測定装置 |
| JPH04131783U (ja) * | 1991-05-27 | 1992-12-04 | 日置電機株式会社 | プローブ交換機構を備えたインサーキツトテスタ用ｘ−ｙユニツト |
| JP2002357630A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-13 | Hioki Ee Corp | プローブ装置および回路基板検査装置 |
-
1987
- 1987-01-23 JP JP62012400A patent/JPS63181394A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03186773A (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 抵抗測定装置 |
| JPH04131783U (ja) * | 1991-05-27 | 1992-12-04 | 日置電機株式会社 | プローブ交換機構を備えたインサーキツトテスタ用ｘ−ｙユニツト |
| JP2002357630A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-13 | Hioki Ee Corp | プローブ装置および回路基板検査装置 |
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