JPS63191973A - プリント板パタ−ン試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 プリント板パターン試験装置であって、格子点パターン
のピッチの偶数倍の間隔で配置され、且つ行及び列間で
斜め方向に隣接して配列される複数のテストピンを有す
るテストヘッド、及びプリント板とテストヘッドを格子
点パターンの行若しくは列の方向へ所定１ピツチづつ相
対的に移動させる移動手段を備えて、パターン試験を偶
数回に分けて行うことにより、装置のコストを改善する
ことができる。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、プリント板パターンの試験装置に係り、特に
コストを著しく改善することができるプリント板パター
ン試験装置に関するものである。

近来、プリント板は微細な電子部品が高密度に実装され
るために、ますます高密度パターンとなリ、そのパター
ンテストに使用される試験装置のテストヘッドには、極
めて多数のプルーブを必要とする。従ってプルーブの取
付孔の加工精度を確保しなればならないので、高価な装
置とならざるをえない。そこでテストヘッドが安価に得
られる方法が望まれている。

〔従来の技術〕

第６図（ａｌはパターン試験装置のテストヘッドの平面
図で、図において、テストヘッド２ａはへラドベース２
０と多数のプローブビン１ａで構成されている。

プローブビン１ａは、例えば１／２０！：′ピッチで行
／列方向に格子状に配列され、プリント板３ａに形成さ
れるすべてのランドパターン４ａに対応した数がヘッド
ベース２０の下面に取り付けられている。例えばプリン
ト板３ａが、５００　Ｘ　５００ｍｍのサイズであれば
、そのテスト領域には１６万本のプローブビン１ａが取
り付けられる。プローブビン１ａは夫々図示省略したテ
ストプログラムを有する制御部へ連結されている。

第６図（′ｂ）はテストされるプリント板３ａのパター
ンの平面図で、図において、４ａはランドパターン、５
は配線パターンを示す。

従ってプリント板３ａのパターンをテストする時は、第
７図に示すように、プリント板３ａをテーブル６上の所
定位置にセットし、上方からテストヘッド２ａを下ろし
て、プローブビン１ａをランドパターン４ａに接触させ
る。

かくてランドパターン４ａを連結した配線パターン５．
即ち、ネット毎の導通、及びネット間の絶縁等が制御部
のテストプログラムに従ってテストされる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来方法によると、テストへラドベース２０に取り
付けられるプローブビン１ａの数が膨大であること、及
びプローブビン１ａの取付は孔ピッチが１／２０！ンと
いう微細であることにより、テストへラドベース２０の
孔明は加工精度とプローブビン１ａの微細化のために極
めて高価な装置になる。

これに対してプリント板の特定パターンに専用のテスト
ヘッドベースを使用する方法も考えられるが、多種多様
なプリント板パターンに対応するためには多数のテスト
へラドベースを必要とし、やはりコストが掛かり、管理
も複雑になるという問題点がある。

このためテストへラドベースの万能性を保持しつつ、よ
り安価な装置が望まれている。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理ブロック図である。

図において、１はテストピン、３はプリント板、４はプ
リント板３に形成された格子点パターン、２は行及び列
で格子点パターン４の１ピツチの偶数倍の間隔で配列さ
れ、且つ隣接する行及び列間は斜め方向に配列される複
数のテストヘッドを有するテストヘッド、 ７はプリント板３とテストヘッド２を行若しくは列方向
へ１ピツチづつ相対的に移動させる移動手段である。

従って移動手段７によって１ピツチづつ移動させてパタ
ーン試験を偶数回に分けて行うように構成されている。

〔作用〕

プリント板の格子点パターン４にテストヘッド２のテス
トピン１を対向させて接触させて所定のテストを行い、
次に移動手段７によってプリント板３かテストヘッド２
のどちらかを１ピツチだけ行若しくは列方向へ相対的に
移動させてテストを行う。更に同方向へ１ピツチ移動さ
せてテストするという具合に偶数回繰り返すことにより
、少ないテストピン１のテストヘッド２ですべての格子
点パターン４と接触させてテストすることができ、テス
トピン１の取付は孔が少なく加工精度が確保できる間隔
を取ることができるので、テスト装置のコストを著しく
改善することができる。

〔実施例〕

第２図〜第５図を参照して本発明の詳細な説明す渇。全
図を通じ同一符号は同一対象物を示す。

第２図（ａ）に示すように、テストへラド２ｂのへラド
ベース２０ａにはプローブビンｌａが行及び列でランド
パターン４ａのピッチ２例えば１／２０！’の２倍の間
隔、即ち、１／１０！’間隔で配列され、且つ隣の行及
び列間では斜め方向に配列、即ち、千鳥配列になるよう
に配列されている。

第２図（ｂｌに示すように、テーブル６ａ上には突当て
部８ａ＋８ｂ、ａｌド部８ｃ、　８ｄで構成された位置
決め治具８が取り付けられ、ガイド部８ｄにはスプリン
グ９ａ、　９ｂでガイド部８ｃ方向へ付勢された押え部
材１０ａ、１０ｂが設けられている。

突当て部８ａ、８ｂの間にカム軸７ｂと偏心カム７ｃで
構成されたカム機構７ａが設けられ、カム軸７ｂはモー
タＭ２に連結されている。また偏心カム７ｃは常態では
短径が図において下方向に位置し、モータ６の駆動によ
ってカム軸７ｂが所定角度回転すると、偏心カム７ｃＯ
ｆ点が突当て部８ａ、８ｂの突当て面がら下方向へラン
ドパターン４ａの間隔、　１／１（Ｈンだけ下方に突き
出るように設定されている。従ってプリント板３ａがセ
ットされていれば偏心カム７ｃに押されて矢印Ａ方向に
１ピンチだけ移動する。

第３図にパターン試験装置のブロック図を示しており、
図において、１２は制御部、１３はテストヘッド２ｂを
上下させる昇降機構、１４はテストプログラム部、１５
は操作パネル、１６はテスト結果を印字出力するプリン
タ部、１７．１８はモータドライバ、Ｍｌはモータを示
す。

このような構成及び機能を有するので、まず、テーブル
６上の位置決め治具８にセットすると、プリント板３ａ
は突当て部８ａ、８ｂに突当てられた状態で、押え部材
１０ａ、　１０ｂによってガイド部８ｃに押圧されて位
置決めされる。

操作パネル１５によってテスト釦を押下すると、昇降機
構１３が起動して、テストヘッド２ｂが所定位置まで降
下し、プローブビン１ａの先端がランドパターン４ａに
接触してテスト待ちの状態となる。この時のプローブビ
ン１ａの位置を第４図において○印で示している。

するとテストプログラム部１４の１回目のテストプログ
ラムが読み出されて、後述する方法によりテストが行わ
れる。テストの結果はプリンタ部１６に印字される。

そのテストが終了すると、テストヘッド２ｂが僅か上昇
してプローブビン１ａの先端がランドパターン４ａから
離れた位置で停止する。

次にカム機構７ａが起動して、偏心カム７ｃが矢印方向
に所定角度回転すると、プリント板３ａがガイド８ｃを
ガイドとして矢印Ａ方向に１ピツチｐだけ移動する。従
ってテスＩ・ヘッド２ｂは当初の位置に対して、図中破
線で示す位置に移動する。

すると再びテストヘッド２ｂが降下してプローブビン１
ａの先端がランドパターン４ａに接触してテスト待ちの
状態となる。この時のプローブビン１ａの位置を図中×
印で示している。

そこでテストプログラム部１４の２回目のテストプログ
ラムが読み出されて、後述する方法によりテストが行わ
れる。テストの結果は同様にプリンタ部１６で印字され
る。

テストが終了するとテス］・ヘッド２ｂがホームポジシ
ョンまで上昇する。また偏心カム７ｃはモータＭ２の逆
回転により元の位置に復帰する。

そこでプリント板３ａを位置決め治具８から取り外して
テストが完了する。

ここで２回に分けて行われるテストの方法について説明
すると、 第５図（ａｌに示すように、プリント板３ａのパターン
をテストする場合に、配線データはランドパターン４ａ
を配線パターン５ａで連結したネット１として■−■−
■−■、及びネット２として■−■−〇−■が形成され
ており、図ではランドパターン４ａの■、■、■、■、
■（図中Ｏ印で示す）が１回目のテストのプローブビン
１ａの位置となり、■。

■、■（図中Δ印で示す）が２回目のテストのプローブ
ビン１ａの位置となる。

そこで試験手順として、まず１回目のテストは１）ネッ
ト１の絶縁テスト ２）■−■の導通テスト ３）ネット２の絶縁テスト ４）■−■の導通テスト ５）■−〇の導通テスト 次に２回目のテストでは、 ６）ネット１の絶縁テスト ７）■−〇の導通テスト ８）ネット２の絶縁テスト が行われる。これらのテストのテストプログラムはテス
トプログラム部１４に格納されている。

このテスト方法で１例えば第５図（ｂｌ及び（Ｃ１に示
すようなパターンがある場合、即ち、（ｂ）の１回目の
テスト位置に１ポイント、２回目のテスト位置に１ポイ
ントの合計２ポイントのランドパターン４ａのネットの
導通テスト、及び（Ｃ）の１回目のテスト位置にだけラ
ンドパターン４ａを持つネットと２回目のテスト位置だ
けにランドパターン４ａを持つネット間の絶縁テストが
不可能になるが、この部分のテストはプログラムから除
外してリストに摘出して別途テストを行うことにより対
処する。このようなパターンの存在は確率的に僅少であ
り本発明の効果が損なわれることはない。

このようにして、少ないプローブビン１ａのテスＩ・ヘ
ッド２ｂで２回に分けてテストすることによりヘッドベ
ース２０ａのプローブビン１ａの取付は孔数が少なく加
工精度が確保できる間隔を取ることができるので、テス
トヘッド２ｂのコストを著しく改善することができるの
で、廉価なパターン試験装置を得ることができる。

上記例ではプローブビン１ａを２ピツチ毎にしてテスト
を２回に分ける場合を説明したが、一般的に偶数ピッチ
として偶数回に分けてテストを行う方法とすることがで
きる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、少ないテストピン
のテストヘッドですべての格子点パターンと接触させて
テストすることができ、テストピンの取付は孔数が少な
く加工精度が確保できる間隔を取ることができるので、
テスト装置のコストを著しく改善することができるとい
う効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理ブロック図、 第２図は本発明の実施例を示す説明図、第３図は本発明
のパターン試験装置のブロック図、 第４図は実施例のテスト中のプローブビンの位置を示す
説明図、 第５図は実施例のテスト方法の説明図、第６図は従来例
を示す説明図、 第７図は従来例のテスト方法の説明図である。 図において、 １はテストピン、　　　１ａはプローブビン、２、２ａ
、　２ｂはテストヘッド、 ３．３ａはプリント板、　　　４は格子点パターン、４
ａはランドパターン、　　　　　７　。 ７は移動手段、　　　　７ａはカム機構、７ｂはカム軸
、　　　　　７ｃは偏心カム、２０．２０ａはへラドベ
ースを示す。 づ扮 生ご フ ５１　図 ２に ｉ　　　　　　第２四 ６ａ 第こ図 ／４．イむ８月のへ゛ター／宕（１、験製ドブａ・ソ２
昼コ第５　ｚ ％４　ｚ 第６　図 第　６　図 俤来伊ｊｔｆ）デス１７３±４え日月回部７　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 プリント板（３）に所定間隔で行及び列方向に配列して
   形成された格子点パターン（４）にテストピン（１）を
   接触させてパターン試験を行う装置であって、 前記格子点パターン（４）の前記所定間隔の偶数倍の間
   隔で配置され、且つ前記行及び列間で斜め方向に隣接し
   て配列される複数のテストピン（１）を有するテストヘ
   ッド（２）と、 前記プリント板（３）と該テストヘッド（２）を該格子
   点パターン（４）の行若しくは列の方向へ該所定間隔づ
   つ相対的に移動させる移動手段（７）とを備え、 該移動手段（７）によって前記プリント板（３）と該テ
   ストヘッド（２）を相対的に移動させてパターン試験を
   偶数回に分けて行うことを特徴とするプリント板パター
   ン試験装置。