JPH04340484A - 多軸プローブ位置決め装置 - Google Patents
多軸プローブ位置決め装置Info
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- JPH04340484A JPH04340484A JP3112805A JP11280591A JPH04340484A JP H04340484 A JPH04340484 A JP H04340484A JP 3112805 A JP3112805 A JP 3112805A JP 11280591 A JP11280591 A JP 11280591A JP H04340484 A JPH04340484 A JP H04340484A
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- Japan
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- positioning device
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 72
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 29
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 13
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は２つ以上のプローブを同
時に位置決めする多軸プローブ位置決め装置に関する。
時に位置決めする多軸プローブ位置決め装置に関する。
【０００２】近年のプリント配線板は集積度の高いＬＳ
Ｉ等を高密度に搭載している関係から、プリント配線板
の配線抵抗が電気信号の伝播速度に与える影響を看過し
得なくなってきている。しかし、これらプリント配線板
には数千〜数万ネットの配線がなされているので、この
配線抵抗の試験を人手による試験，即ちマニュアル試験
で処理することは工数的に無理があるので最近はこの試
験を多軸プローブを装備した自動試験機を用いて行う。
Ｉ等を高密度に搭載している関係から、プリント配線板
の配線抵抗が電気信号の伝播速度に与える影響を看過し
得なくなってきている。しかし、これらプリント配線板
には数千〜数万ネットの配線がなされているので、この
配線抵抗の試験を人手による試験，即ちマニュアル試験
で処理することは工数的に無理があるので最近はこの試
験を多軸プローブを装備した自動試験機を用いて行う。
【０００３】本発明はこの自動試験機に装備される多軸
プローブ位置決め装置（以下プローブ位置決め装置と称
する）の改良に関する。
プローブ位置決め装置（以下プローブ位置決め装置と称
する）の改良に関する。
【０００４】
【従来の技術】図２（ａ） と（ｂ） は従来のプロー
ブ位置決め装置の構造を示す模式的要部斜視図と平面図
である。
ブ位置決め装置の構造を示す模式的要部斜視図と平面図
である。
【０００５】図２（ａ） と（ｂ） に示すように、こ
のプローブ位置決め装置は、互いに平行状態でベース部
１０上に配置された一対の支持体保持部７Ａ，７Ｂと、
これら支持体保持部７Ａ，７Ｂによって水平方向（矢印
Ｘ−Ｘ’方向）に移動可能に保持された一対の測定部支
持体５Ａ，５Ｂと、これら測定部支持体５Ａ，５Ｂによ
って当該測定部支持体の移動方向と直交する方向（矢印
Ｙ−Ｙ’方向）に水平移動可能に保持された一対の測定
部３Ａ，３Ｂと、これら測定部３Ａ，３Ｂによってそれ
ぞれ上下動（Ｚ−Ｚ’方向）可能に保持された一対のプ
ローブ１Ａ，１Ｂと、これら各構成部材の動作をシーケ
ンス的に制御する制御部５０を装備する。 図中、６は矢印Ｘ−Ｘ’方向に移動する測定部３Ａ，３
Ｂを誘導する測定部ガイド溝、８は測定部支持体５Ａ，
５Ｂを矢印Ｙ−Ｙ’方向に誘導する支持体ガイド溝をそ
れぞれ示す。なお、前記測定部３Ａ，３Ｂと測定部支持
体５Ａ，５Ｂは、これら測定部ガイド溝６及び支持体ガ
イド溝８内に配置されている図示しない駆動ネジによっ
てそれぞれ矢印Ｘ−Ｘ’方向，或いは矢印Ｙ−Ｙ’方向
に駆動される。
のプローブ位置決め装置は、互いに平行状態でベース部
１０上に配置された一対の支持体保持部７Ａ，７Ｂと、
これら支持体保持部７Ａ，７Ｂによって水平方向（矢印
Ｘ−Ｘ’方向）に移動可能に保持された一対の測定部支
持体５Ａ，５Ｂと、これら測定部支持体５Ａ，５Ｂによ
って当該測定部支持体の移動方向と直交する方向（矢印
Ｙ−Ｙ’方向）に水平移動可能に保持された一対の測定
部３Ａ，３Ｂと、これら測定部３Ａ，３Ｂによってそれ
ぞれ上下動（Ｚ−Ｚ’方向）可能に保持された一対のプ
ローブ１Ａ，１Ｂと、これら各構成部材の動作をシーケ
ンス的に制御する制御部５０を装備する。 図中、６は矢印Ｘ−Ｘ’方向に移動する測定部３Ａ，３
Ｂを誘導する測定部ガイド溝、８は測定部支持体５Ａ，
５Ｂを矢印Ｙ−Ｙ’方向に誘導する支持体ガイド溝をそ
れぞれ示す。なお、前記測定部３Ａ，３Ｂと測定部支持
体５Ａ，５Ｂは、これら測定部ガイド溝６及び支持体ガ
イド溝８内に配置されている図示しない駆動ネジによっ
てそれぞれ矢印Ｘ−Ｘ’方向，或いは矢印Ｙ−Ｙ’方向
に駆動される。
【０００６】このプローブ位置決め装置は、制御部５０
からの指令に基づいて、先ず支持体保持部７Ａと７Ｂが
作動して測定部支持体５Ａと５Ｂをそれぞれ所定位置ま
で駆動し、次いでこの測定部支持体５Ａと５Ｂが作動し
て各測定部３Ａと３Ｂをそれぞれ所定位置まで駆動して
これら各測定部３Ａ，３Ｂに装備されたプローブ１Ａ，
１Ｂをそれぞれ所定位置に位置決めする。そして最後に
測定部３Ａ，３Ｂが作動してプローブ１Ａ，１Ｂを矢印
Ｚ方向に降下させてこれらプローブ１Ａ，１Ｂをそれぞ
れプリント板２０上の配線パターン（図示せず）に当接
させる。
からの指令に基づいて、先ず支持体保持部７Ａと７Ｂが
作動して測定部支持体５Ａと５Ｂをそれぞれ所定位置ま
で駆動し、次いでこの測定部支持体５Ａと５Ｂが作動し
て各測定部３Ａと３Ｂをそれぞれ所定位置まで駆動して
これら各測定部３Ａ，３Ｂに装備されたプローブ１Ａ，
１Ｂをそれぞれ所定位置に位置決めする。そして最後に
測定部３Ａ，３Ｂが作動してプローブ１Ａ，１Ｂを矢印
Ｚ方向に降下させてこれらプローブ１Ａ，１Ｂをそれぞ
れプリント板２０上の配線パターン（図示せず）に当接
させる。
【０００７】なお、これら二つのプローブ１Ａ，１Ｂを
プリント板２０の配線パターンに接触させて得られた情
報は制御部５０を介して試験装置（図示せず）に送られ
、そこで処理されて回路の良否が判断される。このよう
にして一つの測定ポイントの試験（２点間の抵抗測定）
が終了するとプローブ１Ａ，１Ｂを矢印Ｚ’方向に上昇
させて次の測定ポイントへ移動させる。
プリント板２０の配線パターンに接触させて得られた情
報は制御部５０を介して試験装置（図示せず）に送られ
、そこで処理されて回路の良否が判断される。このよう
にして一つの測定ポイントの試験（２点間の抵抗測定）
が終了するとプローブ１Ａ，１Ｂを矢印Ｚ’方向に上昇
させて次の測定ポイントへ移動させる。
【０００８】この方式のプリント板位置決め装置は、プ
ローブ１Ａと１Ｂ，測定部３Ａと３Ｂ，或いは測定部支
持体５Ａと５Ｂが互いに干渉し合わないことを条件とし
てプローブ１Ａ，１Ｂをプリント板２０上の所望の２点
に位置決めすることができることから、最近の試験装置
はこのプリント板位置決め装置を装備しているものが多
い。
ローブ１Ａと１Ｂ，測定部３Ａと３Ｂ，或いは測定部支
持体５Ａと５Ｂが互いに干渉し合わないことを条件とし
てプローブ１Ａ，１Ｂをプリント板２０上の所望の２点
に位置決めすることができることから、最近の試験装置
はこのプリント板位置決め装置を装備しているものが多
い。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】従来のプリント板位置
決め装置は、前記の如く、プローブ１Ａと１Ｂ，測定部
３Ａと３Ｂ，或いは測定部支持体５Ａと５Ｂが互いに干
渉し合わないことを条件としてプローブ１Ａ，１Ｂをプ
リント板２０上の所望の２点に位置決めすることができ
るが、この位置決め装置の場合は、例えばプローブ１Ａ
が１Ｂを越えて移動することができないため、各プロー
ブ１Ａ，１Ｂの移動範囲が必然的に限定される。これら
プローブ１Ａ，１Ｂの移動範囲が限定されるとプリント
板２０の試験をシーケンス的に実行する時の手順が制約
され、結果的にプリント板の試験効率が低下する。
決め装置は、前記の如く、プローブ１Ａと１Ｂ，測定部
３Ａと３Ｂ，或いは測定部支持体５Ａと５Ｂが互いに干
渉し合わないことを条件としてプローブ１Ａ，１Ｂをプ
リント板２０上の所望の２点に位置決めすることができ
るが、この位置決め装置の場合は、例えばプローブ１Ａ
が１Ｂを越えて移動することができないため、各プロー
ブ１Ａ，１Ｂの移動範囲が必然的に限定される。これら
プローブ１Ａ，１Ｂの移動範囲が限定されるとプリント
板２０の試験をシーケンス的に実行する時の手順が制約
され、結果的にプリント板の試験効率が低下する。
【００１０】本発明は、プローブがそれぞれ測定点に向
かって移動中はこれらプローブ同志が互いに接触しない
ようにしてその機能を格段に向上させたプローブ位置決
め装置を実現しようとする。
かって移動中はこれらプローブ同志が互いに接触しない
ようにしてその機能を格段に向上させたプローブ位置決
め装置を実現しようとする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明によるプローブ位
置決め装置は、図１に示すように、互いに平行状態で配
置された支持体保持部７Ａ，７Ｂによって水平移動可能
に保持された一対の測定部支持体５Ａ，５Ｂと、この測
定部支持体５Ａ，５Ｂによって当該測定部支持体の移動
方向と直交する方向に水平移動可能に保持された一対の
測定部３Ａ，３Ｂと、この測定部３Ａ，３Ｂによってそ
れぞれ上下動可能に保持された一対のプローブ１Ａ，１
Ｂと、これら各構成部材の動作をシーケンス的に制御す
る制御部５０を装備してなるプローブ位置決め装置にお
いて、前記プローブ１Ａと１Ｂがそれぞれ測定点に向か
って移動中は、これらプローブ１Ａ，１Ｂと測定部３Ａ
，３Ｂと測定部支持体５Ａ，５Ｂが互いに接触しないよ
うこれら各部材間に高低差を設けた形になっている。
置決め装置は、図１に示すように、互いに平行状態で配
置された支持体保持部７Ａ，７Ｂによって水平移動可能
に保持された一対の測定部支持体５Ａ，５Ｂと、この測
定部支持体５Ａ，５Ｂによって当該測定部支持体の移動
方向と直交する方向に水平移動可能に保持された一対の
測定部３Ａ，３Ｂと、この測定部３Ａ，３Ｂによってそ
れぞれ上下動可能に保持された一対のプローブ１Ａ，１
Ｂと、これら各構成部材の動作をシーケンス的に制御す
る制御部５０を装備してなるプローブ位置決め装置にお
いて、前記プローブ１Ａと１Ｂがそれぞれ測定点に向か
って移動中は、これらプローブ１Ａ，１Ｂと測定部３Ａ
，３Ｂと測定部支持体５Ａ，５Ｂが互いに接触しないよ
うこれら各部材間に高低差を設けた形になっている。
【００１２】
【作用】このプリント板位置決め装置は、プローブ１Ａ
と１Ｂがそれぞれ測定点に向かって移動中は、これらプ
ローブ１Ａ，１Ｂが互いに接触しないようこれら各部材
間に高低差を設けていることから、例えばプローブ１Ａ
が１Ｂを越えて移動することが可能となってこれらプロ
ーブ１Ａ，１Ｂの移動領域が拡大され、プローブ位置決
め装置の性能が著しく向上する。
と１Ｂがそれぞれ測定点に向かって移動中は、これらプ
ローブ１Ａ，１Ｂが互いに接触しないようこれら各部材
間に高低差を設けていることから、例えばプローブ１Ａ
が１Ｂを越えて移動することが可能となってこれらプロ
ーブ１Ａ，１Ｂの移動領域が拡大され、プローブ位置決
め装置の性能が著しく向上する。
【００１３】
【実施例】以下実施例図に基づいて本発明を詳細に説明
する。図１（ａ） と（ｂ） は本発明の一実施例を示
す模式的要部斜視図と要部側面図であるが、前記図２と
同一部分にはそれぞれ同一符号を付している。
する。図１（ａ） と（ｂ） は本発明の一実施例を示
す模式的要部斜視図と要部側面図であるが、前記図２と
同一部分にはそれぞれ同一符号を付している。
【００１４】図１（ａ） と（ｂ） に示すように、本
発明によるプローブ位置決め装置は、互いに平行状態で
ベース部１０上に配置された支持体保持部７Ａ，７Ｂと
、これら支持体保持部７Ａ，７Ｂによって水平方向（矢
印Ｘ−Ｘ’方向）に移動可能に保持された一対の測定部
支持体５Ａ，５Ｂと、この測定部支持体５Ａ，５Ｂによ
って当該測定部支持体の移動方向と直交する方向（矢印
Ｙ−Ｙ’方向）に水平移動可能に保持された一対の測定
部３Ａ，３Ｂと、これら各測定部３Ａ，３Ｂによってそ
れぞれ上下動（矢印Ｚ−Ｚ’方向）可能に保持された一
対のプローブ１Ａ，１Ｂと、これら各構成部材の動作を
シーケンス的に制御する制御部５０を装備すると共に、
前記プローブ１Ａと１Ｂがそれぞれ測定点に向かって移
動中は、これらプローブ１Ａ，１Ｂと測定部３Ａ，３Ｂ
と測定部支持体５Ａ，５Ｂが互いに接触しないようこれ
ら各部材間に所定の高低差Δを設けた形になっている。
発明によるプローブ位置決め装置は、互いに平行状態で
ベース部１０上に配置された支持体保持部７Ａ，７Ｂと
、これら支持体保持部７Ａ，７Ｂによって水平方向（矢
印Ｘ−Ｘ’方向）に移動可能に保持された一対の測定部
支持体５Ａ，５Ｂと、この測定部支持体５Ａ，５Ｂによ
って当該測定部支持体の移動方向と直交する方向（矢印
Ｙ−Ｙ’方向）に水平移動可能に保持された一対の測定
部３Ａ，３Ｂと、これら各測定部３Ａ，３Ｂによってそ
れぞれ上下動（矢印Ｚ−Ｚ’方向）可能に保持された一
対のプローブ１Ａ，１Ｂと、これら各構成部材の動作を
シーケンス的に制御する制御部５０を装備すると共に、
前記プローブ１Ａと１Ｂがそれぞれ測定点に向かって移
動中は、これらプローブ１Ａ，１Ｂと測定部３Ａ，３Ｂ
と測定部支持体５Ａ，５Ｂが互いに接触しないようこれ
ら各部材間に所定の高低差Δを設けた形になっている。
【００１５】この高低差Δは、図１（ａ） と（ｂ）
に示すように、一方の支持体保持部７Ａの高さＨと他方
の支持体保持部７Ｂの高さｈを違えることによって生じ
る。このように支持体保持部７Ａの高さＨを他方の支持
体保持部７Ｂの高さｈよりも高くすることによって測定
部３Ａ側に設けられているプローブ１Ａの下端と測定部
３Ｂの上端との間には常に一定の高低差Δが生じる。
に示すように、一方の支持体保持部７Ａの高さＨと他方
の支持体保持部７Ｂの高さｈを違えることによって生じ
る。このように支持体保持部７Ａの高さＨを他方の支持
体保持部７Ｂの高さｈよりも高くすることによって測定
部３Ａ側に設けられているプローブ１Ａの下端と測定部
３Ｂの上端との間には常に一定の高低差Δが生じる。
【００１６】支持体保持部７Ａの高さＨと他方の支持体
保持部７Ｂの高さｈを違えることによって両者の間に前
記高低差Δが確保されていると、プローブ１Ａはプロー
ブ１Ｂを越えて移動することができるのでプローブ１Ａ
と１Ｂの移動範囲についての制約が無くなり、プローブ
１Ａ，１Ｂの移動領域が広がる。なお、これらプローブ
１Ａ，１Ｂは待機状態の時と測定点に向かって移動中は
図１（ｂ） に示すように矢印Ｚ’方向に上昇しており
、測定点に位置決めされた後はそれぞれ矢印Ｚ方向に降
下してプリント板２０の回路パターン（図示せず）に接
触する。
保持部７Ｂの高さｈを違えることによって両者の間に前
記高低差Δが確保されていると、プローブ１Ａはプロー
ブ１Ｂを越えて移動することができるのでプローブ１Ａ
と１Ｂの移動範囲についての制約が無くなり、プローブ
１Ａ，１Ｂの移動領域が広がる。なお、これらプローブ
１Ａ，１Ｂは待機状態の時と測定点に向かって移動中は
図１（ｂ） に示すように矢印Ｚ’方向に上昇しており
、測定点に位置決めされた後はそれぞれ矢印Ｚ方向に降
下してプリント板２０の回路パターン（図示せず）に接
触する。
【００１７】このプローブ位置決め装置は、一方のプロ
ーブ１Ａが他方のプローブ１Ｂを越えて移動することが
できることから、プローブ１Ａ，１Ｂの移動範囲に関す
る制約を配慮することなくプリント板２０の試験を行う
ことができる。従ってこのプローブ位置決め装置は試験
プログラムの策定が従来のそれに比して著しく容易であ
ることから試験作業の効率が高い。
ーブ１Ａが他方のプローブ１Ｂを越えて移動することが
できることから、プローブ１Ａ，１Ｂの移動範囲に関す
る制約を配慮することなくプリント板２０の試験を行う
ことができる。従ってこのプローブ位置決め装置は試験
プログラムの策定が従来のそれに比して著しく容易であ
ることから試験作業の効率が高い。
【００１８】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明による
プローブ位置決め装置は、一方のプローブが他方のプロ
ーブを越えて移動することができるので、各プローブの
移動範囲に関する制約を配慮することなくプリント板の
試験を実施することができる。従ってこのプローブ位置
決め装置を備えた試験装置は作業効率が極めて高い。
プローブ位置決め装置は、一方のプローブが他方のプロ
ーブを越えて移動することができるので、各プローブの
移動範囲に関する制約を配慮することなくプリント板の
試験を実施することができる。従ってこのプローブ位置
決め装置を備えた試験装置は作業効率が極めて高い。
【図１】 本発明の一実施例を示す模式的要部斜視図
と要部側面図である。
と要部側面図である。
【図２】 従来のプローブ位置決め装置の構造を示す
模式的要部斜視図と平面図である。
模式的要部斜視図と平面図である。
１Ａ，１Ｂ プローブ
３Ａ，３Ｂ 測定部
５Ａ，５Ｂ 測定部支持体
６ 測定部ガイド溝
７Ａ，７Ｂ 支持体保持部
８ 支持体ガイド溝
１０ ベース部
２０ プリント板
５０ 制御部
Δ 高低差
Claims (1)
- 【請求項１】 互いに平行状態で配置された支持体保
持部（７Ａ），（７Ｂ）によって水平方向に移動可能に
保持された一対の測定部支持体（５Ａ），（５Ｂ）と、
この測定部支持体（５Ａ），（５Ｂ）によって当該測定
部支持体の移動方向と直交する方向に水平移動可能に保
持された一対の測定部（３Ａ），（３Ｂ）と、この測定
部（３Ａ），（３Ｂ）によってそれぞれ上下動可能に保
持された一対のプローブ（１Ａ），（１Ｂ）と、これら
各構成部材の動作をシーケンス的に制御する制御部（５
０）を具備してなるプローブ位置決め装置において、前
記プローブ（１Ａ）と（１Ｂ）がそれぞれ測定点に向か
って移動中は、これらプローブ（１Ａ），（１Ｂ）と測
定部（３Ａ），（３Ｂ）と測定部支持体（５Ａ），（５
Ｂ）が互いに接触しないようこれら各部材間に高低差（
Δ）を設けたことを特徴とする多軸プローブ位置決め装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3112805A JPH04340484A (ja) | 1991-05-17 | 1991-05-17 | 多軸プローブ位置決め装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3112805A JPH04340484A (ja) | 1991-05-17 | 1991-05-17 | 多軸プローブ位置決め装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04340484A true JPH04340484A (ja) | 1992-11-26 |
Family
ID=14595973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3112805A Withdrawn JPH04340484A (ja) | 1991-05-17 | 1991-05-17 | 多軸プローブ位置決め装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04340484A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008309601A (ja) * | 2007-06-14 | 2008-12-25 | Yamaha Fine Technologies Co Ltd | プリント基板の検査装置および検査方法 |
| JP2009524071A (ja) * | 2006-02-10 | 2009-06-25 | アーテーゲー ルーテル ウント メルツァー ゲーエムベーハー | コンポーネント化されていない印刷回路基板の検査のためのフィンガーテスター及びフィンガーテスターでコンポーネント化されていない印刷回路基板を検査する方法 |
| CN110977834A (zh) * | 2020-01-02 | 2020-04-10 | 高嘉炜 | 一种电路板快速定位与夹紧装置 |
-
1991
- 1991-05-17 JP JP3112805A patent/JPH04340484A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009524071A (ja) * | 2006-02-10 | 2009-06-25 | アーテーゲー ルーテル ウント メルツァー ゲーエムベーハー | コンポーネント化されていない印刷回路基板の検査のためのフィンガーテスター及びフィンガーテスターでコンポーネント化されていない印刷回路基板を検査する方法 |
| JP2008309601A (ja) * | 2007-06-14 | 2008-12-25 | Yamaha Fine Technologies Co Ltd | プリント基板の検査装置および検査方法 |
| KR101036084B1 (ko) * | 2007-06-14 | 2011-05-19 | 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 | 프린트 기판의 검사 장치 및 검사 방법 |
| CN110977834A (zh) * | 2020-01-02 | 2020-04-10 | 高嘉炜 | 一种电路板快速定位与夹紧装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980806 |