JP2796351B2 - 導通チェック装置 - Google Patents

導通チェック装置

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JP2796351B2
JP2796351B2 JP1107630A JP10763089A JP2796351B2 JP 2796351 B2 JP2796351 B2 JP 2796351B2 JP 1107630 A JP1107630 A JP 1107630A JP 10763089 A JP10763089 A JP 10763089A JP 2796351 B2 JP2796351 B2 JP 2796351B2
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probing
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wiring
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prober
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子回路基板上の配線作業を実施した後に
配線の誤りがないかどうかをチェックする検査装置に関
する。
〔従来の技術〕
従来、電子回路基板上の配線チェックは人手にて導通
回路テスターのプローブを両手で持って、片側ずつ接触
させて回路チェックを行っていた。
また関連するチェック装置として、2本のプローブピ
ンをそれぞれX,Yテーブルに搭載してNCデータにてプロ
ーブを移動してチェックする方法がある。なおこの種の
装置として関連するものには特開昭62−282277号公報等
が挙げられる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術の人手によるプロビング方法では接触さ
せようとする配線の始点,終点が微細になると正確に接
触できなくなる。また拡大鏡を用いた場合でも片側のプ
ロービングはできるがもう一方のプロービングができな
くなる。これは一つの拡大鏡で始点と終点のターゲット
が同時に観察できないためと、左手で始点を接触した後
に右手で終点側を接触する場合にプローブ先端が動いて
正確な導通チェックができないためである。
また従来技術のNCデータにてチェックする装置では、
導通チェックをしようとする配線の始点と終点をそれぞ
れ同時に接触させるために2つのXYテーブルを有する大
規模で複雑な導通チェックシステムとなり、導通チェッ
ク装置が高価になる。
さらにこれらの装置では既に配線された線材がある場
合、正確に確認できないため線材を傷つけたりつぶした
りして製品を壊すケースがある。
本発明の目的は、これら導通チェックを簡易に完全に
さらには正確に行うための装置であり、これにかかる問
題を解決する手段を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、X,Yテーブルを上下に2
段構成とし、1段目のXYテーブル上に設けられたX,Y,Z
移動の可能なプローバとこれらX,Yテーブル上にない固
定プローバとを設けた。
〔作用〕
X,Y,Z方向に移動可能なプローバは1段目のX,Yテーブ
ルに搭載されているために、1段目のX,Yテーブルを用
いて終点ターゲットに位置合わせするときに始点側のプ
ロービングが外れて正確なチェックが出来なくなる様な
ことがない。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図及び第2図により説
明する。
第2図に示すように、回路基板1は設計上変更を必要
とする配線3が発生する。配線3は配線機または自動機
械で配線されるが、正確に配線されたかどうかのチェッ
ク及び配線3の不良解析を行う場合にどうしても簡易的
にチェックできる装置が必要である。
本装置は、X,Y移動テーブルが2層構造を有し、プロ
ービングピンを2本設け、1本は2段テーブルの移動プ
ローブ、他の1本はベース上に設けた固定プローブであ
り、微小部分を確認するための拡大装置とで構成されて
いる。
この配線チェックは配線3の始点3aと終点3bを設計指
図面に従いプロービング(接触)し、導通の有無を確認
するもので、最初に始点3a側からプロービングされる。
始点3a側のプロービングはプロービングターゲットに2
段目のX,Yテーブル5a,5b(X方向5a,Y方向5b)で拡大鏡
10の視野内に位置合わせをし、1段目X,Yテーブル4a,4b
上に設けられた始点プローバ6を動かし、設計指示の始
点3aパッドにプロービングし、固定できる構造となって
いる。この時プロービングは始点3aパッドへの接触状態
とか、既に配設された線材を傷つけない様にプロービン
グエリアを観察しながらプロービングできる様、垂直方
向又は斜方方向ら拡大鏡10で確認ができる様になってい
る。
プロービングはプロービング駆動ステージX軸14aを
移動し、次にY軸14bを移動し、位置合わせが完了する
と、プロービングピンをパッドに接触させるためのZ軸
14cを下降する。
始点3a側のプロービングが終ると終点3b側についても
同様に拡大鏡10の視野内にプロービングエリアを位置合
わせする。この位置合わせは1段目のXYテーブル4a,4b
(X方向が4a,Y方向が4b)と駆動させて位置合わせをす
るもので、始点3a側のプロービングと回路基板1は固定
状態で、終点3b側へ移動する構造となっているため、終
点3b側のプロービングが正確にしかも安全にできる。
終点側のプロービングはベースに固定されたプローブ
ヘッド8にてプローピングするものでZ方向のみ動く構
造になっている。また針の先端はスポットインジケータ
11のビームポイントに下降する位置に固定され、上記1
段目X,Yテーブル4a,4bにて位置合わせ完了後に終点プロ
ーバ7を下降させ接触するものである。
以上始点3aと終点3bをそれぞれプロービングすること
により導通回路テスター12にて配線13の導通有無を確認
する構造となっている。
またチェック装置は位置合わせを容易にするため、ス
ポットインジケータ11にて拡大鏡10の視野を明示する機
能を有する。また拡大鏡10は支柱9に取付けて固定し、
支柱9はベース板13に取付けている。なおX,Yテーブル
の駆動方法は手動,自動どちらにも適用可能で、その駆
動源は問わない。本実施例以外にも応用は多大である。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したように構成されているので以
下に記載されるような効果を奏する。
上下2つのX,Yテーブルと1段目に設けられたX,Y,Z移
動プローバと固定プローバを有するため始点プロービン
グした後に終点プロービングを容易に正確に行うことが
できる。
また始点プロービング,終点プロービングともに拡大
鏡の観察エリアにてプロービングするため既に配線され
た線材に対して傷つけることなくプロービングができ
る。
さらには電子回路基板が微細になっても簡便にプロー
ビングが可能なため、安価な設備化で対応できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す斜視図、第2図は電子回
路基板の実装状態を示す斜視図である。 1……回路基板、3……配線、 3a,……始点、3b……終点、 4a,4b……X,Yテーブル、 5a,5b……X,Yテーブル、 6……始点プローバ、7……終点プローバ。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】上下に重ねた2組のXYテーブルと、前記XY
    テーブルの1組の上に設けられたX,Y,Z方向に移動可能
    な移動プローバと、前記XYテーブル上にはない固定プロ
    ーバとを設けたことを特徴とする導通チェック装置。
JP1107630A 1989-04-28 1989-04-28 導通チェック装置 Expired - Lifetime JP2796351B2 (ja)

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JP1107630A JP2796351B2 (ja) 1989-04-28 1989-04-28 導通チェック装置

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JP1107630A JP2796351B2 (ja) 1989-04-28 1989-04-28 導通チェック装置

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JPH02287272A JPH02287272A (ja) 1990-11-27
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CN107907091B (zh) * 2017-12-14 2023-06-02 山东科技大学 一种测量波形唇油封模芯唇口波形误差的测量装置及方法

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JPH02287272A (ja) 1990-11-27

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