JPH0441342Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本考案は、回路基板の電気的特性の検査を行う
回路基板検査装置のアダプタとして、ICの検査
のために使用されるIC検査用ピンブロツクに関
する。

【従来の技術】

近年、プリント基板等の回路基板の電気的特性
を迅速に検査するため、被検査回路基板の多数の
検査点にコンタクトプローブを同時に接触させて
各コンタクトプローブから得られる電気信号をテ
スタ等に入力するようにした回路基板検査装置が
用いられるようになつてきている。 このような回路基板検査装置のアダプタとして
ICの検査に用いられるのがIC検査用ピンブロツ
クであり、その一例として第２図に示すものが従
来知られている。 これは、IC用のコンタクトプローブ１を上下
方向に貫通して植設したプローブホルダ２と、こ
のプローブホルダ２に圧縮コイルバネ３を介して
上面が弾接し、かつ下面に被検査ICのパツケー
ジを包持する凹所を形成したコンタクトプローブ
先端部位置決め用のガイドブロツク４と、これら
を回路基板検査装置における取付ボード５に調心
自在に取付けるためのホルダ６とを備えたもの
で、ガイドブロツク４の中央部にはガイドピン７
が立設され、このガイドピン７にプローブホルダ
２が上下に摺動自在に嵌合している。そしてこの
プローブホルダ２の上面が間に調心用のバネ８を
介して前記ホルダ６の下面に圧接し、プローブホ
ルダ２上面から突出するガイドピン７がその頭部
７ａで抜止めされてホルダ６に遊嵌している。

【考案が解決しようとする問題点】

このようなIC検査用ピンブロツクは、ガイド
ピン７がホルダ６に遊嵌しており、プローブホル
ダ２およびガイドブロツク４は、ガイドピン７と
直交する平面内に移動して調心動作可能である。
そこでガイドブロツク４は、その凹所が被検査
ICのパツケージを包持するよう調心動作して被
検査ICに対する位置調整を行う。 しかし、バネ３の弾発力でプローブホルダ２お
よびガイドピン７の頭部７ａホルダ６に常時圧接
していて摩擦抵抗が大きいことから、前記調心動
作が円滑に行なわれにくく、被検査ICに対する
ガイドブロツク４の位置ズレが生じてコンタクト
プローブ１が接触不良を起し、安定した検査が出
来ないという問題があつた。 そこで本考案は、簡単な構成でありながらガイ
ドブロツクの調心動作が円滑となつて安定した検
査が行なえるようにしたIC検査用ピンブロツク
を提供することを目的とする。

【問題点を解決するための手段】

この目的のため本考案は、被検査ICに対応す
る複数のコンタクトプローブを植設したプローブ
ホルダと、このプローブホルダが摺動自在に嵌合
するガイドピンと、このガイドピンに固定されか
つプローブホルダにバネを介して接離可能に弾接
するコンタクトプローブ先端部位置決め用のガイ
ドブロツクと、上記プローブホルダから突出する
ガイドピン端部を遊嵌状態に支持してガイドブロ
ツクを調心自在とし、かつプローブホルダに押圧
可能に対面するホルダとを備えるIC検査用ピン
ブロツクであつて、上記ガイドピンにはホルダ側
へのプローブホルダの移動範囲を制限する係止部
を設けてホルダとプローブホルダとの間に所定の
クリアランスを形成したものである。

【作用】

このような手段では、ホルダとプローブホルダ
との間のクリアランスの存在により、プローブホ
ルダはガイドブロツクと共にガイドピンと直交す
る平面内に円滑に移動できる。

【実施例】

以下、本考案の一実施例を図面を参照して具体
的に説明する。 第１図ａ，ｂにおいて符号５は回路基板検査装
置における取付けボードであり、図示省略した駆
動系により上下に移動して被検査回路基板に対し
接離する。この取付けボード５の下面には、底部
に貫通孔６ａを有するボツクス状のホルダ６がビ
ス止め等により適宜固定されている。 上記ホルダ６の貫通孔６ａにはガイドピン９が
所定のクリアランスを有して遊嵌されている。こ
のガイドピン９は、大径の頭部９ａがホルダ６の
底部上面６ｂに支持されて下方に延びるもので、
上記貫通孔６ａに挿通される遊嵌部９ｂにこれに
より細径のガイド部９ｃが前記ホルダ６の下面６
ｃより所定量下方に位置する段部９ｂを介して連
続する。そしてこのようなガイドピン９の下端部
にガイドブロツク４の中央部がビス止め固定され
ると共に、ガイド部９ｃにプローブホルダ２の中
央部に設けた貫通孔が摺動自在に嵌合される。 上記プローブホルダ２は、被検査回路基板上の
被検査IC１０のリードフレーム１０ａに対応し
た複数のコンタクトプローブ１を上下方向に貫通
して植設したものであり、その上面２ａに設けた
支持孔２ｂとホルダ６の下面６ｃに設けた支持孔
６ｄとにまたがつて埋設した密着コイルバネから
なる調心バネ８の作用でガイドピン９が貫通孔６
ａに略同心状となる位置に自動復帰する。 一方、ガイドブロツク４は、前記コンタクトプ
ローブ１の接触ピン部１ａを遊嵌状態に挿通して
リードフレーム１０ａに対する位置決め案内をな
すものであり、その下面には、前記被検査IC１
０のパツケージ１０ｂに上方から調心動作しつつ
嵌まる凹所４ａが形成される。そしてガイドブロ
ツク４の上面に設けた支持孔４ｂと前記プローブ
ホルダ２の下面に設けた支持孔２ｃとに嵌込んで
介設した圧縮コイルバネ３の作用により、プロー
ブホルダ２はガイドブロツク４上に弾持されてガ
イドピン９の段部９ｄに係止され、その上面２ａ
とホルダ６の下面６ｃとの間に所定のクリアラン
スｌが形成されている。 なお前記調心バネ８および圧縮コイルバネ３
は、ガイドピン９を中心としたそれぞれ異なる対
角線上に配置されている。 以上の構成では、回路基板検査装置の作動に伴
つて取付けボード５が下降すると、まずガイドブ
ロツク４の凹所４ａが被検査IC１０のパツケー
ジ１０ｂに上方から嵌まる。このとき被検査IC
１０が所定位置からズレて取付けられていると、
ガイドブロツク４は、その凹所４ａが被検査IC
１０のパツケージ１０ｂに案内されてガイドピン
９と直交する平面内に調心動作しつつ上記パツケ
ージ１０ｂに嵌まる。この調心動作は、プローブ
ホルダ２とホルダ６とが所定のクリアランスｌを
有する非接触状態であることから、調心用のバネ
８に抗するだけできわめて円滑に行なわれ、各コ
ンタクトプローブ１は、被検査IC１０のリード
フレーム１０ａに対して接触ピン部１ａが正確に
位置決めされる。 つづいて第１図ｂのように、ホルダ６の下面６
ｃがプローブホルダ２の上面２ａに当接してこれ
を圧縮コイルバネ３に抗して弾性的に下方へ押動
する。そこで各コンタクトプローブ１の接触ピン
部１ａは、ガイドブロツク４に案内されつつ下方
へ移動して被検査IC１０のリードフレーム１０
ａに確実に接触し、こうして被検査IC１０の電
気的特性検査が行なわれるのである。 検査が終了して取付けボード５が上昇すると、
ガイドピン９の頭部９ａがホルダ６の底部上面６
ｂに支持され、調心バネ８によつてプローブホル
ダ２およびガイドブロツク４は、ガイドピン９が
貫通孔６ａに略同心状となる初期位置に自動復帰
して次の検査に備える。

【考案の効果】

以上説明したとおり本考案によれば、ホルダと
プローブホルダとの間のクリアランスの存在によ
り、プローブホルダはガイドブロツクと共にガイ
ドピンと直交する平面内に円滑に移動でき、ガイ
ドブロツクおよびプローブホルダの調心動作が円
滑となつて安定した検査が行なえる。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ，ｂは本考案の一実施例を示す断面
図、第２図は従来例の断面図である。 １……コンタクトプローブ、１ａ……接触ピン
部、２……プローブホルダ、２ａ……上面、２ｂ
……支持孔、２ｃ……支持孔、３……圧縮コイル
バネ、４……ガイドブロツク、４ａ……凹所、４
ｂ……支持孔、５……取付けボード、６……ホル
ダ、６ａ……貫通孔、６ｂ……底部上面、６ｃ…
…下面、６ｄ……支持孔、７……ガイドピン、７
ａ……頭部、８……調心バネ、９……ガイドピ
ン、９ａ……頭部、９ｂ……遊嵌部、９ｃ……ガ
イド部、９ｄ……段部、１０……被検査IC、１
０ａ……リードフレーム、１０ｂ……パツケー
ジ、ｌ……クリアランス。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 被検査ICに対応する複数のコンタクトプロー
   ブを植設したプローブホルダと、このプローブホ
   ルダが摺動自在に嵌合するガイドピンと、このガ
   イドピンに固定されかつプローブホルダにバネを
   介して接離可能に弾接するコンタクトプローブ先
   端部位置決め用のガイドブロツクと、上記プロー
   ブホルダから突出するガイドピン端部を遊嵌状態
   に支持してガイドブロツクを調心自在とし、かつ
   プローブホルダに押圧可能に対面するホルダとを
   備えるIC検査用ピンブロツクであつて、 上記ガイドピンにはホルダ側へのプローブホル
   ダの移動範囲を制限する係止部を設けてホルダと
   プローブホルダとの間に所定のクリアランスを形
   成したIC検査用ピンブロツク。