JPS5819487Y2 - プロ−ブ接触機構 - Google Patents
プロ−ブ接触機構Info
- Publication number
- JPS5819487Y2 JPS5819487Y2 JP11789278U JP11789278U JPS5819487Y2 JP S5819487 Y2 JPS5819487 Y2 JP S5819487Y2 JP 11789278 U JP11789278 U JP 11789278U JP 11789278 U JP11789278 U JP 11789278U JP S5819487 Y2 JPS5819487 Y2 JP S5819487Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holes
- group
- adapter
- pins
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はプローブを被測定部により位置精度よく接触す
るプローブ接触機構に関する。
るプローブ接触機構に関する。
従来、被検査基板上の被測定部にプローブを接触させて
電流、電圧または抵抗を測定するとき、被検査基板を数
個テーブル上に塔載してそのテーブルの移動のみで所定
位置に設定していたが、位置精度が悪く接触不良が多か
った。
電流、電圧または抵抗を測定するとき、被検査基板を数
個テーブル上に塔載してそのテーブルの移動のみで所定
位置に設定していたが、位置精度が悪く接触不良が多か
った。
またテーブル自体精度よく位置決めしようとすると高価
でかつ装置が複雑になるという欠点があった。
でかつ装置が複雑になるという欠点があった。
また被検査基板にある穴に直接位置決めピンを挿入して
位置決めする機構があるが、被検査基板の穴に傷がつき
、さらに被測定部の相対する底面にも傷がつくという欠
点か゛あった。
位置決めする機構があるが、被検査基板の穴に傷がつき
、さらに被測定部の相対する底面にも傷がつくという欠
点か゛あった。
本考案の目的はこのような欠点を除去し、より安価でよ
り簡単な機構で傷をつけることなく精度よく位置決めす
ることができるプローブ接触機構を提供することにある
。
り簡単な機構で傷をつけることなく精度よく位置決めす
ることができるプローブ接触機構を提供することにある
。
次に図面を参照して本考案を詳細に説明する。
第１図は本考案の一実施例を示し、−底面に被検査基板
７においている穴８１および８２に隙間なく外形が挿入
できるピン６１および６２を有しかつ同底面に直角にあ
いた第１群の穴４１および４２を有しさらに相対する底
面に直角にあいた第２群の穴５１および５２を有するア
ダプタ３と、第２群の穴５１および５２の径より小さい
径のピン２１および２２を有しかつアダプタ３を保持す
る保持本体１と、先端がアダプタ３の第１群の穴４１お
よび４２より小さい径でかつ先端から円錐状に広がった
部分が第１群の穴４１および４２より大きい径でさらに
他端がばね１３で支持された位置決めピン１１１および
１１２を備え、かつピン１１１および１１２に対して精
度よく配置し固定したプローブ１４１，１４２および１
４ｎを有するプローブホルダ１０とから構成される。
７においている穴８１および８２に隙間なく外形が挿入
できるピン６１および６２を有しかつ同底面に直角にあ
いた第１群の穴４１および４２を有しさらに相対する底
面に直角にあいた第２群の穴５１および５２を有するア
ダプタ３と、第２群の穴５１および５２の径より小さい
径のピン２１および２２を有しかつアダプタ３を保持す
る保持本体１と、先端がアダプタ３の第１群の穴４１お
よび４２より小さい径でかつ先端から円錐状に広がった
部分が第１群の穴４１および４２より大きい径でさらに
他端がばね１３で支持された位置決めピン１１１および
１１２を備え、かつピン１１１および１１２に対して精
度よく配置し固定したプローブ１４１，１４２および１
４ｎを有するプローブホルダ１０とから構成される。
次に本機構の動作について説明する。
アダプタ３に被検査基板７をピン６１および６２により
位置決めし搭載した後、アダプタ３を保持本体１上のピ
ン２１および２２で概略位置決めし、プローブホルダ１
０のピン１１１および１１２の延長上にアダプタ３の第
１群の穴４１および４２を設定する。
位置決めし搭載した後、アダプタ３を保持本体１上のピ
ン２１および２２で概略位置決めし、プローブホルダ１
０のピン１１１および１１２の延長上にアダプタ３の第
１群の穴４１および４２を設定する。
その後矢印方向１５の方向にプローブホルダ１０を移動
させる。
させる。
プローブホルダ１０内に保持された位置決めピン１１１
および１１２の先端がアダプ夕３の一底面においている
第１群の穴４１および４２に挿入される。
および１１２の先端がアダプ夕３の一底面においている
第１群の穴４１および４２に挿入される。
さらに矢印方向１５の方向に力Ｆを加えるとピン１１１
および１１２の円錐状の側面が第１群の穴４１および４
２の入口に接触して第２図のようにピン１１１および１
１２の中心軸と第１群の穴４１および４２の中心軸のず
れ量ＷがＯとなるようなすなわち両中心軸が同一直線上
になるような方向１６に力Ｐが働きアダプタ３が微動す
る。
および１１２の円錐状の側面が第１群の穴４１および４
２の入口に接触して第２図のようにピン１１１および１
１２の中心軸と第１群の穴４１および４２の中心軸のず
れ量ＷがＯとなるようなすなわち両中心軸が同一直線上
になるような方向１６に力Ｐが働きアダプタ３が微動す
る。
すなわち、ピン１１１および１１２に対してプローブ１
４１ 、１４２および１４ｎは位置精度よくプローブホ
ルダ１０に固定されており、また被検査基板７は第１群
の穴４１および４２に対して位置精度よく配置されたピ
ン８１および８２により位置決めされていることから、
被検査基板７とアダプタ３の位置決め精度のみの精度で
プローブ１４１，１４２および１４ｎは被検査基板７上
の被測定部９１．９２および９ｎに確実に接触でき、電
流、電圧または抵抗等の測定ができる。
４１ 、１４２および１４ｎは位置精度よくプローブホ
ルダ１０に固定されており、また被検査基板７は第１群
の穴４１および４２に対して位置精度よく配置されたピ
ン８１および８２により位置決めされていることから、
被検査基板７とアダプタ３の位置決め精度のみの精度で
プローブ１４１，１４２および１４ｎは被検査基板７上
の被測定部９１．９２および９ｎに確実に接触でき、電
流、電圧または抵抗等の測定ができる。
以上説明したように、プローブを被測定部の方向に一方
向移動するだけで被検査基板７とアダプタ３の位置決め
精度を保ちプローブと被測定部が接触でき、位置ずれに
よる接触不良をなくシ、正確に電流、電圧または抵抗等
の測定ができる。
向移動するだけで被検査基板７とアダプタ３の位置決め
精度を保ちプローブと被測定部が接触でき、位置ずれに
よる接触不良をなくシ、正確に電流、電圧または抵抗等
の測定ができる。
すなわち、アダプタ３を介在させるだけでより位置決め
精度よく、より安価に、より簡単に装置化できるという
利点がある。
精度よく、より安価に、より簡単に装置化できるという
利点がある。
また、アダプタ３を直接位置決めしているので被検査基
板７に力が加わらず傷つける心配が全くないという利点
がある。
板７に力が加わらず傷つける心配が全くないという利点
がある。
さらに、被検査基板７は薄くて小さいため取扱いが困難
であるが、被検査基板７を塔載した位置決め容易なアダ
プタ３を多数個用意しておけば非常に取扱いが容易とな
り、さらに、これらのアダプタ３を自動的に検査位置に
供給および排出する機構を付加することにより、非常に
操作性に富んだ装置化ができるという利点がある。
であるが、被検査基板７を塔載した位置決め容易なアダ
プタ３を多数個用意しておけば非常に取扱いが容易とな
り、さらに、これらのアダプタ３を自動的に検査位置に
供給および排出する機構を付加することにより、非常に
操作性に富んだ装置化ができるという利点がある。
第１図は本考案の一実施例を示す構成国、第２図はその
動作説明図である。 図において、１は保持本体、２１および２２はピン、３
はアダプタ、４１および４２は第１群の穴、５１および
５２は第２群の穴、６１および６２はピン、７は被検査
基板、８１および８２は穴、９１，９２・・・・・・９
ｎは被測定部、１１１および１１２は位置決めピン、１
３はばね、１４１．１４２，１４ ｎはプローブ、１５
および１６は移動方向、ＦおよびＰはカー、Ｗはピンの
中心軸と穴の中心軸とのずれ量である。
動作説明図である。 図において、１は保持本体、２１および２２はピン、３
はアダプタ、４１および４２は第１群の穴、５１および
５２は第２群の穴、６１および６２はピン、７は被検査
基板、８１および８２は穴、９１，９２・・・・・・９
ｎは被測定部、１１１および１１２は位置決めピン、１
３はばね、１４１．１４２，１４ ｎはプローブ、１５
および１６は移動方向、ＦおよびＰはカー、Ｗはピンの
中心軸と穴の中心軸とのずれ量である。
Claims (1)
- 一底面に被検査基板７においている穴８１および８２に
隙間なく外形が挿入できるピン６１および６２を有しか
つ同底面に直角にあいた第１群の穴４１および４２を有
しさらに相対する底面に直角にあいた第２群の穴５１お
よび５２を有するアダプタ３と、前記第２群の穴５１お
よび５２の径より小さい径のピン２１および２２を有し
かつ前記アダプタ３を保持する保持本体１と、先端が前
記アダプタ３の第１群の穴４１および４２より小さい径
でかつ先端から円錐状に広がった部分が第１群の穴４１
および４２より大きい径でさらに他端がばね１３で支持
された位置決めピン１１１および１１２を備えかつピン
１１１および１１２に対して精度よく配置し固定したプ
ローブ１４１，１４２および１４ｎを有するプローブホ
ルダ１０とから構成されたことを特徴とするプローブ接
触機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11789278U JPS5819487Y2 (ja) | 1978-08-28 | 1978-08-28 | プロ−ブ接触機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11789278U JPS5819487Y2 (ja) | 1978-08-28 | 1978-08-28 | プロ−ブ接触機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5534272U JPS5534272U (ja) | 1980-03-05 |
| JPS5819487Y2 true JPS5819487Y2 (ja) | 1983-04-21 |
Family
ID=29071742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11789278U Expired JPS5819487Y2 (ja) | 1978-08-28 | 1978-08-28 | プロ−ブ接触機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819487Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6146463Y2 (ja) * | 1980-04-23 | 1986-12-27 | ||
| JPS59122554U (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-17 | 株式会社フジクラ | プリント回路板検査装置 |
-
1978
- 1978-08-28 JP JP11789278U patent/JPS5819487Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5534272U (ja) | 1980-03-05 |
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