JPH0338681Y2 - - Google Patents
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- JPH0338681Y2 JPH0338681Y2 JP1982013142U JP1314282U JPH0338681Y2 JP H0338681 Y2 JPH0338681 Y2 JP H0338681Y2 JP 1982013142 U JP1982013142 U JP 1982013142U JP 1314282 U JP1314282 U JP 1314282U JP H0338681 Y2 JPH0338681 Y2 JP H0338681Y2
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- liquid crystal
- crystal display
- fixing
- display board
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- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 46
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 30
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 10
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 229910000975 Carbon steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000669 Chrome steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910000828 alnico Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000010962 carbon steel Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
従来、液晶表示板の温度変化による液晶表示板
の反射率、透過率、視野角等々の変化を調べる光
学測定は、精度を高めるため測定精度に影響を及
ぼす光を外部から進入させない暗箱中に液晶表示
板を納めた状態において、暗箱内の温度を変化さ
せながら光の変化量等を測定している。通常、こ
うした試験に用いる暗箱には、内部に物を入れる
扉と扉を開けないで内部を操作する目的で腕を外
部から入れるための操作口が付いているが、内部
を直接目視することは当然できない。この操作口
は、光の進入を防ぎかつ内部の温度変化を少なく
するためには、グローブボツクスの如き構成にす
るのがよいが、こうすると内部で腕を動かして作
業するには不便である。所望の試験を実施するに
は、被試験体である液晶表示板と分解した状態の
液晶表示板試験用固定治具とを前記暗箱中に別々
に持ち込み、手さぐりで試験し得る状態に組み立
て、しかる後測定作業に移行していたのである
が、従来の液晶表示板試験用固定治具はこうした
暗箱作業には不便な構造になつていた。このよう
な面倒な操作はやめて、暗箱の扉を開け目視しな
がら前記組立て操作を行なえば簡単ではあるが、
扉の開閉互に伴つて内部の温度が変化し、そのた
め温度が安定するまでに多くの時間が費いやされ
る。また、暗箱の外部で組み立て作業を完結して
しまえば一見簡単そうには見えるが、操作口は狭
く、かつグローブボツクス様になつていると、組
み上げた状態のものを暗箱内部に持ち込むのはか
なり大変なことである。
の反射率、透過率、視野角等々の変化を調べる光
学測定は、精度を高めるため測定精度に影響を及
ぼす光を外部から進入させない暗箱中に液晶表示
板を納めた状態において、暗箱内の温度を変化さ
せながら光の変化量等を測定している。通常、こ
うした試験に用いる暗箱には、内部に物を入れる
扉と扉を開けないで内部を操作する目的で腕を外
部から入れるための操作口が付いているが、内部
を直接目視することは当然できない。この操作口
は、光の進入を防ぎかつ内部の温度変化を少なく
するためには、グローブボツクスの如き構成にす
るのがよいが、こうすると内部で腕を動かして作
業するには不便である。所望の試験を実施するに
は、被試験体である液晶表示板と分解した状態の
液晶表示板試験用固定治具とを前記暗箱中に別々
に持ち込み、手さぐりで試験し得る状態に組み立
て、しかる後測定作業に移行していたのである
が、従来の液晶表示板試験用固定治具はこうした
暗箱作業には不便な構造になつていた。このよう
な面倒な操作はやめて、暗箱の扉を開け目視しな
がら前記組立て操作を行なえば簡単ではあるが、
扉の開閉互に伴つて内部の温度が変化し、そのた
め温度が安定するまでに多くの時間が費いやされ
る。また、暗箱の外部で組み立て作業を完結して
しまえば一見簡単そうには見えるが、操作口は狭
く、かつグローブボツクス様になつていると、組
み上げた状態のものを暗箱内部に持ち込むのはか
なり大変なことである。
本考案の目的は、外部から光を進入させない暗
箱内で液晶表示板の光学測定試験を行なう際に、
目視することなく容易に液晶表示板を固定でき、
しかも液晶表示板の光学測定試験中の温度変化に
もかかわらず液晶表示板の電極端子と液晶表示板
試験用固定治具の測定電極との接触力を常に保て
るように工夫した、液晶表示板試験用固定治具を
提供することにある。
箱内で液晶表示板の光学測定試験を行なう際に、
目視することなく容易に液晶表示板を固定でき、
しかも液晶表示板の光学測定試験中の温度変化に
もかかわらず液晶表示板の電極端子と液晶表示板
試験用固定治具の測定電極との接触力を常に保て
るように工夫した、液晶表示板試験用固定治具を
提供することにある。
本考案によれば、被試験体である液晶表示板を
機械的電気的に保持して試験に供するための液晶
表示板試験用固定治具であつて、前記液晶表示板
とこの液晶表示板の電極端子に接続させる導電性
部材とを狹持する一対の固定板及び押え板を備
え、しかもこれら固定板もしくは押え板またはこ
れら双方を少くとも磁性材料で構成し、さらにこ
れら固定板と押え板とで狹み込まれると一部材と
してあるいは前記固定板もしくは前記押え板また
は前記固定板及び押え板の双方の少なくとも一部
を永久磁石を用いて構成した、ことを特徴とする
液晶表示板試験用固定治具を得る。
機械的電気的に保持して試験に供するための液晶
表示板試験用固定治具であつて、前記液晶表示板
とこの液晶表示板の電極端子に接続させる導電性
部材とを狹持する一対の固定板及び押え板を備
え、しかもこれら固定板もしくは押え板またはこ
れら双方を少くとも磁性材料で構成し、さらにこ
れら固定板と押え板とで狹み込まれると一部材と
してあるいは前記固定板もしくは前記押え板また
は前記固定板及び押え板の双方の少なくとも一部
を永久磁石を用いて構成した、ことを特徴とする
液晶表示板試験用固定治具を得る。
第1図は、液晶表示板の光学測定試験状況を説
明するための概念説明図であり、全体は暗箱中に
納められている。
明するための概念説明図であり、全体は暗箱中に
納められている。
光源1から出た光を被試験体である液晶表示板
3にあて、この被試験体が反射型表示板である場
合には例えば受光部2−Bにより反射光量を測定
して反射率を測定し、被試験体が透過型液晶表示
板である場合には例えば受光部2−Aにより透過
光量を測定して透過率を求める。液晶表示板に入
射あるいは透過した光軸から傾いた位置で液晶表
示板の表示内容が見える視野角については、反射
率あるいは透過率を求める際に測定するのが普通
である。
3にあて、この被試験体が反射型表示板である場
合には例えば受光部2−Bにより反射光量を測定
して反射率を測定し、被試験体が透過型液晶表示
板である場合には例えば受光部2−Aにより透過
光量を測定して透過率を求める。液晶表示板に入
射あるいは透過した光軸から傾いた位置で液晶表
示板の表示内容が見える視野角については、反射
率あるいは透過率を求める際に測定するのが普通
である。
第2図は、従来使用されていた液晶表示板試験
用固定治具の斜視分解組立図である。図中の3は
被試験体としての液晶表示板であり、固定治具の
構成要素ではないが併せて示してある。通常光学
測定を行なう際に導電性ゴムのブロツク4と印刷
配線基板5とを経由して液晶表示板3の電極端子
に電源を供給して駆動し、液晶表示板の部々また
は全面について光学測定を行ない光学変化を測定
している。導電性ゴムのブロツク4は所望の電極
端子接続に対応して絶縁部分をはさみ込むように
構成されている。液晶表示板3、導電性ゴムブロ
ツク4及び印刷配線基板5を相互に固着するの
は、固定板6と押え板7とで狹み込んでするよう
になつていた。固定板6には止め金具8−Bが設
けてあり、押え板7に設けた止め金具8−Aとを
機械的にかみ合せて相互に固着するようになつて
いた。
用固定治具の斜視分解組立図である。図中の3は
被試験体としての液晶表示板であり、固定治具の
構成要素ではないが併せて示してある。通常光学
測定を行なう際に導電性ゴムのブロツク4と印刷
配線基板5とを経由して液晶表示板3の電極端子
に電源を供給して駆動し、液晶表示板の部々また
は全面について光学測定を行ない光学変化を測定
している。導電性ゴムのブロツク4は所望の電極
端子接続に対応して絶縁部分をはさみ込むように
構成されている。液晶表示板3、導電性ゴムブロ
ツク4及び印刷配線基板5を相互に固着するの
は、固定板6と押え板7とで狹み込んでするよう
になつていた。固定板6には止め金具8−Bが設
けてあり、押え板7に設けた止め金具8−Aとを
機械的にかみ合せて相互に固着するようになつて
いた。
さて、こうした構成の従来の液晶表示板試験用
固定治具であつても、暗箱の外部で目視しながら
液晶表示板3を固着することは簡単である。しか
しながら前記したように実際の使用態様は、液晶
表示板試験用固定治具を構成する各部材と被試験
体である多くの液晶表示板3とを暗箱内部にあら
かじめ持ち込んで収納しておき、暗箱の扉を開け
ずに手さぐりで組み上げ所望の測定をするのであ
るが、従来構成の液晶表示板固定治具はこうした
手さぐりの組み立て作業に敵した構成にはなつて
いない。かといつて暗箱外で組み上げてしまい、
しかる後に暗箱内に搬入するのは、内部の温度変
化を少なくするめにも操作口を狭く作ることにな
るので、難しい。第2図に示した従来構成の欠点
は、目視しないで固定するのが不便であり、かつ
固定板6と押え板7との間隔ひいては液晶表示板
3の電極端子、導電性ゴムブロツク4及び印刷配
線基板5相互の接触圧力を容易に調整できず、温
度変化によつて電気的接触に好ましくない影響を
与えていた。これらの従来構成の欠点は、主に機
械式止め金具を用いているところに起因してい
る。
固定治具であつても、暗箱の外部で目視しながら
液晶表示板3を固着することは簡単である。しか
しながら前記したように実際の使用態様は、液晶
表示板試験用固定治具を構成する各部材と被試験
体である多くの液晶表示板3とを暗箱内部にあら
かじめ持ち込んで収納しておき、暗箱の扉を開け
ずに手さぐりで組み上げ所望の測定をするのであ
るが、従来構成の液晶表示板固定治具はこうした
手さぐりの組み立て作業に敵した構成にはなつて
いない。かといつて暗箱外で組み上げてしまい、
しかる後に暗箱内に搬入するのは、内部の温度変
化を少なくするめにも操作口を狭く作ることにな
るので、難しい。第2図に示した従来構成の欠点
は、目視しないで固定するのが不便であり、かつ
固定板6と押え板7との間隔ひいては液晶表示板
3の電極端子、導電性ゴムブロツク4及び印刷配
線基板5相互の接触圧力を容易に調整できず、温
度変化によつて電気的接触に好ましくない影響を
与えていた。これらの従来構成の欠点は、主に機
械式止め金具を用いているところに起因してい
る。
第3図は本考案の一実施例を分解して示した斜
視組立図である。本実施例の特徴の一つは、従来
構成の欠点であつた機械式止め金具8−A,8−
Bを廃止し、その代わりに磁力による吸引力を利
用する点にある。すなわち固定板16及び押え板
7を磁性体で構成し、それらの間に配した永久磁
石19による吸引力で被試験体である液晶表示板
3、導電性ゴムブロツク14及び印刷配線基板1
5を相互にしめつけるようになつている。永久磁
石19は、例えば炭素鋼、タングステン鋼、アル
ニコ鋼、クロム鋼のように永久磁石合金で構成し
てもよいし、磁石粉入りのゴムブロツクによつて
構成してもよい。本実施例では、この永久磁石1
9と前記導電性ゴムブロツクとを結合して一体と
なして部品数を低減し、取り扱いをさらに簡便に
している。
視組立図である。本実施例の特徴の一つは、従来
構成の欠点であつた機械式止め金具8−A,8−
Bを廃止し、その代わりに磁力による吸引力を利
用する点にある。すなわち固定板16及び押え板
7を磁性体で構成し、それらの間に配した永久磁
石19による吸引力で被試験体である液晶表示板
3、導電性ゴムブロツク14及び印刷配線基板1
5を相互にしめつけるようになつている。永久磁
石19は、例えば炭素鋼、タングステン鋼、アル
ニコ鋼、クロム鋼のように永久磁石合金で構成し
てもよいし、磁石粉入りのゴムブロツクによつて
構成してもよい。本実施例では、この永久磁石1
9と前記導電性ゴムブロツクとを結合して一体と
なして部品数を低減し、取り扱いをさらに簡便に
している。
このように本考案によつて磁力により固定を行
なうようにしたことによつて目視せずにする組み
立て作業は一段と楽にかつ正確になつた。
なうようにしたことによつて目視せずにする組み
立て作業は一段と楽にかつ正確になつた。
第4図は、第3図に示した本考案の一実施例に
ついて組み上け使用している状態を示す概略断面
図である。この例では、永久磁石19を液晶表示
板3の外形よりも内側に配するように設けてい
る。
ついて組み上け使用している状態を示す概略断面
図である。この例では、永久磁石19を液晶表示
板3の外形よりも内側に配するように設けてい
る。
第5図は、本考案の一実施例について、その使
用状態を示す概略断面図である。この第5図に示
した実施例では、液晶表示板3の外形よりも内側
に永久磁石29を設けてあるので、第3図、第4
図に示した実施例より多少コンパクトになる。第
3図、第4図、第5図中、一桁目の数字が第2図
のそれぞれに等しいものは、それと同等のもので
あることを示している。
用状態を示す概略断面図である。この第5図に示
した実施例では、液晶表示板3の外形よりも内側
に永久磁石29を設けてあるので、第3図、第4
図に示した実施例より多少コンパクトになる。第
3図、第4図、第5図中、一桁目の数字が第2図
のそれぞれに等しいものは、それと同等のもので
あることを示している。
第6図は第3図の押え板17を変形した本考案
の他の実施例を示す斜視分解組立図である。すな
わち、第3図の押え板17を押え板37と押え板
47のように2つの構造体を組み合せたものに変
形することで、液晶表示板3を挾んだ状態で固定
できるようにしたものである。すなわち押え板3
7と押え板47とで液晶表示板3をつかみ固定板
36上に位置決めし配置するが、このとき押え板
37か押え板47の少なくとも一方を磁性体で構
成しておくと、位置決めと同時に固定ができるわ
けである。
の他の実施例を示す斜視分解組立図である。すな
わち、第3図の押え板17を押え板37と押え板
47のように2つの構造体を組み合せたものに変
形することで、液晶表示板3を挾んだ状態で固定
できるようにしたものである。すなわち押え板3
7と押え板47とで液晶表示板3をつかみ固定板
36上に位置決めし配置するが、このとき押え板
37か押え板47の少なくとも一方を磁性体で構
成しておくと、位置決めと同時に固定ができるわ
けである。
第7図は、本考案の更に他の実施の一例を示す
斜視分解組立図である。本実施例では、永久磁石
前記各実施例のように別構造とせず、固定板56
もしくは押え板67またはそれら双方に永久磁石
あるいは永久磁石粉を混入して構成した実施例で
あり、部品点数も少なくでき、より大きな結合力
を得られる利点を有する。
斜視分解組立図である。本実施例では、永久磁石
前記各実施例のように別構造とせず、固定板56
もしくは押え板67またはそれら双方に永久磁石
あるいは永久磁石粉を混入して構成した実施例で
あり、部品点数も少なくでき、より大きな結合力
を得られる利点を有する。
第8図は本考案の一実施例中で用いている導電
性部品の他の実施例を示した概略断面図である。
前記各実施例では導電性を備えかつ適度な弾力性
を備えた接続部材としてゴムブロツクを用いた
が、本実施例ではばね構成によつて弾力性を具備
させたプローブ構成になつている。
性部品の他の実施例を示した概略断面図である。
前記各実施例では導電性を備えかつ適度な弾力性
を備えた接続部材としてゴムブロツクを用いた
が、本実施例ではばね構成によつて弾力性を具備
させたプローブ構成になつている。
第8図の80−Aに示したのは、円筒状で導電
性があるソケツト420中に弾力を与え、かつ導
電性があるばね430と、導電性があるボール4
40があり導電性があるピン410で電極端子と
接触して、信号のやりとりを行なうようになつて
いる。
性があるソケツト420中に弾力を与え、かつ導
電性があるばね430と、導電性があるボール4
40があり導電性があるピン410で電極端子と
接触して、信号のやりとりを行なうようになつて
いる。
第8図の80−Bは、前記80−Aのボールを
省いて構成したプローブの例である。
省いて構成したプローブの例である。
第9図は、第3図の導電性ゴムブロツク14の
代わりに第8図に示した80−Aもしくは80−
Bといつたプローブ80を用いた本考案の一実施
例の斜視分解組立図である。すなわち所要の本数
のプローブ80を具備した永久磁石69を用い、
固定板66、印刷配線基板65にはプローブ80
とはめあいとなる穴101,102が設けてあ
る。本実施例では電気的接続にプローブ構成のも
のを用いてはいるが、磁力によつて固着するとい
う本考案の基本思想は同じである。プローブ80
を用いると、ゴムブロツク構成の場合に比して剛
性を強くできる利点を有する。
代わりに第8図に示した80−Aもしくは80−
Bといつたプローブ80を用いた本考案の一実施
例の斜視分解組立図である。すなわち所要の本数
のプローブ80を具備した永久磁石69を用い、
固定板66、印刷配線基板65にはプローブ80
とはめあいとなる穴101,102が設けてあ
る。本実施例では電気的接続にプローブ構成のも
のを用いてはいるが、磁力によつて固着するとい
う本考案の基本思想は同じである。プローブ80
を用いると、ゴムブロツク構成の場合に比して剛
性を強くできる利点を有する。
第10図は、第9図に示した実施例を更に変形
した実施例について示した斜視分解組立図であ
る。本実施例では、前記各実施例では用いていた
印刷配線基板を廃止し、固定板76にプローブ8
0を取り付ける穴103を設け、プローブ80か
ら直接リード線を導いている。本実施例では印刷
配線基板がないから、液晶表示板固定治具の構成
が簡単になり安価にできるし、本考案本来の磁力
による固着に起因する利点はそのまま享受でき
る。
した実施例について示した斜視分解組立図であ
る。本実施例では、前記各実施例では用いていた
印刷配線基板を廃止し、固定板76にプローブ8
0を取り付ける穴103を設け、プローブ80か
ら直接リード線を導いている。本実施例では印刷
配線基板がないから、液晶表示板固定治具の構成
が簡単になり安価にできるし、本考案本来の磁力
による固着に起因する利点はそのまま享受でき
る。
液晶表示板3を固定するに要する時間を表に示
すと次のようになる。
すと次のようになる。
本考案 従来治具
(1) 暗箱外部で固定 約10秒/個 約20秒/個
(2) 暗箱内部で固定 約13秒/個 約25秒/個
表の上欄は、暗箱外部で目視作業によつて固定
する場合について、本考案の構成を用いたときと
従来構成の治具を用いたときを比較して示したも
のであり、同一の作業者が実施した。従来構成の
場合は、機械式止め金をを用いているから本考案
の構成による治具を用いたときよりも固定に要す
る時間が長くなつている。
する場合について、本考案の構成を用いたときと
従来構成の治具を用いたときを比較して示したも
のであり、同一の作業者が実施した。従来構成の
場合は、機械式止め金をを用いているから本考案
の構成による治具を用いたときよりも固定に要す
る時間が長くなつている。
さらに表の下欄は、目視できない暗箱内で、第
1欄と同一作業を内部操作口から腕を入れて行つ
た結果である。この結果にも本考案の治具を用い
て固定を行なつた方がより短い時間で固定できる
ことが表われている。
1欄と同一作業を内部操作口から腕を入れて行つ
た結果である。この結果にも本考案の治具を用い
て固定を行なつた方がより短い時間で固定できる
ことが表われている。
以上の結果、本考案による治具を使用すること
により、目視できない暗箱内で簡単に液晶表示板
を磁力により固定でき、かつ一定の磁力で固定し
て安定した光学測定試験が行なえるようになつ
た。磁力による固着方法の利点は、磁力が変化し
ない限り固着力は一定であり、かつ磁力の強さあ
るいは磁石の大きさをかえることにより固定力が
容易に調整できる点にある。これらの利点は、温
度依存性を得るような場合、かなり作業能率が上
昇しかつ測定値のばらつきを小さくできるという
ことであり、その結果は実務上特筆すべきものと
なる。
により、目視できない暗箱内で簡単に液晶表示板
を磁力により固定でき、かつ一定の磁力で固定し
て安定した光学測定試験が行なえるようになつ
た。磁力による固着方法の利点は、磁力が変化し
ない限り固着力は一定であり、かつ磁力の強さあ
るいは磁石の大きさをかえることにより固定力が
容易に調整できる点にある。これらの利点は、温
度依存性を得るような場合、かなり作業能率が上
昇しかつ測定値のばらつきを小さくできるという
ことであり、その結果は実務上特筆すべきものと
なる。
第1図は液晶表示板の光学測定試験状況を説明
するための概念説明図であり、図示した物は通常
暗箱中に納められている。第2図は、被試験体で
ある液晶表示板を電気的に導通をとりながら安定
に固定する治具の従来構成を説明するための斜視
分解組立図である。第3図、第6図、第7図、第
9図、第10図はそれぞれ、本考案の一実施例を
示す斜視分解組立図であり、第4図及び第5図は
これら本考案の一実施例について組み上げた使用
状態を説明するための概略断面図である。第8図
にその概略断面を示したのは、第9図及び第10
図の実施例中の80についてその詳細の一例を説
明するものである。図中の記号は、それぞれ次の
ものを示している。 1……光源、2−A,2−B……受光部、3…
…被試験体としての液晶表示板、4,14,2
4,34,54,……導電性ゴム、5,15,2
5,35,55,65……印刷配線基板、6,1
6,26,36,56,66,76……固定板、
7,27,37,47,57,67,77……押
え板、8−A,8−B……止め金具、19,2
9,39,69,79……永久磁石、80,80
−A,80−B……プローブ、410……ピン、
420……ピンホルダー、430……ばね、44
0……ボール、101,102,103……穴。
するための概念説明図であり、図示した物は通常
暗箱中に納められている。第2図は、被試験体で
ある液晶表示板を電気的に導通をとりながら安定
に固定する治具の従来構成を説明するための斜視
分解組立図である。第3図、第6図、第7図、第
9図、第10図はそれぞれ、本考案の一実施例を
示す斜視分解組立図であり、第4図及び第5図は
これら本考案の一実施例について組み上げた使用
状態を説明するための概略断面図である。第8図
にその概略断面を示したのは、第9図及び第10
図の実施例中の80についてその詳細の一例を説
明するものである。図中の記号は、それぞれ次の
ものを示している。 1……光源、2−A,2−B……受光部、3…
…被試験体としての液晶表示板、4,14,2
4,34,54,……導電性ゴム、5,15,2
5,35,55,65……印刷配線基板、6,1
6,26,36,56,66,76……固定板、
7,27,37,47,57,67,77……押
え板、8−A,8−B……止め金具、19,2
9,39,69,79……永久磁石、80,80
−A,80−B……プローブ、410……ピン、
420……ピンホルダー、430……ばね、44
0……ボール、101,102,103……穴。
Claims (1)
- 被試験体である液晶表示板を機械的電気的に保
持して試験に供するための液晶表示板試験用固定
治具であつて、前記液晶表示板とこの液晶表示板
の電極端子に接続させる導電性部材とを狹持する
一対の固定板及び押え板を備え、しかもこれら固
定板もしくは押え板またはこれら双方を少くとも
磁性材料で構成し、さらにこれら固定板と押え板
とで狹み込まれる一部材としてあるいは前記固定
板もしくは前記押え板または前記固定板及び押え
板の双方の少なくとも一部を永久磁石を用いて構
成した、ことを特徴とする液晶表示板試験用固定
治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1314282U JPS58116648U (ja) | 1982-02-02 | 1982-02-02 | 液晶表示板試験用固定治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1314282U JPS58116648U (ja) | 1982-02-02 | 1982-02-02 | 液晶表示板試験用固定治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58116648U JPS58116648U (ja) | 1983-08-09 |
JPH0338681Y2 true JPH0338681Y2 (ja) | 1991-08-15 |
Family
ID=30025673
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1314282U Granted JPS58116648U (ja) | 1982-02-02 | 1982-02-02 | 液晶表示板試験用固定治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58116648U (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH083451B2 (ja) * | 1988-03-31 | 1996-01-17 | 東京エレクトロン株式会社 | Lcd基板の検査装置 |
KR20220037124A (ko) * | 2020-09-17 | 2022-03-24 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 완충 패드 평가용 지그 및 이를 사용한 완충 패드 평가 방법 |
-
1982
- 1982-02-02 JP JP1314282U patent/JPS58116648U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58116648U (ja) | 1983-08-09 |
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