TWI418761B - 檢測治具及其檢測方法 - Google Patents

Description

檢測治具及其檢測方法

本發明關於一種檢測治具及其檢測方法，尤指一種用來檢測標準件與待測件之尺寸差值的檢測治具及其檢測方法。

一般而言，常見用來檢測工件尺寸是否正確之方式係使用其上具有符合標準工件結構輪廓之容置槽的檢測塊，並根據待測工件是否可置入容置槽中的結果，來快速地得知待測工件是否落在標準規格範圍內。然而，此種方式係無法準確地得知待測工件與標準工件之間的尺寸差值，故不利於後續工件尺寸之校正。上述問題雖可利用能讀出工件尺寸值之量測工具(如游標卡尺等)來解決，但卻也會帶來費時費工的量測流程。

因此，本發明提供一種用來檢測標準件與待測件之尺寸差值的檢測治具及其檢測方法，以解決上述之問題。

本發明之申請專利範圍係揭露一種檢測治具，用來檢測一標準件與一待測件之尺寸差值，該檢測治具包含一治具主體以及一第一量測單元。該治具主體具有一容置空間，該容置空間用來容置該標準件或該待測件。該第一量測單元設置於該治具主體對應一第一軸向之位置上，該第一量測單元包含一第一接觸探針、一第一量測讀錶，以及一第一歸零按鍵。該第一接觸探針相對該容置空間向內突出且彈性地沿該第一軸向移動，用來於該標準件靠合於該容置空間內時觸抵該標準件，以及用來於該待測件靠合於該容置空間內時觸抵該待測件。該第一量測讀錶連接於該第一接觸探針，用來顯示一第一歸零值或對應該待測件之一第一量測值。該第一歸零按鍵設置於該第一量測讀錶上，用來於該第一接觸探針觸抵該標準件時，歸零該第一量測讀錶以顯示該第一歸零值。當該第一接觸探針在該第一歸零按鍵歸零該第一量測讀錶後觸抵該待測件時，該第一量測讀錶顯示該第一量測值，該待測件相對該標準件於該第一軸向上之一第一尺寸差值係等於該第一量測值與該第一歸零值之一差值。

本發明之申請專利範圍另揭露該第一量測讀錶係以指針指示或數位顯示之方式顯示該第一歸零值以及該第一量測值。

本發明之申請專利範圍另揭露該第一軸向係對應該治具主體之一X軸方向。

本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含一第二量測單元，其設置於該治具主體對應一第二軸向之位置上，該第二量測單元包含一第二接觸探針、一第二量測讀錶，以及一第二歸零按鍵。該第二接觸探針相對該容置空間向內突出且彈性地沿該第二軸向移動，用來於該標準件靠合於該容置空間內時觸抵該標準件，以及用來於該待測件靠合於該容置空間內時觸抵該待測件。該第二量測讀錶連接於該第二接觸探針，用來顯示一第二歸零值或對應該待測件之一第二量測值。該第二歸零按鍵設置於該第二量測讀錶上，用來於該第二接觸探針觸抵該標準件時，歸零該第二量測讀錶以顯示該第二歸零值。當該第二接觸探針在該第二歸零按鍵歸零該第二量測讀錶後觸抵該待測件時，該第二量測讀錶顯示該第二量測值，該待測件相對該標準件於該第二軸向上之一第二尺寸差值係等於該第二量測值與該第二歸零值之一差值。

本發明之申請專利範圍另揭露該第二軸向係對應該治具主體之一Y軸方向。

本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含一第三量測單元，其設置於該治具主體對應一第三軸向之位置上，該第三量測單元包含一第三接觸探針、一第三量測讀錶，以及一第三歸零按鍵。該第三接觸探針相對該容置空間向內突出且彈性地沿該第三軸向移動，用來於該標準件靠合於該容置空間內時觸抵該標準件，以及用來於該待測件靠合於該容置空間內時觸抵該待測件。該第三量測讀錶，其連接於該第三接觸探針，用來顯示一第三歸零值或對應該待測件之一第三量測值。該第三歸零按鍵設置於該第三量測讀錶上，用來於該第三接觸探針觸抵該標準件時，歸零該第三量測讀錶以顯示該第三歸零值。當該第三接觸探針在該第三歸零按鍵歸零該第三量測讀錶後觸抵該待測件時，該第三量測讀錶顯示該第三量測值，該待測件相對該標準件於該第三軸向上之一第三尺寸差值係等於該第三量測值與該第三歸零值之一差值。

本發明之申請專利範圍另揭露該第三軸向係對應該治具主體之一Z軸方向。

本發明之申請專利範圍另揭露該治具主體包含一上蓋以及一下蓋。該下蓋樞接於該上蓋之一側，該下蓋用來與該上蓋共同形成該容置空間。

本發明之申請專利範圍另揭露該第一量測單元以及該第三量測單元係分別設置於該上蓋對應該第一軸向以及該第三軸向之位置上，該第二量測單元係設置於該下蓋對應該第二軸向之位置上。

本發明之申請專利範圍另揭露一種利用一檢測治具檢測一標準件與一待測件之尺寸差值之檢測方法，該檢測治具包含一治具主體以及一第一量測單元，該治具主體具有一容置空間以容置該標準件或該待測件，該第一量測單元設置於該治具主體對應一第一軸向之位置上，該檢測方法包含將該標準件靠合於該容置空間內、該第一量測單元沿該第一軸向觸抵該標準件、該第一量測單元於歸零後顯示一第一歸零值、將該待測件靠合於該容置空間內，以及該第一量測單元沿該第一軸向觸抵該待測件以顯示對應該待測件之一第一量測值。該待測件相對該標準件於該第一軸向上之一第一尺寸差值係等於該第一量測值與該第一歸零值之一差值。

本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含一第二量測單元，該第二量測單元設置於該治具主體對應一第二軸向之位置上，該檢測方法另包含該第二量測單元於該標準件靠合於該容置空間內時沿該第二軸向觸抵該標準件、該第二量測單元於歸零後顯示一第二歸零值，以及該第二量測單元於該待測件靠合於該容置空間內時沿該第二軸向觸抵該待測件以顯示對應該待測件之一第二量測值。該待測件相對該標準件於該第二軸向上之一第二尺寸差值係等於該第二量測值與該第二歸零值之一差值。

本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含一第三量測單元，該第三量測單元設置於該治具主體對應一第三軸向之位置上，該檢測方法另包含該第三量測單元於該標準件靠合於該容置空間內時沿該第三軸向觸抵該標準件、該第三量測單元於歸零後顯示一第三歸零值，以及該第三量測單元於該待測件靠合於該容置空間內時沿該第三軸向觸抵該待測件以顯示對應該待測件之一第三量測值。該待測件相對該標準件於該第三軸向上之一第三尺寸差值係等於該第三量測值與該第三歸零值之一差值。

綜上所述，本發明係採用量測單元設置於用來容置標準件或待測件之治具主體上的配置，以使用歸零按鍵在接觸探針觸抵標準件時歸零量測讀錶以顯示歸零值，以及利用量測讀錶在接觸探針於歸零按鍵歸零量測讀錶後觸抵待測件時顯示量測值，藉此即可根據量測值與歸零值之差值而得出待測件相對標準件之尺寸差值。如此一來，本發明所提供之檢測治具不僅可準確地判斷出待測件之尺寸是否落在預設的製造規格內，以利後續工件品質控管以及作為後續工件尺寸校正之參考依據，此外，由於不須額外使用量測工具以進行人工量測，本發明所提供之檢測治具亦可解決先前技術中所提及之量測流程費時費工的問題。

請參閱第1圖以及第2圖，第1圖為根據本發明一實施例所提出之一檢測治具10之收合示意圖，第2圖為第1圖之檢測治具10之展開示意圖。如第1圖以及第2圖所示，檢測治具10包含一治具主體12、一第一量測單元14、一第二量測單元16，以及一第三量測單元18。在此實施例中，治具主體12包含一上蓋20以及一下蓋22，下蓋22係樞接於上蓋20之一側，用以與上蓋20共同形成一容置空間21。

於此針對第一量測單元14、第二量測單元16，以及第三量測單元18之機構設計進行描述，請參閱第3圖以及第4圖，第3圖為第1圖之檢測治具10之上視圖，第4圖為第3圖之檢測治具10沿剖面線3-3’之剖面示意圖。由第3圖以及第4圖可知，第一量測單元14係設置於治具主體12上且對應治具主體12之第一軸向，在此實施例中，第一量測單元14係設置於上蓋20對應如第3圖所示之X軸方向的位置上(但不受此限)，第一量測單元14包含一第一接觸探針24、一第一量測讀錶26，以及一第一歸零按鍵28。

第一接觸探針24相對容置空間21向內突出且彈性地沿第一軸向(即第3圖所示之X軸方向)線性移動，其中在此實施例中，第一接觸探針24之彈性移動係可採用第一接觸探針24連接彈簧之方式來達成，當用來作為尺寸檢測標準之標準件或是檢測治具10所欲檢測之待測件靠合於容置空間21內時，第一接觸探針24用來相對應地觸抵標準件或待測件。

第一量測讀錶26係連接於第一接觸探針24，用來顯示第一歸零值或對應待測件之第一量測值，其中第一量測讀錶26係可為一般常見之量測讀錶，如千分錶等。

第一歸零按鍵28係設置於第一量測讀錶26上，用來於第一接觸探針24觸抵標準件時，歸零第一量測讀錶26以使第一量測讀錶26顯示出第一歸零值。至於第一接觸探針24驅動第一量測讀錶26指示出讀數的機構連動以及第一歸零按鍵28歸零第一量測讀錶26之歸零設計，其係為先前技術中常見之機構設計，例如可利用彈簧連接第一接觸探針24以及第一量測讀錶26，藉以於第一接觸探針24接觸標準件或待測件而使彈簧伸長或壓縮時，經由彈簧帶動第一量測讀錶26上之指針指示出相對應之數值。

除此之外，如第3圖以及第4圖所示，第二量測單元16係設置於治具主體12上且對應治具主體12之第二軸向，其中第二量測單元16係較佳地設置於下蓋22對應如第3圖所示之Y軸方向的位置上(但不受此限)，而第三量測單元18則是設置於治具主體12上且對應治具主體12之第三軸向，其中第三量測單元18係較佳地設置於上蓋20對應如第3圖所示之Z軸方向的位置上(但不受此限)。

在此實施例中，第二量測單元16以及第三量測單元18可具有與第一量測單元14相同之機構設計，簡言之，第二量測單元16包含一第二接觸探針30、一第二量測讀錶32，以及一第二歸零按鍵34，而第三量測單元18包含一第三接觸探針36、一第三量測讀錶38，以及一第三歸零按鍵40，至於上述元件之相關描述，其係可參照上述針對第一量測單元14之描述類推，故於此不再說明。

以下係針對檢測治具10之檢測操作進行詳細之說明，請參閱第5圖，其為本發明利用第1圖之檢測治具10以檢測出標準件與待測件在治具主體12之第一軸向上之尺寸差值之方法的流程圖，該方法包含下列步驟。

步驟500：將標準件靠合於治具主體12之容置空間21內；步驟502：第一接觸探針24沿治具主體12之第一軸向觸抵標準件；步驟504：按壓第一歸零按鍵28歸零第一量測讀錶26以使第一量測讀錶26顯示第一歸零值；步驟506：將待測件靠合於治具主體12之容置空間21內；步驟508：第一接觸探針24沿治具主體12之第一軸向觸抵待測件；步驟510：第一量測讀錶26顯示對應待測件之第一量測值。

於此就上述步驟進行說明。首先，如第4圖所示，其係可將一標準件42置入容置空間21內(步驟500)，接著在將標準件42靠合於容置空間21之右側壁後，第一接觸探針24就會沿著治具主體12之第一軸向(即第4圖所示之X軸方向)觸抵標準件42(步驟502)，此時，即可按壓第一歸零按鍵28歸零第一量測讀錶26(步驟504)，以使第一量測讀錶26顯示第一歸零值，其相關顯示，舉例來說，係可如第6圖所示，第6圖為第4圖之第一量測讀錶26之正視圖。

由第6圖可知，當按壓第一歸零按鍵28以歸零第一量測讀錶26時，第一量測讀錶26上之指針就會指示在讀數0之位置上，此處讀數0係可被視為第一歸零值，藉此，透過按壓第一歸零按鍵28之歸零操作，第一接觸探針24觸抵標準件42之位置即可被視為判斷待測件與標準件42之尺寸差值的參考依據，換句話說，無論待測件之尺寸係大於或是小於標準件42之尺寸，其均可透過第一接觸探針24驅動第一量測讀錶26之指針從讀數0之位置相對應地向右或向左偏轉之方式，來得知待測件與標準件42在治具主體12之第一軸向之尺寸差值，其中，在此實施例中，第一量測讀錶26上之指針從讀數0之位置向右偏轉代表待測件的尺寸較標準件42為大，而指針從讀數0之位置向左偏轉則是代表待測件之尺寸較標準件42為小，但不受此限。

請同時參閱第4圖以及第7圖，第7圖為第4圖之第一接觸探針24觸抵待測件44之剖面側視圖，在完成上述歸零操作且將如第4圖所示之標準件42從治具主體12內取出之後，即可執行步驟506，也就是將所欲檢測之一待測件44置入容置空間21內，接著在將待測件44靠合於容置空間21之右側壁後(如第7圖所示)，第一接觸探針24就會沿著治具主體12之第一軸向觸抵待測件44(步驟508)。

在此實施例中，假設待測件44於治具主體12之第一軸向上之尺寸係小於標準件42於治具主體12之第一軸向上之尺寸，因此第一接觸探針24就會從如第4圖所示之位置伸長至如第7圖所示之位置而與待測件44觸抵，從而驅動第一量測讀錶26上之指針從讀數0之位置向左偏轉，以顯示對應待測件44之第一量測值(步驟510)，其相關顯示，舉例來說，其係可如第8圖所示，第8圖為第7圖之第一量測讀錶26之正視圖。

由第8圖可知，在檢測如第7圖所示之待測件44的情況下，第一量測讀錶26上之指針係向左偏轉而指示在讀數4之位置，此處讀數4係可被視為第一量測值。如此一來，待測件44相對標準件42於治具主體12之第一軸向上之第一尺寸差值就可以根據上述第一量測值與第一歸零值之差值而得知，也就是說，在此舉例中，係可得知待測件44在治具主體12之第一軸向上之尺寸係較標準件42小4個單位差，其中第一量測讀錶26所採用之長度單位係可根據其實際使用需求而有所變化，舉例來說，若是第一量測讀錶26所採用之長度單位係為0.01 mm，則表示待測件44在治具主體12之第一軸向上之尺寸係較標準件42小0.04 mm，藉此，即可準確地得知待測件44與標準件42之間的尺寸差值。

同理，待測件44相對標準件42於治具主體12之第二軸向(即第7圖所示之Y軸方向)上之第二尺寸差值以及於治具主體12之第三軸向(即第7圖所示之Z軸方向)上之第三尺寸差值係可參照上述步驟而得知。簡言之，在待測件44於第二軸向之檢測上，第二歸零按鍵34可在第二接觸探針30於第二軸向上觸抵標準件42時，歸零第二量測讀錶32以顯示第二歸零值，而第二量測值則是可利用第二量測讀錶32在第二接觸探針30在第二歸零按鍵34歸零第二量測讀錶32後觸抵待測件44時而顯示之，如此即可根據第二量測值與第二歸零值之差值而得知待測件44相對標準件42於第二軸向上之第二尺寸差值。

此外，在待測件44於第三軸向之檢測上，第三歸零按鍵40可在第三接觸探針36於第三軸向上觸抵標準件42時，歸零第三量測讀錶38以顯示第三歸零值，而第三量測值則是可利用第三量測讀錶38在第三接觸探針36在第三歸零按鍵40歸零第三量測讀錶38後觸抵待測件44時而顯示之，如此即可根據第三量測值與第三歸零值之差值而得知待測件44相對標準件42於第三軸向上之第三尺寸差值。

綜上所述，根據執行上述步驟所得的待測件44與標準件42在三軸向上之第一尺寸差值、第二尺寸差值，以及第三尺寸差值，本發明所提供之檢測治具就可準確地判斷出待測件44之整體結構尺寸是否落在預設的製造規格內，以利後續工件品質控管以及作為後續工件尺寸校正之參考依據。

值得一提的是，檢測治具10上之量測讀錶顯示數值之設計係可不限於上述實施例所提及之指針指示之方式，其亦可改使用其他具有相似顯示功效之設計，如數位顯示設計等。此外，第二量測單元16以及第三量測單元18係為可選擇性省略之元件，藉以簡化檢測治具10之機構設計。舉例來說，檢測治具10係可選擇性地只配置有第一量測單元14而僅具有量測標準件與待測件於單一軸向上之尺寸差值的功能；或者是，檢測治具10係可選擇性地只配置有第一量測單元14以及第二量測單元16而僅具有量測標準件與待測件於雙軸向上之尺寸差值的功能。

相較於先前技術，本發明係採用量測單元設置於用來容置標準件或待測件之治具主體上的配置，以使用歸零按鍵在接觸探針觸抵標準件時歸零量測讀錶以顯示歸零值，以及利用量測讀錶在接觸探針於歸零按鍵歸零量測讀錶後觸抵待測件時顯示量測值，藉此即可根據量測值與歸零值之差值而得出待測件相對標準件之尺寸差值。如此一來，本發明所提供之檢測治具不僅可準確地判斷出待測件之尺寸是否落在預設的製造規格內，以利後續工件品質控管以及作為後續工件尺寸校正之參考依據，此外，由於不須額外使用量測工具以進行人工量測，本發明所提供之檢測治具亦可解決先前技術中所提及之量測流程費時費工的問題。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

10．．．檢測治具

12．．．治具主體

14．．．第一量測單元

16．．．第二量測單元

18．．．第三量測單元

20．．．上蓋

21．．．容置空間

22．．．下蓋

24．．．第一接觸探針

26．．．第一量測讀錶

28．．．第一歸零按鍵

30．．．第二接觸探針

32．．．第二量測讀錶

34．．．第二歸零按鍵

36．．．第三接觸探針

38．．．第三量測讀錶

40．．．第三歸零按鍵

42．．．標準件

44．．．待測件

第1圖為根據本發明一實施例所提出之檢測治具之收合示意圖。

第2圖為第1圖之檢測治具之展開示意圖。

第3圖為第1圖之檢測治具之上視圖。

第4圖為第3圖之檢測治具沿剖面線3-3’之剖面側視圖。

第5圖為本發明利用第1圖之檢測治具以檢測出標準件與待測件在治具主體之第一軸向上之尺寸差值之方法的流程圖。

第6圖為第4圖之第一量測讀錶之正視圖。

第7圖為第4圖之第一接觸探針觸抵待測件之剖面側視圖。

第8圖為第7圖之第一量測讀錶之正視圖。

10．．．檢測治具

12．．．治具主體

14．．．第一量測單元

18．．．第三量測單元

20．．．上蓋

21．．．容置空間

22．．．下蓋

24．．．第一接觸探針

26．．．第一量測讀錶

28．．．第一歸零按鍵

36．．．第三接觸探針

38．．．第三量測讀錶

40．．．第三歸零按鍵

42．．．標準件

Claims (13)

1. 一種檢測治具，用來檢測一標準件與一待測件之尺寸差值，該檢測治具包含：一治具主體，其具有一容置空間，該容置空間用來容置該標準件或該待測件；以及一第一量測單元，其設置於該治具主體對應一第一軸向之位置上，該第一量測單元包含：一第一接觸探針，其相對該容置空間向內突出且彈性地沿該第一軸向移動，用來於該標準件靠合於該容置空間內時觸抵該標準件，以及用來於該待測件靠合於該容置空間內時觸抵該待測件；一第一量測讀錶，其連接於該第一接觸探針，用來顯示一第一歸零值或對應該待測件之一第一量測值；以及一第一歸零按鍵，其設置於該第一量測讀錶上，用來於該第一接觸探針觸抵該標準件時，歸零該第一量測讀錶以顯示該第一歸零值；其中當該第一接觸探針在該第一歸零按鍵歸零該第一量測讀錶後觸抵該待測件時，該第一量測讀錶顯示該第一量測值，該待測件相對該標準件於該第一軸向上之一第一尺寸差值係等於該第一量測值與該第一歸零值之一差值。
2. 如請求項1所述之檢測治具，其中該第一量測讀錶係以指針指示或數位顯示之方式顯示該第一歸零值以及該第一量測值。
3. 如請求項1所述之檢測治具，其中該第一軸向係對應該治具主體之一X軸方向。
4. 如請求項1所述之檢測治具，其另包含：一第二量測單元，其設置於該治具主體對應一第二軸向之位置上，該第二量測單元包含：一第二接觸探針，其相對該容置空間向內突出且彈性地沿該第二軸向移動，用來於該標準件靠合於該容置空間內時觸抵該標準件，以及用來於該待測件靠合於該容置空間內時觸抵該待測件；一第二量測讀錶，其連接於該第二接觸探針，用來顯示一第二歸零值或對應該待測件之一第二量測值；以及一第二歸零按鍵，其設置於該第二量測讀錶上，用來於該第二接觸探針觸抵該標準件時，歸零該第二量測讀錶以顯示該第二歸零值；其中當該第二接觸探針在該第二歸零按鍵歸零該第二量測讀錶後觸抵該待測件時，該第二量測讀錶顯示該第二量測值，該待測件相對該標準件於該第二軸向上之一第二尺寸差值係等於該第二量測值與該第二歸零值之一差值。
5. 如請求項4所述之檢測治具，其中該第二軸向係對應該治具主體之一Y軸方向。
6. 如請求項4所述之檢測治具，其另包含：一第三量測單元，其設置於該治具主體對應一第三軸向之位置上，該第三量測單元包含：一第三接觸探針，其相對該容置空間向內突出且彈性地沿該第三軸向移動，用來於該標準件靠合於該容置空間內時觸抵該標準件，以及用來於該待測件靠合於該容置空間內時觸抵該待測件；一第三量測讀錶，其連接於該第三接觸探針，用來顯示一第三歸零值或對應該待測件之一第三量測值；以及一第三歸零按鍵，其設置於該第三量測讀錶上，用來於該第三接觸探針觸抵該標準件時，歸零該第三量測讀錶以顯示該第三歸零值；其中當該第三接觸探針在該第三歸零按鍵歸零該第三量測讀錶後觸抵該待測件時，該第三量測讀錶顯示該第三量測值，該待測件相對該標準件於該第三軸向上之一第三尺寸差值係等於該第三量測值與該第三歸零值之一差值。
7. 如請求項6所述之檢測治具，其中該第三軸向係對應該治具主體之一Z軸方向。
8. 如請求項6所述之檢測治具，其中該治具主體包含：一上蓋；以及一下蓋，其樞接於該上蓋之一側，該下蓋用來與該上蓋共同形成該容置空間。
9. 如請求項8所述之檢測治具，其中該第一量測單元以及該第三量測單元係分別設置於該上蓋對應該第一軸向以及該第三軸向之位置上，該第二量測單元係設置於該下蓋對應該第二軸向之位置上。
10. 如請求項1所述之檢測治具，其中該治具主體包含：一上蓋；以及一下蓋，其樞接於該上蓋之一側，該下蓋用來與該上蓋共同形成該容置空間。
11. 一種利用一檢測治具檢測一標準件與一待測件之尺寸差值之檢測方法，該檢測治具包含一治具主體以及一第一量測單元，該治具主體具有一容置空間以容置該標準件或該待測件，該第一量測單元設置於該治具主體對應一第一軸向之位置上，該檢測方法包含：將該標準件靠合於該容置空間內；該第一量測單元沿該第一軸向觸抵該標準件；該第一量測單元於歸零後顯示一第一歸零值；將該待測件靠合於該容置空間內；以及該第一量測單元沿該第一軸向觸抵該待測件以顯示對應該待測件之一第一量測值；其中該待測件相對該標準件於該第一軸向上之一第一尺寸差值係等於該第一量測值與該第一歸零值之一差值。
12. 如請求項11所述之檢測方法，其中該檢測治具另包含一第二量測單元，該第二量測單元設置於該治具主體對應一第二軸向之位置上，該檢測方法另包含：該第二量測單元於該標準件靠合於該容置空間內時沿該第二軸向觸抵該標準件；該第二量測單元於歸零後顯示一第二歸零值；以及該第二量測單元於該待測件靠合於該容置空間內時沿該第二軸向觸抵該待測件以顯示對應該待測件之一第二量測值；其中該待測件相對該標準件於該第二軸向上之一第二尺寸差值係等於該第二量測值與該第二歸零值之一差值。
13. 如請求項12所述之檢測方法，其中該檢測治具另包含一第三量測單元，該第三量測單元設置於該治具主體對應一第三軸向之位置上，該檢測方法另包含：該第三量測單元於該標準件靠合於該容置空間內時沿該第三軸向觸抵該標準件；該第三量測單元於歸零後顯示一第三歸零值；以及該第三量測單元於該待測件靠合於該容置空間內時沿該第三軸向觸抵該待測件以顯示對應該待測件之一第三量測值；其中該待測件相對該標準件於該第三軸向上之一第三尺寸差值係等於該第三量測值與該第三歸零值之一差值。