JP2971491B2 - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
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- JP2971491B2 JP2971491B2 JP1321478A JP32147889A JP2971491B2 JP 2971491 B2 JP2971491 B2 JP 2971491B2 JP 1321478 A JP1321478 A JP 1321478A JP 32147889 A JP32147889 A JP 32147889A JP 2971491 B2 JP2971491 B2 JP 2971491B2
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、検査装置、特に、複数の位置決め用ピン
とストッパーとを備えた、位置決め用貫通孔を有する被
検査物品のための検査装置に関し、さらに詳しくは、検
査のために高精度の位置決めを必要とする電子回路モジ
ュールなどの被検査物品に特に適した検査装置に関する
ものである。
とストッパーとを備えた、位置決め用貫通孔を有する被
検査物品のための検査装置に関し、さらに詳しくは、検
査のために高精度の位置決めを必要とする電子回路モジ
ュールなどの被検査物品に特に適した検査装置に関する
ものである。
［従来の技術］ 従来、小型の電子回路モジュールには、第４図に示さ
れるように、その基板11の一定位置に複数の位置決め用
貫通孔12,12…が設けられ、その検査の際には、検査装
置の位置決めピン3,3…にこれらの貫通孔12,12…を嵌め
ることによってその位置決めがなされている。
れるように、その基板11の一定位置に複数の位置決め用
貫通孔12,12…が設けられ、その検査の際には、検査装
置の位置決めピン3,3…にこれらの貫通孔12,12…を嵌め
ることによってその位置決めがなされている。
位置決め後に行われる電子回路モジュール10の検査
は、第５図に示されるような、弾性をもたせた金属製針
状の検査用プローブ７を空気圧等の一定圧力で検査対象
のスルーホール部のパッド13に接触させ、この検査用プ
ローブ７を介して電流を必要な各回路に流し、各プロー
ブ7,7間のインダクタンス値、静電容量値、抵抗値など
の各特性値を計器20で測定し、良品のそれらの測定値と
のマッチングや設計値と測定値との比較によって行うも
のである。
は、第５図に示されるような、弾性をもたせた金属製針
状の検査用プローブ７を空気圧等の一定圧力で検査対象
のスルーホール部のパッド13に接触させ、この検査用プ
ローブ７を介して電流を必要な各回路に流し、各プロー
ブ7,7間のインダクタンス値、静電容量値、抵抗値など
の各特性値を計器20で測定し、良品のそれらの測定値と
のマッチングや設計値と測定値との比較によって行うも
のである。
従来の電子回路モジュールの貫通孔12は、電子回路モ
ジュールの検査の際の位置決め用ピン３に対する嵌合お
よび取り外しを容易にするために、位置決め用ピン３の
直径に比して大きな内径とし、両者の間に比較的大きな
クリアランスを取っている。これは、複数の位置決め用
ピン3,3の位置と貫通孔12,12の位置の不一致、もしくは
貫通孔12の内径が位置決め用ピン３の直径に比して小さ
い場合の固い嵌合によって、検査装置の操作能率が低下
することを防止するためである。
ジュールの検査の際の位置決め用ピン３に対する嵌合お
よび取り外しを容易にするために、位置決め用ピン３の
直径に比して大きな内径とし、両者の間に比較的大きな
クリアランスを取っている。これは、複数の位置決め用
ピン3,3の位置と貫通孔12,12の位置の不一致、もしくは
貫通孔12の内径が位置決め用ピン３の直径に比して小さ
い場合の固い嵌合によって、検査装置の操作能率が低下
することを防止するためである。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、最近の電子回路モジュールにおいて
は、挿入型電子部品は表面実装型電子部品となり、高密
度化が進み、検査用パッドもその面積が極めて制限さ
れ、例えば0.65〜1.00mmのピッチの狭いパッドがある。
このようなパッドに正確に前述の検査用プローブを接触
させるためには、位置決め用ピンに対する貫通孔のクリ
ヤランスをそれ程大きくすることができない。すなわ
ち、クリヤランスの存在は検査に対する信頼性を低下さ
せるという問題点が生じている。
は、挿入型電子部品は表面実装型電子部品となり、高密
度化が進み、検査用パッドもその面積が極めて制限さ
れ、例えば0.65〜1.00mmのピッチの狭いパッドがある。
このようなパッドに正確に前述の検査用プローブを接触
させるためには、位置決め用ピンに対する貫通孔のクリ
ヤランスをそれ程大きくすることができない。すなわ
ち、クリヤランスの存在は検査に対する信頼性を低下さ
せるという問題点が生じている。
この発明は、このような問題点を解決するためになさ
れたもので、被検査用パッドと検査用プローブとの接触
を確実ならしめ、検査に対する信頼性を低下させること
のない検査装置を提供することを目的としている。
れたもので、被検査用パッドと検査用プローブとの接触
を確実ならしめ、検査に対する信頼性を低下させること
のない検査装置を提供することを目的としている。
［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するために、この発明は、被検査物品
の位置決め用貫通孔に嵌合するための円錐形の先端部と
この円錐形の先端部を弾性的に支持する弾性部材とを有
する複数の位置決め用ピンと、この位置決め用ピンに嵌
合した被検査物品が押し下げられる時にそれを停止する
ためのストッパーとを備えた検査装置において、位置決
め用ピンの円錐形の先端部が位置決め用貫通孔の内径よ
り大きい直径部分を有し、ストッパーが、位置決め用ピ
ンの弾性部材の弾性作用範囲内に被検査物品が停止する
ように位置付けられているものである。
の位置決め用貫通孔に嵌合するための円錐形の先端部と
この円錐形の先端部を弾性的に支持する弾性部材とを有
する複数の位置決め用ピンと、この位置決め用ピンに嵌
合した被検査物品が押し下げられる時にそれを停止する
ためのストッパーとを備えた検査装置において、位置決
め用ピンの円錐形の先端部が位置決め用貫通孔の内径よ
り大きい直径部分を有し、ストッパーが、位置決め用ピ
ンの弾性部材の弾性作用範囲内に被検査物品が停止する
ように位置付けられているものである。
［作 用］ 位置決め用ピンの円錐形の先端部が位置決め用貫通孔
の内径より大きい直径部分を有し、ストッパーが、位置
決め用ピンの弾性部材の弾性作用範囲内に被検査物品が
停止するように位置付けられているので、被検査物品の
位置決め用貫通孔を位置決め用ピンの円錐形の先端部に
嵌めて被検査物品を押し下げると、被検査物品はストッ
パーに当たって停止するまでに、位置決め用ピンの下端
部の弾性部材の弾性係数により定まる一定圧で必ず正し
い位置に移動して固定されるようになる。
の内径より大きい直径部分を有し、ストッパーが、位置
決め用ピンの弾性部材の弾性作用範囲内に被検査物品が
停止するように位置付けられているので、被検査物品の
位置決め用貫通孔を位置決め用ピンの円錐形の先端部に
嵌めて被検査物品を押し下げると、被検査物品はストッ
パーに当たって停止するまでに、位置決め用ピンの下端
部の弾性部材の弾性係数により定まる一定圧で必ず正し
い位置に移動して固定されるようになる。
位置決め用貫通孔は位置決め用ピンの円錐形部分に
（クリヤランスなしで）緊密に嵌合するので、正確な位
置決めを行うことができ、被検査物品のパッドと検査用
プローブとの接触を確実に行うことができるとともに、
被検査物品は、位置決め用貫通孔で位置決め用ピンの円
錐形部分に一定圧で嵌合しているのみであるから、被検
査物品を押し下げる力を除くと、その取り外しはきわめ
て容易である。
（クリヤランスなしで）緊密に嵌合するので、正確な位
置決めを行うことができ、被検査物品のパッドと検査用
プローブとの接触を確実に行うことができるとともに、
被検査物品は、位置決め用貫通孔で位置決め用ピンの円
錐形部分に一定圧で嵌合しているのみであるから、被検
査物品を押し下げる力を除くと、その取り外しはきわめ
て容易である。
［実施例］ 以下、この発明の実施例を図に示された検査装置の位
置決め用ピンについて説明する。
置決め用ピンについて説明する。
なお、図中、同一または相当部分には同一符号が付さ
れている。
れている。
第１図において、１は被検査物品である電子回路モジ
ュール10の電気的諸特性を検査するための検査装置であ
り、その基台２には４本の位置決め用ピン3,3,3,3と２
個のストッパー4,4とが設けられ、上下動可能な可動板
５には、止具のための穴5a,5aおよびプローブのための
穴5b,5b…が設けられている。止具６は、図示しない流
体圧などの駆動装置で上下に動かされ、下動の際に電子
回路モジュール10を位置決め用ピン3,3…に押圧し、上
動してその押圧を解除するものである。金属製のプロー
ブ7,7…も同様に図示しない空気圧などの駆動装置で下
動され、第５図に示されるように、その円錐形の先端を
スルーホール部のパッド13に弾性的に接触させ、電子回
路モジュール10の回路の関連する部分間の電気的諸特性
を計測し、押圧の解除とともに、原状に復帰するもので
ある。なお、7cは圧縮ばねである。
ュール10の電気的諸特性を検査するための検査装置であ
り、その基台２には４本の位置決め用ピン3,3,3,3と２
個のストッパー4,4とが設けられ、上下動可能な可動板
５には、止具のための穴5a,5aおよびプローブのための
穴5b,5b…が設けられている。止具６は、図示しない流
体圧などの駆動装置で上下に動かされ、下動の際に電子
回路モジュール10を位置決め用ピン3,3…に押圧し、上
動してその押圧を解除するものである。金属製のプロー
ブ7,7…も同様に図示しない空気圧などの駆動装置で下
動され、第５図に示されるように、その円錐形の先端を
スルーホール部のパッド13に弾性的に接触させ、電子回
路モジュール10の回路の関連する部分間の電気的諸特性
を計測し、押圧の解除とともに、原状に復帰するもので
ある。なお、7cは圧縮ばねである。
基台２に設けられた位置決め用ピン３は、第２図に示
されるように、その先端部3dを円錐形とした本体部3a
と、その本体部3aの下側に配置された圧縮ばね3cとから
なり、基台２に固設された支持筒3b内で圧縮ばね3cの弾
性により上下動することができる。本体部3aの直径Ｄは
被検査物品の電子回路モジュール10に設けられている位
置決め用貫通孔の内径より大きく、その貫通孔が位置決
め用ピンに嵌合して押圧される時に、電子回路モジュー
ル10は各貫通孔が位置決め用ピン３の先端部3dの円錐形
の傾斜部に係止し、その位置を正確に定められる（第２
図および第３図）。
されるように、その先端部3dを円錐形とした本体部3a
と、その本体部3aの下側に配置された圧縮ばね3cとから
なり、基台２に固設された支持筒3b内で圧縮ばね3cの弾
性により上下動することができる。本体部3aの直径Ｄは
被検査物品の電子回路モジュール10に設けられている位
置決め用貫通孔の内径より大きく、その貫通孔が位置決
め用ピンに嵌合して押圧される時に、電子回路モジュー
ル10は各貫通孔が位置決め用ピン３の先端部3dの円錐形
の傾斜部に係止し、その位置を正確に定められる（第２
図および第３図）。
ストッパー４は、第２図に示される例においては、単
に基台２に所定高さ、すなわち、位置決め用ピン３の圧
縮ばね3cの弾性作用のある範囲内に位置している。な
お、4aは本体部、4bは基台２に固設された支持筒であ
る。
に基台２に所定高さ、すなわち、位置決め用ピン３の圧
縮ばね3cの弾性作用のある範囲内に位置している。な
お、4aは本体部、4bは基台２に固設された支持筒であ
る。
検査すべき電子回路モジュール10は、その貫通孔12が
嵌合すべき位置決め用ピン３と一致する場所に載置さ
れ、止具６により一定の空気圧で下方へ押圧される。電
子回路モジュール10は、その各貫通孔12が位置決め用ピ
ン３の先端部3dの円錐形の傾斜部に沿って押し下げられ
ることによってその位置が正確に定められる。この止具
６による押し下げはストッパー４に当たって停止し、同
時に、各プローブ7,7が下降して、その先端が電子回路
モジュール10のパッド13に正確に接触し、プローブ7,7
間に電流が流されて計器20（第５図参照）で計測され、
計測値が図示しない比較器などの装置に送られて標準値
と比較され、電子回路モジュール10の回路の検査が行わ
れる。なお、位置決め用ピン３には圧縮ばね3cが下端部
に設けられているので、位置決め用ピン３の先端部3dと
貫通孔12との嵌合はばね3cの弾性係数によって定まる一
定の圧力で行われ、両者が固く嵌合することがないの
で、電子回路モジュール10の検査終了後に位置決め用ピ
ンからきわめて容易に取り外すことができる。したがっ
て、検査装置の操作能率の低下することがない。
嵌合すべき位置決め用ピン３と一致する場所に載置さ
れ、止具６により一定の空気圧で下方へ押圧される。電
子回路モジュール10は、その各貫通孔12が位置決め用ピ
ン３の先端部3dの円錐形の傾斜部に沿って押し下げられ
ることによってその位置が正確に定められる。この止具
６による押し下げはストッパー４に当たって停止し、同
時に、各プローブ7,7が下降して、その先端が電子回路
モジュール10のパッド13に正確に接触し、プローブ7,7
間に電流が流されて計器20（第５図参照）で計測され、
計測値が図示しない比較器などの装置に送られて標準値
と比較され、電子回路モジュール10の回路の検査が行わ
れる。なお、位置決め用ピン３には圧縮ばね3cが下端部
に設けられているので、位置決め用ピン３の先端部3dと
貫通孔12との嵌合はばね3cの弾性係数によって定まる一
定の圧力で行われ、両者が固く嵌合することがないの
で、電子回路モジュール10の検査終了後に位置決め用ピ
ンからきわめて容易に取り外すことができる。したがっ
て、検査装置の操作能率の低下することがない。
第３図に示される例においては、ストッパー４の下部
に弾性体である圧縮ばね4cが設けられており、この圧縮
ばね4cは位置決め用ピン３の圧縮ばね3cよりも大きいば
ね定数を有している。
に弾性体である圧縮ばね4cが設けられており、この圧縮
ばね4cは位置決め用ピン３の圧縮ばね3cよりも大きいば
ね定数を有している。
電子回路モジュール10が止具６により押し下げられ、
ストッパー４に停止する時に、ストッパー４の圧縮ばね
4cの弾性で緩徐に停止されることとなり、また、止具６
の押圧が解除されると直ちに電子回路モジュール10をス
トッパー４の原位置まで戻すことができ、検査装置の作
用が円滑となる。この場合には、電子回路モジュール10
に対する止具６の押圧力に変動があっても、電子回路モ
ジュール10はストッパー４によって停止された後にも一
定圧で支持され、その位置決めが一層確実になる。した
がって、検査装置の操作能率の低下もなく、位置決めの
正確さによってパッドに対するプローブの接触も確実に
行われる。
ストッパー４に停止する時に、ストッパー４の圧縮ばね
4cの弾性で緩徐に停止されることとなり、また、止具６
の押圧が解除されると直ちに電子回路モジュール10をス
トッパー４の原位置まで戻すことができ、検査装置の作
用が円滑となる。この場合には、電子回路モジュール10
に対する止具６の押圧力に変動があっても、電子回路モ
ジュール10はストッパー４によって停止された後にも一
定圧で支持され、その位置決めが一層確実になる。した
がって、検査装置の操作能率の低下もなく、位置決めの
正確さによってパッドに対するプローブの接触も確実に
行われる。
［発明の効果］ この発明によれば、被検査物品の貫通孔を位置決め用
ピンの円錐形部分にクリヤランスなしで緊密に嵌合させ
ることができるので、被検査物品の正確な位置決めを行
うことができ、検査用プローブを被検査物品のパッドに
確実に接触させることができるとともに、被検査物品
は、その貫通孔が位置決め用ピンの円錐形部分に一定圧
で嵌合しているのみであるから、その取り外しも容易
で、検査装置の操作能率を低下させることもない。
ピンの円錐形部分にクリヤランスなしで緊密に嵌合させ
ることができるので、被検査物品の正確な位置決めを行
うことができ、検査用プローブを被検査物品のパッドに
確実に接触させることができるとともに、被検査物品
は、その貫通孔が位置決め用ピンの円錐形部分に一定圧
で嵌合しているのみであるから、その取り外しも容易
で、検査装置の操作能率を低下させることもない。
第１図はこの発明の実施例を示す検査装置の斜視図、第
２図は同じく検査装置の要部断面図、第３図はこの発明
の他の実施例を示す検査装置の要部断面図、第４図は従
来の検査装置の斜視図、第５図は同じく検査装置の要部
断面図である。 １……検査装置、２……基台、3,3……位置決め用ピ
ン、４……ストッパー、５……可動板、5a,5c……穴、
６……止具、10……電子回路モジュール、11……基板、
12……貫通孔、13……パッド、20……計器。
２図は同じく検査装置の要部断面図、第３図はこの発明
の他の実施例を示す検査装置の要部断面図、第４図は従
来の検査装置の斜視図、第５図は同じく検査装置の要部
断面図である。 １……検査装置、２……基台、3,3……位置決め用ピ
ン、４……ストッパー、５……可動板、5a,5c……穴、
６……止具、10……電子回路モジュール、11……基板、
12……貫通孔、13……パッド、20……計器。
Claims (1)
- 【請求項１】被検査物品の位置決め用貫通孔に嵌合する
ための円錐形の先端部とこの円錐形の先端部を弾性的に
支持する弾性部材とを有する複数の位置決め用ピンと、
この位置決め用ピンに嵌合した被検査物品が押し下げら
れる時にそれを停止するためのストッパーとを備えた検
査装置において、前記位置決め用ピンの円錐形の先端部
が前記位置決め用貫通孔の内径より大きい直径部分を有
し、前記ストッパーが、前記位置決め用ピンの弾性部材
の弾性作用範囲内に被検査物品が停止するように位置付
けられていることを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1321478A JP2971491B2 (ja) | 1989-12-13 | 1989-12-13 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1321478A JP2971491B2 (ja) | 1989-12-13 | 1989-12-13 | 検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03183970A JPH03183970A (ja) | 1991-08-09 |
| JP2971491B2 true JP2971491B2 (ja) | 1999-11-08 |
Family
ID=18133012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1321478A Expired - Lifetime JP2971491B2 (ja) | 1989-12-13 | 1989-12-13 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2971491B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6560844B1 (en) * | 2000-02-24 | 2003-05-13 | Honeywell International Inc. | Alignment plate with matched thermal coefficient of expansion |
| JP2006080435A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2006162363A (ja) * | 2004-12-06 | 2006-06-22 | Seiko Epson Corp | 位置決め装置および周波数温度特性検査機 |
| JP5595902B2 (ja) * | 2010-12-28 | 2014-09-24 | 日置電機株式会社 | 基板受けピン、ピンボードユニットおよび基板検査装置 |
-
1989
- 1989-12-13 JP JP1321478A patent/JP2971491B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03183970A (ja) | 1991-08-09 |
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