JPH0714927Y2 - 回路基板検査装置におけるピンボード構造 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は、回路基板検査装置におけるピンボード構造
に係り、さらに詳しくは、両面に電子部品が実装された
いわゆる平面実装回路基板を検査する際、基板自体の損
傷を防止しながら正しい水平性を保持させた状態のもと
でテストプローブを接触させることができる回路基板検
査装置におけるピンボード構造に関する。

［従来の技術］ 電子部品をプリント配線基板に実装する際には、はんだ
付け工程などにおいて機械的、熱的なストレスを多く受
ける。

このため、プリント配線基板に対する電子部品の実装工
程を終了した後は、当該電子部品の損傷箇所やはんだ付
け不良箇所等の有無がチェックされなければならず、こ
のための装置として、インサーキットテスタやボードテ
スタなどと称されている回路基板検査装置が開発され、
その利用に供されている。

また、近時、プリント配線基板に対する電子部品の実装
密度が高まってきており、その対応策として平面実装法
が導入され、プリント配線基板の両面に電子部品が高密
度で実装された回路基板も多く提供されるに至ってい
る。

第３図は、両面に電子部品が実装された回路基板のため
の回路基板検査装置におけるピンボードの従来構造の一
例を示すものであり、図示しない押圧装置を介してその
昇降が可能となって形成されている上側ピンボード101
と、その下方に固定状態となって配置されている下側ピ
ンボード111とで構成されている。

このうち、上側ピンボード101は、押圧装置と直結され
ている加圧板102と、この加圧板102に対し所定長さを有
するスペーサ104を介して取着されている絶縁板103と、
この絶縁板103に穿設されている通孔105を介してその先
端部107を突出させ、かつ、その基端部を前記加圧板102
に固定させてなる棒状押圧材106とで構成されており、
前記絶縁板103における下底面の所定位置には、被測定
基板Ｐの上面側に接触される上面用テストプローブ108
が垂設されている。

一方、下側ピンボード111は、固定状態にある絶縁板112
と、この絶縁板112上方にて被測定基板Ｐを水平状に載
置するための基板受材113が絶縁板112上に立設されてい
る。また、この絶縁板112の上面の所定位置には、下面
用テストプローブ114が前記基板受材113の頂端高さより
もその頂端高さを低くして立設されており、さらには、
このテストプローブ114の頂端高さよりもその頂端高さ
を低くして配置された基板ストッパー115が立設されて
いる。

第３図に示す従来例としての回路基板検査装置のピンボ
ード構造は、このようにして構成されているので、その
使用時には、まず、下側ピンボード111の基板受板113上
に被測定基板Ｐが載置される。しかる後、押圧装置を介
して上側ピンボード101を下降させ、被測定基板Ｐに上
面用テストプローブ108を接触させる。この際、上面用
テストプローブ108の接触位置との関係で、被測定基板
Ｐは傾いた状態で押し下げられることになる。このよう
な状態のもとで被測定基板Ｐは下面用テストプローブ11
4と接触するに至る。この場合、被測定基板Ｐは、傾い
た状態で所定位置にまで下降すると、上側ピンボード10
1の棒状押圧材106と、下側ピンボード111の基板ストッ
パー115との相互作用により、最終的には水平状態のも
とで支持されるに至り、この状態のもとで所要の電子部
品に対するチェックのための検査が行なわれることにな
る。

［考案の解決しようとする課題］ ところで、上記従来例によるときは、その全体構成を比
較的簡単な構造のものとして形成することができ、その
点では好ましいものである。

しかし、被測定基板に配置されている部品の位置が、回
路設計上の都合などにより偏りのあるときには、これら
部品との関係で配置されるテストプローブの位置も偏在
することになる。このような偏在状態にあるテストプロ
ーブにより被測定基板を押圧するときには、どうしても
被測定基板に傾きが生じ、基板自体のある部分にのみ大
きなストレスが加わって撓んでしまい、基板破損の原因
となる不都合があった。また、被測定基板に生ずるこの
ような撓みは、テストプローブ自体の不正確な接触をも
招く結果、正しい検査ができなくなるおそれもあった。

この考案は、従来例にみられた上記不都合に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は、両面実装された被測定基
板に対し、常に水平性を維持させた状態のもとでテスト
プローブを接触させることができる回路基板検査装置に
おけるピンボード構造を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するため、この考案は、次のようにして
構成されている。

すなわち、この考案の構成を図面に対応させて説明すれ
ば、その全体は、図示しない装置本体に対し昇降可能に
配置された上側ユニット１と、その下方に対向配置さ
れ、圧縮力が付与されて支持された昇降板27を有してな
る下側ユニット21とで形成されている。このうち、前記
上側ユニット１は、昇降可能な加圧板２と、この加圧板
２に対し杆材４を介して固着され、かつ、垂設された上
面用テストプローブ５を有してなる上側ピンボード３
と、この上側ピンボード３からそれぞれの先端部を進退
可能に突出させて設けられた上側ユニット１自体の下降
を強制的に停止させるためのストッパ10とこのストッパ
10より短い前記昇降板27を押し下げるための押圧棒11と
を有し、この押圧棒11が昇降板27を押し下げてその下降
が停止した後、予め付与されている圧縮力に抗して上面
用テストプローブ５が被測定基板Ｐの上面と接触するに
至るまで前記上側ピンボード３の相対下降を可能にして
加圧板２と上側ピンボード３との間に介装される介装板
８とを有して形成されている。

また、前記下側ユニット21は、立設された下面用テスト
プローブ23を有してなる下側ピンボード22に対し、前記
昇降板27を被測定基板Ｐを水平載置するための突起材28
と前記下面用テストプローブ23を出没させるための通孔
24とを設け、下降してきた前記押圧棒11を介して押圧さ
れて下側ピンボード22に当接し、かつ、下面用テストプ
ローブ23が被測定基板Ｐの下面と接触するに至るまでの
間その下降を可能に支持することで形成されている。

［作用］ このため、被測定基板Ｐを検査する際には、まず、下側
ユニット21における昇降板27の突起材28上に被測定基板
Ｐを予め定められている位置関係をとって正確に載置し
た後、上側ユニット１を下降させる。上側ユニット１が
下降するにつれ、まず、介装板８に設けられている押圧
棒11を介して下側ユニット21の昇降板27が押し下げられ
る。このため、昇降板27は、ついに下側ピンボード22に
当接し、その下降を停止するに至る。この際、下側ピン
ボード22に設けられている下面用テストプローブ23は、
昇降板27に設けられている通孔24から相対的に突出し、
被測定基板Ｐの下面に接触することができる。この場
合、上側ユニット１の側のストッパ10は、下面用テスト
プローブ23が被測定基板Ｐの下面に接触した際に下側ピ
ンボード22と衝接する長さを有して設けられているの
で、介装板８の下降が阻止される。このようにして介装
板８が下降を阻止されると同時に、加圧板２ともどもこ
れと一体的に取着されている上側ピンボード３が相対的
にその下降を開始する。上側ピンボード３が下降するに
伴い、この上側ピンボード３に設けられている上面用テ
ストプローブ５を前記被測定基板Ｐの上面に接触させる
ことができる。

つまり、被接触基板Ｐに対しては、最初から最後まで常
に水平性を保たせたままの状態のもとでこれを支持する
ことができ、このような水平状態のもとで上面用テスト
プローブ５と下面用テストプローブ23とをそれぞれの接
触部位に確実に接触させることができる。したがって、
被測定基板Ｐに生じがちな局部的な加圧ストレスによる
撓みの発生や損傷を効果的に防止することで、測定時に
おける被測定基板の両面にテストプローブの良好な接触
状態を確保することができ、信頼性のある測定を行なう
ことができる。

［実施例］ 以下、図面に基づいてこの考案の実施例を詳説する。

第１図は、この考案の一実施例を示す正面図であり、そ
の全体は、装置本体に組み込まれている制御された加圧
装置（図示せず）に直結させることでその昇降が可能と
なって配置された上側ユニット１と、この上側ユニット
１に対しその下方にて対向配置され、圧縮力が付与され
て支持された昇降板27を有してなる下側ユニット21とで
構成されている。

この場合、前記上側ユニット１は、図示しない加圧装置
に取り付けられてその昇降が可能に形成されている加圧
板２と、この加圧板２との間に所定長さの杆材４を介在
させてその下方に一体的に固着された上側ピンボード３
と、これら加圧板２と上側ピンボード３との間に前記杆
材４を介して形成される空間内に配置される介装板８と
を有して形成されている。

このうち、前記上側ピンボード３には、予め定められた
仕様に従い正確に位置決めして１以上の上面用テストプ
ローブ５が垂設されている。また、前記介装板８には、
所定の位置に前記下側ユニット21に衝接して上側ユニッ
ト１の下降を停止させるために複数本のストッパ10と、
前記昇降板27を押し下げるべくこのストッパ10よりもそ
の長さを短くして形成されている複数本の押圧棒11とが
前記上側ピンボード３に設けた通孔６を介してそれぞれ
の先端部を進退可能に、かつ、前記上面用テストプロー
ブ５よりも突出させた状態となるようにして垂設されて
いる。また、この介装板８には、加圧板２と上側ピンボ
ード３との間に介在固着された案内用の杆材７に介装さ
れる所定長さの軸受材12がその上部に形成された鍔部13
を介して一体的に固着されており、この鍔部13と加圧板
２との間に位置する案内用の前記杆材７に介装させた圧
縮ばね14により、前記軸受材12ともども介装材８は常に
下方への押圧力が付勢されて支持されている。これによ
り、前記介装板８には、加圧板２と上側ピンボード３と
の間にて圧縮力が付与されることになり、押圧棒11が前
記昇降板27を押圧してその下降が停止される位置にまで
これを押し下げることができる。

なお、前記軸受材12と杆材７との間には、相互間の動き
より円滑なものとするため、予め所要のブッシュ材15を
介装しておくのが好ましい。

また、この考案において、加圧板２と上側ピンボード３
との間にて前記介装板８に対し圧縮力を付与するための
構造については、必要により、案内用の杆材７を設けず
に、前記杆材４に対し前記軸受材12と圧縮ばね材14と同
等の構造のものを介装させ、この軸受材に介装板８を一
体的に固着させることで形成することもできる。

一方、前記下側ユニット21における前記下側ピンボード
22には、所定の仕様に従い正確に位置決めされて立設さ
れた１以上の下面用テストプローブ23が立設されてお
り、この下面用テストプローブ23を介して装置本体に固
定配置されている。

また、前記昇降板27は、両面実装された被測定基板Ｐを
水平状態に載置して支持すべく形成された同高の複数本
の突起材28と、前記下側ピンボード22に立設されている
下面用テストプローブ23を出没させるための通孔24とを
有して形成されている。

この場合における前記下側ピンボード22と昇降板27との
間の取着支持構造は、上部に上側掛止部32を有してなる
案内杆31をそれぞれ図示例のようにして昇降板27に挿通
させた後、下側ピンボード22に設けたそれぞれの通孔30
に挿入し、案内杆31の下部にナット材34を螺着するなど
して固着された下側掛止部33を介することでその抜脱を
防止して取り付けるとともに、下側ピンボード22に設け
た穴部25と昇降板27との間に所要の圧縮ばね材35を介装
させることで形成されている。これにより、昇降板27
は、下側ピンボード22との間に圧縮力が付与された状態
で支持され、この昇降板27を押し下げるべく前記押圧棒
11が同一高となっている上側掛止部32と突起材28に載置
されている被測定基板Ｐとのそれぞれの上面に接触した
際、この昇降板27を水平状に押し下げながら下側にピン
ボード22に到達するに至るまでこれを下降させることが
できる。

なお、下側ピンボード22の通孔30と案内杆31との間に
は、相互間の動きをより円滑なものとするため、所要の
ブッシュ材26を介装させておくのが好ましい。

この考案は、上述のようにして構成されているので、被
測定基板Ｐを検査する際には、まず、下側ユニット21に
おける昇降板27の突起材28上に被測定基板Ｐを予め定め
られている位置関係をとって正確に、かつ、水平に載置
した後、上側ユニット１を下降させる。上側ユニット１
が下降するにつれ、まず、介装板８に設けられている押
圧棒11のそれぞれが下側ユニット21の側の案内杆31の上
側掛止部32と被測定基板Ｐとのそれぞれの上面に同時に
接触し、押圧するに至る。これにより、昇降板27は、介
装されている圧縮ばね材35の弾発力に抗してその下降を
余儀なく強いられ、ついてに下側ピンボード22と当接、
かつ、ストッパ10も下側ピンボード22に衝接してその下
降が阻止されるとともに、被測定基板Ｐの下面に下面用
テストプローブ23が接触する。昇降板27の停止と同時に
上側ピンボード３が圧縮ばね材14の弾発力に抗してその
下降を開始し、やがて上側ピンボード３に設けられてい
る上面用テストプローブ５が前記被測定基板Ｐの上面に
接触するに至る。この被測定基板Ｐへの上面用テストプ
ローブ５の接触と同時に、介装材８に設けられているス
トッパ10が下側ピンボード22に当接していることで、介
装板８に加圧板２が支承されて上側ユニット１の下降も
停止するに至る。

かくして、当初における被測定基板Ｐは、下側ユニット
21における昇降板27に突起材28を介し常に水平状態を保
たせながらまず、載置される。

次いで、上側ユニット１が下降を開始し、押圧棒11が案
内杆31に付設されている上側掛止部32と被測定基板Ｐと
のそれぞれの上面に接触しても、依然として被測定基板
Ｐに対しその水平状態を保持させておくことができる。
上側ユニット１が下降を続け、昇降板27が押し下げられ
て被測定基板Ｐの下面に下面用テストプローブ23が接触
するに至っても昇降板27自体が下側ピンボード22に規制
されて水平性を保っているので、被測定基板Ｐも水平状
態を依然として維持していることができる。

しかも、介装材８がその下降を停止した後、上側ピンボ
ード３が相対な下降を開始し水平状態となって支持され
ている被測定基板Ｐに対し上面用テストプローブ５を接
触させることができる。このため、上側ユニット１と下
側ユニット21とは、常に相互に水平状態を保った関係の
もとで対向することになり、したがって、下側ユニット
21の側に支持されている被測定基板Ｐも水平状態を維持
したままでその上面には上面用テストプローブ５を、下
面には下面用テストプローブ23を好ましい状態のもとで
それぞれ接触させることができる。

したがって、被測定基板Ｐに生じがちな局部的な加圧ス
トレスによる撓みの発生や損傷を効果的に防止すること
で、測定時における被測定基板Ｐの両面に対し、それぞ
れテストプローブの良好な接触状態を確保することがで
き、正確で信頼性の高い測定を行なうことができる。

［考案の効果］ 以上述べたようにこの考案によれば、被測定基板を最初
から最後まで常に平行状態を保ったままで支持すること
ができ、このような状態のもとで上面用テストプローブ
と下面用テストプローブとを所定のそれぞれの接触部位
に確実に接触させることができる。したがって、被測定
基板に生じがちな局部的な加圧ストレスによる撓みの発
生や損傷を効果的に防止することで、測定時における被
測定基板の両面にテストプローブの良好な接触状態を確
保することができ、信頼性の高い測定を行なうことがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案の一実施例について、測定作業に入
る前の状態を示した正面図である。 第２図は、第１図に示す実施例について、測定時の状態
を示した正面図である。 第３図は、従来例を示す正面図である。 １…上側ユニット、２…加圧板、３…上側ピンボード、
４…杆材、５…上面用テストプローブ、６…通孔、７…
杆材、８…介装板、９…通孔、10…ストッパ、11…押圧
棒、12…軸受材、13…鍔部、14…圧縮ばね材、15…ブッ
シュ材、21…下側ユニット、22…下側ピンボード、23…
下面用テストプローブ、24…通孔、25…穴部、26…ブッ
シュ材、27…昇降板、28…突起材、30…通孔、31…案内
杆、32…上側掛止部、33…下側掛止部、34…ナット材、
35…圧縮ばね材、Ｐ…被測定基板

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】装置本体に昇降可能に配置される上側ユニ
   ットと、その下方に対向配置され、圧縮力が付与されて
   支持された昇降板を有する下側ユニットとからなり、 前記上側ユニットは、昇降可能な加圧板と、この加圧板
   に対し杆材を介して固着され、かつ、垂設された上面用
   テストプローブを有してなる上側ピンボードと、この上
   側ピンボードからそれぞれの先端部を進退可能に突出さ
   せて設けた上側ユニットの下降を停止させるためのスト
   ッパとこのストリッパより短い前記昇降板を押し下げる
   ための押圧棒とを有し、この押圧棒が前記昇降板を押し
   下げてその下降を停止した後、予め付与されている圧縮
   力に抗して上面用テストプローブが被測定基板の上面と
   接触するに至るまで前記上側ピンボードの相対下降を可
   能にして加圧板と上側ピンボードとの間に介装される介
   装板とで構成し、 前記下側ユニットは、立設された下面用テストプローブ
   を有してなる下側ピンボードに対し、前記昇降板を被測
   定基板を水平載置するための突起材と前記下面用テスト
   プローブを出没させるための通孔とを設け、前記押圧棒
   を介して押圧されて下側ピンボードに当接し、かつ、下
   面用テストプローブが被測定基板の下面と接触するに至
   るまでの間その下降を可能にして支持させたこと、 を特徴とする回路基板検査装置におけるピンボード構
   造。