JPH0829499A - 回路基板の検査装置 - Google Patents
回路基板の検査装置Info
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- JPH0829499A JPH0829499A JP18642494A JP18642494A JPH0829499A JP H0829499 A JPH0829499 A JP H0829499A JP 18642494 A JP18642494 A JP 18642494A JP 18642494 A JP18642494 A JP 18642494A JP H0829499 A JPH0829499 A JP H0829499A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路基板の回路部に接触ピンを接触させ、こ
の接触ピンを通して回路基板に通電を行ってその検査を
行う検査装置において、接触ピンの破損を防止するとと
もに、回路基板と接触ピンとの位置合わせを正確にかつ
容易に行うことを可能とする。 【構成】 その表面上に検査される回路基板ＰＢが載置
される保護ボード２と、この保護ボード２の下方位置に
おいて昇降可能に設けられ、その上面に接触ピン８を突
出形成したピンボード７とを備えており、保護ボード２
には接触ピン８を上下に挿通可能な透孔２ａが開設さ
れ、非検査時にはピンボード７が下降位置にあり接触ピ
ン８はその先端部が透孔２ａ内に位置され、検査時には
ピンボード７が上昇位置にあり、接触ピン８はその先端
部が透孔２ａを通して保護ボード２の表面上に突出さ
れ、回路基板ＰＢに当接される。回路基板ＰＢは保護ボ
ード２上に載置し、透孔２ａを利用して密接状態での位
置決めを行う。
の接触ピンを通して回路基板に通電を行ってその検査を
行う検査装置において、接触ピンの破損を防止するとと
もに、回路基板と接触ピンとの位置合わせを正確にかつ
容易に行うことを可能とする。 【構成】 その表面上に検査される回路基板ＰＢが載置
される保護ボード２と、この保護ボード２の下方位置に
おいて昇降可能に設けられ、その上面に接触ピン８を突
出形成したピンボード７とを備えており、保護ボード２
には接触ピン８を上下に挿通可能な透孔２ａが開設さ
れ、非検査時にはピンボード７が下降位置にあり接触ピ
ン８はその先端部が透孔２ａ内に位置され、検査時には
ピンボード７が上昇位置にあり、接触ピン８はその先端
部が透孔２ａを通して保護ボード２の表面上に突出さ
れ、回路基板ＰＢに当接される。回路基板ＰＢは保護ボ
ード２上に載置し、透孔２ａを利用して密接状態での位
置決めを行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はプリント回路基板等の回
路基板に接触ピンを接触させ、この接触ピンを通して回
路基板に通電を行うことで回路基板の検査を行うように
した検査装置に関する。
路基板に接触ピンを接触させ、この接触ピンを通して回
路基板に通電を行うことで回路基板の検査を行うように
した検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の検査装置として、例えば
特開昭６１−１４２４７７号公報に記載されているもの
がある。この検査装置は、図４にその概略構成を示すよ
うに、検査パレット１０１の開口１０１ａ上に検査され
るプリント基板ＰＢを載置する。また、検査パレット１
０１の下方には第１昇降機構１０２によって昇降される
シリンダ１０３が設けられており、更にこのシリンダ１
０３内に第２昇降機構１０４によって昇降される昇降台
１０５が設けられている。この昇降台１０５には接触ピ
ン１０６を上方に向けて突出させたピンボード１０７が
配置されている。なお、前記シリンダ１０３には排気口
が設けられ、またピンボード１０７には所要の電気配線
が接続されている。
特開昭６１−１４２４７７号公報に記載されているもの
がある。この検査装置は、図４にその概略構成を示すよ
うに、検査パレット１０１の開口１０１ａ上に検査され
るプリント基板ＰＢを載置する。また、検査パレット１
０１の下方には第１昇降機構１０２によって昇降される
シリンダ１０３が設けられており、更にこのシリンダ１
０３内に第２昇降機構１０４によって昇降される昇降台
１０５が設けられている。この昇降台１０５には接触ピ
ン１０６を上方に向けて突出させたピンボード１０７が
配置されている。なお、前記シリンダ１０３には排気口
が設けられ、またピンボード１０７には所要の電気配線
が接続されている。
【０００３】この検査装置では、第１昇降機構１０２に
よって昇降台１０５をシリンダ１０３と共に上昇させ、
シリンダ１０３、プリント基板ＰＢ、検査パレット１０
１とで画成された室内を排気することで、プリント基板
ＰＢを検査パレット１０１に吸着し、固定させる。ま
た、昇降台１０５と共にピンボード１０７が上昇される
ことで、接触ピン１０６がプリント基板ＰＢの回路部に
接触される。したがって、この接触ピン１０６を通して
プリント基板ＰＢに通電を行うことで、所要の検査を実
行することができる。
よって昇降台１０５をシリンダ１０３と共に上昇させ、
シリンダ１０３、プリント基板ＰＢ、検査パレット１０
１とで画成された室内を排気することで、プリント基板
ＰＢを検査パレット１０１に吸着し、固定させる。ま
た、昇降台１０５と共にピンボード１０７が上昇される
ことで、接触ピン１０６がプリント基板ＰＢの回路部に
接触される。したがって、この接触ピン１０６を通して
プリント基板ＰＢに通電を行うことで、所要の検査を実
行することができる。
【０００４】なお、プリント基板ＰＢの表面に凹凸があ
る場合でも接触ピン１０６が各回路部に適切に接触され
るように、例えば図５に示すように、接触ピン１０６を
ピンボード１０７に設けた孔１０７ａ内に内装し、その
下側からスプリング１０８によって突出方向に付勢させ
た構成がとられている。接触ピン１０６は孔１０７ａの
開口部に設けたストッパ１０９によりその脱落が防止さ
れる。このため、接触ピン１０６がプリント基板ＰＢの
凸部に接触する際には、スプリング１０８の弾性力によ
って接触ピン１０６が孔１０７ａの内方に後退されるこ
とで、接触ピン１０６とプリント基板ＰＢとの間に生じ
る衝撃を緩和し、接触ピン１０６やプリント基板ＰＢに
おける損傷を防止している。
る場合でも接触ピン１０６が各回路部に適切に接触され
るように、例えば図５に示すように、接触ピン１０６を
ピンボード１０７に設けた孔１０７ａ内に内装し、その
下側からスプリング１０８によって突出方向に付勢させ
た構成がとられている。接触ピン１０６は孔１０７ａの
開口部に設けたストッパ１０９によりその脱落が防止さ
れる。このため、接触ピン１０６がプリント基板ＰＢの
凸部に接触する際には、スプリング１０８の弾性力によ
って接触ピン１０６が孔１０７ａの内方に後退されるこ
とで、接触ピン１０６とプリント基板ＰＢとの間に生じ
る衝撃を緩和し、接触ピン１０６やプリント基板ＰＢに
おける損傷を防止している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の検査
装置では、接触ピン１０６がピンボード１０７から突出
された状態にあるため、プリント基板ＰＢを検査パレッ
ト１０１に装着する際、或いはピンボード１０７を取り
扱う際に、プリント基板ＰＢや他の物品が接触ピン１０
６に触れて接触ピン１０６を破損してしまうことがあ
る。また、接触ピン１０６を曲げ変形してしまうことも
あり、このような場合には接触ピン１０６が一旦ピンボ
ード１０７の孔１０７ａ内に押し込められると、接触ピ
ン１０６と孔１０７ａの内面との干渉によって接触ピン
１０６が突出されなくなることがあり、以後の検査が不
可能になるという問題も生じる。
装置では、接触ピン１０６がピンボード１０７から突出
された状態にあるため、プリント基板ＰＢを検査パレッ
ト１０１に装着する際、或いはピンボード１０７を取り
扱う際に、プリント基板ＰＢや他の物品が接触ピン１０
６に触れて接触ピン１０６を破損してしまうことがあ
る。また、接触ピン１０６を曲げ変形してしまうことも
あり、このような場合には接触ピン１０６が一旦ピンボ
ード１０７の孔１０７ａ内に押し込められると、接触ピ
ン１０６と孔１０７ａの内面との干渉によって接触ピン
１０６が突出されなくなることがあり、以後の検査が不
可能になるという問題も生じる。
【０００６】また、従来の検査装置では、ピンボード１
０７に対して離した位置でプリント基板ＰＢを配置して
いるため、プリント基板ＰＢの位置決めを行なう際には
目視によりプリント基板ＰＢの回路部とピンボード１０
７上の各接触ピン１０６とを正対位置させる必要があ
る。このため、目視ずれにより両者の間に位置ずれが生
じ易く、プリント基板の目的とする回路部に正しく接触
ピンが接触されず、正しい検査が行われなくなるという
問題もある。このため、従来では高精度の位置決め機構
が必要とされており、検査装置のコスト高をまねく要因
となっている。
０７に対して離した位置でプリント基板ＰＢを配置して
いるため、プリント基板ＰＢの位置決めを行なう際には
目視によりプリント基板ＰＢの回路部とピンボード１０
７上の各接触ピン１０６とを正対位置させる必要があ
る。このため、目視ずれにより両者の間に位置ずれが生
じ易く、プリント基板の目的とする回路部に正しく接触
ピンが接触されず、正しい検査が行われなくなるという
問題もある。このため、従来では高精度の位置決め機構
が必要とされており、検査装置のコスト高をまねく要因
となっている。
【０００７】
【発明の目的】本発明の目的は、接触ピンの破損を防止
し、接触ピンの損傷による検査不能を防止した検査装置
を提供することにある。また、本発明の他の目的は、プ
リント基板等の回路基板と、接触ピンとの位置合わせを
正確にかつ容易に行うことができる検査装置を提供する
ことにある。
し、接触ピンの損傷による検査不能を防止した検査装置
を提供することにある。また、本発明の他の目的は、プ
リント基板等の回路基板と、接触ピンとの位置合わせを
正確にかつ容易に行うことができる検査装置を提供する
ことにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の検査装置は、そ
の表面上に検査される回路基板が載置される保護ボード
と、この保護ボードの下方位置において昇降可能に設け
られ、その上面に接触ピンを突出形成したピンボードと
を備えており、保護ボードには接触ピンを上下に挿通可
能な透孔が開設され、接触ピンはピンボードが下降位置
にあるときにはその先端が透孔内に位置され、ピンボー
ドが上昇位置にあるときにはその先端が透孔を通して保
護ボードの表面上に突出されるように構成したことを特
徴とする。
の表面上に検査される回路基板が載置される保護ボード
と、この保護ボードの下方位置において昇降可能に設け
られ、その上面に接触ピンを突出形成したピンボードと
を備えており、保護ボードには接触ピンを上下に挿通可
能な透孔が開設され、接触ピンはピンボードが下降位置
にあるときにはその先端が透孔内に位置され、ピンボー
ドが上昇位置にあるときにはその先端が透孔を通して保
護ボードの表面上に突出されるように構成したことを特
徴とする。
【０００９】ここで、接触ピンは、保護ボードの透孔を
挿通可能でかつピンボードの上面に植設される細径筒内
に上下移動可能に挿入され、かつ接触ピンと細径筒の底
部との間に介挿されたスプリングにより先端方向に付勢
される構成とされる。
挿通可能でかつピンボードの上面に植設される細径筒内
に上下移動可能に挿入され、かつ接触ピンと細径筒の底
部との間に介挿されたスプリングにより先端方向に付勢
される構成とされる。
【００１０】また、保護ボードには、表面上に載置され
る回路基板を位置決め固定するための固定金具が付属さ
れる。更に、保護ボードの下方位置にはシリンダ機構に
よって上下に移動される昇降台が配設され、ピンボード
はこの昇降台に搭載される。
る回路基板を位置決め固定するための固定金具が付属さ
れる。更に、保護ボードの下方位置にはシリンダ機構に
よって上下に移動される昇降台が配設され、ピンボード
はこの昇降台に搭載される。
【００１１】
【作用】接触ピンは通常では保護ボードの透孔内に後退
された位置にあり、回路基板を載置する際等に生じる外
力からその損傷が保護される。また回路基板は保護ボー
ドに設けた透孔を利用することで、目視ずれによる位置
合わせ誤差が防止される。検査時にはピンボードが上昇
されるため接触ピンは保護ボードの透孔から突出された
状態となり、回路基板に接触して検査通電を可能とす
る。
された位置にあり、回路基板を載置する際等に生じる外
力からその損傷が保護される。また回路基板は保護ボー
ドに設けた透孔を利用することで、目視ずれによる位置
合わせ誤差が防止される。検査時にはピンボードが上昇
されるため接触ピンは保護ボードの透孔から突出された
状態となり、回路基板に接触して検査通電を可能とす
る。
【００１２】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本発明の検査装置の一実施例の全体構成を
示す断面図である。検査装置台１の上部平面部には、検
査するプリント基板の形状、寸法に合わせて開口１ａが
設けられており、この開口１ａ内に上底を有する逆箱型
をした保護ボード２を内装し、開口１ａの内縁に固定し
ている。この保護ボード２はその上底面に複数個の透孔
２ａが開設されており、この透孔２ａ内を後述する接触
ピン８が挿通動作されるように構成される。また、この
保護ボード２の上底面上にはプリント基板ＰＢが載置さ
れるように構成され、載置されたプリント基板ＰＢは保
護ボード２の周縁部に被せられる固定金具３によって保
護ボード２に対して位置決めされた状態で固定される。
この固定金具３としては、例えばネジ機構によってプリ
ント基板ＰＢの周縁部を保護ボード２の上底面に挟持さ
せる構成のクランパが用いられる。
する。図１は本発明の検査装置の一実施例の全体構成を
示す断面図である。検査装置台１の上部平面部には、検
査するプリント基板の形状、寸法に合わせて開口１ａが
設けられており、この開口１ａ内に上底を有する逆箱型
をした保護ボード２を内装し、開口１ａの内縁に固定し
ている。この保護ボード２はその上底面に複数個の透孔
２ａが開設されており、この透孔２ａ内を後述する接触
ピン８が挿通動作されるように構成される。また、この
保護ボード２の上底面上にはプリント基板ＰＢが載置さ
れるように構成され、載置されたプリント基板ＰＢは保
護ボード２の周縁部に被せられる固定金具３によって保
護ボード２に対して位置決めされた状態で固定される。
この固定金具３としては、例えばネジ機構によってプリ
ント基板ＰＢの周縁部を保護ボード２の上底面に挟持さ
せる構成のクランパが用いられる。
【００１３】一方、前記保護ボード２の下側内には、昇
降台４が配設され、複数本のガイド機構５により上下方
向に移動可能に案内され、かつ油圧式シリンダ機構６に
よって前記保護ボード２内で昇降動作される。この昇降
台４の上面にはピンボード７が搭載されており、その上
面から複数本の接触ピン８を突出させている。これらの
接触ピン８はピンボード７において所要の配線により電
気接続が行われており、図外の電気系に接続される。
降台４が配設され、複数本のガイド機構５により上下方
向に移動可能に案内され、かつ油圧式シリンダ機構６に
よって前記保護ボード２内で昇降動作される。この昇降
台４の上面にはピンボード７が搭載されており、その上
面から複数本の接触ピン８を突出させている。これらの
接触ピン８はピンボード７において所要の配線により電
気接続が行われており、図外の電気系に接続される。
【００１４】前記複数本の接触ピン８は、図３に拡大図
示するように、ピンボード７の上面からほぼ厚さ方向の
中間位置にまで細径筒９を植設しており、この細径筒９
内に接触ピン８がスプリング１０と共に内挿されてい
る。前記接触ピン８は先端部８ａが接触頭部として増径
されており、下端部８ｂはスプリング受部として増径さ
れている。そして、細径筒９の上端部９ａを若干絞り加
工することで接触ピン８が細径筒９から脱落されること
が防止される。また、前記スプリング１０は圧縮コイル
ばねで構成されており、接触ピン８を突出方向に付勢し
ている。なお、接触ピン８に接続される導電線について
の図示は省略している。
示するように、ピンボード７の上面からほぼ厚さ方向の
中間位置にまで細径筒９を植設しており、この細径筒９
内に接触ピン８がスプリング１０と共に内挿されてい
る。前記接触ピン８は先端部８ａが接触頭部として増径
されており、下端部８ｂはスプリング受部として増径さ
れている。そして、細径筒９の上端部９ａを若干絞り加
工することで接触ピン８が細径筒９から脱落されること
が防止される。また、前記スプリング１０は圧縮コイル
ばねで構成されており、接触ピン８を突出方向に付勢し
ている。なお、接触ピン８に接続される導電線について
の図示は省略している。
【００１５】そして、前記接触ピン８および細径筒９
は、前記保護ホルダ２の上底面に開設された透孔２ａ内
に挿入されている。この挿入状態において、前記昇降台
４が下降している状態では、図３（ａ）のように、接触
ピン８の先端部８ａは保護ホルダ２の上面から後退され
た位置にあり、昇降台４が上昇したときには図３（ｂ）
のように、細径筒９と共に透孔２ａ内を上昇し、接触ピ
ン８の先端部８ａが保護ボード２の上面から突出される
ように、前記保護ボード２の上底面の厚さ寸法、接触ピ
ン８及び細径筒９の突出長さ寸法、昇降台４の上下移動
距離等が設定されている。
は、前記保護ホルダ２の上底面に開設された透孔２ａ内
に挿入されている。この挿入状態において、前記昇降台
４が下降している状態では、図３（ａ）のように、接触
ピン８の先端部８ａは保護ホルダ２の上面から後退され
た位置にあり、昇降台４が上昇したときには図３（ｂ）
のように、細径筒９と共に透孔２ａ内を上昇し、接触ピ
ン８の先端部８ａが保護ボード２の上面から突出される
ように、前記保護ボード２の上底面の厚さ寸法、接触ピ
ン８及び細径筒９の突出長さ寸法、昇降台４の上下移動
距離等が設定されている。
【００１６】この構成の検査装置によれば、検査前の状
態は図１の状態であり、油圧式シリンダ機構６によって
昇降台４は下降位置にあり、ピンボード７は保護ボード
２に対して相対的に下降されているため、接触ピン８の
先端部８ａは図３（ｂ）のように保護ボード２の上底面
から後退された位置にある。したがって、この状態で保
護ボード２の上底面上にプリント基板ＰＢを載置しても
接触ピン８がプリント基板ＰＢの回路部に接触されるこ
とはない。このため、この状態においては、保護ボード
２の上底面に開設された透孔２ａを利用し、この透孔２
ａがプリント基板ＰＢの回路部に対向するようにプリン
ト基板ＰＢの位置決めを行い、固定金具３により保護ボ
ード２の上底面に固定する。
態は図１の状態であり、油圧式シリンダ機構６によって
昇降台４は下降位置にあり、ピンボード７は保護ボード
２に対して相対的に下降されているため、接触ピン８の
先端部８ａは図３（ｂ）のように保護ボード２の上底面
から後退された位置にある。したがって、この状態で保
護ボード２の上底面上にプリント基板ＰＢを載置しても
接触ピン８がプリント基板ＰＢの回路部に接触されるこ
とはない。このため、この状態においては、保護ボード
２の上底面に開設された透孔２ａを利用し、この透孔２
ａがプリント基板ＰＢの回路部に対向するようにプリン
ト基板ＰＢの位置決めを行い、固定金具３により保護ボ
ード２の上底面に固定する。
【００１７】このとき、プリント基板ＰＢを保護ボード
２の上底面上において移動させながら位置決めを行う
が、その際には接触ピン８は保護ボード２の上底面から
突出されることがないため、接触ピン８に外力が加えら
れることはなく、接触ピン８を変形する等の損傷が未然
に防止される。また、プリント基板ＰＢの位置決めに際
しては、保護ボード２の透孔２ａに対して回路部を位置
決めすることができるため、プリント基板ＰＢを保護ボ
ード２に対して密接した状態で行うことができ目視ずれ
等による位置合わせ誤差が生じることもない。
２の上底面上において移動させながら位置決めを行う
が、その際には接触ピン８は保護ボード２の上底面から
突出されることがないため、接触ピン８に外力が加えら
れることはなく、接触ピン８を変形する等の損傷が未然
に防止される。また、プリント基板ＰＢの位置決めに際
しては、保護ボード２の透孔２ａに対して回路部を位置
決めすることができるため、プリント基板ＰＢを保護ボ
ード２に対して密接した状態で行うことができ目視ずれ
等による位置合わせ誤差が生じることもない。
【００１８】しかる上で、油圧式シリンダ機構６により
昇降台４を上昇させると、図２の状態となり、この状態
ではピンボード７が昇降台４と一体的に上昇されるた
め、接触ピン８及び細径筒９は保護ボード２の透孔２ａ
内を上昇し、接触ピン８が保護ボード２の透孔２ａから
上面側に突出される状態となる。そして、この状態で
は、図３（ｃ）のように、接触ピン８の先端部８ａはス
プリング１０の弾性力によってプリント基板ＰＢの回路
部ＰＣに当接され、回路部ＰＣとの電気接続が行われ
る。このとき、プリント基板ＰＢは保護ボード２の透孔
２ａに対して位置決めを行っているため、プリント基板
ＰＢの所定の回路部ＰＣに正しく接触ピン８が当接され
ることになる。
昇降台４を上昇させると、図２の状態となり、この状態
ではピンボード７が昇降台４と一体的に上昇されるた
め、接触ピン８及び細径筒９は保護ボード２の透孔２ａ
内を上昇し、接触ピン８が保護ボード２の透孔２ａから
上面側に突出される状態となる。そして、この状態で
は、図３（ｃ）のように、接触ピン８の先端部８ａはス
プリング１０の弾性力によってプリント基板ＰＢの回路
部ＰＣに当接され、回路部ＰＣとの電気接続が行われ
る。このとき、プリント基板ＰＢは保護ボード２の透孔
２ａに対して位置決めを行っているため、プリント基板
ＰＢの所定の回路部ＰＣに正しく接触ピン８が当接され
ることになる。
【００１９】なお、昇降台４を昇降動作させること、接
触ピン８を介してプリント基板ＰＢに対して通電を行う
こと等の一連の動作はマイクロコンピュータ（図示せ
ず）の制御により自動的に行われる。また、昇降台４を
昇降動作させる駆動機構として、空気圧シリンダ機構を
用いてもよい。この空気圧シリンダ機構をもちいれば、
接触ピン８とプリント基板との接触を空気圧シリンダ機
構におけるダンパー機能によって緩衝することも可能と
なる。
触ピン８を介してプリント基板ＰＢに対して通電を行う
こと等の一連の動作はマイクロコンピュータ（図示せ
ず）の制御により自動的に行われる。また、昇降台４を
昇降動作させる駆動機構として、空気圧シリンダ機構を
用いてもよい。この空気圧シリンダ機構をもちいれば、
接触ピン８とプリント基板との接触を空気圧シリンダ機
構におけるダンパー機能によって緩衝することも可能と
なる。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、その表面
上に検査される回路基板が載置される保護ボードに接触
ピンを上下に挿通可能な透孔を設け、また保護ボードの
下方位置にはその上面に接触ピンを突出形成したピンボ
ードを昇降可能に設けており、接触ピンはピンボードが
下降位置にあるときにはその先端が透孔内に位置され、
ピンボードが上昇位置にあるときにはその先端が透孔を
通して保護ボードの表面上に突出されるように構成して
いるので、接触ピンは通常では保護ボードの透孔内に後
退された位置にあり、回路基板を載置する際等に生じる
外力によって接触ピンが損傷されることを有効に防止す
ることができる。また回路基板は保護ボードに設けた透
孔を利用して位置決めを行うことができるので、目視ず
れによる位置合わせ誤差を防止することができる。
上に検査される回路基板が載置される保護ボードに接触
ピンを上下に挿通可能な透孔を設け、また保護ボードの
下方位置にはその上面に接触ピンを突出形成したピンボ
ードを昇降可能に設けており、接触ピンはピンボードが
下降位置にあるときにはその先端が透孔内に位置され、
ピンボードが上昇位置にあるときにはその先端が透孔を
通して保護ボードの表面上に突出されるように構成して
いるので、接触ピンは通常では保護ボードの透孔内に後
退された位置にあり、回路基板を載置する際等に生じる
外力によって接触ピンが損傷されることを有効に防止す
ることができる。また回路基板は保護ボードに設けた透
孔を利用して位置決めを行うことができるので、目視ず
れによる位置合わせ誤差を防止することができる。
【００２１】また、接触ピンは、保護ボードの透孔を挿
通可能でかつピンボードの上面に植設される細径筒内に
上下移動可能に挿入され、かつ接触ピンと細径筒の底部
との間に介挿されたスプリングにより先端方向に付勢さ
れているので、仮に回路基板の表面に凹凸が生じている
場合でも、複数本の接触ピンはそれぞれ回路基板の表面
にスプリング力により接触されて好適な電気的接続を行
い、正確な検査が可能とされる。
通可能でかつピンボードの上面に植設される細径筒内に
上下移動可能に挿入され、かつ接触ピンと細径筒の底部
との間に介挿されたスプリングにより先端方向に付勢さ
れているので、仮に回路基板の表面に凹凸が生じている
場合でも、複数本の接触ピンはそれぞれ回路基板の表面
にスプリング力により接触されて好適な電気的接続を行
い、正確な検査が可能とされる。
【００２２】また、保護ボードには、表面上に載置され
る回路基板を位置決め固定するための固定金具が付属さ
れるため、保護ボード上で位置決めした回路基板をその
位置に安定に固定し、接触ピンを回路基板の所定位置に
正確に接触させることが可能となる。更に、保護ボード
の下方位置にはシリンダ機構によって上下に移動される
昇降台が配設され、ピンボードはこの昇降台に搭載され
るため、シリンダ機構の上昇力によって接触ピンを回路
基板に当接させ、好適な接触状態を得ることができる。
る回路基板を位置決め固定するための固定金具が付属さ
れるため、保護ボード上で位置決めした回路基板をその
位置に安定に固定し、接触ピンを回路基板の所定位置に
正確に接触させることが可能となる。更に、保護ボード
の下方位置にはシリンダ機構によって上下に移動される
昇降台が配設され、ピンボードはこの昇降台に搭載され
るため、シリンダ機構の上昇力によって接触ピンを回路
基板に当接させ、好適な接触状態を得ることができる。
【図１】本発明の検査装置の一実施例の断面図である。
【図２】検査時における図１の検査装置の動作状態を示
す断面図である。
す断面図である。
【図３】接触ピンの構造と動作を説明するための断面図
である。
である。
【図４】従来の検査装置の一例の断面図である。
【図５】従来の検査装置に用いられる接触ピンの構造を
示す断面図である。
示す断面図である。
１ 検査装置台 ２ 保護ボード ２ａ 透孔 ４ 昇降台 ６ 油圧式シリンダ機構 ７ ピンボード ８ 接触ピン ９ 細径筒 １０ スプリング
Claims (4)
- 【請求項１】 その表面上に検査される回路基板が載置
される保護ボードと、この保護ボードの下方位置におい
て昇降可能に設けられ、その上面に接触ピンを突出形成
したピンボードとを備え、前記保護ボードには前記接触
ピンを上下に挿通可能な透孔が開設され、前記接触ピン
はピンボードが下降位置にあるときにはその先端が前記
透孔内に位置され、ピンボードが上昇位置にあるときに
はその先端が前記透孔を通して保護ボードの表面上に突
出されるように構成したことを特徴とする回路基板の検
査装置。 - 【請求項２】 接触ピンは、保護ボードの透孔を挿通可
能でかつピンボードの上面に植設される細径筒内に上下
移動可能に挿入され、かつ接触ピンと細径筒の底部との
間に介挿されたスプリングにより先端方向に付勢されて
なる請求項１の回路基板の検査装置。 - 【請求項３】 保護ボードには、表面上に載置される回
路基板を位置決め固定するための固定金具が付属される
請求項１または２の回路基板の検査装置。 - 【請求項４】 保護ボードの下方位置にはシリンダ機構
によって上下に移動される昇降台が配設され、ピンボー
ドはこの昇降台に搭載されてなる請求項１ないし３のい
ずれかの回路基板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18642494A JPH0829499A (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 回路基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18642494A JPH0829499A (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 回路基板の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829499A true JPH0829499A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=16188188
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18642494A Pending JPH0829499A (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 回路基板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0829499A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1994
- 1994-07-15 JP JP18642494A patent/JPH0829499A/ja active Pending
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