JPH09138257A - プリント基板の検査装置および方法 - Google Patents

プリント基板の検査装置および方法

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JPH09138257A
JPH09138257A JP7295361A JP29536195A JPH09138257A JP H09138257 A JPH09138257 A JP H09138257A JP 7295361 A JP7295361 A JP 7295361A JP 29536195 A JP29536195 A JP 29536195A JP H09138257 A JPH09138257 A JP H09138257A
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JP
Japan
Prior art keywords
circuit board
printed circuit
pin
inspected
board
Prior art date
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Pending
Application number
JP7295361A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadayoshi Tajima
貞義 田島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】プリント基板の検査を行う際、被検査プリント
基板の反りや傾きを防止し、プローブピンの滑りや位置
ずれをなくし、プローブピンを測定箇所に確実に接触さ
せる。 【解決手段】プレス板1を降下すると、プレス板1に上
部基板押えばね7を介して設けられた上部位置決めベー
スプレート8と、ピンボード5に下部基板押えばね4を
介して設けられた下部位置決めベースプレート3で被検
査プリント基板9を挟み込み、被検査プリント基板9を
水平に保つ。さらにプレス板1を降下すると、上部基板
押えばね7と下部基板押えばね4が縮み被検査プリント
基板9の測定箇所に上部プローブピン6と下部プローブ
ピン11がそれぞれ接触する。これにより、被検査プリ
ント基板9の反りを押え、確実に接触することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板の検
査を行う検査装置に関し、特に被検査物のプリント基板
を保持し、このプリント基板に複数のブローブピンを接
触させるフィクスチャに関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のプリント基板の検査装置の
フィクスチャの正面図である。図2において固定された
ピンボード5上を図示しない機構によりプレス板1が上
下動させられる。ガイドピン10はピンボード5に上下
動可能なように取り付けられ、ばね(図示略)により上
向きに付勢され、通常は先端をピンボード5の上面から
突出させた位置で止められている。被検査プリント基板
9がその穴(直径がガイドピン10より小さい)にガイ
ドピン10の円錐状の先端を通してガイドピン10の先
端に載置されると共に位置決めされる。被検査プリント
基板9の下面のプローブポイントに対応して複数の下部
プローブピン11がピンボード5に植設される。プレス
板1に取り付けられた上部プローブピン取り付け基板1
3に、被検査プリント基板9の上面のプローブポイント
に対応して複数の上部プローブピン6が植設される。プ
レス板1に設けられた位置決めピン2は下端が円錐状
で、プレス板1が下降した時にピンボード5に設けられ
た位置決め穴12に嵌入し、ピンボード5にプレス板1
を正確に位置決めする。上部プローブピン6および下部
プローブピン11は、先端部分がばねにより突出する方
向に付勢されている構造である。
【0003】次に、この従来のプリント基板の検査装置
のフィクスチャの動作を述べる。プレス板1が降下する
と最初に上部プローブピン6が被検査プリント基板9の
プローブポイントに接触し、さらにプレス板1を降下す
るとガイドピン10と共に被検査プリント基板9が下降
し、下部プローブピン11と被検査プリント基板9のプ
ローブポイントとが接触して上部プローブピン6と下部
プローブピン11がお互いにバランスをとりながら被検
査プリント基板のプローブポイントに接触していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のプリン
ト基板の検査装置のフィクスチャは、プレス板1を降下
した際、最初に上部プローブピン6が被検査プリント基
板9と接触するためプローブポイントが極端に被検査プ
リント基板9の端に集中している場合、被検査プリント
基板9が上部プローブピン6のピン圧に押されて反った
り傾いてしまい、上部プローブピン6並びに下部プロー
ブピン11が被検査プリント基板9のプローブポイント
に対して斜めに接触したりプローブピン6,11がプリ
ント基板9のプローブポイント上を滑ったりして確実に
接触できないという問題がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のプリント基板の
検査方法は、被検査プリント基板を両面から一対のベー
スプレートで挟み込んでから前記被検査プリント基板に
複数のプローブピンを接触させることを特徴とする。
【0006】本発明のプリント基板の検査装置は、被検
査プリント基板を両面から挟み込む一対のベースプレー
トと、前記被検査プリント基板のプローブポイントに接
触する複数のプローブピンとを備えている。
【0007】本発明のプリント基板の検査装置は、固定
されたピンボードと、このピンボードの上側に設けられ
上下動するプレス板と、上下動可能に案内され上向きに
付勢されて通常は先端を前記ピンボードの上面から上へ
突出させて被検査プリント基板を先端に載置するととも
に位置決めする複数のガイドピンと、前記ピンボードに
上向きに設けられ前記被検査プリント基板に下側から接
触するための1または複数の下部プローブピンと、前記
プレス板に下向に設けられ前記被検査プリント基板に上
側から接触するための上部プローブピンと、前記プレス
板に上部基板押えばねを介して取り付けられ前記上部の
プローブピンの真下に貫通穴を設け、前記プレス板の下
降時に前記被検査プリント基板を上側から押え付ける上
部位置決めベースプレートと、前記ピンボードに下部基
板押えばねを介して設けられ前記下部プローブピンの真
上に貫通穴を設け前記プレス板の下降時に前記被検査プ
リント基板を下側から受けて前記上部位置決めベースプ
レートと協働して挟み込む下部位置決めプレートとを備
えている。
【0008】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
【0009】図1は本発明の実施の形態の正面図であ
る。
【0010】図1において上部プローブピン6の下側に
上部位置決めベースプレート8が設けられ、ベースプレ
ート8は位置決めピン2により上下動できるように案内
され、ベースプレート8とプレス板1の間に上部基板押
えばね7が設けられている。ベースプレート8の上部プ
ローブピン6の直下部分には上部プローブピン6を挿通
させる穴が設けられている。下部プローブピン11の上
側には下部位置決めベースプレート3が設けられ、ベー
スプレート3はガイドピン10によリ上下動できるよう
に案内され、ベースプレート3とピンボード5との間に
下部基板押えばね4が設けられている。ベースプレート
3の下部プローブピン11の真上の部分には下部プロー
ブピン11を挿通させる穴が設けられている。
【0011】図1に示すプリント基板の検査装置のフィ
クスチャは、プレス板1を降下した際に、上部プローブ
ピン6並びに下部プローブピン11のピン圧による被検
査プリント基板9の反りを上部位置決めベースプレート
8と下部位置決めベースプレート3とで防止し、上部と
下部のプローブピン6,11の確実なプローブ接触を得
る。
【0012】上部位置決めベースプレート8は、プレス
板1と共に下降し、被検索プリント決板9に当接した後
は、上部基板押えばね7のばね力により被検査プリント
基板9を押さえながら水平に保つ。プレス板1と共に下
降するベースプレート8に押されて被検査プリント基板
9も下降し、被検査プリント基板9が下部位置決めベー
スプレート3に当接した後は下部位置決めベースプレー
ト3は、下部基板押えばね4のばね力により下から被検
査プリント基板9を突き上げ、ベースプレート8と協働
して挟み込み水平状態に保ち、被検査プリント基板9の
反りを防止している。さらにプレス板1が加工すると、
上部基板押えばね7と下部基板押えばね4がさらに縮み
被検査プリント基板9のプローブポイントに上部プロー
ブピン6と下部プローブピン11が接触する。
【0013】このように、被検査プリント基板9が水平
に保たれた状態で上部プローブピン6及び下部プローブ
ピン11を被検査プリント基板9のプローブポイントに
接触させるので、プローブピン6,11の滑りや位置ず
れがなくなる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、プレス板
を降下した際、上部位置決めベースプレートと下部位置
決めベースプレートとにより被検査プリント基板を挟み
込み、被検査プリント基板を水平に保ちながら上部プロ
ーブピン並びに下部プローブピンを被検査プリント基板
のプローブポイントに接触させるため、被検査プリント
基板の反りや傾きを防止でき、プローブピンの被検査プ
リント基板上の滑りや位置ずれがなくなるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のが実施の形態の正面図である。
【図2】従来のプリント基板の検査装置の正面図であ
る。
【符号の説明】
1 プレス板 2 位置決めピン 3 下部位置決めベースプレート 4 下部基板押えばね 5 ピンボード 6 上部プレーブピン 7 上部基板押えばね 8 上部位置決めベースプレート 9 被検査プリント基板 10 ガイドピン 11 下部プローブピン 12 位置決め穴 13 上部プローブピン取り付け基板

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査プリント基板を両面から一対のベ
    ースプレートで挟み込んでから前記被検査プリント基板
    に複数のプローブピンを接触させることを特徴とするプ
    リント基板の検査方法。
  2. 【請求項2】 被検査プリント基板を両面から挟み込む
    一対のベースプレートと、前記被検査プリント基板のプ
    ローブポイントに接触する複数のプローブピンとを含む
    ことを特徴とするプリント基板の検査装置。
  3. 【請求項3】 固定されたピンボードと、このピンボー
    ドの上側に設けられ上下動するプレス板と、上下動可能
    に案内され上向きに付勢されて通常は先端を前記ピンボ
    ードの上面から上へ突出させて被検査プリント基板を先
    端に載置するとともに位置決めする複数のガイドピン
    と、前記ピンボードに上向きに設けられ前記被検査プリ
    ント基板に下側から接触するための1または複数の下部
    プローブピンと、前記プレス板に下向に設けられ前記被
    検査プリント基板に上側から接触するための上部プロー
    ブピンと、前記プレス板に上部基板押えばねを介して取
    り付けられ前記上部のプローブピンの真下に貫通穴を設
    け、前記プレス板の下降時に前記被検査プリント基板を
    上側から押え付ける上部位置決めベースプレートと、前
    記ピンボードに下部基板押えばねを介して設けられ前記
    下部プローブピンの真上に貫通穴を設け前記プレス板の
    下降時に前記被検査プリント基板を下側から受けて前記
    上部位置決めベースプレートと協働して挟み込む下部位
    置決めプレートとを含むことを特徴とするプリント基板
    の検査装置。
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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980616