JPH09138257A - プリント基板の検査装置および方法 - Google Patents
プリント基板の検査装置および方法Info
- Publication number
- JPH09138257A JPH09138257A JP7295361A JP29536195A JPH09138257A JP H09138257 A JPH09138257 A JP H09138257A JP 7295361 A JP7295361 A JP 7295361A JP 29536195 A JP29536195 A JP 29536195A JP H09138257 A JPH09138257 A JP H09138257A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- pin
- inspected
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】プリント基板の検査を行う際、被検査プリント
基板の反りや傾きを防止し、プローブピンの滑りや位置
ずれをなくし、プローブピンを測定箇所に確実に接触さ
せる。 【解決手段】プレス板１を降下すると、プレス板１に上
部基板押えばね７を介して設けられた上部位置決めベー
スプレート８と、ピンボード５に下部基板押えばね４を
介して設けられた下部位置決めベースプレート３で被検
査プリント基板９を挟み込み、被検査プリント基板９を
水平に保つ。さらにプレス板１を降下すると、上部基板
押えばね７と下部基板押えばね４が縮み被検査プリント
基板９の測定箇所に上部プローブピン６と下部プローブ
ピン１１がそれぞれ接触する。これにより、被検査プリ
ント基板９の反りを押え、確実に接触することができ
る。
基板の反りや傾きを防止し、プローブピンの滑りや位置
ずれをなくし、プローブピンを測定箇所に確実に接触さ
せる。 【解決手段】プレス板１を降下すると、プレス板１に上
部基板押えばね７を介して設けられた上部位置決めベー
スプレート８と、ピンボード５に下部基板押えばね４を
介して設けられた下部位置決めベースプレート３で被検
査プリント基板９を挟み込み、被検査プリント基板９を
水平に保つ。さらにプレス板１を降下すると、上部基板
押えばね７と下部基板押えばね４が縮み被検査プリント
基板９の測定箇所に上部プローブピン６と下部プローブ
ピン１１がそれぞれ接触する。これにより、被検査プリ
ント基板９の反りを押え、確実に接触することができ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板の検
査を行う検査装置に関し、特に被検査物のプリント基板
を保持し、このプリント基板に複数のブローブピンを接
触させるフィクスチャに関する。
査を行う検査装置に関し、特に被検査物のプリント基板
を保持し、このプリント基板に複数のブローブピンを接
触させるフィクスチャに関する。
【０００２】
【従来の技術】図２は従来のプリント基板の検査装置の
フィクスチャの正面図である。図２において固定された
ピンボード５上を図示しない機構によりプレス板１が上
下動させられる。ガイドピン１０はピンボード５に上下
動可能なように取り付けられ、ばね（図示略）により上
向きに付勢され、通常は先端をピンボード５の上面から
突出させた位置で止められている。被検査プリント基板
９がその穴（直径がガイドピン１０より小さい）にガイ
ドピン１０の円錐状の先端を通してガイドピン１０の先
端に載置されると共に位置決めされる。被検査プリント
基板９の下面のプローブポイントに対応して複数の下部
プローブピン１１がピンボード５に植設される。プレス
板１に取り付けられた上部プローブピン取り付け基板１
３に、被検査プリント基板９の上面のプローブポイント
に対応して複数の上部プローブピン６が植設される。プ
レス板１に設けられた位置決めピン２は下端が円錐状
で、プレス板１が下降した時にピンボード５に設けられ
た位置決め穴１２に嵌入し、ピンボード５にプレス板１
を正確に位置決めする。上部プローブピン６および下部
プローブピン１１は、先端部分がばねにより突出する方
向に付勢されている構造である。
フィクスチャの正面図である。図２において固定された
ピンボード５上を図示しない機構によりプレス板１が上
下動させられる。ガイドピン１０はピンボード５に上下
動可能なように取り付けられ、ばね（図示略）により上
向きに付勢され、通常は先端をピンボード５の上面から
突出させた位置で止められている。被検査プリント基板
９がその穴（直径がガイドピン１０より小さい）にガイ
ドピン１０の円錐状の先端を通してガイドピン１０の先
端に載置されると共に位置決めされる。被検査プリント
基板９の下面のプローブポイントに対応して複数の下部
プローブピン１１がピンボード５に植設される。プレス
板１に取り付けられた上部プローブピン取り付け基板１
３に、被検査プリント基板９の上面のプローブポイント
に対応して複数の上部プローブピン６が植設される。プ
レス板１に設けられた位置決めピン２は下端が円錐状
で、プレス板１が下降した時にピンボード５に設けられ
た位置決め穴１２に嵌入し、ピンボード５にプレス板１
を正確に位置決めする。上部プローブピン６および下部
プローブピン１１は、先端部分がばねにより突出する方
向に付勢されている構造である。
【０００３】次に、この従来のプリント基板の検査装置
のフィクスチャの動作を述べる。プレス板１が降下する
と最初に上部プローブピン６が被検査プリント基板９の
プローブポイントに接触し、さらにプレス板１を降下す
るとガイドピン１０と共に被検査プリント基板９が下降
し、下部プローブピン１１と被検査プリント基板９のプ
ローブポイントとが接触して上部プローブピン６と下部
プローブピン１１がお互いにバランスをとりながら被検
査プリント基板のプローブポイントに接触していた。
のフィクスチャの動作を述べる。プレス板１が降下する
と最初に上部プローブピン６が被検査プリント基板９の
プローブポイントに接触し、さらにプレス板１を降下す
るとガイドピン１０と共に被検査プリント基板９が下降
し、下部プローブピン１１と被検査プリント基板９のプ
ローブポイントとが接触して上部プローブピン６と下部
プローブピン１１がお互いにバランスをとりながら被検
査プリント基板のプローブポイントに接触していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のプリン
ト基板の検査装置のフィクスチャは、プレス板１を降下
した際、最初に上部プローブピン６が被検査プリント基
板９と接触するためプローブポイントが極端に被検査プ
リント基板９の端に集中している場合、被検査プリント
基板９が上部プローブピン６のピン圧に押されて反った
り傾いてしまい、上部プローブピン６並びに下部プロー
ブピン１１が被検査プリント基板９のプローブポイント
に対して斜めに接触したりプローブピン６，１１がプリ
ント基板９のプローブポイント上を滑ったりして確実に
接触できないという問題がある。
ト基板の検査装置のフィクスチャは、プレス板１を降下
した際、最初に上部プローブピン６が被検査プリント基
板９と接触するためプローブポイントが極端に被検査プ
リント基板９の端に集中している場合、被検査プリント
基板９が上部プローブピン６のピン圧に押されて反った
り傾いてしまい、上部プローブピン６並びに下部プロー
ブピン１１が被検査プリント基板９のプローブポイント
に対して斜めに接触したりプローブピン６，１１がプリ
ント基板９のプローブポイント上を滑ったりして確実に
接触できないという問題がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のプリント基板の
検査方法は、被検査プリント基板を両面から一対のベー
スプレートで挟み込んでから前記被検査プリント基板に
複数のプローブピンを接触させることを特徴とする。
検査方法は、被検査プリント基板を両面から一対のベー
スプレートで挟み込んでから前記被検査プリント基板に
複数のプローブピンを接触させることを特徴とする。
【０００６】本発明のプリント基板の検査装置は、被検
査プリント基板を両面から挟み込む一対のベースプレー
トと、前記被検査プリント基板のプローブポイントに接
触する複数のプローブピンとを備えている。
査プリント基板を両面から挟み込む一対のベースプレー
トと、前記被検査プリント基板のプローブポイントに接
触する複数のプローブピンとを備えている。
【０００７】本発明のプリント基板の検査装置は、固定
されたピンボードと、このピンボードの上側に設けられ
上下動するプレス板と、上下動可能に案内され上向きに
付勢されて通常は先端を前記ピンボードの上面から上へ
突出させて被検査プリント基板を先端に載置するととも
に位置決めする複数のガイドピンと、前記ピンボードに
上向きに設けられ前記被検査プリント基板に下側から接
触するための１または複数の下部プローブピンと、前記
プレス板に下向に設けられ前記被検査プリント基板に上
側から接触するための上部プローブピンと、前記プレス
板に上部基板押えばねを介して取り付けられ前記上部の
プローブピンの真下に貫通穴を設け、前記プレス板の下
降時に前記被検査プリント基板を上側から押え付ける上
部位置決めベースプレートと、前記ピンボードに下部基
板押えばねを介して設けられ前記下部プローブピンの真
上に貫通穴を設け前記プレス板の下降時に前記被検査プ
リント基板を下側から受けて前記上部位置決めベースプ
レートと協働して挟み込む下部位置決めプレートとを備
えている。
されたピンボードと、このピンボードの上側に設けられ
上下動するプレス板と、上下動可能に案内され上向きに
付勢されて通常は先端を前記ピンボードの上面から上へ
突出させて被検査プリント基板を先端に載置するととも
に位置決めする複数のガイドピンと、前記ピンボードに
上向きに設けられ前記被検査プリント基板に下側から接
触するための１または複数の下部プローブピンと、前記
プレス板に下向に設けられ前記被検査プリント基板に上
側から接触するための上部プローブピンと、前記プレス
板に上部基板押えばねを介して取り付けられ前記上部の
プローブピンの真下に貫通穴を設け、前記プレス板の下
降時に前記被検査プリント基板を上側から押え付ける上
部位置決めベースプレートと、前記ピンボードに下部基
板押えばねを介して設けられ前記下部プローブピンの真
上に貫通穴を設け前記プレス板の下降時に前記被検査プ
リント基板を下側から受けて前記上部位置決めベースプ
レートと協働して挟み込む下部位置決めプレートとを備
えている。
【０００８】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【０００９】図１は本発明の実施の形態の正面図であ
る。
る。
【００１０】図１において上部プローブピン６の下側に
上部位置決めベースプレート８が設けられ、ベースプレ
ート８は位置決めピン２により上下動できるように案内
され、ベースプレート８とプレス板１の間に上部基板押
えばね７が設けられている。ベースプレート８の上部プ
ローブピン６の直下部分には上部プローブピン６を挿通
させる穴が設けられている。下部プローブピン１１の上
側には下部位置決めベースプレート３が設けられ、ベー
スプレート３はガイドピン１０によリ上下動できるよう
に案内され、ベースプレート３とピンボード５との間に
下部基板押えばね４が設けられている。ベースプレート
３の下部プローブピン１１の真上の部分には下部プロー
ブピン１１を挿通させる穴が設けられている。
上部位置決めベースプレート８が設けられ、ベースプレ
ート８は位置決めピン２により上下動できるように案内
され、ベースプレート８とプレス板１の間に上部基板押
えばね７が設けられている。ベースプレート８の上部プ
ローブピン６の直下部分には上部プローブピン６を挿通
させる穴が設けられている。下部プローブピン１１の上
側には下部位置決めベースプレート３が設けられ、ベー
スプレート３はガイドピン１０によリ上下動できるよう
に案内され、ベースプレート３とピンボード５との間に
下部基板押えばね４が設けられている。ベースプレート
３の下部プローブピン１１の真上の部分には下部プロー
ブピン１１を挿通させる穴が設けられている。
【００１１】図１に示すプリント基板の検査装置のフィ
クスチャは、プレス板１を降下した際に、上部プローブ
ピン６並びに下部プローブピン１１のピン圧による被検
査プリント基板９の反りを上部位置決めベースプレート
８と下部位置決めベースプレート３とで防止し、上部と
下部のプローブピン６，１１の確実なプローブ接触を得
る。
クスチャは、プレス板１を降下した際に、上部プローブ
ピン６並びに下部プローブピン１１のピン圧による被検
査プリント基板９の反りを上部位置決めベースプレート
８と下部位置決めベースプレート３とで防止し、上部と
下部のプローブピン６，１１の確実なプローブ接触を得
る。
【００１２】上部位置決めベースプレート８は、プレス
板１と共に下降し、被検索プリント決板９に当接した後
は、上部基板押えばね７のばね力により被検査プリント
基板９を押さえながら水平に保つ。プレス板１と共に下
降するベースプレート８に押されて被検査プリント基板
９も下降し、被検査プリント基板９が下部位置決めベー
スプレート３に当接した後は下部位置決めベースプレー
ト３は、下部基板押えばね４のばね力により下から被検
査プリント基板９を突き上げ、ベースプレート８と協働
して挟み込み水平状態に保ち、被検査プリント基板９の
反りを防止している。さらにプレス板１が加工すると、
上部基板押えばね７と下部基板押えばね４がさらに縮み
被検査プリント基板９のプローブポイントに上部プロー
ブピン６と下部プローブピン１１が接触する。
板１と共に下降し、被検索プリント決板９に当接した後
は、上部基板押えばね７のばね力により被検査プリント
基板９を押さえながら水平に保つ。プレス板１と共に下
降するベースプレート８に押されて被検査プリント基板
９も下降し、被検査プリント基板９が下部位置決めベー
スプレート３に当接した後は下部位置決めベースプレー
ト３は、下部基板押えばね４のばね力により下から被検
査プリント基板９を突き上げ、ベースプレート８と協働
して挟み込み水平状態に保ち、被検査プリント基板９の
反りを防止している。さらにプレス板１が加工すると、
上部基板押えばね７と下部基板押えばね４がさらに縮み
被検査プリント基板９のプローブポイントに上部プロー
ブピン６と下部プローブピン１１が接触する。
【００１３】このように、被検査プリント基板９が水平
に保たれた状態で上部プローブピン６及び下部プローブ
ピン１１を被検査プリント基板９のプローブポイントに
接触させるので、プローブピン６，１１の滑りや位置ず
れがなくなる。
に保たれた状態で上部プローブピン６及び下部プローブ
ピン１１を被検査プリント基板９のプローブポイントに
接触させるので、プローブピン６，１１の滑りや位置ず
れがなくなる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、プレス板
を降下した際、上部位置決めベースプレートと下部位置
決めベースプレートとにより被検査プリント基板を挟み
込み、被検査プリント基板を水平に保ちながら上部プロ
ーブピン並びに下部プローブピンを被検査プリント基板
のプローブポイントに接触させるため、被検査プリント
基板の反りや傾きを防止でき、プローブピンの被検査プ
リント基板上の滑りや位置ずれがなくなるという効果が
ある。
を降下した際、上部位置決めベースプレートと下部位置
決めベースプレートとにより被検査プリント基板を挟み
込み、被検査プリント基板を水平に保ちながら上部プロ
ーブピン並びに下部プローブピンを被検査プリント基板
のプローブポイントに接触させるため、被検査プリント
基板の反りや傾きを防止でき、プローブピンの被検査プ
リント基板上の滑りや位置ずれがなくなるという効果が
ある。
【図１】本発明のが実施の形態の正面図である。
【図２】従来のプリント基板の検査装置の正面図であ
る。
る。
１ プレス板 ２ 位置決めピン ３ 下部位置決めベースプレート ４ 下部基板押えばね ５ ピンボード ６ 上部プレーブピン ７ 上部基板押えばね ８ 上部位置決めベースプレート ９ 被検査プリント基板 １０ ガイドピン １１ 下部プローブピン １２ 位置決め穴 １３ 上部プローブピン取り付け基板
Claims (3)
- 【請求項１】 被検査プリント基板を両面から一対のベ
ースプレートで挟み込んでから前記被検査プリント基板
に複数のプローブピンを接触させることを特徴とするプ
リント基板の検査方法。 - 【請求項２】 被検査プリント基板を両面から挟み込む
一対のベースプレートと、前記被検査プリント基板のプ
ローブポイントに接触する複数のプローブピンとを含む
ことを特徴とするプリント基板の検査装置。 - 【請求項３】 固定されたピンボードと、このピンボー
ドの上側に設けられ上下動するプレス板と、上下動可能
に案内され上向きに付勢されて通常は先端を前記ピンボ
ードの上面から上へ突出させて被検査プリント基板を先
端に載置するとともに位置決めする複数のガイドピン
と、前記ピンボードに上向きに設けられ前記被検査プリ
ント基板に下側から接触するための１または複数の下部
プローブピンと、前記プレス板に下向に設けられ前記被
検査プリント基板に上側から接触するための上部プロー
ブピンと、前記プレス板に上部基板押えばねを介して取
り付けられ前記上部のプローブピンの真下に貫通穴を設
け、前記プレス板の下降時に前記被検査プリント基板を
上側から押え付ける上部位置決めベースプレートと、前
記ピンボードに下部基板押えばねを介して設けられ前記
下部プローブピンの真上に貫通穴を設け前記プレス板の
下降時に前記被検査プリント基板を下側から受けて前記
上部位置決めベースプレートと協働して挟み込む下部位
置決めプレートとを含むことを特徴とするプリント基板
の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7295361A JPH09138257A (ja) | 1995-11-14 | 1995-11-14 | プリント基板の検査装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7295361A JPH09138257A (ja) | 1995-11-14 | 1995-11-14 | プリント基板の検査装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09138257A true JPH09138257A (ja) | 1997-05-27 |
Family
ID=17819633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7295361A Pending JPH09138257A (ja) | 1995-11-14 | 1995-11-14 | プリント基板の検査装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09138257A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008157831A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード |
| JP2011052986A (ja) * | 2009-08-31 | 2011-03-17 | Toyota Motor Corp | ピンボード検査方法 |
| JP4858657B1 (ja) * | 2011-08-11 | 2012-01-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 基板検査装置、及び基板検査方法 |
| CN104181340B (zh) * | 2014-09-01 | 2017-01-25 | 苏州市吴中区胥口广博模具加工厂 | 压合行程可调的测试压合架 |
| WO2017195470A1 (ja) * | 2016-05-11 | 2017-11-16 | Ｗｉｔ株式会社 | 多機能型基板検査装置および多機能型基板検査方法 |
| KR20190127393A (ko) * | 2018-05-04 | 2019-11-13 | 주식회사 헬릭스 | 전기 연결 장치 |
| CN110826014A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-02-21 | 南京理工大学 | 一种基于vmd的阀短路保护动作电流信号分解方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6360972B2 (ja) * | 1981-12-30 | 1988-11-28 | ||
| JPS63302377A (ja) * | 1987-06-02 | 1988-12-09 | Tokyo Electron Ltd | 回路基板検査装置 |
-
1995
- 1995-11-14 JP JP7295361A patent/JPH09138257A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6360972B2 (ja) * | 1981-12-30 | 1988-11-28 | ||
| JPS63302377A (ja) * | 1987-06-02 | 1988-12-09 | Tokyo Electron Ltd | 回路基板検査装置 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008157831A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード |
| JP2011052986A (ja) * | 2009-08-31 | 2011-03-17 | Toyota Motor Corp | ピンボード検査方法 |
| JP4858657B1 (ja) * | 2011-08-11 | 2012-01-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 基板検査装置、及び基板検査方法 |
| CN104181340B (zh) * | 2014-09-01 | 2017-01-25 | 苏州市吴中区胥口广博模具加工厂 | 压合行程可调的测试压合架 |
| WO2017195470A1 (ja) * | 2016-05-11 | 2017-11-16 | Ｗｉｔ株式会社 | 多機能型基板検査装置および多機能型基板検査方法 |
| WO2017195300A1 (ja) * | 2016-05-11 | 2017-11-16 | Ｗｉｔ株式会社 | 多機能型基板検査装置および多機能型基板検査方法 |
| JP6233946B1 (ja) * | 2016-05-11 | 2017-11-22 | Ｗｉｔ株式会社 | 多機能型基板検査装置および多機能型基板検査方法 |
| US10718792B2 (en) | 2016-05-11 | 2020-07-21 | Wit Co., Ltd. | Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method |
| KR20190127393A (ko) * | 2018-05-04 | 2019-11-13 | 주식회사 헬릭스 | 전기 연결 장치 |
| CN110826014A (zh) * | 2019-11-12 | 2020-02-21 | 南京理工大学 | 一种基于vmd的阀短路保护动作电流信号分解方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN219695219U (zh) | 一种smt加工成形电路板的测试治具 | |
| JPH09138257A (ja) | プリント基板の検査装置および方法 | |
| JP4045687B2 (ja) | Ｉｃデバイスのテスト用キャリアボード | |
| JP4175492B2 (ja) | プリント基板検査治具 | |
| US5235740A (en) | Press with pin detection for interference connectors | |
| JPH06310231A (ja) | 半導体装置の測定用ソケット | |
| US4800335A (en) | Test fixture for circuit components on circuit boards | |
| JPH0373551A (ja) | チップトレイ | |
| JP2844803B2 (ja) | プリント基板の検査方法および検査装置 | |
| WO1999000836A1 (en) | Method and apparatus for inspection of pin grid array packages for bent leads | |
| JPH026375Y2 (ja) | ||
| JP3503798B2 (ja) | 表示パネル検査装置 | |
| JPH1019991A (ja) | 回路基板検査装置のテストヘッド | |
| JP3307166B2 (ja) | 回路基板の検査装置 | |
| JPS63302377A (ja) | 回路基板検査装置 | |
| JPH0714927Y2 (ja) | 回路基板検査装置におけるピンボード構造 | |
| JP3094779B2 (ja) | 回路基板の検査装置および検査方法 | |
| JPH0730225A (ja) | プリント基板の基板穴の検査装置 | |
| CN215415522U (zh) | Ic测试装置 | |
| JPH0430550Y2 (ja) | ||
| JPH10282178A (ja) | プリント基板の検査方法 | |
| JPH0814611B2 (ja) | 検査方法及び検査装置 | |
| JPH0129589Y2 (ja) | ||
| JP2853422B2 (ja) | パッケージのソケット挿入装置およびその方法 | |
| JPH10197590A (ja) | マルチテスト用治具とマルチテスター |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980616 |