JPH026375Y2 - - Google Patents

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JPH026375Y2
JPH026375Y2 JP1983016956U JP1695683U JPH026375Y2 JP H026375 Y2 JPH026375 Y2 JP H026375Y2 JP 1983016956 U JP1983016956 U JP 1983016956U JP 1695683 U JP1695683 U JP 1695683U JP H026375 Y2 JPH026375 Y2 JP H026375Y2
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JP
Japan
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printed circuit
circuit board
plate
contacts
support surface
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JP1983016956U
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JPS59122555U (ja
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Publication of JPH026375Y2 publication Critical patent/JPH026375Y2/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、プリント回路板の回路網の電気的接
続状態を検査するためのプリント回路板検査装置
に関するものである。
第1図は、プリント回路板の検査を行なうため
の従来装置の例を示すものである。この装置はプ
リント回路板1のスルーホール等の検査点2A,
2B,2C…の位置に合わせて板3等に多数の接
触子4…を配設し、これら接触子4…を支持板5
等の支持面5a上に載置されたプリント回路板1
の検査点2A,2B,2C…に同時に接触させる
ものである。
しかしながらフレキシブルプリント回路板のよ
うに可とう性を有するプリント回路板1は、製造
時のくせ等により鎖線のように波を打つた状態に
なり易く、前記検査点2A,2B,2C…相互の
距離が小さくなつて接触子4…に対して位置ずれ
を起こし、実線で示す検査点2Aのように、接触
子4と接触できなくなる検査点が発生した。
本考案は前述事情を考慮してなされたもので、
接触子とプリント回路板との接触信頼性の高いプ
リント回路板検査装置の提供を目的とするもので
ある。
以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて説
明する。
第2図〜第6図は本考案の第1実施例を示すも
ので第2図中符号6は基台である。この基台6に
は支持板7がガイドピン8により上下動自在に支
持されている。この支持板7はばね9によつて上
方に付勢されるとともに、その上面にプリント回
路板1を載置する平面状の支持面7aが設けられ
る。また前記基台6には、支持面7aと直交する
方向に延出したガイド10等が設けられ、このガ
イド10に移動板11が上下動自在に支持され
る。この移動板11には前記プリント回路板1の
スルーホール等の検査点2A,2B,2C…の位
置に合わせた多数の接触子12…がその先端を下
方に向けて設けられ、これら接触子12…は移動
板11と一体のハンドル等により上下動操作が行
なわれるものである。また移動板11と前記支持
板7との間には、支持面7aと対向させた押圧板
13が設けられる。この押圧板13はガイドピン
14を介して前記移動板11に上下動自在に支持
され、ばね15等によつて下方に付勢されるとと
もに、前記接触子12…と対向して接触子12…
を突出させる多数の貫通孔16…を備えている。
なお第3図に示すように前記ガイドピン14と、
このガイドピン14が案内支持される移動板11
の案内孔17との間には、押圧板13が鎖線で示
す如く上下方向に揺動するのを許容する程の大き
めのクリアランスSが設けられている。
このように構成されたプリント回路板検査装置
は、プリント回路板1を支持面7aに載置し、ハ
ンドル等の操作により移動板11を下降させ、各
接触子12…が検査点2A,2B,2C…に接触
するかどうかによりプリント回路板1の良否の判
定を行なうものである。このとき第4図のように
プリント回路板1が波を打つた状態となつて、検
査点2A等が位置ずれを起こしているとしても、
押圧板13がプリント回路板11に接触して支持
面7aに押圧することにより、第5図のようにプ
リント回路板1が平面状態に矯正される。従つて
任意の1つの検査点2Aが接触子12と正対した
状態であると、すべての接触子12…の位置ずれ
が解消される。しかる後に第6図に示すように移
動板11をさらに下降させると接触子12…が貫
通孔16…を貫通して検査点2A,2B,2C…
に接触し、これら各接触子12…間の導通検出を
行なうことにより良否の判定がなされる。またハ
ンドル操作の誤差等によつて第5図鎖線で示すよ
うに押圧板13が傾いた状態でプリント回路板1
を押圧した場合でも押圧板13がばね15の付勢
力で、支持面7aと平行になる如く角度を自動補
正される。すなわち、押圧板13が傾いた状態で
下降して、支持板7上のプリント回路板1に接触
すると、その接触した瞬間では押圧板13がプリ
ント回路板1に片当たりするが、支持板7に支持
されつつ下降することにより、移動板11の案内
孔17とのクリアランスSの範囲で傾きを補正す
るように揺動する。そして、接触子12…よりも
下方位置に押圧板13が配置されていることによ
り、接触子12…がプリント回路板1に接触する
までの間に、押圧板13が支持面7aと平行にな
り、したがつて、プリント回路板1が平行に押圧
されて伸ばされ、検査点2A,2B,2C…が正
しい間隔に設定されるものである。
さらに第7図は、本考案の第2実施例を示し、
前記支持面7aに対向する押圧板13の対向面に
シリコンゴム等からなるクツシヨン層18を設け
たものであり、押圧板13に反り等がある場合で
も、クツシヨン層18の弾発力によりプリント回
路板1の表面を確実に平面状態とし得るようにし
たものである。
なお、前記押圧板13全体をシリコンゴム等の
クツシヨン材料で形成し、かつその厚さを接触子
12の突出長さ以上にしてばね15を取り去つた
構成とすること等も考えられる。
以上説明したように本考案のプリント回路板検
査装置によれば、次のような効果を奏することが
できる。
() 押圧板と支持板との間でプリント回路板
を挾んで押圧した状態として接触子をプリント
回路板に接触させるようにしたから、プリント
回路板に波打ち等のくせが付いていたとしても
押圧板によつて平面状態に矯正することがで
き、接触子に対する検査点の位置ずれを確実に
解消し得て、接触信頼性の高い検査装置を得る
ことができる。
() 移動板に対してばねを介して押圧板を上
下移動可能にかつ揺動自在に支持したから、押
圧板等の寸法誤差や検査作業時の誤繰作等によ
つて押圧板に傾きが生じた場合においても、支
持板上のプリント回路板を押圧するときに支持
面と平行になるように揺動させられるため、プ
リント回路板に対する片当たり現象の発生を防
止し、その矯正機能を確実に発揮することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例を説明する断面図、第2図〜第
6図は本考案の第1実施例を示し、第2図は一部
を断面にした正面図、第3図は要部の拡大図、第
4図〜第6図は作用を説明するための要部の拡大
断面図、第7図は本考案の第2実施例を示す要部
の拡大断面図である。 1……プリント回路板、2A,2B,2C……
検査点、7……支持板、7a……支持面、11…
…移動板、12……接触子、13……押圧板、1
5……ばね、16……貫通孔、18……クツシヨ
ン層。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 プリント回路板1の検査点2A,2B,2C
    …に接触子12…を接触させて電気的検査を行
    うプリント回路板検査装置において、プリント
    回路板が載置される支持板7の上方に、その支
    持面7aに向けて往復移動する移動板11が設
    けられ、該移動板に、前記支持面に向けた複数
    の接触子12…が突出状態に設けられ、これら
    接触子よりも下方位置には、支持面と対向する
    押圧板13が移動板にばね15を介して上下移
    動可能にかつ揺動自在に支持され、該押圧板に
    接触子を挿入させる複数の貫通孔16が設けら
    れていることを特徴とするプリント回路板検査
    装置。 2 前記支持面7aと、この支持面に対向する前
    記押圧板13の対向面とのうち少なくとも一方
    の面に、前記プリント回路板1に密接するクツ
    シヨン層18を設けたことを特徴とする実用新
    案登録請求の範囲第1項記載のプリント回路板
    検査装置。
JP1695683U 1983-02-08 1983-02-08 プリント回路板検査装置 Granted JPS59122555U (ja)

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JPS59122555U JPS59122555U (ja) 1984-08-17
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AU2010234392A1 (en) 2009-04-07 2011-10-27 Sensient Colors Inc. Self-dispersing particles and methods for making and using the same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5880891A (ja) * 1981-11-10 1983-05-16 関東化成工業株式会社 プリント配線板の検査方法

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