JPH0430550Y2 - - Google Patents

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JPH0430550Y2
JPH0430550Y2 JP19635985U JP19635985U JPH0430550Y2 JP H0430550 Y2 JPH0430550 Y2 JP H0430550Y2 JP 19635985 U JP19635985 U JP 19635985U JP 19635985 U JP19635985 U JP 19635985U JP H0430550 Y2 JPH0430550 Y2 JP H0430550Y2
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plate
movable
contact probe
circuit board
double
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は、回路基板の両面に配設パターンが設
けられた両面回路基板および両面回路基板に各種
の電子部品が実装された実装回路基板を、両面同
時にコンタクトプローブを当接させて電気的特性
を検査測定するための両面回路基板検査装置に関
するものである。
(従来の技術) 近年、電子機器の小型化の要請に応じて、回路
基板の小型化およびこの回路基板に装着される各
種の電子部品の小型化がなされて高密度実装が実
施されている。そして、より一層の小型化を図る
ために、回路基板の表裏の両面に配線パターンを
設けて両面に電子部品を装着する両面回路基板が
用いられるようになつてきた。
ところで、回路基板自体および電子部品が高密
度実装された回路基板の電気的特性の検査測定
は、回路基板の検査点に対応してピンボードに多
数のコンタクトプローブを植設し、このピンボー
ドを回路基板に相対接近させてコンタクトプロー
ブを検査点に当接させ、このコンタクトプローブ
に接続されたケーブルを介して検査点を検査測定
装置(テスター)に接続して行われている。
(考案が解決しようとする問題点) 上記したコンタクトプローブを用いた従来の回
路基板検査装置は、回路基板の片面にコンタクト
プローブを当接させるもので、両面回路基板に対
して表面と裏面をそれぞれ別の工程で検査測定し
なければならず、検査作業の能率が悪いという問
題点があつた。なお、両面回路基板の表面と裏面
にそれぞれ設けられた検査点の双方から得られる
信号に基づく検査測定を、従来の上記片面の回路
基板検査装置ではできず、両面回路基板の両面に
コンタクトプローブを同時に一工程で当接できる
両面回路基板検査装置が要請されている。
本考案の目的は、上記の事情に鑑みてなされた
もので、両面回路基板の両面にコンタクトプロー
ブを同時に当接させて、検査作業の能率を向上さ
せるとともに、両面の検査点から同時に信号を得
て検査測定の信頼性の向上を図るようにした両面
回路基板検査装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) かかる目的を達成するために、本考案の両面回
路基板検査装置は、基台の四隅に案内支柱を植設
し、これらの案内支柱の上部に固定上板を固定
し、可動上板を前記案内支柱をガイドとして前記
固定上板に固定されたシリンダーにより上下動自
在となし、この可動上板に下に向けて上側コンタ
クトプローブを配設するとともに抜け落ちないよ
うに上下動自在で下方に押圧ばねで弾性付勢され
たクツシヨン押圧部材を設け、前記可動上板の下
に、可動下板を前記案内支柱をガイドとし上方に
押上ばねで弾性付勢されストツパにより上方移動
範囲が制限されて上下動自在となし、この可動下
板に水平方向に横動自在に抽出板を設け、この抽
出板に位置決め嵌合孔を穿設し、前記基台に前記
位置決め嵌合孔に嵌合できる位置決め突起を突設
するとともに前記上側コンタクトプローブに対向
して上向きに下側コンタクトプローブを配設し、
さらに位置決めされた前記抽出板に前記上側コン
タクトプローブに臨む位置に両面回路基板を位置
決めする基板位置決め部材を設け、前記可動下板
と位置決めされた前記抽出板に前記下側コンタク
トプローブに臨んで前記下側コンタクトプローブ
が遊貫できる透孔を設けて構成されている。
(作用) 基台に植設された案内支柱をガイドとして上下
動自在な可動上板に、下に向けて上側コンタクト
プローブを配設するとともに押圧ばねで下方に弾
性付勢されたクツシヨン押圧部材を設け、この可
動上板の下に、案内支柱をガイドとして上下動自
在で押上ばねで上方に弾性付勢された可動下板に
水平方向に横動自在に抽出板を設け、この抽出板
に位置決め嵌合孔を穿設し、基台に位置決め突起
を突設するとともに上側コンタクトプローブに対
向して上向きに下側コンタクトプローブを配設し
たので、可動上板の下降に伴ないクツシヨン押圧
部材で可動下板を押下げると、位置決め嵌合孔に
位置決め突起が挿入されて抽出板の位置決めが簡
単確実になされ、さらに押圧ばねと抽上ばねが圧
縮されて、この抽出板に位置決めされた両面回路
基板の検査点に対して上側および下側コンタクト
プローブを確実に当接させ、検査測定の信頼性を
向上させることができる。また、両面に同時に上
側および下側コンタクトプローブを当接させるこ
とができるので、検査作業の能率を向上させ、し
かも両面の検査点から得られる信号に基づいた検
査測定がなし得る。
(実施例の説明) 以下、本考案の実施例を第1図ないし第3図を
参照して説明する。第1図は、本考案の両面回路
基板検査装置の一実施例の一部切欠き正面図であ
り、第2図は、第1図に示す装置の縦側断面図で
あり、第3図は、第1図のA−A矢視断面図であ
る。
第1図ないし第3図において、扁平で平面長方
形の基台1の四隅に案内支柱2,2…を植設し、
中央に上に向けて下側コンタクトプローブ3を配
設し、さらに前後方向(第1図において紙面の表
から裏の方向、第2図、第3図において紙面の右
から左の方向)の両端部に位置決め突起4,4が
突設されている。この下側コンタクトプローブ3
は、中央が凹部に形成された枠体5を基台1の中
央に配設し、この枠体5の上縁に下側コンタクト
プローブ3を植設した下側ピンボード6が脱着交
換容易に固定されている。そして、案内支柱2,
2…の上部に固定上板7を固定し、この固定上板
7に下に向けてピストン8が上下動自在のエアー
シリンダー9を配設する。このピストン8の先端
部に伏せたコ字状の中間支持部材10を介して可
動上板11が固定され、この可動上板11は案内
支柱2,2…に嵌挿れたボール入りベアリング等
の案内部材12,12…により上下動自在に構成
されている。さらに、可動上板11の下面中央に
下に向けて上側コンタクトプローブ13が植設さ
れた上側ピンボード14が下側コンタクトプロー
ブ3に対向して図示しない位置決めピンおよびボ
ルト等により脱着交換容易に位置決め固定されて
いる。また、可動上板11の前後端部に抜け落ち
ることなく上下動自在で下方に押圧ばね15,1
5…で弾性付勢され下端部に鍔を有するクツシヨ
ン押圧部材16,16…が設けられている。この
可動上板11の下に、可動下板17がボール入り
ベアリング等の案内部材18,18…により案内
支柱2,2…にガイドされて上下動自在に構成さ
れている。この可動下板17は、押上ばね19,
19…により上方に弾性付勢され、案内支柱2,
2…に固定されたストツパー20,20…により
上方向の移動範囲の制限がされている。さらに、
この可動下板17の上面に周方向にV溝が形成さ
れたローラー部材21,21…を水平面上で回転
自在に軸着し、このローラー部材21,21…の
V溝に合致するエツジ状の側縁を有する抽出板2
2が水平方向である前後方向に横動自在にローラ
ー部材21,21…で支持されている。この抽出
板22の手前側の一個所に基板支持ボード23を
固定し、この基板支持ボード23の上面に両面回
路基板24を位置決めする嵌合孔を有する基板位
置決め部材25が固定されている。そして、抽出
板22の前後端にはボルトとナツト等による移動
範囲調整部材26,26が設けられている。さら
に、抽出板22が押し込まれて両面回路基板24
が上側と下側コンタクトプローブ13,3に対応
する位置で、位置決め突起4,4に臨んで抽出板
22に位置決め嵌合孔28,28が穿設されてい
る。そして、可動下板17と位置決めされた抽出
板22および基板支持ボード23に、下側コンタ
クトプローブ3に臨む透孔がそれぞれに穿設さ
れ、さらに可動下板17に位置決め突起4,4に
臨んで透孔が穿設されている。
かかる構成において、ハンドル27を手前に引
いて抽出板22を手前に引き出し、両面回路基板
24を基板位置決め部材25で位置決めして基板
支持ボード23に載置固定し、抽出板22を押し
込む。次に、エアーシリンダ9のピストン8を下
降させると可動下板11が下降してクツシヨン押
圧部材16,16…で抽出板22を下方に押圧
し、押圧ばね19,19…に抗して可動下板17
とともに下降される。このときクツシヨン押圧部
材16,16…の押圧ばね15,15…と押上ば
ね19,19…はともに圧縮されるが、両面回路
基板24に上側および下側コンタクトプローブ1
3,3はいまだ当接しない状態で、可動下板17
と抽出板22の下降により位置決め突起4,4が
位置決め嵌合孔28,28に挿入されて抽出板2
2の位置決めがなされる。さらに、可動上板11
の下降により押圧ばね15,15…と押上ばね1
9,19…が圧縮されて、上側および下側コンタ
クトプローブ13,3が両面回路基板24の表裏
両面の検査点にそれぞれ当接される。
ここで、押圧ばね15,15…と押上ばね1
9,19…の弾力の強さにつき簡単に述べる。可
動下板17と抽出板22が押圧ばね15,15…
と押上ばね19,19…の弾力の釣り合う高さに
浮いた状態で、両面回路基板24の両面に上側お
よび下側コンタクトプローブ13,3が同時に当
接するか、若しくは上側コンタクトプローブ13
が僅かに先に当接することが望ましい。この僅か
に上側コンタクトプローブ13を先に当接させる
のは、両面回路基板24が下側コンタクトプロー
ブ3の当接で基板支持ボード23から浮き上がる
のを防ぐためである。このようにするには、例え
ば押圧ばね15,15…を初期の弾力は強いが圧
縮変化量に対して弾力の増加の小さいばねを用
い、押上ばね19,19…を初期の弾力が弱く圧
縮変化量に対して弾力の増加の大きいばねを用い
る。そして、押圧ばね15,15…と押上ばね1
9,19…の弾力の強弱が入れ換わる圧縮変化位
置を、両面回路基板24の上側と下側コンタクト
プローブ13,3が当接する直前となるように設
定すれば良い。
(考案の効果) 以上説明したように、本考案の両面回路基板検
査装置によれば、基台に植設された案内支柱をガ
イドとして上下動自在な可動上板に、下に向けて
上側コンタクトプローブを配設するとともに押圧
ばねで下方に弾性付勢されたクツシヨン押圧部材
を設け、この可動上板の下に、案内支柱をガイド
として上下動自在で押上ばねで上方に弾性付勢さ
れた可動下板に水平方向に横動自在に抽出板を設
け、この抽出板に位置決め嵌合孔を穿設し、基台
に位置決め突起を突設するとともに上側コンタク
トプローブに対向して上向きに下側コンタクトプ
ローブを配設したので、可動上板の下降に伴ない
クツシヨン押圧部材で可動下板を押下げると、位
置決め嵌合孔に位置決め突起が挿入されて抽出板
の位置決めが簡単確実になされ、さらに押圧ばね
と抽上ばねが圧縮されて、この抽出板に位置決め
された両面回路基板の検査点に対して上側および
下側コンタクトプローブを確実に当接させ、検査
測定の信頼性を向上させることができる。また、
両面に同時に上側および下側コンタクトプローブ
を当接させることができるので、検査作業の能率
を向上させ、しかも両面の検査点から得られる信
号に基づいた検査測定がなし得るという優れた効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案の両面回路基板検査装置の一
実施例の一部切欠き正面図であり、第2図は、第
1図に示す装置の縦側断面図であり、第3図は、
第1図のA−A矢視断面図である。 1……基台、3……下側コンタクトプローブ、
4……位置決め突起、7……固定上板、11……
可動上板、13……上側コンタクトプローブ、1
5……押圧ばね、16……クツシヨン押圧部材、
17……可動下板、19……押上ばね、20……
ストツパー、21……ローラー部材、22……抽
出板、24……両面回路基板、25……基板位置
決め部材。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 基台の四隅に案内支柱を植設し、これらの案
    内支柱の上部に固定上板を固定し、可動上板を
    前記案内支柱をガイドとして前記固定上板に固
    定されたシリンダーにより上下動自在となし、
    この可動上板に下に向けて上側コンタクトプロ
    ーブを配設するとともに抜け落ちないように上
    下動自在で下方に押圧ばねで弾性付勢されたク
    ツシヨン押圧部材を設け、前記可動上板の下
    に、可動下板を前記案内支柱をガイドとし上方
    に押上ばねで弾性付勢されストツパにより上方
    移動範囲が制限されて上下動自在となし、この
    可動下板に水平方向に横動自在に抽出板を設
    け、この抽出板に位置決め嵌合孔を穿設し、前
    記基台に前記位置決め嵌合孔に嵌合できる位置
    決め突起を突設するとともに前記上側コンタク
    トプローブに対向して上向きに下側コンタクト
    プローブを配設し、さらに位置決めされた前記
    抽出板に前記上側コンタクトプローブに臨む位
    置に両面回路基板を位置決めする基板位置決め
    部材を設け、前記可動下板と位置決めされた前
    記抽出板に前記下側コンタクトプローブに臨ん
    で前記下側コンタクトプローブが遊貫できる透
    孔を設けたことを特徴とする両面回路基板検査
    装置。 (2) 前記シリンダーの伸張により可動上板が下降
    して前記クツシヨン押圧部材により前記可動下
    板が押下げられると、前記上側コンタクトプロ
    ーブが前記下側コンタクトプローブより僅かに
    早く若しくは同時に前記両面回路基板に当接す
    るように、前記押圧ばねと前記押上ばねの弾力
    を設定することを特徴とする実用新案登録請求
    の範囲第1項記載の両面回路基板検査装置。
JP19635985U 1985-12-20 1985-12-20 Expired JPH0430550Y2 (ja)

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JP19635985U JPH0430550Y2 (ja) 1985-12-20 1985-12-20

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JPS62104175U JPS62104175U (ja) 1987-07-02
JPH0430550Y2 true JPH0430550Y2 (ja) 1992-07-23

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