JPS6273177A - 電子モジユ−ルのための保持兼試験装置 - Google Patents
電子モジユ−ルのための保持兼試験装置Info
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- JPS6273177A JPS6273177A JP61219071A JP21907186A JPS6273177A JP S6273177 A JPS6273177 A JP S6273177A JP 61219071 A JP61219071 A JP 61219071A JP 21907186 A JP21907186 A JP 21907186A JP S6273177 A JPS6273177 A JP S6273177A
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- movable plate
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- slider
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、平らな支持体I―に取り付けられた″電子
モジュールのための保持兼試験装置に関する。
モジュールのための保持兼試験装置に関する。
[従来の技術]
かかる装置であって、支持体が収容部の固定ピンによる
位置固定のための少なくとも二つの孔又はへこみを縁に
備え、収容部に対して移動可能で可動板1ユに取り付け
られたばね接触装置が、試験すべき各モジュールの個々
の接続脚と測定装置との間の導電結合を形成するものが
知られている。
位置固定のための少なくとも二つの孔又はへこみを縁に
備え、収容部に対して移動可能で可動板1ユに取り付け
られたばね接触装置が、試験すべき各モジュールの個々
の接続脚と測定装置との間の導電結合を形成するものが
知られている。
例えば集積回路技術における記憶装置又は回路として、
支持体トに取り付けられた′重子モジュールは、それが
プリント配線板に実装するために用いられる前にモジュ
ールの機能を試験することができるよう1こ、修通は中
間製品である。
支持体トに取り付けられた′重子モジュールは、それが
プリント配線板に実装するために用いられる前にモジュ
ールの機能を試験することができるよう1こ、修通は中
間製品である。
しかし試験は、モジュールの接続脚が相応に接触ピンを
分散配設した接触装置に対して非常に1丁確番こ整列保
持されていることを前提とする。このことは例えば収容
部の固定ピンにより実施でき。
分散配設した接触装置に対して非常に1丁確番こ整列保
持されていることを前提とする。このことは例えば収容
部の固定ピンにより実施でき。
支持体が挿入されたときに、この固定ピンが支持体Fに
設けられた相応の孔又はへこみの中に突出し、支持体を
水モに正しい位置に固定する。そして収容板に結合され
た案内棒に沿って、接触装置が手又は空圧により制御さ
れて接続脚上に降下できるならば、接触ピンを介して試
験装置又は試験用計算機への必要な試験結合が形成され
る。
設けられた相応の孔又はへこみの中に突出し、支持体を
水モに正しい位置に固定する。そして収容板に結合され
た案内棒に沿って、接触装置が手又は空圧により制御さ
れて接続脚上に降下できるならば、接触ピンを介して試
験装置又は試験用計算機への必要な試験結合が形成され
る。
支持体の1一方に配設された接触装置を備えた保持兼試
験のためのかかる装置は試験台の中に組み込むのに都合
が悪い。更に支持体が容易にくぼみの中に挿入されまた
このくぼみから再び取り出すことができるように、かか
る装置はコンパクトな構造とは矛盾する接触装置の十分
な行程を必要とする。また作業名の指が試験すべきモジ
ュールと接触装置との間にまだ存在するときに、接触装
置が作動するおそれがないように補助的な安全策が仏間
である。
験のためのかかる装置は試験台の中に組み込むのに都合
が悪い。更に支持体が容易にくぼみの中に挿入されまた
このくぼみから再び取り出すことができるように、かか
る装置はコンパクトな構造とは矛盾する接触装置の十分
な行程を必要とする。また作業名の指が試験すべきモジ
ュールと接触装置との間にまだ存在するときに、接触装
置が作動するおそれがないように補助的な安全策が仏間
である。
[発明が解決しようとする問題点]
この発明は、コンパクトで簡単な構造を有し、接触装置
により妨げられることなく完全に自由に一側面から手が
届き、平らな試験台に容易に組み込むことができ、可動
な多重同軸プラグ上に装着できるような保持兼試験装置
を提供することを目的とする。
により妨げられることなく完全に自由に一側面から手が
届き、平らな試験台に容易に組み込むことができ、可動
な多重同軸プラグ上に装着できるような保持兼試験装置
を提供することを目的とする。
1問題点を解決するための手段]
この目的はこの発明に基づき、ばね接触装置のための可
動板が同時に固定ピンと斜めに切られた端部を有する補
助の案内ピンとのための支持体として構成され、これら
のピンがすべてばね接点に対し軸平行に配設されて可動
板から同一の方向に延び、可動板の上方に設けられた試
験すべきモジュールのための収容部が孔開き板の中のく
ぼみとして構成され、この孔開き板が接触装置の個々の
ばね接点と固定ピンと案内ピンとに対応する貫通孔を右
し、最初の掛け止め位置において固定ピンの端部が孔開
き板の相応の貫通口を通って突出して、くぼみの中に挿
入された支持体の孔又はへこみに係合し、水モに移動可
能で案内ピンのための少なくとも一つの係合孔を備えた
二つのスライダが孔開き板の中にはめ込まれ、これらの
案内ピンの先端が最初の掛け止め位置においてそれぞれ
従属する係合孔の縁に接触し、それにより案内ピンの垂
直移動の際にこれらのスライダが水平に相互に近寄るよ
うに移動可能であり、スライダ上に側面の舌部が設けら
れ、この舌部がスライダの移動の際に試験すべきモジュ
ールの支持体を越えて滑り、固定ピンと協働してこのモ
ジュールを正しい位置に固定し、その後可動板を試験の
ための掛け止め位nへ更に動かすことにより、試験すべ
きモジュールの個々の接続脚との電気的結合がばね接触
装置のばね接点により形成されることにより達成される
。
動板が同時に固定ピンと斜めに切られた端部を有する補
助の案内ピンとのための支持体として構成され、これら
のピンがすべてばね接点に対し軸平行に配設されて可動
板から同一の方向に延び、可動板の上方に設けられた試
験すべきモジュールのための収容部が孔開き板の中のく
ぼみとして構成され、この孔開き板が接触装置の個々の
ばね接点と固定ピンと案内ピンとに対応する貫通孔を右
し、最初の掛け止め位置において固定ピンの端部が孔開
き板の相応の貫通口を通って突出して、くぼみの中に挿
入された支持体の孔又はへこみに係合し、水モに移動可
能で案内ピンのための少なくとも一つの係合孔を備えた
二つのスライダが孔開き板の中にはめ込まれ、これらの
案内ピンの先端が最初の掛け止め位置においてそれぞれ
従属する係合孔の縁に接触し、それにより案内ピンの垂
直移動の際にこれらのスライダが水平に相互に近寄るよ
うに移動可能であり、スライダ上に側面の舌部が設けら
れ、この舌部がスライダの移動の際に試験すべきモジュ
ールの支持体を越えて滑り、固定ピンと協働してこのモ
ジュールを正しい位置に固定し、その後可動板を試験の
ための掛け止め位nへ更に動かすことにより、試験すべ
きモジュールの個々の接続脚との電気的結合がばね接触
装置のばね接点により形成されることにより達成される
。
[発明の作用効果コ
それによりばね接触装置を備えた可動板が、下から収容
部としてのくぼみを備えた孔開き板に向かって動かされ
る。接触装置のほかに同様に平行に並んで支持体の水平
固定のための固定ピンが可動板上に固定され、この固定
ピンが接触ピンと同様に孔開き板の相応の孔の中で軸線
方向に自由に可動であり孔聞き板を貫いて突出する。
部としてのくぼみを備えた孔開き板に向かって動かされ
る。接触装置のほかに同様に平行に並んで支持体の水平
固定のための固定ピンが可動板上に固定され、この固定
ピンが接触ピンと同様に孔開き板の相応の孔の中で軸線
方向に自由に可動であり孔聞き板を貫いて突出する。
更に可動板の中には案内ピンが同様に平行に並んで固定
され、この案内ピンは孔開き板の別の孔の中で軸方向に
自由に可動であり、その円錐形の先端により孔開き板の
中に挿入され水平に移動可能なスライダの孔に係合する
。スライダ上には支特休の方に向いた舌部が設けられ、
この舌部は案内ピンの垂直運動に関係してくぼみの中に
固定ピンの間に挿入された支持体の上方を横に向かって
滑り、固定ピンと協働して支持体を正しい位置に固定し
、その後上向きに可動板が更に動くことにより接触ピン
が、挿入された支持体上に取り付けられたモジュールの
接続脚との結合を形成する。
され、この案内ピンは孔開き板の別の孔の中で軸方向に
自由に可動であり、その円錐形の先端により孔開き板の
中に挿入され水平に移動可能なスライダの孔に係合する
。スライダ上には支特休の方に向いた舌部が設けられ、
この舌部は案内ピンの垂直運動に関係してくぼみの中に
固定ピンの間に挿入された支持体の上方を横に向かって
滑り、固定ピンと協働して支持体を正しい位置に固定し
、その後上向きに可動板が更に動くことにより接触ピン
が、挿入された支持体上に取り付けられたモジュールの
接続脚との結合を形成する。
単一の操作部品すなわち固定ピンと案内ピンとを備えた
可動板の遅動により、こうして容易に支持体の従って試
験すべきモジュールの位置固定が達成される。孔開き板
に対する可動板の行程は比較的小さく保つことができる
。なぜならば可動部分が孔開き板の操作側と反対側の側
面上に設けられているからである。従って試験すべきモ
ジュールの支持体のための収容部が一側から妨げられる
ことなく手が届く1作業者の保護のための補助的な安全
策は行わなくてよい。
可動板の遅動により、こうして容易に支持体の従って試
験すべきモジュールの位置固定が達成される。孔開き板
に対する可動板の行程は比較的小さく保つことができる
。なぜならば可動部分が孔開き板の操作側と反対側の側
面上に設けられているからである。従って試験すべきモ
ジュールの支持体のための収容部が一側から妨げられる
ことなく手が届く1作業者の保護のための補助的な安全
策は行わなくてよい。
孔開き板の構造と孔開き板に対する移動をもたらす操作
装置を備えた可動板とに関する、及び使用に関係ある別
の構造上の特徴に関するこの発明の実施態様は、特許請
求の範囲第2項以下に記載されている。
装置を備えた可動板とに関する、及び使用に関係ある別
の構造上の特徴に関するこの発明の実施態様は、特許請
求の範囲第2項以下に記載されている。
[実施例]
次にこの発明に基づく保持兼試験装置の一実施例を示す
図面により、この発明の詳細な説明する。
図面により、この発明の詳細な説明する。
第1八図ないし第1C図から明らかなように、保持兼試
験装置は市販の多重同軸結合プラグ部分1の上に組み立
てられ、このプラグ部分は例えば64個の挿し込みブツ
シュを有し、これらのブツシュはそれ自体周知の方法で
同軸線を介して測定装置又は試験用計算機に結合できる
。挿し込みブツシュ2は接続線3を介して保持兼試験装
置の内部のばね接触装置の第1図に示されていない個々
のばね接点に結合されている。多重同軸結合プラグ部分
1上にはプラグ部分に適応した支持リング4が、例えば
岡上に一様に分散配設された4木のポルト5により固定
されている。更に小さい外径を有する付加部54(第5
図)上にはスリーブ形ケース6がはめられ、このケース
の開放端はカバー板7により覆われ、このカバー板は第
1A図から明らかなようにポルト8を用いて、カバー板
の下にあり支持リング4により保持された孔開き板14
により固定されている。スリーブ形ケース6の中には第
1B図から明らかなようにスリット9が設けられている
ので、スリーブ形ケース6は内部から突出する操作軸1
0にもかかわらず容易にはめることができる。軸10上
には握り12を有するレバー11が固定され、この握り
は保持兼試験装置を操作するために二つの掛け止め位置
の間を矢印の方向に動かすことができる。
験装置は市販の多重同軸結合プラグ部分1の上に組み立
てられ、このプラグ部分は例えば64個の挿し込みブツ
シュを有し、これらのブツシュはそれ自体周知の方法で
同軸線を介して測定装置又は試験用計算機に結合できる
。挿し込みブツシュ2は接続線3を介して保持兼試験装
置の内部のばね接触装置の第1図に示されていない個々
のばね接点に結合されている。多重同軸結合プラグ部分
1上にはプラグ部分に適応した支持リング4が、例えば
岡上に一様に分散配設された4木のポルト5により固定
されている。更に小さい外径を有する付加部54(第5
図)上にはスリーブ形ケース6がはめられ、このケース
の開放端はカバー板7により覆われ、このカバー板は第
1A図から明らかなようにポルト8を用いて、カバー板
の下にあり支持リング4により保持された孔開き板14
により固定されている。スリーブ形ケース6の中には第
1B図から明らかなようにスリット9が設けられている
ので、スリーブ形ケース6は内部から突出する操作軸1
0にもかかわらず容易にはめることができる。軸10上
には握り12を有するレバー11が固定され、この握り
は保持兼試験装置を操作するために二つの掛け止め位置
の間を矢印の方向に動かすことができる。
カバー板7とその下に置かれた孔開き板14の中には第
1A図及び第1C図に示すように、それぞれ方形の孔1
3とこの孔に対応する凹所16とが設けられ、これらは
試験すべきモジュールの支持体21のための収容部とし
て用いられる。この収容〈ぼみ13/16の中に支持体
21が、自由端が円錐形になっている固定ピン18によ
り水平に整列して固定される。そのためにこの固定ピン
′ 18の自由端は孔開き板14の孔17を通って突出
する。孔17のほかに別の孔19が試験すべきモジュー
ルの個々の接続脚の配設に対応して設けられ、これらの
孔を通って接触ピンが自由に動いて試験すべきモジュー
ルへの所望の電気的結合を形成する。
1A図及び第1C図に示すように、それぞれ方形の孔1
3とこの孔に対応する凹所16とが設けられ、これらは
試験すべきモジュールの支持体21のための収容部とし
て用いられる。この収容〈ぼみ13/16の中に支持体
21が、自由端が円錐形になっている固定ピン18によ
り水平に整列して固定される。そのためにこの固定ピン
′ 18の自由端は孔開き板14の孔17を通って突出
する。孔17のほかに別の孔19が試験すべきモジュー
ルの個々の接続脚の配設に対応して設けられ、これらの
孔を通って接触ピンが自由に動いて試験すべきモジュー
ルへの所望の電気的結合を形成する。
第2A図及び第2B図はそれぞれモジュール22を取り
付けた支持体21の平面図と側面図を示し、このモジュ
ールは保持つめ25により保持されている。モジュール
22の両側に延びる接続脚23はモジュール22とほぼ
同一の平面上にあり、支持体21上に設けられた桟24
の間に埋め込支れている。支持体は更に内反側面上に位
置固定のためのへこみ26を有する。
付けた支持体21の平面図と側面図を示し、このモジュ
ールは保持つめ25により保持されている。モジュール
22の両側に延びる接続脚23はモジュール22とほぼ
同一の平面上にあり、支持体21上に設けられた桟24
の間に埋め込支れている。支持体は更に内反側面上に位
置固定のためのへこみ26を有する。
かかる支持体21上に取り付けられたモジュール22の
試験のために、固定ピン18の端部が第1C図に示すよ
うに支持体21の側面のへこみ26に係合するように、
支持体が倒立して収容くぼみ13/16の中に挿入され
る。
試験のために、固定ピン18の端部が第1C図に示すよ
うに支持体21の側面のへこみ26に係合するように、
支持体が倒立して収容くぼみ13/16の中に挿入され
る。
接触ピンを試験すべきモジュールの接続脚23上に載せ
る際に、孔開き板14の底面上に置かれた支持体21が
垂直方向に逃げ得ないように、孔開き板14の側面の凹
所31の中に相互に向かい合った二つのスライダ32が
設けられ、これらのスライダは凹所31の中で水平に収
容くぼみ13716の方向へ相互に近寄るように移動可
能である。収容くぼみ13/16に向かう側の側面上に
これらのスライダ32は舌部33を有し、これらの舌部
はスライダ32の移動の際に支持体21の背を越えて滑
り、従って支持体を垂直の方向に同様に固定する。
る際に、孔開き板14の底面上に置かれた支持体21が
垂直方向に逃げ得ないように、孔開き板14の側面の凹
所31の中に相互に向かい合った二つのスライダ32が
設けられ、これらのスライダは凹所31の中で水平に収
容くぼみ13716の方向へ相互に近寄るように移動可
能である。収容くぼみ13/16に向かう側の側面上に
これらのスライダ32は舌部33を有し、これらの舌部
はスライダ32の移動の際に支持体21の背を越えて滑
り、従って支持体を垂直の方向に同様に固定する。
孔開き板14の中に挿入支持されたスライダ32の移動
は孔30を用いて行われ、この孔の中には案内ピン35
の円錐形の先端が突出している。最初の掛け止め位置に
おいては端部が円錐形の案内ピン35の先端は孔30の
収容〈ぼみ13/16に向かう側の内縁に接触している
ので、案内ピンの持ち上げと共に円錐形の端部の斜面が
カバー板7と協f@シてスライダ32の横方向連動を生
じさせる。この横方向連動は、案内ピン35がスライダ
32の孔30と同心の位置に到達するまで持続するので
、その後は案内ピン35は横移動を追加することなく孔
34の中で更に滑ることができる。それ故試験すべきモ
ジュール22の接続脚23との電気的結合を形成するた
めに、案内ピン35の移動を接触装置の接触ピンの運動
に結合すると、収容〈ぼみ13/16の中に挿入された
支持体がスライダ32の舌部33と固定ピン18とによ
りその空間位置に完全に固定されたときに初めぞ、接触
ピンが接続脚23上に載るということが容易に達成でき
る。
は孔30を用いて行われ、この孔の中には案内ピン35
の円錐形の先端が突出している。最初の掛け止め位置に
おいては端部が円錐形の案内ピン35の先端は孔30の
収容〈ぼみ13/16に向かう側の内縁に接触している
ので、案内ピンの持ち上げと共に円錐形の端部の斜面が
カバー板7と協f@シてスライダ32の横方向連動を生
じさせる。この横方向連動は、案内ピン35がスライダ
32の孔30と同心の位置に到達するまで持続するので
、その後は案内ピン35は横移動を追加することなく孔
34の中で更に滑ることができる。それ故試験すべきモ
ジュール22の接続脚23との電気的結合を形成するた
めに、案内ピン35の移動を接触装置の接触ピンの運動
に結合すると、収容〈ぼみ13/16の中に挿入された
支持体がスライダ32の舌部33と固定ピン18とによ
りその空間位置に完全に固定されたときに初めぞ、接触
ピンが接続脚23上に載るということが容易に達成でき
る。
更に第1A図に示すように、スライダ32のための凹所
31の横方向の拡大部の中にスライダ32の舌部と反対
側の側面側にピン36が設けられ、このピンに引張りば
ね37が固定されている。この引張りばね37は他端を
スライダ32に結合されているので、案内ピン35によ
るくさび作用が働かなくなったときに、スライダ32は
再び最初の位置に運ばれ、それにより挿入された支持体
21が解放される。
31の横方向の拡大部の中にスライダ32の舌部と反対
側の側面側にピン36が設けられ、このピンに引張りば
ね37が固定されている。この引張りばね37は他端を
スライダ32に結合されているので、案内ピン35によ
るくさび作用が働かなくなったときに、スライダ32は
再び最初の位置に運ばれ、それにより挿入された支持体
21が解放される。
第3A図は第1図の孔開き板14をその上に置かれたカ
バー板7により部分的にも覆われない状態の拡大図で示
し、一方第3B図と第3C図とはそれぞれ切断1t−i
又は2−2によるそれらに従属する二つの断面を示す。
バー板7により部分的にも覆われない状態の拡大図で示
し、一方第3B図と第3C図とはそれぞれ切断1t−i
又は2−2によるそれらに従属する二つの断面を示す。
特にこれらの断面図から個々の凹所が異なる高さを有す
ることが更に明らかである。このことは特にスライダ3
2に設けられた舌部33の範囲38と引張りばね37の
ための保持ピン36の範囲とに対してあてはまる。その
際案内ピン35がその上側の終端位置で孔開き板14の
上縁から過度に突出しないように、また他方ではスライ
ダ32のための終端位置の到着後に接触ばね装置のため
の十分な行程がなお残っているように、凹所16,38
及び31の異なる高さはまず第1に、舌部下面を保持す
べき支持体の背の高さに適合させることと、孔開き板1
4の厚さとの組み合わせにおいてスライダ32の横方向
移動をもたらす斜面を備えた案内ピン35の寸法に適合
させることとから結果として生じる。他方では保持ピン
36を有する範囲に比べて更に深いスライダのための凹
所31が、静止位とに対する自然のストッパ縁を与える
。このことは、図示の実施例とは異なってスライダが舌
部と同じ幅を有し、それぞれ並列に作用する案内ピン3
5の変わりに各スライダに対し唯一の案内ピンだけが設
けられているときに、特に適用される。
ることが更に明らかである。このことは特にスライダ3
2に設けられた舌部33の範囲38と引張りばね37の
ための保持ピン36の範囲とに対してあてはまる。その
際案内ピン35がその上側の終端位置で孔開き板14の
上縁から過度に突出しないように、また他方ではスライ
ダ32のための終端位置の到着後に接触ばね装置のため
の十分な行程がなお残っているように、凹所16,38
及び31の異なる高さはまず第1に、舌部下面を保持す
べき支持体の背の高さに適合させることと、孔開き板1
4の厚さとの組み合わせにおいてスライダ32の横方向
移動をもたらす斜面を備えた案内ピン35の寸法に適合
させることとから結果として生じる。他方では保持ピン
36を有する範囲に比べて更に深いスライダのための凹
所31が、静止位とに対する自然のストッパ縁を与える
。このことは、図示の実施例とは異なってスライダが舌
部と同じ幅を有し、それぞれ並列に作用する案内ピン3
5の変わりに各スライダに対し唯一の案内ピンだけが設
けられているときに、特に適用される。
第3八図ないし第3C図から更に明らかなように、孔開
き板14は相互に対角線上に向かい合った二つの丸棒1
5により支持され、これらの丸棒は例えば締りばめによ
り孔開き板14に強固に結合されている。これらの丸棒
はその他端を第1図に示す支持リング4の中にはめ込ま
れているので、孔開き板14と支持リング4との間には
強固な結合が存在する。
き板14は相互に対角線上に向かい合った二つの丸棒1
5により支持され、これらの丸棒は例えば締りばめによ
り孔開き板14に強固に結合されている。これらの丸棒
はその他端を第1図に示す支持リング4の中にはめ込ま
れているので、孔開き板14と支持リング4との間には
強固な結合が存在する。
両丸棒15は同時に第4A図ないし第4C図に詳細に示
されている可動板40のための案内棒を形成する。第4
A図に示すようにこの板40は中央の四角形の板部分4
2と個々の隅に隣接する拡大部とから成る。対角線上に
相互に向かい合う拡大部の内の一対の中に孔43に挿入
された直劾形玉軸受44が設けられ、この玉軸受を用い
て可動板が案内棒として第3図に示された丸棒15に沿
って動くことができる。他の両隅に設けられた拡大部は
これに反して緩衝ばね41の収容のための円形の凹所4
5を備え、これらの緩衝ばねは第1B図から明らかなよ
うに孔開き板14に対する可動板40の緩衝のために用
いられる。更にこの拡大部の側面にピン46が取り付け
られ、このピンを介して孔開き板14に対する板40の
運動が案内棒15に沿ってもたらされる。各拡大部上に
は四つの案内ピン35の一つずつが固定され、その際各
二つの案内ピンが協働する。中央の四角形の板部分の中
には、第3図に示す孔開き板の孔と同心に並ぶ個々の接
触ピンのための及び固定ピン18の固定のための孔47
が存在する。
されている可動板40のための案内棒を形成する。第4
A図に示すようにこの板40は中央の四角形の板部分4
2と個々の隅に隣接する拡大部とから成る。対角線上に
相互に向かい合う拡大部の内の一対の中に孔43に挿入
された直劾形玉軸受44が設けられ、この玉軸受を用い
て可動板が案内棒として第3図に示された丸棒15に沿
って動くことができる。他の両隅に設けられた拡大部は
これに反して緩衝ばね41の収容のための円形の凹所4
5を備え、これらの緩衝ばねは第1B図から明らかなよ
うに孔開き板14に対する可動板40の緩衝のために用
いられる。更にこの拡大部の側面にピン46が取り付け
られ、このピンを介して孔開き板14に対する板40の
運動が案内棒15に沿ってもたらされる。各拡大部上に
は四つの案内ピン35の一つずつが固定され、その際各
二つの案内ピンが協働する。中央の四角形の板部分の中
には、第3図に示す孔開き板の孔と同心に並ぶ個々の接
触ピンのための及び固定ピン18の固定のための孔47
が存在する。
第4B図は、緩衝ばねのための収容凹所45と持ち上げ
機構に接続するためのピン46とを更に明らかにするた
めに、第4A図による切断線1−1に沿った補助的な断
面を示し、一方第4C図は第4A図の矢印Cの方向にお
ける側面図を示し、この図からは案内ピン35の円錐形
のとがり方が明らかに分かる。
機構に接続するためのピン46とを更に明らかにするた
めに、第4A図による切断線1−1に沿った補助的な断
面を示し、一方第4C図は第4A図の矢印Cの方向にお
ける側面図を示し、この図からは案内ピン35の円錐形
のとがり方が明らかに分かる。
この可動板40は、支持リング4と孔開き板14との間
に固定された案内棒15に沿って、軸10を介して駆動
される持ち上げ機構により垂直方向に昇降運動される。
に固定された案内棒15に沿って、軸10を介して駆動
される持ち上げ機構により垂直方向に昇降運動される。
第5A図ないし第5C図による三つの部分図の形で対応
する細部を示す。
する細部を示す。
第5A図は、支持リングに固定されたここでは図示され
ていない軸10のための二つの軸受部55と、両案内棒
15のための収容孔51と、ボルト5によるプラグ部分
1上への固定のための孔を備え縁に設けられたへこみ5
2とを有する支持リング4の平面図を示す、その際案内
棒15は第5B図から明らかなようにねじ孔53の中の
止めねじにより保持されている。更に小さい直径を有す
る付加部54の内部に設けられた軸10のための両袖受
部55は、それぞれ外側の軸受台56と上方から軸を挿
入するためのスリットを切られたアングル片57とから
成り、このアングル片はボルト58により支持リング4
上に固定されている。軸10上には両側にカム板59が
強固に取り付けられ、これらのカム板はそれぞれ両端を
可動に支持された案内棒60を介して可動板40に結合
されている。従って軸10の回転連動は案内棒15に沿
った可動板40の移動に置き換えられる。
ていない軸10のための二つの軸受部55と、両案内棒
15のための収容孔51と、ボルト5によるプラグ部分
1上への固定のための孔を備え縁に設けられたへこみ5
2とを有する支持リング4の平面図を示す、その際案内
棒15は第5B図から明らかなようにねじ孔53の中の
止めねじにより保持されている。更に小さい直径を有す
る付加部54の内部に設けられた軸10のための両袖受
部55は、それぞれ外側の軸受台56と上方から軸を挿
入するためのスリットを切られたアングル片57とから
成り、このアングル片はボルト58により支持リング4
上に固定されている。軸10上には両側にカム板59が
強固に取り付けられ、これらのカム板はそれぞれ両端を
可動に支持された案内棒60を介して可動板40に結合
されている。従って軸10の回転連動は案内棒15に沿
った可動板40の移動に置き換えられる。
カム板59によりもたらされる可動板40の移動に関す
る詳細は、二つの掛け止め位置に応じてそれぞれ二つの
部分図第6A図及び第6B図又は第7A図及び第7B図
により示されている。その際第6A図及び第6B図は切
断線Vl−Vlに沿った第5A図に示す右側の軸受部5
5の断面を示し、カム板の下縁上に二つの掛け止め用へ
こみ61が設けられ、ばね62の相応に成形された部分
がこのへこみに掛け止め係合する。一つの掛け止め位置
から他の掛け止め位置への移行の際に可動板40に対す
る行程Hが生じる。
る詳細は、二つの掛け止め位置に応じてそれぞれ二つの
部分図第6A図及び第6B図又は第7A図及び第7B図
により示されている。その際第6A図及び第6B図は切
断線Vl−Vlに沿った第5A図に示す右側の軸受部5
5の断面を示し、カム板の下縁上に二つの掛け止め用へ
こみ61が設けられ、ばね62の相応に成形された部分
がこのへこみに掛け止め係合する。一つの掛け止め位置
から他の掛け止め位置への移行の際に可動板40に対す
る行程Hが生じる。
第7A図及び第7B図は類似の方法で切断線■−■によ
る第5A図の左側の軸受55の断面を示す、この図から
明らかなように軸10の回転運動はカム板59の両側縁
に対する補助のストッパピンにより制限される。掛け止
め位置を形成するためのばね62と回転運動を制限する
ためのストッパピン63とは、図示の実施例と異なって
それぞれ両輪受部55に設けることもできる。
る第5A図の左側の軸受55の断面を示す、この図から
明らかなように軸10の回転運動はカム板59の両側縁
に対する補助のストッパピンにより制限される。掛け止
め位置を形成するためのばね62と回転運動を制限する
ためのストッパピン63とは、図示の実施例と異なって
それぞれ両輪受部55に設けることもできる。
第5C図は矢印Cの方向から見た第5A図に示す装置の
立面図を示し、しかしながらその際軸受部55は省かれ
ている。第1B図に示された接続導線3の取り付けを明
らかにするために、この矢視力向は第1B図に示された
孔開き板14の断面の整列方向に一致する。
立面図を示し、しかしながらその際軸受部55は省かれ
ている。第1B図に示された接続導線3の取り付けを明
らかにするために、この矢視力向は第1B図に示された
孔開き板14の断面の整列方向に一致する。
第5B図と第5C図とから明らかなように、可動板40
の下面にも上面にもそれぞれ一つのプリント配線板64
.65が設けられ、これらのプリント配線板は可動板4
0の中央の四角形の板部分42を覆い、この板部分の長
辺に沿って隅に隣接する拡大部の間で板部分42を越え
て突出する。
の下面にも上面にもそれぞれ一つのプリント配線板64
.65が設けられ、これらのプリント配線板は可動板4
0の中央の四角形の板部分42を覆い、この板部分の長
辺に沿って隅に隣接する拡大部の間で板部分42を越え
て突出する。
中央の四角形の板部分42の範囲ではこれらのプリント
配線板64と65は孔47に同心に並ぶ孔を有し、これ
らの孔の中に第9図に詳細に示すように接触ばねピンの
ためのスリーブ68が両側ではんだ付けされている。こ
れらのはんだ付は箇所Vは印刷された導体路を介して両
プリント配線板の張り出している縁範囲の中の接触孔に
結合され、これらの接触孔の中に接続導線3のための同
軸ケーブル移行部がはんだ付けされている。同様に可動
板40に固定された固定ピン1Bの範囲には、第10図
に示すようにプリント配線板64と65の中に比較的大
きいくりぬき孔が設けられているので、固定ピン18は
プリント配線板からは制約されずその付加部69を板4
0の相応の孔の中に挿入できる。その際付加部69は自
由端にねじを備えているので、固定ピン18は座金71
とナツト70とを用いて固定保持できる。
配線板64と65は孔47に同心に並ぶ孔を有し、これ
らの孔の中に第9図に詳細に示すように接触ばねピンの
ためのスリーブ68が両側ではんだ付けされている。こ
れらのはんだ付は箇所Vは印刷された導体路を介して両
プリント配線板の張り出している縁範囲の中の接触孔に
結合され、これらの接触孔の中に接続導線3のための同
軸ケーブル移行部がはんだ付けされている。同様に可動
板40に固定された固定ピン1Bの範囲には、第10図
に示すようにプリント配線板64と65の中に比較的大
きいくりぬき孔が設けられているので、固定ピン18は
プリント配線板からは制約されずその付加部69を板4
0の相応の孔の中に挿入できる。その際付加部69は自
由端にねじを備えているので、固定ピン18は座金71
とナツト70とを用いて固定保持できる。
第8図は、第6A、B図及び第7A、B図の部分図に示
した二つの昇降位置に相当する、固定ピン18とばね接
触ピン20と案内ピン35とを備えた可動板40の二分
割された描写を伴う、孔開き板に対する第3C図に示す
断面の整列方向に相当する、保持兼試験装置の上側部分
を通る断面を示す、その際左側の半図は最初の位置に関
連し、一方布側の半図は試験掛け止め位置に関連する。
した二つの昇降位置に相当する、固定ピン18とばね接
触ピン20と案内ピン35とを備えた可動板40の二分
割された描写を伴う、孔開き板に対する第3C図に示す
断面の整列方向に相当する、保持兼試験装置の上側部分
を通る断面を示す、その際左側の半図は最初の位置に関
連し、一方布側の半図は試験掛け止め位置に関連する。
最初の掛け止め位置においてはスライダ32は引張りば
ね37によりストッパまで外に向かって引張られている
ので、その舌部は試験品のための収容部として用いられ
る凹所16の中には突出していない、固定ピン18だけ
が孔開き板14の底を突き抜けて凹所16の中に突出し
ているので、試験品を固定ピンに揃えて挿入できる。案
内ピン35の先端はスライダ32の孔30の中に僅かだ
け突出し、しかも舌部に向かう側の孔の縁の範囲に突出
している。可動板40が図示の最初の掛け止め位置から
上に向かって動かされると、くさびのように働く円錐形
の先端は上昇運動が進むにつれてスライダを脇へ押す、
なぜならばカバー板7が上に逃げるのを防いでいるから
である。この横押し作用の結果としてスライダは収容凹
所16に向かう方向に動き、その際舌部は試験品の支持
体の背を越えて滑る。案内ピンに平行に固定ピン18も
上に向かって移動する。案内ピン35の円錐形先端がス
ライダ32の孔30の全域に導入されると、すぐスライ
ダはその終端位置に到達する。従って案内ピン35を備
えた可動板40を更に持ち上げても、スライダの横方向
移動はもはや生じない、試験掛け止め位置に到達するま
でのそれ以降に残っている行程は、スライダ32の舌部
と協働して固定ピン18により試験品を空間的に固定し
た後に、可動板40上に同様に固定された接触ピン20
を試験品の接続脚上に載せるのに役立つ。
ね37によりストッパまで外に向かって引張られている
ので、その舌部は試験品のための収容部として用いられ
る凹所16の中には突出していない、固定ピン18だけ
が孔開き板14の底を突き抜けて凹所16の中に突出し
ているので、試験品を固定ピンに揃えて挿入できる。案
内ピン35の先端はスライダ32の孔30の中に僅かだ
け突出し、しかも舌部に向かう側の孔の縁の範囲に突出
している。可動板40が図示の最初の掛け止め位置から
上に向かって動かされると、くさびのように働く円錐形
の先端は上昇運動が進むにつれてスライダを脇へ押す、
なぜならばカバー板7が上に逃げるのを防いでいるから
である。この横押し作用の結果としてスライダは収容凹
所16に向かう方向に動き、その際舌部は試験品の支持
体の背を越えて滑る。案内ピンに平行に固定ピン18も
上に向かって移動する。案内ピン35の円錐形先端がス
ライダ32の孔30の全域に導入されると、すぐスライ
ダはその終端位置に到達する。従って案内ピン35を備
えた可動板40を更に持ち上げても、スライダの横方向
移動はもはや生じない、試験掛け止め位置に到達するま
でのそれ以降に残っている行程は、スライダ32の舌部
と協働して固定ピン18により試験品を空間的に固定し
た後に、可動板40上に同様に固定された接触ピン20
を試験品の接続脚上に載せるのに役立つ。
従って全体として多種多様な形で使用できるとともに取
り扱いが非常に簡単なコンパクトな保持兼試験装置が得
られる。
り扱いが非常に簡単なコンパクトな保持兼試験装置が得
られる。
手により操作する独立の装置としての図示の実施例とは
異なって、同様の装置を試験台の中にはめ込み可能に構
成することもできる。その場合には支持リングは例えば
試験台板上に上又は下から固定される補助の保持つめ又
は保持フランジを備えている。この場合に孔開き板が試
験台板」二への固定のための補助の保持つめ又は保持フ
ランジを備えることにより、試験台板の中に沈めた取り
付けもまた容易に可能である。試験台の部分を孔開き板
のためのカバー板として構成することもできる。沈めた
取り付けの場合に操作軸の操作は空圧により作動する操
作装置によって行うのが合目的である。
異なって、同様の装置を試験台の中にはめ込み可能に構
成することもできる。その場合には支持リングは例えば
試験台板上に上又は下から固定される補助の保持つめ又
は保持フランジを備えている。この場合に孔開き板が試
験台板」二への固定のための補助の保持つめ又は保持フ
ランジを備えることにより、試験台板の中に沈めた取り
付けもまた容易に可能である。試験台の部分を孔開き板
のためのカバー板として構成することもできる。沈めた
取り付けの場合に操作軸の操作は空圧により作動する操
作装置によって行うのが合目的である。
保持兼試験装置の構造に関しても一連の変形が可圭であ
る。第1の変形は、スライダと一つ又は二つの案内ピン
によるその運動制御であり、第2の変形は、二つの運動
段階に分割しながら案内ピンの軸方向移動を案内ピンに
垂直なスライダの運動へ置き換えるための案内ピンとス
ライダとの間の作用係合であり、その際第1の運動段階
中だけにスライダの横方向移動が可能である。同様のこ
とが回転連動を可動板のための垂直な移動運動に置き換
えるための持ち上げ機構の様式に対しても適用される。
る。第1の変形は、スライダと一つ又は二つの案内ピン
によるその運動制御であり、第2の変形は、二つの運動
段階に分割しながら案内ピンの軸方向移動を案内ピンに
垂直なスライダの運動へ置き換えるための案内ピンとス
ライダとの間の作用係合であり、その際第1の運動段階
中だけにスライダの横方向移動が可能である。同様のこ
とが回転連動を可動板のための垂直な移動運動に置き換
えるための持ち上げ機構の様式に対しても適用される。
他方では固定ピンと接触ばねピンとの配設は試験品の種
類により決定される。これに対して重畳の可能性が存在
しない(なぜなら固定ピンは異なって配設すべきであり
、また接触ばね配設の基礎となっている配列格子が合同
に整列できないからである)ので、それに応じて変化し
た種々の保持兼試験装置を計画すべきであり、その際測
定装置に接続するための統一された多重同軸結合プラグ
部分を用いることにより交換が容易となる。
類により決定される。これに対して重畳の可能性が存在
しない(なぜなら固定ピンは異なって配設すべきであり
、また接触ばね配設の基礎となっている配列格子が合同
に整列できないからである)ので、それに応じて変化し
た種々の保持兼試験装置を計画すべきであり、その際測
定装置に接続するための統一された多重同軸結合プラグ
部分を用いることにより交換が容易となる。
第1A図はこの発明に基づく保持兼試験装置の一実施例
のカバー板を部分的に破断した平面図、第1B図は第1
A図に示す装置の矢印Bから見た側面図、第1C図は同
じく矢印Cから見た側面図、第2A図は第1A図に示す
装置により試験すべき電子モジュールの一例の平面図、
第2B図は第2A図に示すモジュールの側面図、第3A
図は第1A図に示す孔開き板の平面図、第3B図は第3
A図に示す孔開き板の切断線1−1による断面図、第3
C図は同じく切断線2−2による断面図、第4A図は第
1B図に示す可動板の平面図、第4B図は第4A図に示
す可動板の矢印Cから見た側面図、第4C図は同じく切
断線1−1による断面図、第5A図は第1B図に示す支
持リングの平面図、第5B図は第5A図に示す支持リン
グの正面図、第5C図は同じく矢印Cから見た側面図、
第6A図及び第6B図は第5A図に示す右側の軸受部の
二つの掛け止め位置における切断線■−■による断面図
、第7A図及び第7B図は第5A図に示す左側の軸受部
の二つの掛け止め位置における切断線■−■による断面
図、第8図は第1A図に示す装置の上部の二つの掛け止
め位置における第4A図に示す切断線■−■による各半
断面図、第9図は第4A図に示す可動板上のばね接触ピ
ンの側面図、第10図は第4A図に示す可動板上の固定
ピンの側面図である。 1・・・多重同軸結合プラグ部分、 4・・・支持リ
ング、 6・・・スリーブ状ケース、 7φ・・カ
バー板、 10−−−操作軸、 11゜・轡レバー
、 13/16・・・収容部、 14・・・孔開き
板、 15・・・案内棒、 17゜19.34・・
9貫通孔、 18−−・固定ピン、 20φ・−
ばね接触装置(ばね接点)、21・・−支持体、
22・拳・電子モジュール、 23−・・接続脚、
26・・・孔又はへこみ、 30・・・結合孔、
32・−・スライダ、 33拳−・舌部、 35
・・拳案内ピン、37・・・引張りばね、 40・・
・可動板、4z令番・四角形の板部分、 43.47・
・・孔、 44拳・争直動形玉軸受、 46.60
・・・結合要素(ピン、連接棒)、 55・・・軸受
部、 59・・・カム板、 61・・・へこみ、
62壷Φ・ばね、 63・番・ストッパピン、 6
4,65・・eプリント配線板、 67・・拳同軸ケ
ーブル移行部、 68命拳・スリーブ。 FIG 28 FIG 2A FIG 3C FIG 38 FIG 3AIG 48 FIG 4A FIo 8 FIG 9 FIo 10
のカバー板を部分的に破断した平面図、第1B図は第1
A図に示す装置の矢印Bから見た側面図、第1C図は同
じく矢印Cから見た側面図、第2A図は第1A図に示す
装置により試験すべき電子モジュールの一例の平面図、
第2B図は第2A図に示すモジュールの側面図、第3A
図は第1A図に示す孔開き板の平面図、第3B図は第3
A図に示す孔開き板の切断線1−1による断面図、第3
C図は同じく切断線2−2による断面図、第4A図は第
1B図に示す可動板の平面図、第4B図は第4A図に示
す可動板の矢印Cから見た側面図、第4C図は同じく切
断線1−1による断面図、第5A図は第1B図に示す支
持リングの平面図、第5B図は第5A図に示す支持リン
グの正面図、第5C図は同じく矢印Cから見た側面図、
第6A図及び第6B図は第5A図に示す右側の軸受部の
二つの掛け止め位置における切断線■−■による断面図
、第7A図及び第7B図は第5A図に示す左側の軸受部
の二つの掛け止め位置における切断線■−■による断面
図、第8図は第1A図に示す装置の上部の二つの掛け止
め位置における第4A図に示す切断線■−■による各半
断面図、第9図は第4A図に示す可動板上のばね接触ピ
ンの側面図、第10図は第4A図に示す可動板上の固定
ピンの側面図である。 1・・・多重同軸結合プラグ部分、 4・・・支持リ
ング、 6・・・スリーブ状ケース、 7φ・・カ
バー板、 10−−−操作軸、 11゜・轡レバー
、 13/16・・・収容部、 14・・・孔開き
板、 15・・・案内棒、 17゜19.34・・
9貫通孔、 18−−・固定ピン、 20φ・−
ばね接触装置(ばね接点)、21・・−支持体、
22・拳・電子モジュール、 23−・・接続脚、
26・・・孔又はへこみ、 30・・・結合孔、
32・−・スライダ、 33拳−・舌部、 35
・・拳案内ピン、37・・・引張りばね、 40・・
・可動板、4z令番・四角形の板部分、 43.47・
・・孔、 44拳・争直動形玉軸受、 46.60
・・・結合要素(ピン、連接棒)、 55・・・軸受
部、 59・・・カム板、 61・・・へこみ、
62壷Φ・ばね、 63・番・ストッパピン、 6
4,65・・eプリント配線板、 67・・拳同軸ケ
ーブル移行部、 68命拳・スリーブ。 FIG 28 FIG 2A FIG 3C FIG 38 FIG 3AIG 48 FIG 4A FIo 8 FIG 9 FIo 10
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)一平面上に並んだ接続脚(23)を備え平らな支持
体(21)上に取り付けられた電子モジュール(22)
のための保持兼試験装置であって、支持体が収容部(1
3/16)の固定ピン(18)による位置固定のための
少なくとも二つの孔又はへこみ(26)を縁 に備え、収容部に対して移動可能で可動板 (40)上に取り付けられたばね接触装 置(20)が、試験すべき各モジュール (22)の個々の接続脚(23)と測定装置との間の導
電結合を形成するものにおい て、ばね接触装置(20)のための可動板 (40)が同時に固定ピン(18)と斜め に切られた端部を有する補助の案内ピン (35)とのための支持台として構成され、これらのピ
ンがすべてばね接点(20)に対し軸平行に配設されて
可動板(40)から同一の方向に延び、可動板(40)
の上方に設けられた試験すべきモジュールのための収容
部(13/16)が孔開き板(14)の中のくぼみとし
て構成され、この孔開き板が接触装置の個々のばね接点
(20)と固定ピン (18)と案内ピン(35)とに対応する貫通孔(19
又は17又は34)を有し、最初の掛け止め位置におい
て固定ピン(18)の端部が孔開き板(14)の対応す
る貫通口を通って突出して、くぼみの中に挿入された支
持体(21)の孔又はへこみ(26)に係合し、水平に
移動可能で案内ピン(35)の ための少なくとも一つの係合孔(例えば孔 30)を備えた二つのスライダ(32)が孔開き板(1
4)の中にはめ込まれ、これらの案内ピンの先端が最初
の掛け止め位置においてそれぞれ従属する係合孔(30
)の縁に接触し、それにより案内ピン(35)の垂直移
動の際にこれらのスライダ(32)が水平に相互に近寄
るように移動可能であり、スライダ(32)上に側面の
舌部(33)が設けられ、この舌部がスライダ(32)
の移動の際に試験すべきモジュール(22)の支持体 (21)を越えて滑り、固定ピン(18)と協働してこ
のモジュールを正しい位置に固定し、その後可動板(4
0)を試験のための掛け止め位置へ更に動かすことによ
り、試験 すべきモジュール(22)の個々の接続脚 (23)との電気的結合がばね接触装置のばね接点(2
0)により形成されることを特徴とする電子モジュール
のための保持兼試験装置。 2)可動板(40)が、四隅のそばのそれぞれ水平に延
びる拡大部を備えた中央の四角形の板部分(42)から
成り、これらの拡大部の内の相互に対角線上で向かい合
う二つの拡大部が孔(43)の中に挿入された直動形玉
軸受(44)を備え、この玉軸受を介して可動板(40
)が案内棒(15)に沿って垂直方向に移動可能であり
、一方同様に相互に対角線上に向かい合った他の二つの
拡大部が駆動装置(例えば軸10)の結合要素(46、 60)と結合されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の装置。 3)駆動装置が水平に支持された軸(10)から成り、
この軸上に可動板(40)の両拡大部に対応して位置調
節のために二つのカム 板(59)が固定され、これらのカム板 (59)がそれぞれ両端を回転可能に固定された連接棒
(60)により可動板(40)に結合され、その結果軸
(10)の回転により可動板(40)が垂直に案内棒(
15)に 沿って移動可能であることを特徴とする特許請求の範囲
第2項記載の装置。 4)軸(10)のための両軸受部(55)の内の少なく
とも一つが、回転運動従って可動板(40)の昇降運動
を制限するように、従属するカム板(59)のための二
つのストッパピン(63)を備えることを特徴とする特
許請求の範囲第3項記載の装置。 5)両カム板(59)の内の少なくとも一つが縁に二つ
のへこみ(61)を有し、最初の掛け止め位置と試験掛
け止め位置を規定する ための軸回転運動の制限に同調して、ばね (62)の対応して湾曲された部分がこのへこみに掛け
止め係合することを特徴とする特許請求の範囲第4項記
載の装置。 6)可動板(40)のための案内棒(15)がそれぞれ
一端を孔開き板(14)に強固に結合され、案内棒(1
5)の他端は軸(10)のための軸受部(55)と一緒
に共通の支持要素(4)上に固定され、そのように相互
に結合されたすべての装置要素が一体の構成部分を形成
することを特徴とする特許請求の範囲第3項ないし第5
項のいずれか1項に記載の装置。 7)共通の支持要素が多重同軸結合プラグ部分(1)に
固定するためのアダプタリング (4)として構成され、このプラグ部分を介して測定装
置との結合が形成されることを特徴とする特許請求の範
囲第6項記載の装置。 8)孔開き板(14)が試験台の組み込み部分として構
成されていることを特徴とする特許請求の範囲第6項又
は第7項記載の装置。 9)孔開き板(14)が試験台のカバー板として用いら
れる部分上に固定されていることを特徴とする特許請求
の範囲第6項又は第7項記載の装置。 10)アダプタリング(4)が試験台上の固定部分とし
て構成され、アダプタリングにより支持された一体の構
成部分が試験台面を越えて隆起することを特徴とする特
許請求の範囲第7項記載の装置。 11)軸(10)上に手で操作するためのレバー(11
)が取り付けられていることを特徴とする特許請求の範
囲第6項ないし第10項のいずれか1項に記載の装置。 12)一体の構成部分がスリーブ状ケース (6)の中に格納され、このケースが同様に円形に形成
された孔開き板(14)の側面から延びて、アダプタリ
ング(4)及びスリーブ状ケース(6)を覆うカバー板
(7)により保持されていることを特徴とする特許請求
の範囲第7項ないし第10項のいずれか1項に記載の装
置。 13)軸(10)が空圧により作動する操作装置にレバ
ーを介して結合されていることを特徴とする特許請求の
範囲第8項ないし第10項のいずれか1項に記載の装置
。 14)可動板(40)の上下に各1枚のプリント配線板
(65、64)が固定され、これらのプリント配線板が
ばね接触ピン(20)のための孔(47)とそれぞれ同
心に並ぶ孔を有し、孔を貫通する接触ピン(20)用の
スリーブ(68)がこれらの孔の中にそれぞれ強固には
んだ付けされていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項ないし第13項のいずれか1項に記載の装置。 15)両プリント配線板(64、65)が隅の拡大部の
間の範囲において四角形の中央の板部分(42)を越え
、プリント配線板の重 なっていないこの範囲において同軸ケーブル移行部(6
7)が、導体路により接触ピン (20)と結合された孔の中にはんだ付けされているこ
とを特徴とする特許請求の範囲 第14項記載の装置。 16)スライダ(32)がその舌部(33)と共に統一
された幅を有し、スライダ(32)がそれぞれ一つの案
内ピン(35)と作用係合していることを特徴とする特
許請求の範囲第1項ないし第15項のいずれか1項に記
載の装置。 17)スライダ(32)が舌部(33)に比べて非常に
大きい幅を有し、スライダ(32)がそれぞれ二つの案
内ピン(35)と作用係合していることを特徴とする特
許請求の範囲第1項ないし第15項のいずれか1項に記
載の装置。 18)スライダ(32)の係合孔(30)と案内ピン(
35)の斜めに切られた端部とが 構造的に相互に同調し、それにより可動板 (40)の第1の運動段階中に案内ピン (35)によりスライダ(32)へそれぞれ水平移動を
もたらす力が加えられ、一方それに続く第2の運動段階
中に案内ピン(35)の次の垂直な運動が何も影響を与
えないようになっており、またスライダ(32)がそれ
ぞれスライダを最初の位置へ引き戻すための引張りばね
(37)に結合されていること を特徴とする特許請求の範囲第16項又は 第17項記載の装置。 19)スライダ(32)の係合孔(30)が円形の断面
を有するくりぬき孔として構成さ れ、案内ピン(35)が同様にくりぬき孔 (30)の断面に適合する断面を有し、この案内ピンの
断面が端に向かって円錐形に細くなることを特徴とする
特許請求の範囲第18項記載の装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009264587A (ja) * | 2008-04-03 | 2009-11-12 | Ckd Corp | 流体機器取付構造 |
CN113866460A (zh) * | 2021-09-15 | 2021-12-31 | 山东众联能创动力科技有限公司 | 一种新能源电机控制器自动安规测试设备 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5081415A (en) * | 1990-08-07 | 1992-01-14 | United Microelectronics Corporation | Load board insertion system |
US5087878A (en) * | 1990-11-30 | 1992-02-11 | Compaq Computer Corporation | Top-accessible system, and related methods, for simultaneously testing the opposite sides of printed circuit board |
US5170117A (en) * | 1992-03-26 | 1992-12-08 | Chio Chuy Nan | Socket for testing a plug-in type semiconductor |
US5610081A (en) * | 1996-06-03 | 1997-03-11 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd | Integrated circuit module fixing method for temperature cycling test |
US5748007A (en) * | 1996-06-12 | 1998-05-05 | International Business Machines Corporation | Universal test and burn-in socket adaptable to varying IC module thickness |
US6333637B1 (en) * | 1998-10-09 | 2001-12-25 | International Business Machines Corporation | Electronic card assembly fixture |
US6407541B1 (en) * | 1999-07-30 | 2002-06-18 | Credence Systems Corporation | Docking mechanism for semiconductor tester |
US20070042306A1 (en) * | 2003-10-10 | 2007-02-22 | Bacon David W | Apparatus for igniting combustible mediums |
TW201219807A (en) * | 2010-11-15 | 2012-05-16 | Askey Computer Corp | Testing auxiliary apparatus |
TW201224480A (en) * | 2010-12-14 | 2012-06-16 | Askey Computer Corp | Test device |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3412333A (en) * | 1965-11-15 | 1968-11-19 | Philco Ford Corp | Apparatus for sequentially testing electrical components under controlled environment conditions |
US3560849A (en) * | 1967-08-15 | 1971-02-02 | Aai Corp | Liquid temperature controlled test chamber and transport apparatus for electrical circuit assemblies |
US3678385A (en) * | 1969-09-26 | 1972-07-18 | Amp Inc | Assembly and test device for microelectronic circuit members |
US3761808A (en) * | 1970-07-08 | 1973-09-25 | Aai Corp | Testing arrangement |
US3715662A (en) * | 1970-11-19 | 1973-02-06 | Republic Corp | Test contactor head for circuit modules |
SU515419A1 (ru) * | 1974-06-24 | 1976-11-25 | Предприятие П/Я Р-6495 | Устройство дл отделени модулей интегральных схем с консольными выводами от пленочного носител |
US3968433A (en) * | 1974-08-22 | 1976-07-06 | Lawrence Peska Associates, Inc. | Fixture for testing flatpack modules |
US4112363A (en) * | 1976-12-27 | 1978-09-05 | Lockheed Aircraft Corporation | Multicontact test probe apparatus |
US4329642A (en) * | 1979-03-09 | 1982-05-11 | Siliconix, Incorporated | Carrier and test socket for leadless integrated circuit |
US4410227A (en) * | 1981-05-08 | 1983-10-18 | Trigon Industries, Inc. | Tri-state contactor assembly for electronic device package test handler |
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1986
- 1986-09-11 DE DE8686112572T patent/DE3676919D1/de not_active Expired - Fee Related
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- 1986-09-17 US US06/908,238 patent/US4714879A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009264587A (ja) * | 2008-04-03 | 2009-11-12 | Ckd Corp | 流体機器取付構造 |
CN113866460A (zh) * | 2021-09-15 | 2021-12-31 | 山东众联能创动力科技有限公司 | 一种新能源电机控制器自动安规测试设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4714879A (en) | 1987-12-22 |
EP0217193A1 (de) | 1987-04-08 |
ATE60140T1 (de) | 1991-02-15 |
EP0217193B1 (de) | 1991-01-16 |
DE3676919D1 (de) | 1991-02-21 |
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