JPH0422309Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本考案は、インサーキツトテスタでチツプ部品
を実装した被試験プリント回路基板を検査する際
に使用するインサーキツトテスタ用治具に関す
る。

(ロ) 従来の技術 従来、プリント回路基板にチツプ部品を実装し
た後に、部品の逆取付、取付ミス、取付忘れ等の
組立不良あるいは実装済部品の不良等の不良を自
動的にチエツクする目的でインサーキツトテスタ
が用いられる。

このインサーキツトテスタは、部品が既に搭載
され半田付けを終了したプリント回路基板をテス
タの治具に装着すると、自動的に実装部品のチエ
ツクを行い、組立不良及び部品不良等があれば、
それを作業者に報告するものである。すなわち、
インサーキツトテスタでは、被試験プリント回路
基板の被試験点である全ノード（部品相互間の電
気的な接続点）を同時に、治具のテストヘツドに
設けられる多数のコンタクトプローブに押し付
け、各コンタクトプローブはコネクタを介してテ
スタに接続し、テスタの測定回路を動作させて上
記のようなチエツクを行うものである。

ところで、従来、治具において、被試験プリン
ト回路基板の被試験点をコンタクトプローブに押
し付けるには、テストヘツドと被試験プリント回
路基板の間の隙間を減圧して基板をテストヘツド
側に引き付けるバキユーム方式と、基板を加圧し
てテストヘツド側に押し付けるプレス方式とが存
在し、また、バキユーム方式の治具には、単一基
板にのみ対応する形式と、多種類の基板に対応で
きるユニバーサル形式のものとが存在した。

そして、いわゆる単一基板用検査治具は、装置
本体内の基板装着開口部の下部に、検査すべき或
る特定のプリント回路基板の被試験点に対応して
多数のスプリング式のコンタクトプローブが設け
られたテストヘツドが固定して配設され、またこ
のテストヘツドのコンタクトプローブと配線で接
続するとともにテスタに接続可能にしたコネクタ
を具備するものである。

なお、スプリング式のコンタクトプローブは、
上方へ突出する接触子がスプリングにより常に上
方へ付勢されるような構造をもつものである。

また、いわゆるユニバーサル形式の検査治具
は、装置本体の基板装着用開口部の下部に、プリ
ント回路基板の搭載部品の取付孔に対応して格子
交点状（オングリツド）に配置される多数のスラ
イド式のコンタクトプローブが設けられるテスト
ヘツドが固定して配設され、このテストヘツドの
下部には、下記の交換ボードを着脱可能に装着し
て装置本体内を平行に上下動可能な枠体が配設さ
れ、この枠体には検査すべき或る特定のプリント
回路基板の被試験的に対応してコンタクトプロー
ブの押上げ用ピンが設けられ、かつ、この押上げ
用ピンと配線接続されるコネクタ部を構成する接
続ピンが設けられる交換ボードが装着され、さら
に装置本体には交換ボードのコネクタ部が接続さ
れるとともにテスタに接続可能にしたコネクタが
具備されるものである。

なお、テストヘツドに設けられるスライド式の
コンタクトプローブは、被試験的に接触する上方
接触子と交換ボードの押上げ用ピンと接触する下
方接触子とはスプリングを介して連動するように
されており、常時は自重により上方・下方接触子
が垂下しているが、押上げ用ピンで下方接触子が
押し上げられるとそれに連動して上方接触子も突
き上げられるような構造を有するものである。

そして、上記従来の治具では、単一基板用のも
のにあつては被試験プリント回路基板が異なる毎
にそれ専用のものを準備することになり、他方、
ユニバーサル形式のものにあつては、異なる基板
を検査するときには交換ボードのみ対応するもの
を製作し、他の装置本体はそのまま使用するもの
であつた。

(ハ) 考案が解決しようとする問題点 しかし上記の従来の治具では、単一基板用のも
のにあつては、構造が簡単なため比較的に安価に
製作でき、接触箇所が少ないため信頼性が高く、
また被試験点位置がオリグリツドにとらわれない
等の利点があるものの、プリント回路基板毎に治
具全体を交換するため、基板の種類が増加すると
それに合わせて治具台数が増え、治具の交換作業
が繁雑になる欠点がある。

また他方、ユニバーサル形式のものにあつて
は、交換ボードを取り替えるだけで被試験点がオ
ングリツド上にあるものならどのようなプリント
回路基板にも対応できる利点がある反面、構造が
複雑なため、高価なものとなり、接触箇所も多く
なつて接触の信頼度が低くなり、また被試験点が
オフグリツドにある場合には対応できない欠点が
存在する。

本考案は、従来のこれら問題点を解決するもの
であり、比較的簡単な構造にするとともにオング
リツド及びオフグリツドにかかわらず種々の被試
験用プリント回路基板に対応できるようにし、比
較的低価格にて製作でき、接触の信頼性を向上せ
しめることができるインサーキツトテスタ用治具
を提供することを目的とする。

(ニ) 問題点を解決するための手段 (イ) 上方に被試験プリント回路基板を装着する開
口部と、前部にテストヘツドを水平に位置して
挿入する挿入口がそれぞれ設けられ下方にベー
スプレートが配設されたケースと、 (ロ) 前部が開口し、平面から見てコ字形に形成さ
れ両側辺にベースプレートに突設した支柱がそ
れぞれ挿入される貫通孔があけられ、両側辺の
内側にテストヘツドの両側縁に設けた突条を脱
却可能に嵌着する凹溝を設けた固定フレーム
と、 (ハ) ケースの前部の挿入口より挿入され、固定フ
レームの凹溝に嵌脱自在に係合する突条が設け
られ、被試験用プリント回路基板の被試験点と
接触するコンタクトプローブと、コネクタ部の
可動プレートの接触ピンに対応するピンとが配
設されたテストヘツドと、 (ニ) テストヘツドのピンと対応する接触ピンが設
けられ、固定プレートにネジにて上下調節可能
に配設され、支柱に貫通孔が挿通され、テスト
ヘツドのピンと対応するように配設された本体
装置側のコネクタ部の接触ピンを設けた可動プ
レートと、 (ホ) 固定フレームの両側中央部に配設されたロー
ラーが載置されると共に、ベースプレートに載
置されていて上面に低部と傾斜部と高部とが連
続して形成されていて、前部にシヤフトにより
軸止されたギヤと噛み合うラツクを配設した押
し上げ用レールと、 よりなることを特徴とするインサーキツトテスタ
用治具である。

(ホ) 作用 上記の手段を有する本考案のインサーキツトテ
スタ用治具は、テストヘツドを装置本体の固定フ
レームに装着し、固定フレームとともにテストヘ
ツドを上方へ移動させてテストヘツド部を装置本
体のプリント回路基板装置用開口部の下部に密着
せしめ、かつコネクタ部を装置本体側のコネクタ
部に接続することによりセツトし、開口部にプリ
ント回路基板を装着しこれをテストヘツド側に吸
着することによつてテストヘツド部のコンタクト
プローブをプリント回路基板の被試験点に接続さ
れることにより検査を行うものである。そして、
次に異なるプリント回路基板を検査する場合には
テストヘツドだけ他の対応するものに取り替え装
置本体はそのまま使用するものである。

(ヘ) 実施例 以下、本考案の実施例を図面について説明す
る。まず最初に装置本体の構成について説明する
と、図において、１はケースであり、上方が開口
されて被試験プリント回路基板６０が装着される
方形の開口部２が設けられ、前部１ａにテストヘ
ツド３８を挿入する挿入口３が設けられている。
４はケース１の開口部２の上部縁部に配設され内
側に傾斜面を有する方形の枠体、５はケース１の
開口部２の下部縁部に配設されるエアシール用の
パツキン、６はケース１を貫通して開口部２の下
部に臨ましめたエア吸入口である。また７はケー
ス１の底部に配設されるベースプレート、８，
９，１０はベースプレートの両側において垂直に
立設した支柱、１１は前部が開口した平面から見
てコ字形の固定フレームであり、両側部に設けら
れる貫通孔１２，１３，１４に挿通される支柱
８，９，１０に案内されて固定フレーム１１は平
行に上下動のみ可能に配設されている。１５，１
６，１７はベアリングであり、固定フレーム１１
が支柱８，９，１０に沿つて摺動する際に動きを
軽く滑らかにするものである。押し上げ用レール
１８、ギヤ１９、レバー２０及びローラー２１等
は検査時にテストヘツド３８を上方へ押し上げて
セツトする押し上げ機構を構成するものである。
押し上げ用レール１８は、前後方向に摺動可能に
してベースプレート７上の両側に夫々配設され、
前部にはシヤフト２６により軸支されたギヤ１９
と噛み合うラツク２２が形成され、後部には固定
フレーム１１の両側中央下部に配設されたローラ
ー２１がその上面を転動する低部２３、傾斜部２
４及び高部２５が連続して形成されており、ギヤ
１９にはレバー２０が固設されている。２７はケ
ース１の後部に配設される本体装置側のコネクタ
部である。すなわち、支柱９，１０の上部に上部
固定プレート２８が配設され、この固定プレート
２８の下部に、両側隅部の貫通孔２９，３０が支
柱９，１０に挿通され各種のテストヘツド３８の
コネクタ部４３と対応するよう多数の接触ピン３
２が設けられた可動プレート３１が平行に上下動
のみ可能に配置され、この可動プレート３１は、
その下端が可動プレート３１に固定されたネジ３
３とこのネジ３３に螺着されて上部固定プレート
２８上に回動可能に配置したナツト３４とによつ
て高さを調整できるようにされている。この可動
プレート３１はフレームに取付してもよい。３
５，３６はベアリングである。

次に、３８は固定フレーム１１の内側に装着さ
れるテストヘツドであり、例えばその両側面に前
後方向に突条を形成し、これを固定フレーム１１
の側部の内側に前後方向に形成した凹溝に係合し
脱着可能に嵌着するようになる。このテストヘツ
ド３８は、例えば、ガラスエポキシ材よりなる方
形の絶縁ボード３９に被試験プリント回路基板の
被試験点の位置に対応させてコンタクトプローブ
４０を配設したテストヘツド部４１が中央部より
前部にかけて設けられ、後部にコンタクトプロー
ブ４０の数に対応した多数のピン４２を配設した
コネクタ部４３が設けられる。コンタクトプロー
ブ４０は、例えば、第３図のような接触子がスプ
リングによつて常に上方へ付勢されるような構造
を有するものを使用する。すなわち、第３図にお
いて、コンタクトプローブ４０は、上端に被試験
点との接触部４４を有し下部にスプリング係止部
を兼ねたストツパ４５を有する接触子４６が筒体
４７内のスプリング４８によつて常に上方へ付勢
されて筒体４７の上部から上下動可能に突出され
るものであり、このコンタクトプローブ４０は下
端に配線の接続部５０を備え絶縁ボード３９の所
定の位置にあけられた穴に配設されたソケツト４
９に圧入固定されるものである。またコネクタ部
４３のピン４２は単に棒状のもので接触子がスプ
リング作用を有しないものである。これらコンタ
クトプローブ４０の接続部５０とピン４２の接続
部５１は対応して配線接続される。

なお、本体装置側の可動プレート３１に配設し
てピン４２と接触する接触ピン３２はコンタクト
プローブ４０と同様に接触子５２がスプリング式
のものを使用する。５４は接触ピン３２の接続部
５３に接続されテスタに導かれる配線である。

また５５はガラスエポキシ材からなる薄板５６
とゴム材の薄板５７を貼着し被試験点に相当する
位置に穴をあけ、ゴム材の薄板５７の上面にプリ
ント回路基板の外縁を嵌め込むためのゴム材から
なる枠部５８を設けた基板支持板であり、６０は
そこに装着した部品６１を実装済の被試験用プリ
ント回路基板を示す。

しかして、本考案装置を使用するには、まず、
レバー２０を第１図の矢印で示す左側に揺動させ
てローラー２１を押上レール１８の低部２３上に
位置させ固定フレーム１１を下方へ位置させてお
く。なお、固定フレーム１１は第１図の状態より
押上レール１８が右側へ移動すれば、その自重で
降下するようにされている。そして、その状態で
前部の挿入口３からテストヘツド３８を内部に挿
入し固定フレーム１１に嵌着する。他方、本体装
置側のコネクタ部２７ではナツト３４を廻して可
動プレート３１を適当な高さに調整しておく。こ
のようにした後、レバー２０を右側に揺動すれば
押上げ機構の作用でテストヘツド３８は各支柱
８，９，１０に案内されて平行状態で上昇し開口
部２の下部のエアシール用パツキン５に密着して
テストヘツド部４１が配置され、またコネクタ部
４３の各ピン４２が本体装置側のコネクタ部２７
の接触ピン３２と対応して接触することになつて
セツトが完了する。

さらにテストヘツド３８を交換して異なるプリ
ント回路基板の検査を行う場合には、逆の手順で
操作し交換作業を行うことになる。

(ト) 考案の効果 以上述べたように本考案のインサーキツトテス
タ用治具は、従来のユニバーサル形式のものに存
在した複雑なテストヘツドをなくしたため、低価
格で製作ができ、同じくユニバーサル形式のもの
に比べて接触箇所が減少するので接触の信頼性を
向上させることができ、被試験点の位置がオング
リツドに制限されることがない。また従来の単一
基板専用形式のものと比べて被試験用プリント回
路基板を交換しても治具全体をそつくり交換する
必要がなく、テストヘツドだけを交換するだけで
あるため、設備費は安価であり、交換作業も容易
である。特に、単一基板専用形式のものではコネ
クタ部を治具ごとに製作することになるが、本考
案のものでは本体装置側のコネクタ部は治具製作
時に１度だけ製作すればよく、この製作には費用
がかかることから経済性にすぐれたものであり、
またこのようにコネクタ部を共通に使用できるこ
とはテスタにこだわらずにテスタ側に合わせて製
作できるため、各種テスタに対応できるという利
点がある。又本考案は、ケースの前部にテストヘ
ツドを水平に位置して挿入する挿入口を設けたこ
とによりテストヘツドのケースへの出し入れ作業
が簡単迅速にでき、固定フレームをコ字形に形成
して、その両側辺の内側に凹溝を設け、該凹溝に
テストヘツドの両側の突条を嵌着するためにテス
トヘツドをブレることなく容易に固定フレームに
組み付けることができる。又、本体装置とコネク
タ部とを１個のケースに並べて収納し、かつテス
トヘツドを本体装置とコネクタ部に共通にコンパ
クトに配設することができ、設置場所は狭くてよ
い。又固定フレームのローラーを、ベースプレー
トに載置された低所、傾斜面及び高所を設けた押
し上げレールにて押し上げるように配設し、該押
し上げレールのラツク作動用ギヤを噛み合わせた
ことによりテストヘツドの上げ下げを滑らかに行
うことができる等の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の実施例に係る側面断面図、第
２図は同じく部分拡大断面図、第３図はコンタク
トプローブの拡大断面図、第４図は分解して示す
固定フレームとテストヘツドの一部の拡大斜視図
である。 ２……開口部、１１……固定フレーム、２７…
…コネクタ部、３８……テストヘツド、３９……
絶縁ボード、４０……コンタクトプローブ、４１
……テストヘツド部、４２……ピン、４３……コ
ネクタ部。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (イ) 上方に被試験プリント回路基板６０を装着す
   る開口部２と、前部１ａにテストヘツド３８を
   水平に位置して挿入する挿入口３がそれぞれ設
   けられ下方にベースプレート７が配設されたケ
   ース１と、 (ロ) 前部が開口し、平面から見てコ字形に形成さ
   れ両側辺にベースプレート７に突設した支柱
   ８，９，１０がそれぞれ挿入される貫通孔１
   ２，１３，１４があけられ、両側辺の内側にテ
   ストヘツド３８の両側縁に設けた突条６２を脱
   却可能に嵌着する凹溝６０を設けた固定フレー
   ム１１と、 (ハ) ケース１の前部の挿入口３より挿入され、固
   定フレーム１１の凹溝６０に嵌脱自在に係合す
   る突条６２が設けられ、被試験用プリント回路
   基板６０の被試験点と接触するコンタクトプロ
   ーブ４０と、コネクタ部２７の可動プレート３
   １の接触ピン３２に対応するピン４２とが配設
   されたテストヘツド３８と、 (ニ) テストヘツド３８のピン４２と対応する接触
   ピン３２が設けられ、固定プレート２８にネジ
   ３０にて上下調節可能に配設され、支柱９，１
   ０に貫通孔２９，３０が挿通され、テストヘツ
   ド３８のピン４２と対応するように配設された
   本体装置側のコネクタ部２７の接触ピン３２を
   設けた可動プレート３１と、 (ホ) 固定フレーム１１の両側中央部に配設された
   ローラー２１が載置されると共に、ベースプレ
   ート７に載置されていて上面に低部２３と傾斜
   部２４と高部２５とが連続して形成されてい
   て、前部にシヤフト２６により軸止されたギヤ
   １９と噛み合うラツク２２を配設した押し上げ
   用レール１８と、 よりなることを特徴とするインサーキツトテスタ
   用治具。