JPS63302377A - 回路基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、プリント基板に各種の電子部品を装着して
成る回路′基板を導通及び機能試験するための回路基板
検査装置に関する。

［従来の技術及び発明が解決しようとする問題点コ従来
のこの種の回路基板検査装置としては第３図に示すよう
にピン保持板１にスプリング等によって弾発力を付与さ
れた測定ピン２が配設されたものがある。測定ピン２は
被試験基板３に装着されたＩＣ等の電子部品４の接点に
対応した位置に配設されている。このようなピン保持板
１に例えば上方から被試験基板３を圧接させることによ
り基板３の接点と測定ピン２との電気的接続をはかり導
通試験を行う。

しかし、この場合、被試験基板３は圧接時の抑圧力によ
ってわずかに歪むと共に測定ピン２も曲がるため測定ピ
ン２と接点との接触精度が保てなかった。殊に両面に電
子部品を装置した被試験基板３では被試験基板３の両側
から測定ピンを圧接するため、更に接触精度を保つこと
が困難であった。このような圧接時の基板３の歪みを改
善したものとして第４図に示す回路基板検査装置がある
。

この検査装置はピン保持板１と被試験基板３との間に貫
通孔６を有する板部材５を設け、板部材５とプローブ保
持板１と側板７とで形成される空間を低圧にすることに
より被試験基板３を板部材５に密着させて、貫通孔６よ
り突出する測定ピン２と被試験基板３の接点との接触を
図る。

ここで、ゴムシート８は被試験基板３の縁部に沿って被
試験基板３と板部材５との間に介装され、被試験基板３
の密着性を良好にする。

ところで、このようなバキューム方式の検査装置では被
試験基板３にかかる押圧力（吸引力）は均一になるもの
の、被試験基板３には電子部品４が装置されていて板部
材５との接触面は平面ではないため、やはり圧接時に被
試験基板３がわずかに歪み又、測定ピン２と貫通孔６と
の間のアソビが大きいため測定ピン２もぶれるため、接
点と測定ピン２との高精度の接触は得られず、しかもバ
キューム方式であるため装置が複雑化するという難点が
あった。

この発明はこのような従来の問題点を解決するためにな
されたもので１両面実装の回路基板であっても簡単な構
成で高精度に被試験回路基板と測定ピンどの接触を図る
ことができ、もって高精度測定が可能である回路基板検
査装置を提供することを目的とする。

［問題点を解決するための手段］ この目的を達成するため本発明による回路基板検査装置
は、ピン保持板に配列された測定ピンと被試験基板との
電気的接続を行なう回路基板検査装置において、前記ピ
ン保持板と前記被試験基板との間に前記被試験基板と相
接する板部材を介装し且つ該板部材は前記測定ピンが前
記被試験基板に圧接する時に生ずる変形を防止するため
のガイド孔を有すると共に前記被試験基板に相接する面
に前記被試験基板上に実装された電子部品に対応する凹
部を有して前記被試験基板が前記測定ピンにより圧接さ
れた場合に変形するのを防止することを特徴とする。

［実施例］ 以下、本発明装置をプリント基板の両面に実装された回
路基板を検査する装置に適用した実施例を図面を参照し
て説明する。基台ｌＯに固定された基板１１には複数の
案内支柱１２が植設され。

案内支柱１２の上方には可動基板１３が案内支柱１２に
沿って摺動可能に装着され、案内支柱１２の基板１１と
可動基板１３との間にはスプリング１４が嵌装されてい
る。可動基板１３は駆動装置３０によって上下に移動す
る。

基板１１の上面及び可動基板１３の下面にはそれぞれピ
ン保持板である下部ピンボード１５及び上部ピンボード
１６（第２図）が装着される。下部ピンボード１５及び
上部ピンボード１６はそれぞれ被試験体である回路基板
２０の下面及び上面の各接点に対応して複数の測定ピン
１７　（第１図では省略しである）が植設されている。

各測定ピン１７は第２図に示すようにスプリング２２を
有する弾性ピンになっている。

更に下部ピンボード１５及び上部ピンボード１６にはそ
れぞれ支持ピンによって弾発的に板部材１８が支承され
ている。各板部材１８は下部ピンボード１５又は上部ピ
ンボード１６の各測定ピン１７に対応するガイド孔１９
を有し、板部材１８を支持ピンの弾発力に抗してピンボ
ード側に押圧した時に、ガイド孔１９より測定ピン１７
の先端が突出する。測定ピン１７は通常直径０．８ｍｍ
程度であるが例えばこのような測定ビン１７に対しガイ
ド孔１９は口径０．９ｍｍ程度とし、測定ピン１７のア
ソビを少なくしている。このため測定ピン１７はふれる
ことなくガイド孔１９にガイドされ、精度良く被試験基
板２０の接点に接触することが可能となる。

また、各版部材１８は被試験基板２０に装着された電子
部品２１に対応して凹部１８ａを有している。第２図で
は被試験基板２０の上面及び下面に各１つずつの電子部
品２１とそれに対応して各版部材１８に各１つずつの四
部１８ａのみしか示していないが、実際には複数の電子
部品に対応する位置に複数の凹部１８ａが設けら九る。

凹部１８ａの深さは電子部品２１の厚みに対応しており
例えば電子部品２１が４〜５ｍｍであるならば４〜５ｍ
ｍかそれより多少大きく１部品の破壊がなく挿入可能な
大きさにし、板部材１８の厚さによっては貫通孔をなし
ていてもよい。

これら凹部１８ａは二つの板部材１８．１８で被試験基
板２０を挾持する時、被試験基板２ｏの電子部品２１と
係合し、これにより被試験基板２０を水平に保つことが
できる。

このように構成される回路基板測定装置においてはまず
下部ピンボード１５の板部材１８上に被試験基板２０を
セットし、左右方向等正確に位置合せ後可動基板１３を
駆動装置３０によって下方に移動させ、板部材１８．被
試験基板２０及び板部材１８を密着させる。この時、被
試験基板２゜の電子部材２１は各板部材１８の凹部１８
ａに嵌合するので被試験基＠２０は押圧力によって全く
歪むことなく水平に保たれる。この状態でガイド孔１９
によりガイドされた測定ピン１７の先端が被試験基板２
０の接点に接触し、導通試験を行なう。

尚、上記実施例においては、両面に実装した回路基板用
の検査装置を示したが本発明は一面のみに電子部品を装
着した回路基板検査装置にも適用できる。

上記実施例では部品など凸部に相当する部分を収納する
凹部を形成した例について説明したが。

要する凸部品を収納する構造であれば裏面の測定網に影
響がなければ貫通孔にしてもよいし、他の部分を凸部に
してもよい。

［発明の効果］ 以上の説明からも明らかなように本発明によれは、被試
験基板を水平に保つことのできろ板部材を設け、且つ板
部材に電子部品等被試験基板の凸部に対応する凹部を設
けると共に、測定ピンをガイドするガイド孔を設けたの
で測定ピンと被試験基板の接点を高精度に接触させるこ
とができ、もって検査精度の向上を図る侍とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による回路基板検査装置の全体斜視図、
第２図は同要部断面図、第３図及び第４図はそれぞれ従
来の回路基板検査装置を示す図である。 １５・・・・・・・・下部ピンボード（ピン保持板）１
６・・・・・・・・上部ピンボード（ピン保持板）１７
・・・・・・・・測定ピン １８・・・・・・・・板部材 １８ａ・・・・・・・凹部 】９・・・・・・・・ガイド孔 ２０・・・・・・・・被試験基板 ２１・・・・・・・・電子部品 代理人　弁理士　　守　谷　−雄 第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ピン保持板に配列された測定ピンと被試験基板との電気
   的接続を行なう回路基板検査装置において、前記ピン保
   持板と前記被試験基板との間に前記被試験基板と相接す
   る板部材を介装し且つ該板部材は前記測定ピンが前記被
   試験基板に圧接する時に生ずる変形を防止するためのガ
   イド孔を有すると共に前記被試験基板に相接する面に前
   記被試験基板上に実装された電子部品に対応する凹部を
   有して前記被試験基板が前記測定ピンにより圧接された
   場合に変形するのを防止することを特徴とする回路基板
   検査装置。