JPH0530141Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本考案は、回路基板の電気的特性の検査を行う
回路検査用ユニバーサルテスタに付属してプロー
ブを所定位置に配列する回路検査用ユニバーサル
テスタ治具に関する。

【従来の技術】

近年、プリント回路基板やIC部品等の検査を
迅速に行うために、多数の検査点にプローブを同
時に当接させ、これらのプローブを介して得られ
る電気信号をテスタに入力して電気的特性を検査
する回路検査用ユニバーサルテスタが普及しつつ
ある。 このようなユニバーサルテスタに付属してプロ
ーブを所定位置に配列する回路検査用ユニバーサ
ルテスタ治具の従来例を示せば、第４図の通りで
ある。この治具は２つの部分、すなわちオフグリ
ツド治具１とユニバールピンボード部２とから構
成されている。 オフグリツド治具１は、絶縁材製の上板３、中
板４、下板５を備え、上板３と中板４とは相互に
近接して平行配置され、下板５はこれらに離間し
て平行配置されている。また上板３と中板４とに
はプリント回路基板等の検査点に対応させた入力
側貫通孔６が穿設され、下板５には後述の固定ピ
ンに対応して例えば2.54mmピツチのマトリツクス
状に配列した多数の出力側貫通孔７が穿設されて
いる。そしてこれらの入力側貫通孔６および出力
側貫通孔７に多数のワイヤプローブ８が挿通さ
れ、これらは一端に形成した円錐形の接触頭部８
ａで上板３に対する抜止めがなされている。 一方、ユニバーサルピンボード部２は、絶縁材
製のユニバーサルピンボード８にこれを貫通して
多数の固定ピン１０を植設したもので、これらの
固定ピン１０は例えば2.54mmのピツチでマトリツ
クス状に配列されている。そして前記ワイヤプロ
ーブ８の他端の円錐状接触部８ｂがこれらの固定
ピン１０の一端に当接し、固定ピン１０の他端
は、リード線１１を介して図示しない回路検査用
ユニバーサルテスタに接続されている。 そして前記ワイヤプローブ８は、治具がプリン
ト回路基板等の被検査基板に押圧されることで中
板４と下板５との間で座屈により弾性変形して押
圧力を吸収し、その接触頭部８ａを被検査基板の
各検査点に弾接させるようになつている。

【考案が解決しようとする問題点】

ところで前述した従来の回路検査用ユニバーサ
ルテスタ治具では、ワイヤプローブ８が座屈によ
る弾性変形をするため、各ワイヤプローブ８，８
間には所定の間隔を設けてワイヤプローブ８，８
相互の干渉を防止せねばならない。そのため、ワ
イヤプローブ８，８のピツチ間隔を例えば1.27mm
程度に狭くすることは不可能であり、IC部品等
の検査ができないという問題があつた。 また、各ワイヤプローブ８，８は同じ長さのも
のが使用されるため、ワイヤプローブ８が挿通さ
れる入力側貫通孔６と出力側貫通孔７との位置ズ
レの大小に応じてワイヤプローブ８の接触頭部８
ａの高さが相違し、被検査基板の各検査点に対す
る各接触頭部８ａの弾接力にバラツキが生じると
いう問題があつた。 さらに、ワイヤプローブ８，８は、中板４と下
板５との間で座屈により弾性変形するのに伴い、
上板３と中板４との間でも僅かながら弾性変形す
るから、接触頭部８ａの位置がズレ易いという問
題があつた。 さらにまた、各ワイヤプローブ８，８は上板
３、中板４の入力側貫通孔６と下板５の出力側貫
通孔７とを通して１本ずつ挿着するので作業が煩
雑であると共に、その挿着順序を間違えるとワイ
ヤプローブ８の挿入が不可能となる箇所も生じ、
その修正作業に多大な労力と時間とを要するとい
う問題があつた。 そこで本考案は、IC部品の検査にも対応すべ
くプローブを微小間隔に配列でき、プローブの接
触頭部を高い位置精度をもつて各検査点に均一に
弾接でき、しかもプローブの挿着作業が容易かつ
確実に行えるようにした回路検査用ユニバーサル
テスタ治具を提供することを目的とする。

【問題点を解決するための手段】

この目的のため本考案は、テスタに接続する多
数の固定ピンをマトリツクス状に配列して支持す
るユニバーサルピンボード部と、このユニバーサ
ルピンボード部と被検査回路基板との間に介設さ
れて被検査回路基板の各検査点をプローブを介し
て上記所定の固定ピンに接続するオフグリツド治
具とを備える回路検査用ユニバーサルテスタ治具
において、上記固定ピンはプローブに弾接する伸
縮構造とすると共に、上記オフグリツド治具には
プローブの位置決め板に着脱するピンブロツクを
設け、このピンブロツクは、被検査用回路基板上
のICの入出力ピンに対応してプローブの一端部
を位置決めする入力側ブロツクと、この入力側ブ
ロツクに対し上記固定ピンのピツチ方向に微調整
可能に接続されてプローブの他端部を固定ピンに
対応して位置決めする出力側ブロツクとを備えて
なり、このピンブロツクに位置決めされたプロー
ブを介してICの入出力ピンと固定ピンとを接続
可能に構成したことを要旨とする。

【作用】

このような手段では、あらかじめプローブを挿
着したピンブロツクをオフグリツド治具の位置決
め板に取付けることにより、各プローブは座屈を
生じない略直線状態で被検査回路基板のIC入出
力ピンやその他の検査点と固定ピンとに弾接して
両者を接続する。

【実施例】

以下、本考案の一実施例を図面を参照して具体
的に説明する。 第１図において符号１２はユニバーサルピンボ
ード部、１３はオフグリツド治具、１４はピンブ
ロツクであり、これらで回路検査用ユニバーサル
テスタ治具が構成されている。 ユニバーサルピンボード部１２は、絶縁材から
なるユニバーサルピンボード１５に多数の固定ピ
ン１６が例えば2.54mmピツチのマトリツス状に植
設されたもので、各固定ピン１６の下端部はユニ
バーサルピンボード１５を貫通し、そこに図示省
略した回路検査用ユニバーサルテスタに接続する
リード線１７がハンダ付等により接続固定されて
いる。 上記固定ピン１６は、内蔵するスプリングに抗
して収縮できる従来公知の伸縮ピンであり、ユニ
バーサルピンボード１５上に突出して伸縮できる
部分が後述のワイヤプローブに対する接触子１６
ａをなし、その上端面には逆円錐状の凹部が形成
されている。 オフグリツド治具１３は、絶縁材からなる３枚
の上板１７、中板１８、下板１９をワイヤプロー
ブの位置決め板として備えるもので、これらの上
板１７、中板１８、下板１９は、４隅の支柱２０
を介して相互に平行に支持され、上板１７と中板
１８は互いに接近し、下板１９はこれらに対して
大きく離間している。 上記上板１７には、被検査回路基板上のIC部
品（フラツトパツケージの脚部等）を含む全ての
検査点に対応した多数の入力側貫通孔２１が穿設
されると共に、中板１８にはIC部品を除いたそ
の他の各検査点に対応した入力側貫通孔２１が穿
設され、中板１８の上記IC部品に対応した箇所
には、後述のピンブロツク１４を挿通する角孔２
２が穿けられている。また下板１９には、前記固
定ピン１６に対応してマトリツクス状に配置した
多数の出力側貫通孔２３が穿設されている。そし
てこれらの入力側貫通孔２１，２１と出力側貫通
孔２３とにわたつてワイヤプローブ２４が挿通さ
れるのであり、このワイヤプローブ２４は、一端
に形成した接触頭部２４ａを上板１７に係止する
ことで下方への抜止めがなされており、他端の接
触部２４ｂを前記固定ピン１６の接触子１６ａに
接触している。 つぎにピンブロツク１４は、絶縁材からなる２
つの入力側ブロツク２５，２６と、１つの出力側
ブロツク２７とを上下方向に互いに平行配置して
備えるもので、比較的に接近して配置される入力
側ブロツク２５，２６は、４隅に配した４本の支
柱２８を介して上下に連結されている。また出力
側ブロツク２７は、中央に配した１本の支柱２９
を介してボルト接続することで上記入力側ブロツ
ク２６の下方に支持されている。この場合、入力
側ブロツク２６に穿けた上記支柱２９の固定用ボ
ルト３３の挿通孔３０にクリアランスが設けられ
ることで、出力側ブロツク２７はその平面内に沿
つて微動し、位置調整できるようになつている。 ここで第２図に示すように入力側ブロツク２
５，２６には、被検査回路基板上のIC部品の入
出力ピンに対応した入力側貫通孔３１が、その周
辺に沿つて例えば1.27mmピツチで２列に穿孔され
ている。また出力側ブロツク２７には、第３図に
示すように前記固定ピン１６に対応してマトリツ
クス状に配列した多数の出力側貫通孔３２が穿孔
されている。 そして入力側ブロツク２５が、対角線上に位置
する２本の支柱２８をねじ止めすることでオフグ
リツド治具１３の上板１７下面に着脱自在に取付
けられ、出力側ブロツク２７は、中板１８の角孔
２２を通し下板１９の直上に臨んでいる。 なお、オフグリツド治具１３の上板１７および
ピンブロツク１４の入力側ブロツク２５には、前
記固定用ボルト３３を操作するための作業孔３４
が設けてある。 このようにオフグリツド治具１３に組付けられ
たピンブロツク１４には、前記ワイヤプローブ２
４より細径でIC部品の検査に適したワイヤプロ
ーブ３５が、あらかじめ入力側貫通孔３１、出力
側貫通孔３２に通して挿着されており、その上端
の接触頭部３５ａは上板１７の入力側貫通孔２１
を通して上板１７上に臨み、下端の接触部３５ｂ
は下板１９の出力側貫通孔２３を通してその下方
の固定ピン１６における接触子１６ａに接触して
いる。 このような構成では、図示省略した被検査回路
基板を適宜の手段でオフグリツド治具１３側に押
圧することで、ワイヤプローブ２４，３５の各接
触頭部２４ａ，３５ａが被検査回路基板の各検査
点に均一に弾接する。この弾接力は固定ピン１６
の伸縮習性により得られるので、ワイヤプローブ
２４，３５は硬い材質を用いて座屈を生じないよ
うにすることができ、こうすることで各ワイヤプ
ローブ２４，３５は密接して配列することが可能
となる。 そしてこのようなワイヤプローブ２４，３５を
介して被検査回路基板の各検査点とユニバーサル
ピンボード１５上の固定ピン１６とが導通される
ことで、図示省略した回路検査用ユニバーサルテ
スタにより各種の検査が行われる。

【考案の効果】

以上説明したとおり本考案によれば、各プロー
ブは座屈を生じない略直線状態で被検査回路基板
の各検査点と固定ピンとに弾接して両者を接続す
る。従つて各プローブをICの入出力ピンに対応
して微小間隔に配列でき、しかも各プローブは高
い位置精度で上記各検査点に接触でき、その接触
圧も均一化される。また、ICの入出力ピンに対
応した微小間隔のプローブは、あらかじめピンブ
ロツクに挿着してピンブロツクごとオフグリツド
治具に組付けられるので、プローブの挿着作業が
容易かつ確実に行える。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第３図は本考案の一実施例を示
し、第１図は第２図のＡ−Ａ線断面および第３図
のＢ−Ｂ線断面を含む正面図、第２図はピンブロ
ツク部分の平面図、第３図は同底面図、第４図は
従来例を示す要部断面図である。 １……オフグリツド治具、２……ユニバーサル
ピンボード部、３……上板、４……中板、５……
下板、６……入力側貫通孔、７……出力側貫通
孔、８……ワイヤプローブ、８ａ……接触頭部、
８ｂ……円錐状接触部、９……ユニバーサルピン
ボード、１０……固定ピン、１１……リード線、
１２……ユニバーサルピンボード部、１３……オ
フグリツド治具、１４……ピンブロツク、１５…
…ユニバーサルピンボード、１６……固定ピン、
１６ａ……接触子、１７……上板、１８……中
板、１９……下板、２０……支柱、２１……入力
側貫通孔、２２……角孔、２３……出力側貫通
孔、２４……ワイヤプローブ、２５，２６……接
触部、２７……出力側ブロツク、２８……支柱、
２９……支柱、３０……挿通孔、３１……入力側
貫通孔、３２……出力側貫通孔、３３……固定用
ボルト、３４……作業孔、３５……ワイヤプロー
ブ、３５ａ……接触頭部、３５ｂ……接触部。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. テスタに接続する多数の固定ピンをマトリツク
   ス状に配列して支持するユニバーサルピンボード
   部と、このユニバーサルピンボード部と被検査回
   路基板との間に介設されて被検査回路基板の各検
   査点をプローブを介して上記所定の固定ピンに接
   続するオフグリツド治具とを備える回路検査用ユ
   ニバーサルテスタ治具において、上記固定ピンは
   プローブに弾接する伸縮構造とすると共に、上記
   オフグリツド治具にはプローブの位置決め板に着
   脱するピンブロツクを設け、このピンブロツク
   は、被検査用回路基板上のICの入出力ピンに対
   応してプローブの一端部を位置決めする入力側ブ
   ロツクと、この入力側ブロツクに対し上記固定ピ
   ンのピツチ方向に微調整可能に接続されてプロー
   ブの他端部を固定ピンに対応して位置決めする出
   力側ブロツクとを備えてなり、このピンブロツク
   に位置決めされたプローブを介してICの入出力
   ピンと固定ピンとを接続可能に構成したことを特
   徴とする回路検査用ユニバーサルテスタ治具。