JPS63167273U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第３図は本考案の一実施例を示し
、第１図は第２図のＡ―Ａ線断面および第３図の
Ｂ―Ｂ線断面を含む正面図、第２図はピンブロツ
ク部分の平面図、第３図は同底面図、第４図は従
来例を示す要部断面図である。 １……オフグリツド治具、２……ユニバーサル
ピンボード部、３……上板、４……中板、５……
下板、６……入力側貫通孔、７……出力側貫通孔
、８……ワイヤプローブ、８ａ……接触頭部、８
ｂ……円錐状接触部、９……ユニバーサルピンボ
ード、１０……固定ピン、１１……リード線、１
２……ユニバーサルピンボード部、１３……オフ
グリツド治具、１４……ピンブロツク、１５……
ユニバーサルピンボード、１６……固定ピン、１
６ａ……接触子、１７……上板、１８……中板、
１９……下板、２０……支柱、２１……入力側貫
通孔、２２……角孔、２３……出力側貫通孔、２
４……ワイヤプローブ、２５，２６……接触部、
２７……出力側ブロツク、２８……支柱、２９…
…支柱、３０……挿通孔、３１……入力側貫通孔
、３２……出力側貫通孔、３３……固定用ボルト
、３４……作業孔、３５……ワイヤプローブ、３
５ａ……接触頭部、３５ｂ……接触部。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. テスタに接続する多数の固定ピンをマトリツク
   ス状に配列して支持するユニバーサルピンボード
   部と、このユニバーサルピンボード部と被検査回
   路基板との可に介設されて被検査回路基板の各検
   査点をプローブを介して上記所定の固定ピンに接
   続するオフグリツド治具とを備える回路検査用ユ
   ニバーサルテスタ治具において、上記固定ピンは
   プローブに弾接する伸縮構造とすると共に、上記
   オフグリツド治具にはプローブの位置決め板に着
   脱するピンブロツクを設け、このピンブロツクは
   、被検査用回路基板上のＩＣの入出力ピンに対応
   してプローブの一端部を位置決めする入力側ブロ
   ツクと、この入力側ブロツクに対し上記固定ピン
   のピツチ方向に微調整可能に接続されてプローブ
   の他端部を固定ピンに対応して位置決めする出力
   側ブロツクとを備えてなり、このピンブロツクに
   位置決めされたプローブを介してＩＣの入出力ピ
   ンと固定ピンとを接続可能に構成したことを特徴
   とする回路検査用ユニバーサルテスタ治具。