JPS63181969U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS63181969U JPS63181969U JP7292787U JP7292787U JPS63181969U JP S63181969 U JPS63181969 U JP S63181969U JP 7292787 U JP7292787 U JP 7292787U JP 7292787 U JP7292787 U JP 7292787U JP S63181969 U JPS63181969 U JP S63181969U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode part
- printed circuit
- grid
- circuit board
- insulating plates
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第1図はプリント回路基板検査装置の変換治具
の説明図、第2図は本考案の実施例に係る接触ピ
ンの一部を切欠した正面図。 1,2……絶縁板、5……接触ピン、7,8…
…接触部、15……絶縁。
の説明図、第2図は本考案の実施例に係る接触ピ
ンの一部を切欠した正面図。 1,2……絶縁板、5……接触ピン、7,8…
…接触部、15……絶縁。
Claims (1)
- オングリツドに配置されるプリント回路基板検
査装置のテストヘツドの電極部と、必ずしも試験
点がオングリツドに配置されない被検査基板との
間に介在し、対向する複数の絶縁板の間に挿通し
て該絶縁板で位置決めされる多数の接触ピンで、
対応する前記電極部と前記試験点とを接続する変
換治具において、前記電極部及び試験点との接触
部位を除いて前記接触ピンの外周に絶縁を施した
ことを特徴とするプリント回路基板検査装置の変
換治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7292787U JPS63181969U (ja) | 1987-05-18 | 1987-05-18 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7292787U JPS63181969U (ja) | 1987-05-18 | 1987-05-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63181969U true JPS63181969U (ja) | 1988-11-24 |
Family
ID=30916805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7292787U Pending JPS63181969U (ja) | 1987-05-18 | 1987-05-18 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63181969U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997043652A1 (fr) * | 1996-05-13 | 1997-11-20 | Ict Co., Ltd. | Aiguille de sonde |
WO2007116963A1 (ja) * | 2006-04-07 | 2007-10-18 | Nidec-Read Corporation | 基板検査用接触子及びその製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS519661B2 (ja) * | 1972-11-13 | 1976-03-29 | ||
JPS6182173A (ja) * | 1984-06-11 | 1986-04-25 | ト−マス・ジヨンソン・ブラツク | プリント配線板試験用探子設定装置 |
-
1987
- 1987-05-18 JP JP7292787U patent/JPS63181969U/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS519661B2 (ja) * | 1972-11-13 | 1976-03-29 | ||
JPS6182173A (ja) * | 1984-06-11 | 1986-04-25 | ト−マス・ジヨンソン・ブラツク | プリント配線板試験用探子設定装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997043652A1 (fr) * | 1996-05-13 | 1997-11-20 | Ict Co., Ltd. | Aiguille de sonde |
WO2007116963A1 (ja) * | 2006-04-07 | 2007-10-18 | Nidec-Read Corporation | 基板検査用接触子及びその製造方法 |
JP5088504B2 (ja) * | 2006-04-07 | 2012-12-05 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査用接触子及びその製造方法 |