JPS6367978U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6367978U JPS6367978U JP16088586U JP16088586U JPS6367978U JP S6367978 U JPS6367978 U JP S6367978U JP 16088586 U JP16088586 U JP 16088586U JP 16088586 U JP16088586 U JP 16088586U JP S6367978 U JPS6367978 U JP S6367978U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- grid pattern
- connection holes
- board inspection
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 claims 1
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第1図はプリント回路基板検査装置の説明図、
第2図は他の形式のプリント回路基板検査装置の
説明図、第3図はテストヘツド及び被検査用プリ
ント回路基板と対応して示す変換治具の断面図、
第4図は変換治具の断面図、第5図は同じく斜視
図、第6図は変換治具の製作説明図、第7図及び
第8図は各々の変換治具に装着するアタツチメン
トの説明図、第9図は従来の変換治具の断面図で
ある。 1,1′……プリント回路基板検査装置、2…
…テストヘツド、3,3a……電極部、10……
被検査用プリント回路基板、11……試験点、2
0……変換治具、21……絶縁プレート、22,
23……対応箇所、24……接続孔、25……導
電部、26,27……接触部。
第2図は他の形式のプリント回路基板検査装置の
説明図、第3図はテストヘツド及び被検査用プリ
ント回路基板と対応して示す変換治具の断面図、
第4図は変換治具の断面図、第5図は同じく斜視
図、第6図は変換治具の製作説明図、第7図及び
第8図は各々の変換治具に装着するアタツチメン
トの説明図、第9図は従来の変換治具の断面図で
ある。 1,1′……プリント回路基板検査装置、2…
…テストヘツド、3,3a……電極部、10……
被検査用プリント回路基板、11……試験点、2
0……変換治具、21……絶縁プレート、22,
23……対応箇所、24……接続孔、25……導
電部、26,27……接触部。
Claims (1)
- 絶縁プレートに、互いに対応関係にある、必ず
しも全数がオングリツド状に配置されない被検査
用プリント回路基板上の試験点の対応箇所と、プ
リント回路基板検査装置のテストヘツドのオング
リツド状に配置される多数の電極部の対応箇所と
を結ぶ多数の接続孔を形成し、この接続孔内に導
電性エラストマーを充填して導電部を配設すると
ともにこの導電部には前記2つの対応箇所に於て
プレート面より突起した接触部を設けたことを特
徴とするプリント回路基板検査装置の変換治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16088586U JPS6367978U (ja) | 1986-10-22 | 1986-10-22 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16088586U JPS6367978U (ja) | 1986-10-22 | 1986-10-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6367978U true JPS6367978U (ja) | 1988-05-07 |
Family
ID=31086687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16088586U Pending JPS6367978U (ja) | 1986-10-22 | 1986-10-22 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6367978U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008185444A (ja) * | 2007-01-30 | 2008-08-14 | Tsutomu Takahashi | プリント基板検査装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5457665A (en) * | 1977-10-18 | 1979-05-09 | Nippon Electric Co | Method of testing wiring of circuit substrate |
JPS57132392A (en) * | 1981-02-09 | 1982-08-16 | Mitsubishi Electric Corp | Method of inspecting printed circuit board |
-
1986
- 1986-10-22 JP JP16088586U patent/JPS6367978U/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5457665A (en) * | 1977-10-18 | 1979-05-09 | Nippon Electric Co | Method of testing wiring of circuit substrate |
JPS57132392A (en) * | 1981-02-09 | 1982-08-16 | Mitsubishi Electric Corp | Method of inspecting printed circuit board |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008185444A (ja) * | 2007-01-30 | 2008-08-14 | Tsutomu Takahashi | プリント基板検査装置 |