JPS6363777U - - Google Patents

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JPS6363777U
JPS6363777U JP15811086U JP15811086U JPS6363777U JP S6363777 U JPS6363777 U JP S6363777U JP 15811086 U JP15811086 U JP 15811086U JP 15811086 U JP15811086 U JP 15811086U JP S6363777 U JPS6363777 U JP S6363777U
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の実施例に係る検査用治具の側
面図、第２図は部分平面図、第３図は部分断面図
、第４図は検査用治具を検査装置に組込んだ状態
の正面断面図、第５図は本考案の検査用治具を使
用したＬＳＩ検査装置の斜視図、第６図は同じく
正面断面図、第７図は本考案の他の実施例に係る
検査用治具の部分断面図である。 １〜検査用治具、２〜絶縁基板、３〜導電パタ
ーン、４〜一端部、５〜電極部、６〜他端部、７
〜端子部、１１〜異方導電性弾性シート、１３〜
被検査物、１４〜検査点。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 一端部を微小間隔にし他端部をこれより大きな
    間隔にして多数本の導電パターンを絶縁基板上に
    形成することにより、前記一端部を微小間隔に配
    置される被検査物の検査点の位置に対応した電極
    部とし、また前記他端部を前記一端部より広い間
    隔にして電気信号が出入する端子部とし、さらに
    前記電極部の部位に該電極部と前記検査点との対
    応する間を導通する異方導電性弾性シートを介在
    したことを特徴とする検査用治具。
JP1986158110U 1986-10-17 1986-10-17 電子部品の検査用治具 Expired - Lifetime JPH06784Y2 (ja)

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JPS6363777U true JPS6363777U (ja) 1988-04-27
JPH06784Y2 JPH06784Y2 (ja) 1994-01-05

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JPH06784Y2 (ja) 1994-01-05

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