JPS63115766U - - Google Patents

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JPS63115766U
JPS63115766U JP705487U JP705487U JPS63115766U JP S63115766 U JPS63115766 U JP S63115766U JP 705487 U JP705487 U JP 705487U JP 705487 U JP705487 U JP 705487U JP S63115766 U JPS63115766 U JP S63115766U
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JP
Japan
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upper plate
jig
contact
wire probe
spring pins
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JP705487U
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案の回路検査用ユニバーサルテ
スター治具の一実施例の縦断面図であり、第2図
は、第1図のピンブロツクの上板の平面図であり
、第3図は、第1図のピンブロツクの下板の底面
図であり、第4図は、プローブを検査点に当接さ
せるための従来の回路検査用ユニバーサルテスタ
ー治具の要部断面図である。 10:オフグリツド治具、11:上板、12:
下板、13:ワイヤープローブ、14:接触頭部
、31:ユニバーサルピンボード、32:スプリ
ングピン、33:当接部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ユニバーサルピンボードに当接部が弾力に
    抗して後退できるスプリングピンを所定のピツチ
    でマトリツクス状に多数配設し、オフグリツド治
    具の上板に検査点に対応させて穿設した貫通孔と
    下板に前記スプリングピンに対応させて穿設した
    貫通孔とに、これらの上板と下板の貫通孔のずれ
    に対応して弾性変形して軸方向に摺動自在なワイ
    ヤープローブを挿通し、このワイヤープローブの
    一端の接触頭部を前記検査点に当接させ、他端を
    前記スプリングピンの当接部に当接させたことを
    特徴とする回路検査用ユニバーサルテスター治具
    。 (2) 前記ワイヤープローブは、一端に前記上板
    の貫通孔より大径の接触頭部を形成して抜け落ち
    ないようにし、前記上板の貫通孔に挿入される一
    端部分を太径として軸方向に直進摺動を行わしめ
    、中間および他端部分を細径として弾力性を備え
    るようにしたことを特徴とする実用新案登録請求
    の範囲第1項記載の回路検査用ユニバーサルテス
    ター治具。
JP705487U 1987-01-20 1987-01-20 Pending JPS63115766U (ja)

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JP705487U JPS63115766U (ja) 1987-01-20 1987-01-20

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JP705487U JPS63115766U (ja) 1987-01-20 1987-01-20

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JPS63115766U true JPS63115766U (ja) 1988-07-26

Family

ID=30790151

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JP705487U Pending JPS63115766U (ja) 1987-01-20 1987-01-20

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JP (1) JPS63115766U (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6046072B2 (ja) * 1975-11-14 1985-10-14 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト リンをドープされたシリコン単結晶棒の製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6046072B2 (ja) * 1975-11-14 1985-10-14 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト リンをドープされたシリコン単結晶棒の製造方法

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