JPH0171676U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0171676U JPH0171676U JP1987168756U JP16875687U JPH0171676U JP H0171676 U JPH0171676 U JP H0171676U JP 1987168756 U JP1987168756 U JP 1987168756U JP 16875687 U JP16875687 U JP 16875687U JP H0171676 U JPH0171676 U JP H0171676U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- probes
- sac
- covered
- intersections
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 10
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例の斜視図、第２図は
第１図の接触プローブサツクを被覆したプローブ
の断面図である。 １……プローブホルダ、２，２ａ……プローブ
、３……接触プローブサツク。
第１図の接触プローブサツクを被覆したプローブ
の断面図である。 １……プローブホルダ、２，２ａ……プローブ
、３……接触プローブサツク。
Claims (1)
- 試験領域を格子状に分割した交点上に複数のプ
ローブを植立したプローブホルダーと、前記プロ
ーブのうち直径１．４mm以上のスルホールに対向
するプローブに被覆された少くとも１個の接触プ
ローブサツクとを有することを特徴とする印刷配
線板の布線試験機治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987168756U JPH0171676U (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987168756U JPH0171676U (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0171676U true JPH0171676U (ja) | 1989-05-12 |
Family
ID=31458215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987168756U Pending JPH0171676U (ja) | 1987-11-02 | 1987-11-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0171676U (ja) |
-
1987
- 1987-11-02 JP JP1987168756U patent/JPH0171676U/ja active Pending