JPH0446222Y2

JPH0446222Y2 -

Info

Publication number: JPH0446222Y2
Application number: JP1985170033U
Authority: JP
Priority date: 1985-11-05
Filing date: 1985-11-05
Publication date: 1992-10-29
Also published as: JPS6279183U

Description

【考案の詳細な説明】（産業上の利用分野）本考案は、側面に沿つて端子が設けられた電子
部品の電気的検査をするのに好適な電子部品検査
治具に関するものである。

（従来の技術）高密度に配設されたプリント基板の回路パター
ンおよびこれらの回路パターンに実装されたIC
その他の電子部品の電気的特性を検査するため
に、多数のコンタクトプローブを回路パターンや
電子部品等の適宜な多数の検査点に同時に当接さ
せて種々の測定検査が行なわれている。

（考案が解決しようとする問題点）ところで、従来の電子部品検査治具は、プリン
ト基板等に対してコンタクトプローブを垂直方向
に相対移動させるもので、例えば第４図に示す
IC等の電子部品１の多数の端子２，２……の肩
部等の水平な検査点Ｐ，Ｐ……にコンタクトプロ
ーブを当接するものである。しかるに、近年、
IC等の電子部品３で端子４，４……が、第５図
のごとく、電子部品３の本体の側面から底面にか
けて電子部品３に沿つて密接状態に設けられたも
のがある。これは、プリント基板に電子部品３を
接着剤により接合するのに好適であるとともに、
より一層の高密度実装を図るためである。ここ
で、従来の電子部品検査治具では、第５図のごと
き電子部品３の端子４，４……にコンタクトプロ
ーブを当接させることができず、測定検査するこ
とができないという問題点がある。

本考案の目的は、上記の従来の電子部品検査治
具の問題点を解決するためになされたもので、側
面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品を検
査することができ、しかも電子部品を押し潰して
破壊すことのない電子部品検査治具を提供するこ
とにある。

（問題を解決するための手段）かかる目的を達成するために、本考案の電子部
品検査治具は、側面に沿つて多数の端子が設けら
れた電子部品が挿入嵌合できる凹部を絶縁材から
なる移動検査治具に形成し、前記電子部品の側面
に対向する前記凹部の内周に前記電子部品の端子
にそれぞれ対応させて、金属製の外筒にコイルば
ねが封入されこのコイルばねの弾力で圧接突起が
前記外筒の一端部に設けられた小孔から抜け出す
ことなしにその一部を突出させるコンタクトピン
を内方に向けて配列し、前記移動検査治具を摺動
支持基台の下に所定移動幅より分離することなし
に上下動のみ自在に配置するとともに分離用コイ
ルばねにより分離方向に弾性付勢し、前記摺動支
持基台の下降により、前記電子部品を前記凹部に
嵌合させるとともに前記端子に横方向から前記圧
接突起をそれぞれ弾接させるように構成されてい
る。

（作用）移動検査治具に電子部品の側方周囲を囲む凹部
を形成し、この凹部の内周に電子部品の多数の端
子にそれぞれ対応して横方向から圧接突起を弾接
するようにコンタクトピンを配列し、移動検査治
具を摺動支持基台に上下動のみ自在で分離方向に
弾性付勢して配設したので、電子部品を凹部に挿
入嵌合させるように摺動支持基台を相対移動させ
ることで、電子部品の端子に横方向からコンタク
トピンをそれぞれ弾接させることができ、この弾
接部材を適宜に検査装置に導通接続することで、
側面に沿つて端子が設けられた電子部品を測定検
査することができる。そして、圧接突起は突出方
向に往復移動のみ可能であり、端子に対して側方
にずれることがなく、それだけ圧接突起が端子に
位置精度良く弾接され、接触子相互の短絡を生ず
る虞がない。しかも、電子部品を凹部に嵌合させ
るのに必要とする以上の相対移動距離を、弾力に
抗して移動検査治具と摺動支持基台とが近接して
吸収でき、電子部品およびこの電子部品が実装さ
れるプリント基板を押し潰して破壊するようなこ
とがない。

（実施例）以下、本考案の実施例を第１図ないし第３図を
参照して説明する。第１図は、本考案の電子部品
検査治具の一実施例の縦断面図であり、第２図
は、コンタクトピンの一実施例の断面図であり、
第３図は、コンタクトピンの他の実施例の断面図
である。

第１図において、電子部品検査治具４０は、摺
動支持基台１１の中央部に支持孔１２を上下に貫
通させて穿設し、頭部に膨大部を有する支持柱１
３を支持孔１２を挿通して移動検査治具５１に植
設し、移動検査治具５１を摺動支持基台１１の下
に適宜な移動幅より分離しないように上下動自在
に配設する。また、摺動支持基台１１に位置決め
孔１４，１４を穿設し、移動検査治具５１に挿入
した位置決めピン１５，１５の上部をこの位置決
め孔１４，１４に上下摺動可能に挿入して移動検
査治具５１を摺動支持基台１１に対して横方向に
ずれることなく上下方向にのみ移動可能としてい
る。さらに、摺動支持基台１１の下面に有底孔１
６，１６を設け、この有底孔１６，１６と移動検
査治具５１との間に分離用コイルばね１７，１７
を縮設して移動検査治具５１を下方に摺動支持基
台１１より分離方向に弾性付勢する。

そして、移動検査治具５１は、絶縁樹脂からな
り、その下面に電子部品３が挿入できて側方周囲
を囲むように凹部５２が形成され、この凹部５２
の電子部品３に対向する内周に電子部品３の多数
の端子４，４……にそれぞれに対応するように内
方に向けてコンタクトピン５３，５３……が配列
される。このコンタクトピン５３，５３……は、
例えば第２図のごとく、金属製の外筒５４にコイ
ルばね５５を封入し、このコイルばね５５の弾力
で鋼球５６を外筒５４の一端部に設けた小孔から
一部を突出するように弾性付勢し、この鋼球５６
が電子部品３の端子４，４……に弾接するように
構成したものである。または、第３図のごとく、
外筒５４の一端部に設けた小孔から突起を突出さ
せる突起部材５７をコイルばね５５で弾性付勢
し、この突起部材５７が端子４，４……に弾接す
るよう構成したものである。そして、コンタクト
ピン５３，５３……に可撓性を有するリード線３
０，３０……を半田付け等で接続する。

さらに、電子部品検査治具１０の摺動支持基台
１１を治具取付基台３１にねじ３２，３２で固定
し、治具取付基台３１と摺動支持基台１１に穿設
した長孔等を介してリード線３０，３０……を図
示しない検査装置に接続する。

かかる構成において、プリント基板等に実装さ
れた電子部品３に対して摺動支持基台１１が固定
される治具取付基台３１を近接方向に相対移動さ
せて、移動検査治具５１の凹部５２に電子部品３
を挿入嵌合させる。すると、コンタクトピン５
３，５３……の鋼球５６，５６……若しくは突起
部材５７，５７……が電子部品３の端子４，４…
…にそれぞれ弾接して、端子４，４……をコンタ
クトピン５３，５３……およびリード線３０，３
０……を介して検査装置に導通接続できる。ここ
で、コンタクトピン５３，５３……の鋼球５６，
５６……若しくは突起部材５７，５７……は突出
方向に往復移動のみ可能であり、電子部品３に対
して凹部５２で移動検査治具５０を位置決めすれ
ば、コンタクトピン５３，５３……を端子４，４
……に確実に弾接することができる。

なお、本考案の電子部品検査治具の測定検査の
対象は、側面に沿つて端子が設けられた電子部品
であれば良く、ICに限られないことは勿論であ
る。

（考案の効果）以上説明したように、本考案の電子部品検査治
具によれば、移動検査治具に電子部品の側方周囲
を囲む凹部を形成し、この凹部の内周に電子部品
の多数の端子にそれぞれ対応して横方向から弾接
するようにコンタクトピンを配列し、移動検査治
具を摺動支持基台に上下動自在で分離方向に弾性
付勢して配設したので、電子部品を凹部に挿入嵌
合させるように摺動支持基台を相対移動させるこ
とで、電子部品の端子に横方向からコンタクトピ
ンをそれぞれ弾接させることができ、この弾接部
材を適宜に検査装置に導通接続することで、側面
に沿つて端子が設けられた電子部品を測定検査す
ることができる。そして、圧接突起は突出方向に
往復移動のみ可能であり、端子に対して側方にず
れることがなく、それだけ圧接突起が端子に位置
精度良く弾接することができる。さらに、圧接突
起は側方にずれないので、相互に短絡事故を生ず
る虞がなく、コンタクトピンを密に配列すること
ができ、端子を密に配列した電子部品に対応でき
る電子部品検査治具を提供し得る。しかも、電子
部品を凹部に嵌合させるのに必要とする以上の相
対移動距離を、弾力に抗して移動検査治具と摺動
支持基台とが近接して吸収でき、電子部品および
電子部品を実装したプリント基板等を押し潰して
破壊するようなことがないという優れた効果を奏
する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の電子部品検査治具の一実施
例の縦断面図であり、第２図は、コンタクトピン
の一実施例の断面図であり、第３図は、コンタク
トピンの他の実施例の断面図であり、第４図は、
側方に端子が張り出したIC等の電子部品の斜視
図であり、第５図は、本考案の電子部品検査治具
の対象とする側面に沿つて端子が設けられたIC
等の電子部品の斜視図である。１，３……電子部品、２，４……端子、１１…
…摺動支持基台、１２……支持孔、１３……支持
柱、１４……位置決め孔、１５……位置決めピ
ン、１６……有底孔、１７……分離用コイルば
ね、５１……移動検査治具、５２……凹部、５３
……コンタクトピン、５４……外筒、５５……コ
イルばね、５６……鋼球、５７……突起部材。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

側面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品
が挿入嵌合できる凹部を絶縁材からなる移動検査
治具に形成し、前記電子部品の側面に対向する前
記凹部の内周に前記電子部品の端子にそれぞれ対
応させて、金属製の外筒にコイルばねが封入され
このコイルばねの弾力で圧接突起が前記外筒の一
端部に設けられた小孔から抜け出すことなしにそ
の一部を突出させるコンタクトピンを内方に向け
て配列し、前記移動検査治具を摺動支持基台の下
に所定移動幅より分離することなしに上下動のみ
自在に配置するとともに分離用コイルばねにより
分離方向に弾性付勢し、前記摺動支持基台の下降
により、前記電子部品を前記凹部に嵌合させると
ともに前記端子に横方向から前記圧接突起をそれ
ぞれ弾接させるように構成したことを特徴とする
電子部品検査治具。