JPH0446220Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0446220Y2 JPH0446220Y2 JP1985170030U JP17003085U JPH0446220Y2 JP H0446220 Y2 JPH0446220 Y2 JP H0446220Y2 JP 1985170030 U JP1985170030 U JP 1985170030U JP 17003085 U JP17003085 U JP 17003085U JP H0446220 Y2 JPH0446220 Y2 JP H0446220Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- frame
- conductive terminal
- terminals
- jig
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 210000002105 tongue Anatomy 0.000 claims description 35
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 23
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 15
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 15
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は、側面に沿つて端子が設けられた電子
部品の電気的検査をするのに好適な電子部品検査
治具に関するものである。
部品の電気的検査をするのに好適な電子部品検査
治具に関するものである。
（従来の技術）
高密度に配設されたプリント基板の回路パター
ンおよびこれらの回路パターンに実装されたIC
その他の電子部品の電気的特性を検査するため
に、多数のコンタクトプローブを回路パターンや
電子部品等の適宜な多数の検査点に同時に当接さ
せて種々の測定検査が行なわれている。
ンおよびこれらの回路パターンに実装されたIC
その他の電子部品の電気的特性を検査するため
に、多数のコンタクトプローブを回路パターンや
電子部品等の適宜な多数の検査点に同時に当接さ
せて種々の測定検査が行なわれている。
（考案が解決しようとする問題点）
ところで、従来の電子部品検査治具は、プリン
ト基板等に対してコンタクトプローブを垂直方向
に相対移動させるもので、例えば第５図に示す
IC等の電子部品１の多数の端子２，２……の肩
部等の水平な検査点Ｐ，Ｐ……にコンタクトプロ
ーブを当接するものである。しかるに、近年、
IC等の電子部品３で端子４，４……が、第６図
のごとく、電子部品３の本体の側面から底面にか
けて電子部品３に沿つて密接状態に設けられたも
のがある。これは、プリント基板に電子部品３を
接着剤により接合するのに好適であるとともに、
より一層の高密度実装を図るためである。ここ
で、従来の電子部品治具では、第６図のごとき電
子部品３の端子４，４……にコンタクトプローブ
を当接させることができず、測定検査することが
できないという問題点がある。
ト基板等に対してコンタクトプローブを垂直方向
に相対移動させるもので、例えば第５図に示す
IC等の電子部品１の多数の端子２，２……の肩
部等の水平な検査点Ｐ，Ｐ……にコンタクトプロ
ーブを当接するものである。しかるに、近年、
IC等の電子部品３で端子４，４……が、第６図
のごとく、電子部品３の本体の側面から底面にか
けて電子部品３に沿つて密接状態に設けられたも
のがある。これは、プリント基板に電子部品３を
接着剤により接合するのに好適であるとともに、
より一層の高密度実装を図るためである。ここ
で、従来の電子部品治具では、第６図のごとき電
子部品３の端子４，４……にコンタクトプローブ
を当接させることができず、測定検査することが
できないという問題点がある。
本考案の目的は、上記の従来の電子部品検査治
具の問題点を解決するためになされたもので、側
面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品を検
査することのできる電子部品検査治具を提供する
ことにある。
具の問題点を解決するためになされたもので、側
面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品を検
査することのできる電子部品検査治具を提供する
ことにある。
（問題を解決するための手段）
かかる目的を達成するために、本考案の電子部
品検査治具は、側面に沿つて多数の端子が設けら
れた電子部品の側方周囲を囲む枠体の上端面に、
前記電子部品の端子配列にそれぞれ対応して内側
と外側に渡つて溝を設け、この溝に装入されると
ともに前記枠体の内周壁に沿つて垂下するよう折
り曲げられた導通端子舌片をそれぞれ配列し、前
記枠体の上面に治具基板を固定するとともに前記
枠体の内側に挿入固定部材を挿入し、前記導通端
子舌片を前記枠体と前記挿入固定部材で挟持固定
し、前記電子部品を前記枠体で囲むように相対移
動させて前記端子に横方向から前記導通端子舌片
をそれぞれ弾接させるように構成されている。
品検査治具は、側面に沿つて多数の端子が設けら
れた電子部品の側方周囲を囲む枠体の上端面に、
前記電子部品の端子配列にそれぞれ対応して内側
と外側に渡つて溝を設け、この溝に装入されると
ともに前記枠体の内周壁に沿つて垂下するよう折
り曲げられた導通端子舌片をそれぞれ配列し、前
記枠体の上面に治具基板を固定するとともに前記
枠体の内側に挿入固定部材を挿入し、前記導通端
子舌片を前記枠体と前記挿入固定部材で挟持固定
し、前記電子部品を前記枠体で囲むように相対移
動させて前記端子に横方向から前記導通端子舌片
をそれぞれ弾接させるように構成されている。
（作用）
電子部品が挿入嵌合できる凹部の電子部品の側
面に対向する内周に、電子部品の多数の端子にそ
れぞれ対応して弾性を有する導通端子舌片を上下
方向に配列したので、電子部品を凹部に嵌合させ
るように検査治具台を相対移動させることで、電
子部品の端子に横方向から導通端子舌片をそれぞ
れ弾接させることができ、この導通端子舌片を適
宜に検査装置に導通接続することにより、側面に
沿つて端子が設けられた電子部品を測定検査する
ことができる。さらに、枠体の上端面に内側と外
側に渡つて設けられた溝により導通端子舌片が位
置決めされるとともに、枠体の内側に挿入固定部
材を挿入することで、導通端子舌片の枠体の内周
壁に沿つて垂下された部分が枠体と挿入固定部材
で挟持固定される。この導通端子舌片が垂下され
る部分は挟持されているだけであり、位置をずら
すことができ、位置調整によつて導通端子舌片を
細かな間隔で均一に配列させ得る。
面に対向する内周に、電子部品の多数の端子にそ
れぞれ対応して弾性を有する導通端子舌片を上下
方向に配列したので、電子部品を凹部に嵌合させ
るように検査治具台を相対移動させることで、電
子部品の端子に横方向から導通端子舌片をそれぞ
れ弾接させることができ、この導通端子舌片を適
宜に検査装置に導通接続することにより、側面に
沿つて端子が設けられた電子部品を測定検査する
ことができる。さらに、枠体の上端面に内側と外
側に渡つて設けられた溝により導通端子舌片が位
置決めされるとともに、枠体の内側に挿入固定部
材を挿入することで、導通端子舌片の枠体の内周
壁に沿つて垂下された部分が枠体と挿入固定部材
で挟持固定される。この導通端子舌片が垂下され
る部分は挟持されているだけであり、位置をずら
すことができ、位置調整によつて導通端子舌片を
細かな間隔で均一に配列させ得る。
（実施例の説明）
以下、本考案の実施例を第１図ないし第４図を
参照して説明する。第１図は、本考案の電子部品
検査治具の一実施例の平面図であり、第２図は、
第１図のＡ−Ａ断面図であり、第３図は、第１図
の底面図であり、第４図は、第１図の導通端子舌
片および枠体の一部切欠き斜視図である。
参照して説明する。第１図は、本考案の電子部品
検査治具の一実施例の平面図であり、第２図は、
第１図のＡ−Ａ断面図であり、第３図は、第１図
の底面図であり、第４図は、第１図の導通端子舌
片および枠体の一部切欠き斜視図である。
第１図ないし第４図において、電子部品検査治
具１０は、絶縁樹脂で形成された治具基台１１に
絶縁樹脂で形成された枠体１２をねじ２４，２４
……により固定する。この枠体１２の内周形状
は、電子部品３が挿入嵌合できるように電子部品
３の平面形状より若干大きい形状で上下方向に貫
通させて形成するとともに、その下部の内周形状
を拡大して拡大部１３を形成し、さらに上端面１
４に電子部品３の多数の端子４，４……の配列に
それぞれ対応して内側から外側に渡つて溝１５，
１５……を形成する。この溝１５，１５……に挿
入されて枠体１２と治具基台１１とで挟持固定さ
れる導通端子舌片１６，１６……は、弾性を有す
る良導体の板金で形成し、溝１５，１５……の両
端で折り曲げて、一端を枠体１２の内周壁に沿つ
て垂下し、他端を治具基台１１の側壁に沿つて上
に向けてクランク状に形成する。さらに、導通端
子舌片１６，１６……の垂下した端部に枠体１２
の拡大部１３に臨んで内方に凸なる円弧状の当接
部１７，１７……を形成する。そして、枠体１２
の内側に絶縁樹脂で形成した挿入固定部材１８を
挿入し、この挿入固定部材１８と枠体１２の内周
壁とにより導通端子舌片１６，１６……の垂下し
た部分を挟持して当接部１７，１７……の位置が
ずれないように固定する。これら治具基台１１と
枠体１２および挿入固定部材１８により検査治具
台を構成するとともに凹部を形成する。なお、１
９，１９は治具基台１１と挿入固定部材１８との
貫通して打ち込む位置決めピンであり、２０，２
０は挿入固定部材１８を治具基台１１に固定する
止めねじである。
具１０は、絶縁樹脂で形成された治具基台１１に
絶縁樹脂で形成された枠体１２をねじ２４，２４
……により固定する。この枠体１２の内周形状
は、電子部品３が挿入嵌合できるように電子部品
３の平面形状より若干大きい形状で上下方向に貫
通させて形成するとともに、その下部の内周形状
を拡大して拡大部１３を形成し、さらに上端面１
４に電子部品３の多数の端子４，４……の配列に
それぞれ対応して内側から外側に渡つて溝１５，
１５……を形成する。この溝１５，１５……に挿
入されて枠体１２と治具基台１１とで挟持固定さ
れる導通端子舌片１６，１６……は、弾性を有す
る良導体の板金で形成し、溝１５，１５……の両
端で折り曲げて、一端を枠体１２の内周壁に沿つ
て垂下し、他端を治具基台１１の側壁に沿つて上
に向けてクランク状に形成する。さらに、導通端
子舌片１６，１６……の垂下した端部に枠体１２
の拡大部１３に臨んで内方に凸なる円弧状の当接
部１７，１７……を形成する。そして、枠体１２
の内側に絶縁樹脂で形成した挿入固定部材１８を
挿入し、この挿入固定部材１８と枠体１２の内周
壁とにより導通端子舌片１６，１６……の垂下し
た部分を挟持して当接部１７，１７……の位置が
ずれないように固定する。これら治具基台１１と
枠体１２および挿入固定部材１８により検査治具
台を構成するとともに凹部を形成する。なお、１
９，１９は治具基台１１と挿入固定部材１８との
貫通して打ち込む位置決めピンであり、２０，２
０は挿入固定部材１８を治具基台１１に固定する
止めねじである。
組み付けのときは、まず枠体１２の溝１５，１
５……にそれぞれ導通端子舌片１６，１６……を
挿入し、その上から治具基台１１をねじ２４，２
４……で緩く固定する。次に、挿入固定部材１８
を枠体１２に挿入して導通端子舌片１６，１６…
…を挟持固定する。さらに、位置決めピン１９，
１９により挿入固定部材１８に対して治具基台１
１を位置決めしてねじ１３，１３および止めねじ
２０，２０を固く締め付ける。
５……にそれぞれ導通端子舌片１６，１６……を
挿入し、その上から治具基台１１をねじ２４，２
４……で緩く固定する。次に、挿入固定部材１８
を枠体１２に挿入して導通端子舌片１６，１６…
…を挟持固定する。さらに、位置決めピン１９，
１９により挿入固定部材１８に対して治具基台１
１を位置決めしてねじ１３，１３および止めねじ
２０，２０を固く締め付ける。
かかる構成の電子部品検査治具１０を治具取付
基台２１にねじ２２，２２で固定し、導通端子舌
片１６，１６……の治具基台１１の側壁に沿つて
上に向けた端部にそれぞれリード線２３，２３…
…を接続する。さらに、このリード線２３，２３
……を図示しない検査装置に接続する。
基台２１にねじ２２，２２で固定し、導通端子舌
片１６，１６……の治具基台１１の側壁に沿つて
上に向けた端部にそれぞれリード線２３，２３…
…を接続する。さらに、このリード線２３，２３
……を図示しない検査装置に接続する。
プリント基板等に実装された電子部品３に対し
て治具取付基台２１を近接方向に相対移動させ
て、検査治具台に形成された凹部に電子部品３を
挿入嵌合させる。すると、導通端子舌片１６，１
６……の当接部１７，１７……は拡大部１３内で
弾性変形して電子部品３の端子４，４……に横方
向から弾接して、端子４，４……を導通端子舌片
１６，１６……およびリード線２３，２３……を
介して検査装置に導通接続できる。
て治具取付基台２１を近接方向に相対移動させ
て、検査治具台に形成された凹部に電子部品３を
挿入嵌合させる。すると、導通端子舌片１６，１
６……の当接部１７，１７……は拡大部１３内で
弾性変形して電子部品３の端子４，４……に横方
向から弾接して、端子４，４……を導通端子舌片
１６，１６……およびリード線２３，２３……を
介して検査装置に導通接続できる。
したがつて、第６図のごとき側面に沿つて多数
の端子４，４……が設けられた電子部品３を、第
５図のごとき端子２，２……が側方に張り出した
電子部品１と同様に測定検査することができる。
そして、導通端子舌片１６，１６……を上下方向
に配列したので、電子部品３の端子４，４……に
当接部１７，１７……がずれることなく円滑に弾
接することができる。また、導通端子舌片１６，
１６……の垂下する部分を枠体１２と挿入固定部
材１８で挟持固定するので、導通端子舌片１６，
１６……を僅かながら位置調整することが可能で
あり、細かな間隔で均一に配列することができ
る。さらに、導通端子舌片１６，１６……の弾力
にばらつきを生ずることがなく、電子部品３の端
子４，４……に均一な弾力で当接することができ
る。そしてさらに、導通端子舌片１６，１６……
をクランク状に折り曲げ、治具基台１１と挿入固
定部材１８とで直交する２方向から枠体１２に固
定するので、導通端子舌片１６，１６……を確実
に固定することができる。
の端子４，４……が設けられた電子部品３を、第
５図のごとき端子２，２……が側方に張り出した
電子部品１と同様に測定検査することができる。
そして、導通端子舌片１６，１６……を上下方向
に配列したので、電子部品３の端子４，４……に
当接部１７，１７……がずれることなく円滑に弾
接することができる。また、導通端子舌片１６，
１６……の垂下する部分を枠体１２と挿入固定部
材１８で挟持固定するので、導通端子舌片１６，
１６……を僅かながら位置調整することが可能で
あり、細かな間隔で均一に配列することができ
る。さらに、導通端子舌片１６，１６……の弾力
にばらつきを生ずることがなく、電子部品３の端
子４，４……に均一な弾力で当接することができ
る。そしてさらに、導通端子舌片１６，１６……
をクランク状に折り曲げ、治具基台１１と挿入固
定部材１８とで直交する２方向から枠体１２に固
定するので、導通端子舌片１６，１６……を確実
に固定することができる。
なお、本考案の電子部品検査治具の測定検査の
対象は、側面に沿つて端子４，４……が設けられ
た電子部品３であれば良く、ICに限られないこ
とは勿論である。
対象は、側面に沿つて端子４，４……が設けられ
た電子部品３であれば良く、ICに限られないこ
とは勿論である。
（考案の効果）
以上説明したように、本考案の電子部品検査治
具によれば、電子部品が挿入嵌合できる凹部の電
子部品の側面に対向する内周に、電子部品の多数
の端子にそれぞれ対応して弾性を有する導通端子
舌片を上下方向に配列したので、電子部品を凹部
に嵌合させるように検査治具台を相対移動させる
ことで、電子部品の端子に横方向から導通端子舌
片をそれぞれ弾接させることができ、この導通端
子舌片を適宜に検査装置に導通接続することによ
り、側面に沿つて端子が設けられた電子部品を測
定検査することができる。さらに、導通端子舌片
の垂下される部分は、枠体と挿入固定部材で挟持
されているだけであり、位置をずらすことがで
き、この位置調整によつて導通端子舌片を細かな
間隔で正確に配列させることができるという優れ
た効果を奏する。
具によれば、電子部品が挿入嵌合できる凹部の電
子部品の側面に対向する内周に、電子部品の多数
の端子にそれぞれ対応して弾性を有する導通端子
舌片を上下方向に配列したので、電子部品を凹部
に嵌合させるように検査治具台を相対移動させる
ことで、電子部品の端子に横方向から導通端子舌
片をそれぞれ弾接させることができ、この導通端
子舌片を適宜に検査装置に導通接続することによ
り、側面に沿つて端子が設けられた電子部品を測
定検査することができる。さらに、導通端子舌片
の垂下される部分は、枠体と挿入固定部材で挟持
されているだけであり、位置をずらすことがで
き、この位置調整によつて導通端子舌片を細かな
間隔で正確に配列させることができるという優れ
た効果を奏する。
第１図は、本考案の電子部品検査治具の一実施
例の平面図であり、第２図は、第１図のＡ−Ａ断
面図であり、第３図は、第１図の底面図であり、
第４図は、第１図の導通端子舌片および枠体の一
部切欠き斜視図であり、第５図は、側方に端子が
張り出したIC等の電子部品の斜視図であり、第
６図は、本考案の電子部品検査治具の対象とする
側面に沿つて端子が設けられたIC等の電子部品
の斜視図である。 １，３……電子部品、２，４……端子、１０…
…電子部品検査治具、１１……治具基台、１２…
…枠体、１４……上端面、１５……溝、１６……
導通端子舌片、１７……当接部、１８……挿入固
定部材。
例の平面図であり、第２図は、第１図のＡ−Ａ断
面図であり、第３図は、第１図の底面図であり、
第４図は、第１図の導通端子舌片および枠体の一
部切欠き斜視図であり、第５図は、側方に端子が
張り出したIC等の電子部品の斜視図であり、第
６図は、本考案の電子部品検査治具の対象とする
側面に沿つて端子が設けられたIC等の電子部品
の斜視図である。 １，３……電子部品、２，４……端子、１０…
…電子部品検査治具、１１……治具基台、１２…
…枠体、１４……上端面、１５……溝、１６……
導通端子舌片、１７……当接部、１８……挿入固
定部材。
Claims (1)
- 側面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品
の側方周囲を囲む枠体の上端面に、前記電子部品
の端子配列にそれぞれ対応して内側と外側に渡つ
て溝を設け、この溝に挿入されるとともに前記枠
体の内周壁に沿つて垂下するよう折り曲げられた
導通端子舌片をそれぞれ配列し、前記枠体の上面
に治具基台を固定するとともに前記枠体の内側に
挿入固定部材を挿入し、前記導通端子舌片を前記
枠体と前記挿入固定部材で挟持固定し、前記電子
部品を前記枠体で囲むように相対移動させて前記
端子に横方向から前記導通端子舌片をそれぞれ弾
接させるように構成したことを特徴とする電子部
品検査治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985170030U JPH0446220Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985170030U JPH0446220Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6279180U JPS6279180U (ja) | 1987-05-20 |
| JPH0446220Y2 true JPH0446220Y2 (ja) | 1992-10-29 |
Family
ID=31104385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985170030U Expired JPH0446220Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0446220Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60213872A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-26 | アイ・テイー・インダストリーズ、インコーポレーテツド | チツプキヤリアテストアダプタ |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5877051U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | Ｉｃアダプタ |
-
1985
- 1985-11-05 JP JP1985170030U patent/JPH0446220Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60213872A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-26 | アイ・テイー・インダストリーズ、インコーポレーテツド | チツプキヤリアテストアダプタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6279180U (ja) | 1987-05-20 |
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