JPH0446221Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、側面に沿つて端子が設けられた電子
部品の電気的検査をするのに好適な電子部品検査
治具に関するものである。

（従来の技術） 高密度に配設されたプリント基板の回路パター
ンおよびこれらの回路パターンに実装されたIC
その他の電子部品の電気的特性を検査するため
に、多数のコンタクトプローブを回路パターンや
電子部品等の適宜な多数の検査点に同時に当接さ
せて種々の測定検査が行なわれている。

（考案が解決しようとする問題点） ところで、従来の電子部品検査治具は、プリン
ト基板等に対してコンタクトプローブを垂直方向
に相対移動させるもので、例えば第９図に示す
IC等の電子部品１の多数の端子２，２……の肩
部等の水平な検査点Ｐ，Ｐ……にコンタクトプロ
ーブを当接するものである。しかるに、近年、
IC等の電子部品３で端子４，４……が、第１０
図のごとく、電子部品３の本体の側面から底面に
かけて電子部品３に沿つて密接状態に設けられた
ものがある。これは、プリント基板に電子部品３
を接着剤により接合するのに好適であるととも
に、より一層の高密度実装を図るためである。こ
こで、従来の電子部品検査治具では、第１０図の
ごとき電子部品３の端子４，４……にコンタクト
プローブを当接させることができず、測定検査す
ることができないという問題点がある。

本考案の目的は、上記の従来の電子部品検査治
具の問題点を解決するためになされたもので、側
面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品を検
査することができ、しかも電子部品およびこの電
子部品が実装されたプリント基板を破壊すること
のない電子部品検査治具を提供することにある。

（問題を解決するための手段） かかる目的を達成するために、本考案の電子部
品検査治具は、側面に沿つて多数の端子が設けら
れた電子部品の側方周囲を囲む絶縁材からなる枠
体の上端面に、前記電子部品の端子配列にそれぞ
れ対応して内側と外側に渡つて溝を設け、この溝
に挿入されるとともに前記枠体の内周壁に沿つて
垂下するよう折り曲げられた導通端子舌片をそれ
ぞれ配列し、前記枠体の上面に絶縁材からなる治
具基台を固定するとともに前記枠体の内側に絶縁
材からなる挿入固定部材を挿入し、前記導通端子
舌片の垂下する部分を前記枠体と前記挿入固定部
材で挟持固定して移動検査治具を形成し、該移動
検査治具を摺動支持基台の下に所定移動幅より分
離することなしに上下動のみ自在に配置するとと
もにコイルばねにより分離方向に弾性付勢し、前
記摺動支持基台の下降により、前記電子部品を前
記枠体で囲むように相対移動させて前記端子に横
方向から前記動通端子舌片をそれぞれ弾接させる
ように構成されている。

（作用） 電子部品の側方周囲を囲む枠体の上端面に電子
部品の多数の端子配列にそれぞれ対応して内側と
外側に渡つて溝を設け、この溝に挿入されるとと
もに枠体の内周壁に沿つて垂下するよう折り曲げ
られた導通端子舌片をそれぞれ配列し、枠体の内
側に挿入する挿入固定部材で導通端子舌片の垂下
する部分を挟持固定するとともに枠体の上面に固
定する治具基台で溝に挿入された導通端子舌片を
固定したので、電子部品の側方周囲を枠体で囲む
ように相対移動させることで、電子部品の端子に
横方向から導通端子舌片をそれぞれ弾接させるこ
とができ、この導通端子舌片を適宜に検査装置に
導通接続させることで、側面に沿つて多数の端子
が設けられた電子部品を測定検査することができ
る。そして、枠体の内周壁に沿つて導通端子舌片
を上下方向に垂下させるとともに挿入固定部材で
挟持固定したので、電子部品の側方周囲を枠体で
囲むように相対移動させる際に、導通端子舌片が
ずれることなく円滑に電子部品の端子に弾接し、
しかも導通端子舌片を側方に僅かながらずらして
位置調整することが可能であり、細かな間隔で均
一に配列することができ、さらに導通端子舌片の
弾力にばらつきを生じることがなく均一な動作が
得られる。さらに、電子部品を枠体で囲むように
摺動支持基台を下降させたときに、電子部品を枠
体で囲んで端子に導通端子舌片を弾接させるのに
必要とする以上の近接方向の移動距離は、コイル
ばねの弾力に抗して移動検査治具が摺動支持基台
に近接して吸収でき、電子部品および電子部品が
実装されるプリント基板に過大な力を与えて破壊
するようなことがない。

（実施例の説明） 以下、本考案の実施例を第１図ないし第６図を
参照して説明する。第１図は、本考案の電子部品
検査治具の一実施例で用いる移動検査治具の平面
図であり、第２図は、第１図のＡ−Ａ断面図であ
り、第３図は、第１図の底面図であり、第４図
は、第１図の導通端子舌片および枠体の一部切欠
き斜視図であり、第５図は、本考案の電子部品検
査治具の一実施例に用いる摺動支持基台の平面図
であり、第６図は、本考案の電子部品検査治具の
一実施例の縦断面図である。

第１図ないし第６図において、移動検査治具１
０は、絶縁樹脂で成形された治具基台１１に絶縁
樹脂で成形された枠体１２をねじ２４，２４……
により固定する。この枠体１２の内周形状は、電
子部品３の側方周囲を囲むように電子部品３の平
面形状より若干大きい形状で上下方向に貫通させ
て形成するとともに、その下部の内周形状を拡大
して拡大部１３を形成し、さらに上端面１４に電
子部品３の多数の端子４，４……の配列にそれぞ
れ対応して内側から外側に渡つて溝１５，１５…
…を形成する。この溝１５，１５に挿入され枠体
１２と治具基台１１とで挟持される導通端子舌片
１６，１６……は、弾性を有する良導体の板金で
形成し、溝１５，１５……の両端で折り曲げて、
一端を枠体１２の内周壁に沿つて垂下し、他端を
治具基台１１の側壁に沿つて上に向けてクランク
状に形成する。さらに、導通端子舌片１６，１６
……の垂下した端部に枠体１２の拡大部１３に臨
んで内方に凸なる円弧状の当接部１７，１７……
を形成する。そして、枠体１２の内側に絶縁樹脂
で形成した挿入固定部材１８を挿入し、この挿入
固定部材１８と枠体１２の内周壁とにより導通端
子舌片１６，１６……の垂下した部分を挟持して
当接部１７，１７……の位置がずれないように固
定する。なお、１９，１９は治具基台１１と挿入
固定部材１８とに貫通して打ち込む位置決めピン
であり、２０，２０は挿入固定部材１８を治具基
台１１に固定する止めねじである。

組み付けのときは、まず枠体１２の溝１５，１
５……にそれぞれ導通端子舌片１６，１６……を
挿入し、その上から治具基台１１をねじ２４，２
４……で緩く固定する。次に、挿入固定部材１８
を枠体１２に挿入して導通端子舌片１６，１６…
…を挟持固定する。さらに、位置決めピン１９，
１９により挿入固定部材１８に対して治具基台１
１を位置決めし、ねじ１３，１３および止めねじ
２０，２０を固く締め付ける。

かかる構成の移動検査治具１０において、導通
端子舌片１６，１６……の治具基台１１の側壁に
沿つて上に向けた端部にそれぞれリード線２３，
２３……を接続する。さらに、このリード線２
３，２３……を図示しない検査装置に接続する。

プリント基板等に実装された電子部品３に対し
て移動検査治具１０を近接方向に相対移動させ
て、枠体１２の内側に電子部品３を囲むように挿
入嵌合させる。すると、導通端子舌片１６，１６
……の当接部１７，１７……は拡大部１３内で弾
性変形して端子４，４に横方向から弾接して、端
子４，４……を導通端子舌片１６，１６……およ
びリード線２３，２３……を介して検査装置に導
通接続できる。

したがつて、第１０図のごとき側面に沿つて多
数の端子４，４……が設けられた電子部品３を、
第９図のごとき端子２，２……が側方に張り出し
た電子部品１と同様に測定検査することができ
る。そして、導通端子舌片１６，１６……を上下
方向に配列したので、電子部品３の端子４，４…
…に当接部１７，１７……がずれることなく円滑
に弾接することができる。また、導通端子舌片１
６，１６……の垂下する部分を枠体１２と挿入固
定部材１８で挟持固定するので、導通端子舌片１
６，１６……を僅かながら位置調整することが可
能であり、細かな間隔で均一に配列することがで
きる。さらに、導通端子舌片１６，１６……の弾
力にばらつきを生ずることがなく、電子部品３の
端子４，４……に均一な弾力で当接することがで
きる。そしてさらに、導通端子舌片１６，１６…
…をクランク状に折り曲げて、治具基台１１と挿
入固定部材１８とで直交する２方向から枠体１２
に固定するので、導通端子舌片１６，１６……を
確実に固定することができる。

さらに、摺動支持基台３０の中央部に支持孔３
１を上下に貫通させて穿設し、頭部に膨大部を有
する支持柱３２を支持孔３１に挿通して治具基台
１１に植設し、移動検査治具１０を摺動支持基台
３０の下に適宜な移動幅で分離しないように上下
動自在に配設する。また、摺動支持基台３０に位
置決め孔３３，３３を穿設し、治具基台１１と挿
入固定部材１８に挿入した位置決めピン３４，３
４の上部を位置決め孔３３，３３に上下摺動可能
に挿入して移動検査治具１０を横方向にずれるこ
となく上下方向のみ移動可能としている。さら
に、摺動支持基台３０の下面に有底孔３５，３５
を設け、この有底孔３５，３５と治具基台１１と
の間に圧縮コイルばね３６，３６を縮設して移動
検査治具１０を下方に弾性付勢する。なお、３
７，３７はリード線２３，２３……を通すための
摺動支持基台３０に穿設したリード線取り出し用
の長孔であり、３８，３８……は摺動支持基台３
０を治具付基台２１に固定するための止めねじで
ある。

かかる構成において、プリント基板等に実装さ
れた電子部品３に対して治具取付基台２１を相対
移動させて、電子部品検査治具１０の枠体１２で
電子部品３の側方周囲を囲み、導通端子舌片１
６，１６……を端子４，４……に横方向から弾接
する。そして、電子部品検査治具１０の枠体１２
の内側に電子部品３が充分挿入される以上の治具
取付基台２１の相対移動距離に対して圧縮コイル
ばね３６，３６の弾力に抗して移動検査治具１０
が摺動支持基台３０に近ずいて治具取付基台２１
の必要以上の移動距離を吸収する。この摺動支持
基台３０に対する移動検査治具１０の上下動をリ
ード線２３，２３……は適宜に撓んで許容する。
したがつて、治具取付基台２１の下降する力によ
つて電子部品３およびこの電子部品３が実装され
たプリント基板等を押し潰すようなことがない。

第７図および第８図は、本考案の電子部品検査
治具を治具取付基台に上下動自在に配設した他の
実施例である。第７図は、本考案の電子部品検査
治具の他の実施例に用いる摺動支持基台の平面図
であり、第８図は、本考案の電子部品検査治具の
他の実施例の縦断面図である。第７図および第８
図において、第１図ないし第６図と同一部材に同
一符号を付して重複する説明を省略する。

第７図および第８図において、枠体１２の溝１
５，１５……に挿入された部分の導通端子舌片１
６，１６……に臨んで治具基台１１にプローブ挿
入孔４０，４０……を設け、このプローブ挿入孔
４０，４０……と対応して摺動支持基台４１に導
通伸縮プローブ４２，４２……を挿通固定して導
通端子舌片１６，１６……に当接させる。この導
電伸縮プローブ４２，４２……は、従来公知のご
とく、導通性を有する保護筒にプランジヤーを抜
け落ないように摺動自在に設け、保護筒に封入さ
れたコイルばねによりプランジヤーを突出方向に
弾性付勢し、プランジヤーの先端を導通端子舌片
１６，１６……に弾接させる構造のものである。
したがつて、摺動支持基台４１に対する移動検査
治具１０の上下動に対して、導通伸縮プローブ４
２，４２……は伸縮して導通端子舌片１６，１６
……との電気的接続を維持する。そして、導電伸
縮プローブ４２，４２……は導通端子舌片１６，
１６……を均一に押圧でき、移動検査治具１０の
上下動にこじり等の力が生ずることなく、移動検
査治具１０を円滑に上下動させることができる。

（考案の効果） 以上説明したように、本考案の電子部品検査治
具によれば、電子部品の側方周囲を囲む枠体の上
端面に電子部品の多数の端子配列にそれぞれ対応
して内側と外側に渡つて溝を設け、この溝に挿入
されるとともに枠体の内周壁に沿つて垂下するよ
う折り曲げられた導通端子舌片をそれぞれ配列
し、枠体の内側に挿入する挿入固定部材で導通端
子舌片の垂下する部分を挟持固定するとともに枠
体の上面に固定する治具基台で溝に挿入された導
通端子舌片を固定したので、電子部品の側方周囲
を枠体で囲むように相対移動させることで、電子
部品の端子に横方向から導通端子舌片をそれぞれ
弾接させることができ、この導通端子舌片を適宜
に検査装置に導通接続させることで、側面に沿つ
て多数の端子が設けられた電子部品を測定検査す
ることができる。そして、枠体の内周壁に沿つて
導通端子舌片を上下方向に垂下させるとともに挿
入固定部材で挟持固定したので、電子部品の側方
周囲を枠体で囲むように相対移動させる際に、導
通端子舌片がずれることなく円滑に電子部品の端
子に弾接し、しかも導通端子舌片を側方に僅かな
がらずらして位置調整することが可能であり、細
かな間隔で均一に配列することができ、さらに導
通端子舌片の弾力にばらつきを生じることがなく
均一な動作が得られる。さらに、電子部品を枠体
で囲むように摺動支持基台を下降させたときに、
電子部品を枠体で囲んで端子に導通端子舌片を弾
接させるのに必要とする以上の近接方向の移動距
離は、コイルばねの弾力に抗して移動検査治具が
摺動支持基台に近接して吸収でき、電子部品およ
び電子部品が実装されるプリント基板に過大な力
を与えて破壊するようなことがないという優れた
効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の電子部品検査治具の一実施
例で用いる移動検査治具の平面図であり、第２図
は、第１図のＡ−Ａ断面図であり、第３図は、第
１図の底面図であり、第４図は、第１図の導通端
子舌片および枠体の一部切欠き斜視図であり、第
５図は、本考案の電子部品検査治具の一実施例に
用いる摺動支持基台の平面図であり、第６図は、
本考案の電子部品検査治具の一実施例の縦断面図
であり、第７図は、本考案の電子部品検査治具の
他の実施例で用いる摺動支持基台の平面図であ
り、第８図は、本考案の電子部品検査治具の他の
実施例の縦断面図であり、第９図は、側方の端子
が張り出したIC等の電子部品の斜視図であり、
第１０図は、本考案の電子部品の検査治具の対象
とする側面に沿つて端子が設けられたIC等の電
子部品の斜視図である。 １，３……電子部品、２，４……端子、１０…
…移動検査治具、１１……治具基台、１２……枠
体、１４……上端面、１５……溝、１６……導通
端子舌片、１８……挿入固定部材、３０……摺動
支持基台、３１……支持孔、３２……支持柱、３
３……位置決め孔、３４……位置決めピン、３５
……有底孔、３６……圧縮コイルばね。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 側面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品
   の側方周囲を囲む絶縁材からなる枠体の上端面
   に、前記電子部品の端子配列にそれぞれ対応して
   内側と外側に渡つて溝を設け、この溝に挿入され
   るとともに前記枠体の内周壁に沿つて垂下するよ
   う折り曲げられた導通端子舌片をそれぞれ配列
   し、前記枠体の上面に絶縁材からなる治具基台を
   固定するとともに前記枠体の内側に絶縁材からな
   る挿入固定部材を挿入し、前記導通端子舌片の垂
   下する部分を前記枠体と前記挿入固定部材で挟持
   固定して移動検査治具を形成し、該移動検査治具
   を摺動支持基台の下に所定移動幅より分離するこ
   となしに上下動のみ自在に配置するとともにコイ
   ルばねにより分離方向に弾性付勢し、前記摺動支
   持基台の下降により、前記電子部品を前記枠体で
   囲むように相対移動させて前記端子に横方向から
   前記導通端子舌片をそれぞれ弾接させるように構
   成したことを特徴とする電子部品検査治具。