JPH0436461Y2

JPH0436461Y2 -

Info

Publication number: JPH0436461Y2
Application number: JP1986101175U
Authority: JP
Priority date: 1986-07-01
Filing date: 1986-07-01
Publication date: 1992-08-27
Also published as: JPS637370U

Description

【考案の詳細な説明】（産業上の利用分野）本考案は、側面に僅かな間隔で多数の端子が設
けられた電子部品の電気的検査をするのに好適な
電子部品検査治具に関するものである。

（従来の技術）側面に多数の端子が設けられたIC等の電子部
品の電気的検査を行うための従来の電子部品検査
治具は、上下動自在な取付ボードに電子部品の端
子に臨んで上下方向にコンタクト・プローブを配
設し、取付ボードの相対接近方向の移動によりコ
ンタクト・プローブを電子部品の端子に当接させ
て種々の測定検査が行われている。

（考案が解決しようとする問題点）ところで、近年のIC等の電子部品は、回路の
多機能化に伴ない端子数が増加し、また小型化に
よつて端子間の間隔はほんの僅かなものである。
このために、従来の電子部品検査治具にあつて
は、基板精度の不良や実装位置の不良等により検
査される電子部品が所定の検査位置から僅かにず
れたとしても端子にコンタクト・プローブを正確
に当接できなくなるという虞があり、測定検査が
信頼性に欠けるという問題点があつた。

本考案の目的は、上記の従来の電子部品検査治
具の問題点を解決すべくなされたもので、側面に
僅かな間隔で多数の端子が設けられた電子部品を
高い信頼度で検査でき、しかも電子部品を押し潰
して破壊することのない電子部品検査治具を提供
することにある。

（問題点を解決するための手段）かかる目的を達成するために、本考案の電子部
品検査治具は、上下可動台の上下方向に、一面の
側面に多数の端子が設けられた電子部品が挿入嵌
合できる凹部を形成し、この凹部に嵌合される電
子部品の前記端子に臨んで上下方向に透孔を前記
上下可動台に穿設し、前記上下可動台の他側面に
配設された支持台に前記上下可動台を分離しない
ようにして上下動自在に配設するとともにコイル
ばねにより分離方向に弾性付勢し、さらに上下伸
縮自在のコンタクト・プローブを前記上下可動台
に穿設した前記透孔に先端部を遊嵌させて前記電
子部品の端子に臨むように前記支持台に配設して
構成されている。

（作用）上下可動台に電子部品が挿入嵌合できる凹部を
形成するとともにこの凹部に嵌合される電子部品
の側面に設けられた端子に臨んで上下方向に透孔
を穿設し、この透孔にコンタクト・プローブの先
端部を遊嵌させるので、相対移動により電子部品
を凹部に嵌合して位置決めができ、コンタクト・
プローブを端子に正確に当接することができる。
しかも、上下可動台を支持台に分離しないように
して上下動自在に配設するとともにコイルばねに
より分離方向に弾性付勢するので、電子部品を凹
部に嵌合するのに必要とする以上の相対移動距離
をコイルばねの弾力に抗して上下可動台が支持台
に接近して吸収でき、電子部品を押し潰して破壊
するようなことがない。

（実施例の説明）以下、本考案の実施例を第１図ないし第５図を
参照して説明する。第１図は、本考案の電子部品
検査治具の平面図であり、第２図は、第１図のＡ
−Ａ断面図であり、第３図は、上下可動台の凹部
に側面に端子が突出して設けられた電子部品が嵌
合された部分断面図であり、第４図は、支持台が
横方向にずれたときの説明図であり、第５図は、
上下可動台の凹部に側面に沿つて端子が設けられ
た電子部品が嵌合された部分断面図である。

第１図ないし第５図において、電子部品検査治
具１は、支持台２に支持孔３，３を上下に貫通し
て穿設し、この支持孔３，３に頭部に膨大部を有
する支持柱４，４を挿通して支持台２の下に配置
する上下可動台５に植設し、上下可動台５を支持
台２の下に適宜な移動幅で分離しないように上下
動自在に配設する。また、支持台２の下面に有底
孔６，６を穿設し、これらの有底孔６，６に対向
して上下可動台５の上面に有底孔７，７を穿設
し、両方の有底孔６，６，７，７にコイルばね
８，８を縮設して上下可動台５を分離方向に弾性
付勢する。さらに、上下可動台５の下面に電子部
品２３を挿入嵌合できる凹部９を形成し、この凹
部９の縁をテーパー状にして傾斜面１０，１０…
…を設ける。そして、凹部９に挿入嵌合される電
子部品２３の端子に臨んで上下可動台５に上下方
向の透孔１１，１１……を穿設し、この透孔１
１，１１……に先端部を遊嵌させてコンタクト・
プローブ１２，１２……を上下方向に支持台２に
配設する。

また、支持台２の周辺部に径の大きな透孔１
３，１３を上下方向に穿設し、この透孔１３，１
３にこれより小さな径であるとともに頭部が透孔
１３，１３を通過できない膨大部を有する支軸１
４，１４を挿通して支持台２の上に配置された検
査基台１５に植設し、支持台２を検査基台１５に
適宜な移動幅で分離しないように水平方向の横動
および回動自在に配設する。なお、コンタクト・
プローブ１２，１２……に臨む検査基台１５の中
央部に大きな窓１６を形成する。そして、支持台
２の四隅の上面に有底孔１７，１７……を穿設
し、これらの有底孔１７，１７……に対向して検
査基台１５の下面に有底孔１８，１８……を穿設
し、これらの有底孔１７，１７……，１８，１８
……の開口部を適宜に面取りする。これらの有底
孔１７、１７……と１８，１８……に双方に跨が
るコイルばね１９，１９……を収納する。さら
に、検査基台１５を孔２０，２０……により検査
治具取付台２１に固定する。なお、コンタクト・
プローブ１２，１２……にリード線２２，２２…
…を接続して図示しないテスターに電気的導通接
続する。

かかる構成において、検査治具取付台２１を移
動して電子部品検査治具１を電子部品２３に接近
方向に相対移動し、凹部９に電子部品２３を挿入
嵌合する。このとき、凹部９の縁にテーパー状に
形成された傾斜面１０，１０……の案内で、電子
部品２３に凹部９が合致する位置となるように支
持台２は検査基台１５に対して移動し得る。そし
て、電子部品２３を凹部９に挿入するに必要とす
るより僅かに多い接近方向の相対移動により、コ
イルばね８，８の弾力に抗して上下可動台５が支
持台２に接近し、コンタクト・プローブ１２，１
２……の先端が上下可動台５の透孔１１，１１…
…から突き出して電子部品２３の端子に当接す
る。さらに、このコンタクト・プローブ１２，１
２……を当接するのに必要とする以上の接近方向
の相対移動に対して、上下可動台５が支持台２に
接近するとともにコンタクト・プローブ１２，１
２……が収縮する。

なお、支持台２が検査基台１５に対して横動す
れば、支持台２と検査基台１５に対向して穿設さ
れた有底孔１７と１８は、第４図のごとく軸がず
れ、収納されたコイルばね１９，１９……は弾力
に抗して蛇行する。そして、検査治具取付台２１
を上記と反対方向に移動して、電子部品２３が凹
部９より抜け出せば、コイルばね１９，１９……
の弾力により有底孔１７と１８の軸が一致する状
態に支持台２は弾力的に移動復帰する。

また、第５図のごとく側面に沿つて端子が設け
られた電子部品２３に対しても、電子部品２３の
側面からいくらかでも端子が突出していれば、端
子にコンタクト・プローブ１２，１２……を当接
することができる。

したがつて、上下可動台５の凹部１０で位置決
めされた電子部品２３の端子に、コンタクト・プ
ローブ１２，１２……を正確に当接し得る。この
結果、電子部品２３の端子を、コンタクト・プロ
ーブ１２，１２……とリード線２２，２２……を
順次介して確実にテスターに導通接続することが
できる。また、上下可動台５の凹部１０に電子部
品２３を充分に挿入嵌合するに必要とする以上の
接近方向の相対移動距離は、コイルばね８，８…
…の弾力に抗して上下可動台５と支持台２とが接
近するとともにコンタクト・プローブ１２，１２
……が収縮して吸収でき、電子部品２３を押し潰
して破壊することがない。さらに、支持台２が検
査基台１５に対して水平方向に横動および回動自
在であり、上下可動台５の凹部９の縁のテーパー
状の傾斜面１０，１０……により電子部品２３の
位置に上下可動台５が案内され、電子部品２３の
ある範囲の所定の検査位置からのずれは許容でき
る。

第６図は、本考案の電子部品検査治具の他の実
施例のコンタクト・プローブ先端の拡大図であ
る。第６図に示すコンタクト・プローブ２４はそ
の先端を凹部９の縁にテーパー状に形成した傾斜
面１０，１０……の傾斜と並行に形成してある。
特に、側面に沿つて端子が設けられた電子部品２
３の検査に好適である。

（考案の効果）以上説明したように、本考案の電子部品検査治
具によれば、凹部で位置決めした電子部品の端子
に正確にコンタクト・プローブを当接でき、僅か
な間隔で多数の端子が配設された電子部品の検査
の信頼性が向上する。しかも、上下可動台が弾力
に抗して支持台に接近することで必要以上の接近
方向の相対移動距離を吸収でき、電子部品を押し
潰して破壊することがないという優れた効果を奏
する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の電子部品検査治具の平面図
であり、第２図は、第１図のＡ−Ａ断面図であ
り、第３図は、上下可動台の凹部に側面に端子が
突出して設けられた電子部品が嵌合された部分断
面図であり、第４図は、支持台が横方向にずれた
ときの説明図であり、第５図は、上下可動台の凹
部に側面に沿つて端子が設けられた電子部品が嵌
合された部分断面図であり、第６図は、本考案の
電子部品検査治具の他の実施例のコンタクト・プ
ローブ先端の拡大図である。１……電子部品検査治具、２……支持台、３…
…支持孔、４……支持柱、５……上下可動台、
６，７……有底孔、８……コイルばね、９……凹
部、１１……透孔、１２，２４……コンタクト・
プローブ、２３……電子部品。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

上下可動台の上下方向の一面に、側面に多数の
端子が設けられた電子部品が挿入嵌合できる凹部
を形成し、この凹部に嵌合される電子部品の前記
端子に臨んで上下方向に透孔を前記上下可動台に
穿設し、前記上下可動台の他側面に配設された支
持台に前記上下可動台を分離しないようにして上
下動自在に配設するとともにコイルばねにより分
離方向に弾性付勢し、さらに上下伸縮自在のコン
タクト・プローブを前記上下可動台に穿設した前
記透孔に先端部を遊嵌させて前記電子部品の端子
に臨むように前記支持台に配設したことを特徴と
する電子部品検査治具。