JPS5914773Y2 - グランドプレ−ト - Google Patents
グランドプレ−トInfo
- Publication number
- JPS5914773Y2 JPS5914773Y2 JP15024579U JP15024579U JPS5914773Y2 JP S5914773 Y2 JPS5914773 Y2 JP S5914773Y2 JP 15024579 U JP15024579 U JP 15024579U JP 15024579 U JP15024579 U JP 15024579U JP S5914773 Y2 JPS5914773 Y2 JP S5914773Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ground
- printed circuit
- circuit board
- plate
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、IC等の電子部品が実装されたプリント基板
を試験する際に用いるに好適なグランドプレートに関す
る。
を試験する際に用いるに好適なグランドプレートに関す
る。
従来、この種のプリント基板上の電子部品の動作状態等
を試験する場合には、第7図に示すように、試験機等に
接続されたプローブ1の信号ピン1aを電子部品3の端
子3bに接触させて行なっていたが、この方法ではプロ
ーブ1とグランドを接続する手段が一本のリード線2で
あるためにリード線2の振動等により信号の正確な測定
が困難になる欠点があった。
を試験する場合には、第7図に示すように、試験機等に
接続されたプローブ1の信号ピン1aを電子部品3の端
子3bに接触させて行なっていたが、この方法ではプロ
ーブ1とグランドを接続する手段が一本のリード線2で
あるためにリード線2の振動等により信号の正確な測定
が困難になる欠点があった。
そこで、第8図及び第9図に示すように、電子部品3上
又は部品3近傍のプリント基板5上にグランドパターン
3a、5aを形成し、第10図及び第11図に示すよう
に、プローブ1に嵌着されたグランドバイブロ又はグラ
ンドピン7を介して各グランドパターン3a、5aと接
続を持つ方法が行なわれているが、この場合部品3上又
は部品3近傍に必ずグランドパターン3a又は5aを形
成する必要があり、最近の高密度実装化の傾向にそぐわ
ない欠点があった。
又は部品3近傍のプリント基板5上にグランドパターン
3a、5aを形成し、第10図及び第11図に示すよう
に、プローブ1に嵌着されたグランドバイブロ又はグラ
ンドピン7を介して各グランドパターン3a、5aと接
続を持つ方法が行なわれているが、この場合部品3上又
は部品3近傍に必ずグランドパターン3a又は5aを形
成する必要があり、最近の高密度実装化の傾向にそぐわ
ない欠点があった。
更に、上述の欠点を解決すべく、第12図に示すように
、グランドピン7を図中横方向に移動自在にし、部品3
周囲に設けるグランドパターン5aを、第13図に示す
ように、各信号端子3bに対して共通化せんとする提案
がなされたが、この場合は測定端子位置が変化する度毎
にグランドピン7を移動する必要があり、作業能率が極
めて悪かった。
、グランドピン7を図中横方向に移動自在にし、部品3
周囲に設けるグランドパターン5aを、第13図に示す
ように、各信号端子3bに対して共通化せんとする提案
がなされたが、この場合は測定端子位置が変化する度毎
にグランドピン7を移動する必要があり、作業能率が極
めて悪かった。
他にも、多種類のプローブ1を用いて、部品3の実装状
態に応じてそれ等プローブを使い分ける方法もあるが、
基板5を試験するごとに多数のプローブ1を用意しかつ
それ等を適切に使い分ける必要があり、作業が煩雑化す
る欠点があった。
態に応じてそれ等プローブを使い分ける方法もあるが、
基板5を試験するごとに多数のプローブ1を用意しかつ
それ等を適切に使い分ける必要があり、作業が煩雑化す
る欠点があった。
そこで、本考案は1.複数の電子部品を実装したプリン
ト基板の実装面に対応すると共に、該プリント基板上に
実装された電子部品の端子に対応し、かつ少なくともプ
ローブの信号ピンが挿入し得る大きさを有するプローブ
穴が形成された導電性材料からなるプレートであって、
少なくとも対向する両側に上記プリント基板に接続固定
される脚部を設けて断面略コ字状に形成すると共に、当
該コ字状のプレートの上記プリント基板対向面に略等間
隔に配列され、上記プリント基板上のグランドと上記コ
字状のプレートとを電気的に接続するピンを設は構成し
、もって前述の欠点を解消したグランドプレートを提供
することを目的とするものである。
ト基板の実装面に対応すると共に、該プリント基板上に
実装された電子部品の端子に対応し、かつ少なくともプ
ローブの信号ピンが挿入し得る大きさを有するプローブ
穴が形成された導電性材料からなるプレートであって、
少なくとも対向する両側に上記プリント基板に接続固定
される脚部を設けて断面略コ字状に形成すると共に、当
該コ字状のプレートの上記プリント基板対向面に略等間
隔に配列され、上記プリント基板上のグランドと上記コ
字状のプレートとを電気的に接続するピンを設は構成し
、もって前述の欠点を解消したグランドプレートを提供
することを目的とするものである。
以下、図面に示す一実施例に基き、本考案を具体的に説
明する。
明する。
プリント基板5には、第1図に示すように、多くの電子
部品3が搭載されており、各電子部品3には両側に複数
の端子3bが設けられ、更に端子3bはプリント基板5
上の対応するプリントパターンと部品3内の回路とを電
気的に接続している。
部品3が搭載されており、各電子部品3には両側に複数
の端子3bが設けられ、更に端子3bはプリント基板5
上の対応するプリントパターンと部品3内の回路とを電
気的に接続している。
また、基板5の周辺にはアース電位に接続されたグラン
ド穴5bが適宜な間隔で穿設されており、各グランド穴
5bには、第2図に示すように、導電性材料から形成さ
れたグランドプレート9に挿入係合されたねじ10がそ
れぞれ螺合している。
ド穴5bが適宜な間隔で穿設されており、各グランド穴
5bには、第2図に示すように、導電性材料から形成さ
れたグランドプレート9に挿入係合されたねじ10がそ
れぞれ螺合している。
各ねじ10はグランドプレート9とプリント基板5を締
結すると共に、プレート9と基板5のグランドを接続し
、グランドプレート9全体をアース電位に落としている
。
結すると共に、プレート9と基板5のグランドを接続し
、グランドプレート9全体をアース電位に落としている
。
グランドプレート9は、板状のプレート部9aを有して
おり、プレート部9aには、第3図に示すように、基板
5上の電子部品3の端子3bと対応した形でプローブ穴
9bが穿設されている。
おり、プレート部9aには、第3図に示すように、基板
5上の電子部品3の端子3bと対応した形でプローブ穴
9bが穿設されている。
更にプレート部9aの両側には脚部9C,9C’が設け
られており、その結果グランドプレート9は、第2図に
示すように基板5と共に全体がダクト状に形成されてい
る。
られており、その結果グランドプレート9は、第2図に
示すように基板5と共に全体がダクト状に形成されてい
る。
一方、プローブ1は、第4図に示すように、矢印A、
B方向、即ち、上下に移動自在な棒状の信号ピン1a
を有しており、信号ピン1aは適宜な弾性手段により矢
印B方向に付勢されている。
B方向、即ち、上下に移動自在な棒状の信号ピン1a
を有しており、信号ピン1aは適宜な弾性手段により矢
印B方向に付勢されている。
信号ピン1aの外側にはグランドピン1bが設けられて
おり、グランドピン1bには円筒状のグランドバイブロ
が嵌着されている。
おり、グランドピン1bには円筒状のグランドバイブロ
が嵌着されている。
本考案は、以上のような構成を有するので、プリント基
板5上に実装された電子部品3に対して試験する際には
、第4図に示すように適宜な試験機に接続されたプロー
ブ1の信号ピン1aを上方からグランドプレート9のプ
ローブ穴9bに挿入して矢印B方向に降下させ、ピン1
aの先端を試験すべき電子部品3の端子3bに接触させ
る。
板5上に実装された電子部品3に対して試験する際には
、第4図に示すように適宜な試験機に接続されたプロー
ブ1の信号ピン1aを上方からグランドプレート9のプ
ローブ穴9bに挿入して矢印B方向に降下させ、ピン1
aの先端を試験すべき電子部品3の端子3bに接触させ
る。
端子3bとピン1aとが接触したところで、プローブ1
全体を更にB方向に押圧すると信号ピン1aは矢印A方
向に弾性手段に抗して相対的に移動し、ピン1aと端子
3bとは一定圧力で接触すると共に、グランドバイブロ
の下端がグランドプレート9のプレート部9aの表面に
当接接触する。
全体を更にB方向に押圧すると信号ピン1aは矢印A方
向に弾性手段に抗して相対的に移動し、ピン1aと端子
3bとは一定圧力で接触すると共に、グランドバイブロ
の下端がグランドプレート9のプレート部9aの表面に
当接接触する。
この状態で、端子3bについての試験を行なうことがで
きるが、プローブ1とアース電位にあるグランドプレー
ト9間はグランドバイブロにより確実に接続されるので
、良好な状態で試験を行なうことができる。
きるが、プローブ1とアース電位にあるグランドプレー
ト9間はグランドバイブロにより確実に接続されるので
、良好な状態で試験を行なうことができる。
一本の端子3bについての試験が終了すると、信号ピン
1aを次に試験すべき端子3bに同様の手順で接触させ
、連続的に各端子3bについての試験を行なってゆく。
1aを次に試験すべき端子3bに同様の手順で接触させ
、連続的に各端子3bについての試験を行なってゆく。
また、試1@に際して、基板5に対して電子部品冷却用
の空気を送出するがグランドプレート9と基板5が、第
2図すに示すように、全体としてダクト状に形成されて
いるので、冷却用空気が周囲に発散することなく無駄な
くガイドされ、少量の空気量で電子部品3を効率的に冷
却することができる。
の空気を送出するがグランドプレート9と基板5が、第
2図すに示すように、全体としてダクト状に形成されて
いるので、冷却用空気が周囲に発散することなく無駄な
くガイドされ、少量の空気量で電子部品3を効率的に冷
却することができる。
なお、上述の実施例は、ねじ10のように、グランドプ
レート9とプリント基板5との締着固定手段がグランド
プレート9をアース電位に落とす電気的接続手段も兼ね
ていた場合について述べたが、固定手段と、接続手段は
必ずしも兼ねている必要はなく、第5図に示すように、
ねじ10の他にグランドプレート9上に矢印A、 B方
向に移動自在でかつ弾性手段により常時B方向に付勢さ
れているピン11をプレート部9a全面にわたりほぼ等
間隔に設置し、各ピン11によりプレート9と基板5上
のグランド用スルーホール5Cとを接続し、接続手段を
固定手段と分離して構成することも当然可能である。
レート9とプリント基板5との締着固定手段がグランド
プレート9をアース電位に落とす電気的接続手段も兼ね
ていた場合について述べたが、固定手段と、接続手段は
必ずしも兼ねている必要はなく、第5図に示すように、
ねじ10の他にグランドプレート9上に矢印A、 B方
向に移動自在でかつ弾性手段により常時B方向に付勢さ
れているピン11をプレート部9a全面にわたりほぼ等
間隔に設置し、各ピン11によりプレート9と基板5上
のグランド用スルーホール5Cとを接続し、接続手段を
固定手段と分離して構成することも当然可能である。
この場合、ピン11はプレート9を基板5に装着するこ
とにより、第5図すにおける矢印A方向に押し込まれる
形で基板5上のスルーホール5Cと接触するので、ピン
11とスルーホール5Cとの接続は確実に行なわれ、プ
ローブ穴9b、従ってプローブ1から基板5上のグラン
ド迄の距離を、第5図及び第6図に示すように、均一化
し短かくすることができ、波形の立上り、立下り等の過
渡現象や複数波形の時間的なずれの計測等測定の正確性
が要求される試験に際して、信頼性の高いグランドプレ
ート9の提供が可能となる。
とにより、第5図すにおける矢印A方向に押し込まれる
形で基板5上のスルーホール5Cと接触するので、ピン
11とスルーホール5Cとの接続は確実に行なわれ、プ
ローブ穴9b、従ってプローブ1から基板5上のグラン
ド迄の距離を、第5図及び第6図に示すように、均一化
し短かくすることができ、波形の立上り、立下り等の過
渡現象や複数波形の時間的なずれの計測等測定の正確性
が要求される試験に際して、信頼性の高いグランドプレ
ート9の提供が可能となる。
また、グランドプレート9のプローブ穴9bは必ずしも
、第3図に示すように長方形である必要はなく、電子部
品3の端子3bにプローブ1の信号ピン1aが接触し、
かつグランドピン1bがグランドプレート9のプレート
部9aと直接あるいはグランドバイブロ等を介して間接
的に接続され得る限りどのような形状でもよいことは勿
論である。
、第3図に示すように長方形である必要はなく、電子部
品3の端子3bにプローブ1の信号ピン1aが接触し、
かつグランドピン1bがグランドプレート9のプレート
部9aと直接あるいはグランドバイブロ等を介して間接
的に接続され得る限りどのような形状でもよいことは勿
論である。
以上説明したように、本考案によればグランドプレート
9を用いることにより、プリント基板5上に実装された
電子部品3の試験をプローブ1の信号ピン1aをプロー
ブ穴に挿入するだけの簡単な操作で行なうことができる
ので、極めて能率的に作業を行なうことができる。
9を用いることにより、プリント基板5上に実装された
電子部品3の試験をプローブ1の信号ピン1aをプロー
ブ穴に挿入するだけの簡単な操作で行なうことができる
ので、極めて能率的に作業を行なうことができる。
また、少なくともグランドプレート9のプレート部9a
全体がアース電位となるので、従来のように、各部品3
上又は部品3近傍にいちいちグランドパターン3a。
全体がアース電位となるので、従来のように、各部品3
上又は部品3近傍にいちいちグランドパターン3a。
5a等を形成する必要がなく、部品3の製作に手間がか
からないばかりか、基板5上における部品3の実装密度
をその分向上させることができる。
からないばかりか、基板5上における部品3の実装密度
をその分向上させることができる。
第1図は本考案によるグランドプレートが用いられるプ
リント基板を示す平面図、第2図は本考案によるグラン
ドプレートの一実施例を示す図で、aは平面図、bは一
部断面正面図、第3図はプローブ穴近傍の拡大平面図、
第4図は第2図に示すグランドプレートを用いて電子部
品を試験する際の正面図、第5図は本考案の他の実施例
を示す図で、aは平面図、bは正面図、第6図は第5図
に示すグランドプレートを用いて電子部品を試験する際
の正面図、第7図及び第10図乃至第12図は従来の試
験方法を示す正面図、第8図、第9図及び第13図は従
来の電子部品の実装状況を示す平面図である。 1・・・・・・プローブ、1a・・・・・・信号ピン、
3・・・・・・電子部品、3b・・・・・・端子、5・
・・・・・プリント基板、5C・・・・・・プリント基
板上のグランド(スルーホール)、9・・・・・・グラ
ンドプレート、9a・・・・・・プレート部、9b・・
・・・・プローブ穴、10・・・・・・固定手段、接続
手段(ねじ)、11・・・・・・ピン。
リント基板を示す平面図、第2図は本考案によるグラン
ドプレートの一実施例を示す図で、aは平面図、bは一
部断面正面図、第3図はプローブ穴近傍の拡大平面図、
第4図は第2図に示すグランドプレートを用いて電子部
品を試験する際の正面図、第5図は本考案の他の実施例
を示す図で、aは平面図、bは正面図、第6図は第5図
に示すグランドプレートを用いて電子部品を試験する際
の正面図、第7図及び第10図乃至第12図は従来の試
験方法を示す正面図、第8図、第9図及び第13図は従
来の電子部品の実装状況を示す平面図である。 1・・・・・・プローブ、1a・・・・・・信号ピン、
3・・・・・・電子部品、3b・・・・・・端子、5・
・・・・・プリント基板、5C・・・・・・プリント基
板上のグランド(スルーホール)、9・・・・・・グラ
ンドプレート、9a・・・・・・プレート部、9b・・
・・・・プローブ穴、10・・・・・・固定手段、接続
手段(ねじ)、11・・・・・・ピン。
Claims (1)
- 複数の電子部品を実装したプリント基板の実装面に対応
すると共に、該プリント基板上に実装された電子部品の
端子に対応し、かつ少なくともプローブの信号ピンが挿
入し得る大きさを有するプローブ穴が形成された導電性
材料からなるプレートであって、少なくとも対向する両
側に上記プリント基板に接続固定される脚部を設けて断
面略コ字状に形成すると共に、当該コ字状のプレートの
上記プリント基板性向面に略等間隔に配列され、上記プ
リント基板上のグランドと上記コ字状のプレートとを電
気的に接続するピンを設は構成したことを特徴とするグ
ランドプレート。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15024579U JPS5914773Y2 (ja) | 1979-10-30 | 1979-10-30 | グランドプレ−ト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15024579U JPS5914773Y2 (ja) | 1979-10-30 | 1979-10-30 | グランドプレ−ト |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5668166U JPS5668166U (ja) | 1981-06-06 |
JPS5914773Y2 true JPS5914773Y2 (ja) | 1984-05-01 |
Family
ID=29381285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15024579U Expired JPS5914773Y2 (ja) | 1979-10-30 | 1979-10-30 | グランドプレ−ト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5914773Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-10-30 JP JP15024579U patent/JPS5914773Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5668166U (ja) | 1981-06-06 |
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