JPH052080U - 検査プローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＬＳＩ等の回路基板の検査を行う検査装置に
用いられる検査プローブを改良して検査の容易化を図る
ことを目的とする。 【構成】 検査プローブに複数の金属ピンを設けその配
列をＬＳＩのリードの配列に一致させたことを特徴とす
る。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は回路基板の検査に使用する検査プローブに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

図３は、検査プローブの装着される検査装置を示す斜視図であって、１は検査 装置基台、２１，２２は基台１に固定されたＸ軸方向プローブ駆動装置、３１， ３２はＸ軸方向プローブ駆動装置２１，２２上に装着されＸ軸方向に移動可能な Ｙ軸方向プローブ駆動装置、４は検査プローブ、５はプリント基板、６はＬＳＩ である。

【０００３】 Ｘ軸とＹ軸は互いに直角であり、プリント基板５は基板上の端子配列がＸ軸又 はＹ軸に平行なように検査装置基台１上に載置される。検査プローブ４は複数個 がＹ軸方向プローブ駆動装置３１，３２に搭載されるが、プリント基板５上の任 意の端子に対し、任意のプローブの位置（Ｘ−Ｙ平面上で）を一致させるように 、Ｘ軸方向プローブ駆動装置２１，２２とＹ軸方向プローブ駆動装置３１，３２ を制御することができる。

【０００４】 図４は従来のプローブの構造を示す断面図で、図において、４０はプローブ支 持台、４１はプローブレバー、４２は金属ピン、４３は金属棒、４４はコイルバ ネである。 プリント基板５上の検査対象端子の上に金属ピン４２を位置させ、プローブレ バー４１によって金属ピン４２を下降させ、金属ピン４２の先端を対象端子に接 触させる。そして、コイルバネ４４の弾性力によって接触を確実にしている。 金属ピン４２からの電路（図示せず）は各検査プローブごとにそれぞれの対応 検査端子（図示せず）に接続されており、この検査端子で金属ピン４２の接触し た点の電圧を測定する。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

解決しようとする問題点は、以上のような従来の検査プローブでは、各プロー ブの位置を駆動して各金属ピンをそれぞれ駆動して対象端子の位置に一致させる 必要があり、この操作が面倒な点にある。 本考案はかかる課題を解決するためになされたもので、検査プローブの移動を 極力少なくして容易に検査を行える検査プローブを得ることを目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

本考案に係わる検査プローブは、ＬＳＩ等の端子配列に一致した配列の金属ピ ンを備えたことを特徴としている。

【０００７】

【作用】

ＬＳＩなどの端子配列は一般的に決められた配列を成し、この端子配列に一致 して複数個の金属ピンを配列しておけば、一回の位置合わせで済むことになるが 、従来ではそのような構造の検査プローブは存在しなかった。

【０００８】

【実施例】

以下、本考案の一実施例を図面を用いて説明する。図１は本考案の一実施例を 示す斜視図で、図において、図３と同一符号は同一又は相当部分を示し、７は絶 縁部材、８はプローブ棒である。 検査対象となるＬＳＩ６のリード（端子）配列と同様な配列の複数個の金属ピ ン４２を備えているので、ＬＳＩ６の１個の端子とこれに対応する金属ピン４２ のＸ−Ｙ平面上の位置を合わせると、全部の金属ピン４２の位置がそれぞれ対応 する端子に一致する。この位置合わせが終わった後にプローブ棒８を降下させる と（降下装置は図示せず）、ＬＳＩ６の全ての端子に対し検査プローブの対応す る金属ピン４２をそれぞれ接触させることができる。

【０００９】 各金属ピン４２の電圧は互いに絶縁されて絶縁部材７，プローブ棒８の中を通 り、検査端子（図示せず）に接続される。 プローブ棒８の上端には、図４に示すようなコイルバネ４４を設けて金属ピン ４２の接触を確実にすることができる。 また、ＬＳＩ６の端子配列の線は、Ｘ軸に平行な場合とＹ軸に平行な場合との ２種類があるので、これに対応できるようにプローブ棒８は９０°回転可能に装 着できるようにしておけばよい。

【００１０】 図２は本考案の他の実施例を示す斜視図で、図１と同一符号は同一又は相当部 分を示す。ＬＳＩ６の２列のリード間寸法が変化する場合には、図１に示す実施 例より図２に示す実施例の方が便利である。図３に示すように、Ｙ軸方向プロー ブ駆動装置が３１と３２の２個ある場合には、図２に示す検査プローブ２個をそ れぞれ駆動装置３１，３２に搭載することにより、図１に示す形状のＬＳＩ６の リード端子全部に対し同時に接触させることができる。

【００１１】 以上はＬＳＩへの接触に関して本考案を説明したが、ＬＳＩ以外のプリント基 板に配列された端子に対しても本考案の検査プローブを同様に利用することがで き、同様の効果を奏する。

【００１２】

【考案の効果】

以上説明したように本考案の検査プローブは、簡単で安価な構造により、ＬＳ Ｉ等を搭載する回路基板の検査を容易に行える利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示す斜視図である。

【図２】本考案の他の実施例を示す斜視図である。

【図３】検査プローブの装着される検査装置を示す斜視
図である。

【図４】従来の検査プローブを示す断面図である。

【符号の説明】

４ 検査プローブ ５ プリント基板 ６ ＬＳＩ ７ 絶縁部材 ８ プローブ棒 ２１ Ｘ軸方向プローブ駆動装置 ３１ Ｙ軸方向プローブ駆動装置 ４２ 金属ピン

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項１】 検査の対象となる回路基板の平面に対し
   平行な平面上でＸ軸方向の位置を駆動するＸ軸方向プロ
   ーブ駆動装置と、このＸ軸方向プローブ駆動装置により
   駆動され、搭載するプローブ棒をＸ軸に直角なＹ軸方向
   に駆動するＹ軸方向プローブ駆動装置と、上記プローブ
   棒をＸ−Ｙ平面に直角なＺ軸方向に上下するプローブ棒
   上下装置とを備えた検査装置に装着される検査プローブ
   において、検査対象となるＬＳＩ等の端子配列に対応し
   た配列をもって互いに絶縁されて配列された複数の金属
   ピンを備え、上記プローブ棒に装着されてなる検査プロ
   ーブ。