JPS6191174U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6191174U JPS6191174U JP17510984U JP17510984U JPS6191174U JP S6191174 U JPS6191174 U JP S6191174U JP 17510984 U JP17510984 U JP 17510984U JP 17510984 U JP17510984 U JP 17510984U JP S6191174 U JPS6191174 U JP S6191174U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- probe
- contacts
- blade
- rotation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 6
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第１図は本考案による電気接触子の概要図、第
２図はプリント配線板に塔載されたリードレスチ
ツプキヤリアを示す図、第３図及び第４図は本考
案による電気接触子を説明するための図である。 図面において、１はコンタクト、１ａはその回
転防止羽根、２はコンタクトホルダ、３は側壁、
４は取付台、８はプローブ、９はプローブピン、
１０はリード線、１１は抜け止め枠、１２は回転
防止溝、１３はホルダ孔をそれぞれ示す。
２図はプリント配線板に塔載されたリードレスチ
ツプキヤリアを示す図、第３図及び第４図は本考
案による電気接触子を説明するための図である。 図面において、１はコンタクト、１ａはその回
転防止羽根、２はコンタクトホルダ、３は側壁、
４は取付台、８はプローブ、９はプローブピン、
１０はリード線、１１は抜け止め枠、１２は回転
防止溝、１３はホルダ孔をそれぞれ示す。
Claims (1)
- プリント配線板に塔載されたリードレスチツプ
キヤリアの特性測定のため、該リードレスチツプ
キヤリアの側面に多数条形成された溝状の端子に
接触する電気接触子であつて、リードレスチツプ
キヤリアの端子に対応して設けられた多数のコン
タクトと、該コンタクト及び該コンタクトに接続
したプローブを保持するコンタクトホルダとより
なり、前記コンタクトはプローブのプローブピン
に接続した軸の一端に平板状の回転防止羽根が形
成され、該回転防止羽根の先端は斜に形成され、
且つその斜部分の断面は鋭角又は凸曲線となるよ
うに形成されて端子に対する接触部となり、前記
コンタクトホルダはコンタクトの回転羽根の回動
範囲を規正する溝を有し、且つコンタクトを摺動
自在に保持すると共にプローブを固定したことを
特徴とする電気接触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17510984U JPS6191174U (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17510984U JPS6191174U (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6191174U true JPS6191174U (ja) | 1986-06-13 |
Family
ID=30732713
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17510984U Pending JPS6191174U (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6191174U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6279183U (ja) * | 1985-11-05 | 1987-05-20 | ||
| JP2009014480A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Koyo Technos:Kk | 検査冶具 |
| WO2012073701A1 (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-07 | 株式会社精研 | 接触検査用治具 |
-
1984
- 1984-11-20 JP JP17510984U patent/JPS6191174U/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6279183U (ja) * | 1985-11-05 | 1987-05-20 | ||
| JP2009014480A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Koyo Technos:Kk | 検査冶具 |
| WO2012073701A1 (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-07 | 株式会社精研 | 接触検査用治具 |
| JP2012117845A (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-21 | Seiken Co Ltd | 接触検査用治具 |
| CN103238077A (zh) * | 2010-11-29 | 2013-08-07 | 株式会社精研 | 接触检查用工具 |