JPS62144079A - 格子変換器 - Google Patents

格子変換器

Info

Publication number
JPS62144079A
JPS62144079A JP60284207A JP28420785A JPS62144079A JP S62144079 A JPS62144079 A JP S62144079A JP 60284207 A JP60284207 A JP 60284207A JP 28420785 A JP28420785 A JP 28420785A JP S62144079 A JPS62144079 A JP S62144079A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pin
relay
board
substrate
pin holes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60284207A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuneo Yamaha
山羽 常雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP60284207A priority Critical patent/JPS62144079A/ja
Publication of JPS62144079A publication Critical patent/JPS62144079A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野コ この発明は、回路基板の導通試験、絶縁試験などを行う
基板試験装置において、試験すべき回路基板上の正規格
子点から逸脱したテストポイントを正規格子点に配列さ
れているプローブピンと接触できるようにするために、
その回路基板とブローバボードとの間に介在させて用い
られる格子変換器に関する。
[従来の技術] 回路基板の導通試験、絶縁試験などを行う基板試験装置
においては、ブローバボードに試験すべき回路基板を押
し付け、その回路基板のテストポイント(スルーホール
など)をプローバボードに植設されているプローブピン
に接触させる。そして、基板試験装置側で特定のプロー
ブピンを選択し、そのプローブピンと接触している回路
基板のテストポイント間の導通または絶縁をチェックす
る。
このような基板試験装置には、11向きのブローバボー
ドに、ヒ側から回路基板を押し付ける型式のものと、下
向きのプローバボードに下側から回路基板を押し付ける
型式のものとがある。
いずれの型式の基板試験装置にあっても、ブローバボー
ドのプローブピンは正規格子点(一般に2.54mmピ
ッチの正方格子点)に規則的に植設されている。
他方、印刷ノ、(板のテストポイントとなるようなスル
ーホールなどは一般に正規格子点に設けられているが、
正規格子点からずれたテストポイント(オフグリッド・
テストポイント)が−都合まれることも少なくない。
このようなオフグリッド・テストポイントを含む回路基
板を試験する場合に、その回路基板を直接的にブローバ
ボードに押し付けたのでは、オフグリッド・テストポイ
ントにプローブピンが接触しないため、そのテストポイ
ントに関連した試験は不可能である。
このようなオフグリッド・テストポイントに関する試験
を可能とするには、オフグリッド・テストポイントを対
応するプローブピン(正規格子点にある)に接触させる
ための格子変換手段を、回路基板とプローバボードとの
間に介在させる必要がある。
ブローバボードが」二向きの基板試験装置に関しては、
そのような格子変換のための格子変換器が従来知られて
いる。これは、正規格子点にピン穴を形成した第1の基
板をプローバボードに対向させて固定し、その上方に第
2の基板を固定し、それには試験すべき回路ノλ板のテ
ストポイントに対応させたピン穴(オフグリッドのもの
も含む)を形成し、上方より第1と第2の基板の対応す
るピン穴に多少の可撓性を有する中継ピンを貫通させ、
その下端を対応するプローブピンに当接させた構造であ
る。各中継ピンの上端に回路基板のテストポイントが接
触し、各テストポイントは中継ピンを介してプローブピ
ンに接続される。
この格子変換器は、第1の基板のピン穴と第2の基板の
ピン穴との水平位置すれを中継ピンの撓みによって吸収
する関係から、両基板の間隔はかなり大きい。そして、
従来は、その間隔が固定されている。
また、第2の基板は試験の対象となる回路基板に応じて
用意されるものであり、テストポイントに対応したピン
穴だけが形成されるのが普通である。これに対して、第
1の基板は標準基板として一般に用意され、それには、
中継ピンが実際に挿入されるピン穴だけでなく、挿入さ
れないピン穴も多数形成されている。
中継ピンは、プローブピンとの接触端が平面で、テスト
ポイントとの接触端が円錐状の11i純な針状ピンであ
る。
他力、ブローバボードが下向きの基板試験装置に適用す
るための格子変換器は、従来知られていない。
[解決しようとする問題点コ このような従来の格子変換器は、その組立時に、中継ピ
ンの挿入エラーが起こりゃすく、またピン挿入作業に手
間がかかるという問題があった。
より具体的に説明すれば、第1の基板には多数のピン穴
が接近して形成されており、また基板間隔もかなり人き
いため、オフグリッド・テストポイントに対応する中継
ピンを、それに対応した第1の基板のピン穴でな(、そ
の周囲のピン穴(4個)に挿入するエラーが起こりやす
い。正規格子点上のテストポイント(オングリッド・テ
ストポイント)に対応した中継ピンも、同様の挿入エラ
ーを起こしやすい。
このような挿入エラーは、正常な試験を不可能にするだ
けではない。極端にずれたピン穴に中継ピンを誤挿入し
た場合には、格子変換器の使用中に、中継ピンの動きが
円滑でないために中継ピンまたはプローブピンに無理な
力がかかり、それらの変形、破損などが起こりやすい。
[発明の目的] したがって、この発明の目的は、中継ピンの挿入エラー
が起こりに<<、かつその挿入作業も容易な格子変換器
を提供することにある。
[問題点を解決するための手段] 中継ピンの挿入エラーを防止するために、プローブピン
に接近した側の第1の基板にも、回路基板のテストポイ
ントに対応したピン穴だけを形成することも考えられる
。しかし、それでは回路基数毎に、それ専用の第1の基
板を用意する必要があり、しかも第1の基板はかなりの
強度とピン穴の径および位置の精度が要求されるから、
そのピン穴明は加工などのコストが嵩むという問題があ
り、実用的でない。
このようなコスト−上昇を回避し、かつ従来の問題点を
解決するために、この発明による格子変換器は、正規格
子点にピン穴を有する第1の基板の一面に対向させて、
試験すべき回路基板のテストポイントに対応した位置に
ピン穴を形成した少なくとも1枚の第2の基板を固定し
、この第2の基板のピン穴に対応した第1の基板のピン
穴に一致する位置にだけピン穴を有するマスク体を第1
の基板の前記一面に接近対向させて固定し、第1と第2
の基板および前記マスク体の対応するピン穴に中継ピン
を貫通せしめる構成とされる。
[作用コ このような構成であるから、第2の基板側から第1の基
板に向けて中継ピンを挿通させる際、第1の基板上のオ
ングリッド・ピン穴(正規格子点にあるピン穴)の中で
中継ピンを挿通すべきもの以外はマスク体によってマス
キングされるため、中継ピンの誤挿入が起こりにくい。
また、第1の基板上の中継ピンを挿入すべきピン穴をマ
スク体で容易に確認できるため、中継ピンの挿通作業が
容易であり、格子変換器を容易かつ迅速に組みqでるこ
とができる。
この格子変換器に用いられるマスク体は、第1および第
2の基板のような強度は要求されず、マスキング作用を
達成できるだけの強度があれば間に合うため、例えばマ
イラーフィルムのような所要の強度を持つ安価なフィル
ム材から作ることができる。しかも、ピン穴の加工に関
しては、そのマスキング作用を達成できる程度の位置お
よび径の精度で加工すれば間に合う。このように、マス
ク体を追加することによるコスト上昇はわずかであり、
第1の基板にテストポイント対応のピン穴を直接設ける
場合のような大幅なコス)、を昇は回避できる。
[実施例コ 以下、図面を参照し、この発明の一実施例について説明
する。
第1図はこの発明による格子変換器の一実施例を一部省
略して示す概略断面正面図である。この格子変換器10
は基板検査装置の下向きのブローバボード18に図示の
ように装着し・て用いることもできるし、倒立させて上
向きのプローバボードに同様に装着して用いることもで
きるものであり、しかも、未装着状態で組み立ててブロ
ーバボードに着脱できるものである。
この格子変換器10は、3枚の方形状の基板12.14
.16を有する。基板12にはブローバボード18のプ
ローブピン20と同じ正規格子点(一般的に2.54m
mピッチの方形格子点)にピン穴12Aが形成されてい
る。図中にはピン穴12Aは2個しか現れていないが、
プローブピン20に対応して多数個設けられている。
この格子変換器10は使用時に試験すべき回路基板22
が図示のように押し付けられるが、基板14.18には
その回路基板22の各テストポイント(オフグリッドの
テストポイントも含まれる)に対応した位置にピン穴1
4A、18Aが形成されている。ただし、各ピン穴14
A、16Aは図には2個だけノ1(されている。このよ
うな基板は1枚たけ設けることも可能であるが、後の説
明から明らかになるように、格子変換器lOを未装着状
態で組み立てることができるようにし1.また正立姿勢
でも倒立姿勢でも使用できるようにするために、2枚設
けられている。
17はマスクフィルムである。このマスクフィルム17
は例えばマイラーフィルム材などから作ることができる
ものであり、これにはピン穴14A、18Aに対応する
ピン穴12Aに一致した位置にだけピン穴17Aが形成
されている。つまり、ピン穴17Aの個数はピン穴14
Aまたは16Aの個数と等しい。
24は格子変換格子10をブローバボード18に取り付
けるための枠体である。この枠体24、マスクフィルム
17および基板12.14.16の各コーナの穴に結合
軸26が1゛↓通し、この結合軸26にはスペーサ28
,30.32が図示のように挿着されている。そして、
基板12.18より突出する結合軸26の両端のねし都
にナツト34.36が螺合せしめられ、基板12,14
.1B、マスクフィルム17および枠体24は図示のよ
うに結合される。
スペーサ28.32は筒体であって、図示の組■状態で
は結合軸26から外すことはできないが、スペーサ30
は取り外したり取り付けたりすることができる。
第2図は、スペーサ30を■−■線に沿って切断したと
きの端面図である。この図に示すように、スペーサ30
は対称形の2個の部材30A、30Bからりなり、部材
30A、30Bの内面に結合軸26を貫通させるための
穴を形成するための円筒面状溝30C,300が形成さ
れている。このスペーサ30は、部材30A、30Bを
結合軸26に側方より当て、ねじ38によって締め付け
ることにり、結合軸26に固定することができる。
逆に、ねじ38を緩めることにより、スペーサ30を結
合軸26から取り外すことができる。
ここで結合軸26.スペーサ28,30,32、ナツト
34.36は基板12.14.16を結合する手段を構
成している。このような結合手段は、基板12.14だ
けを結合状態に保持することができ、また、その状態に
おいて、スペーサ30の着脱によって基板間隔が可変で
あることは明らかである。
汀び第1図において、40は中継ピンであり、図示のよ
うに基板12,14.16およびマスクフィルム17の
対応するピン穴12A、14A。
16Aおよび17Aに貫通せしめられる。中継ピン40
の途中には脱落防止用のカラー42が設けられており、
隣合う基板14,16の間に位置せしめられる。
第3図は中継ピン40の一部を破断した拡大概略正面図
である。この図に示すように、中継ピン40の上端部に
は、プローブピン20の円錐状先端部との接触性を良好
にするために、円錐状穴44が形成され、その底部に円
形杖穴46が形成されている。このような構造であると
、プローブピン20の円錐状先端部と円錐状穴44の底
部との接触面積を増加させて、接触抵抗を下げることが
できる。また、円錐状穴44は斜面はプローブピン20
の先端の案内面として作用するので、プローブピン先端
と中継ピン40との位置および向きのずれがあっても、
両者を確実に嵌合させることができる。
中継ピン40の上端部には、回路基板22のテストポイ
ント(スルーホールなど)との良好な接触を実現するた
めに円錐形−に1部48が形成されている。
以1ユ説明した格子変換器10は、第1図に示すように
正立姿勢にて下向きのブローバボード18に装着して用
いることができる。中継ピン40の1一端にプローブピ
ン(スプリングのピン)20が接触する。試験すべき回
路基板22は下方より押し付けられ、そのテストポイン
トは対応する中継ピン40の下端に接触し、中継ピン4
0を介して対応するプローブピン20に接続される。
回路基板22」二のオフグリッド・テストポイントは、
中継ピン40によって1観格子点まで位置が補正され(
格子変換され)、正規格子点に配置されている対応した
プローブピン20に接続される。したがって、オフグリ
ッド・テストポイントに関連した導通試験、絶縁試験な
どが可能となる。
さて、この格子変換器10は組立状態(第1図に示す状
態)では、図示の正立姿勢であっても倒立姿勢であって
も、中継ピン40のカラー42が基板14または基板1
6に係止されるため、中継ピン40は脱落すことはない
。したがって、この格子変換器10は基板試験装置の外
部において組み立てることができ、また組み立てた状態
にて下向きのブローバボード18にも上向きのプローバ
ボードにも装置したり取り外したりすることができる。
前述のように、この格子変換器10は未装着状態にて組
みマfてたり修理したりすることかでき、それだけても
従来の格子変換器よりも組立作業や修理作業が容易であ
るが、さらに組立または修理を容易にするために構造が
工夫されている。これを明らかにすために、この格子変
換器10の組立手順を以下説明する。
まず、基板14とスペーサ32、さらにスペーサ30を
除いた組立体を逆さにして作業台などに置く。そして、
中継ピン40を逆さに持ち、基板13.14の対応する
ピン穴12A、14Bに中継ピン40を差し込む。
この挿通作業に際し、マスクフィルム17によって、基
板12のピン穴12Aの中、中継ピン40の挿通するも
の以外はマスキングされるため、中継ピン40の挿通エ
ラーが起きにくい。また、中継ピン40を挿入すべきピ
ン穴12Aの確認が容易である。このように、マスクフ
ィルム17を設けることにより、中継ピンを正確かつ能
率的に挿通することができる。
ここで組立吠態おいては、オフグリッド・テストポイン
トに対応するピン穴14A、16Aと、それに対応する
ピン穴12Aとの位置のずれを中継ピン40の挟みによ
って吸収する関係から、基板12.14の間隔をある程
度広くする必要がある。しかし、ピン穴12A、14A
に中継ピン40を挿通する際は基板12.14の間隔が
小さい方が、中継ピン40の挿通作業が容易であり、ま
た挿通エラーも起こりにくい。そこで、この格子変換器
lOでは、スペーサ30を外して基板12A、14Aの
間隔を充分小さくできるようにし、中継ピン40の挿通
作業を一層容易かつ確実にしている。
ただし基板12.14の間隔が小さすぎると、オフグリ
ッド・テストポイントに対応するピン穴14Aと、それ
に対応するピン穴12Aとに中継ピン40を挿通させる
ことができないので、スペーサ28を介在させて必要な
間隔を確保するようになっている。
中継ピン40の挿通作業を完了した後、結合軸26にス
ペーサ32を挿着し、次に基板16のピン穴18Aに対
応する中継ピン40を挿通させる。
この時、中継ピン40の先端は基板16のピン穴16A
にかなり正確に位置付けされているから、その挿通は容
易である。
その挿通作業を完了してから、基板16のコーナの穴を
貫通した結合軸26のねじ部にナツト36を螺合させ、
基板16を締め付ける。これで、組立は完了である。
このように、この格子変換器10は中継ピン40の挿通
作業を含め、組立または修理が極めて容易である。
なお、前記実施例においては、基板12と基板14.1
6の間隔が可変となっているが、その間隔を固定するこ
ともできる。
マスク体は必ずしもフィルム材にって作る必要はなく、
強度、材料コスト、加工コストなどを考慮して適当な他
の材料により作ってもよい。
テストポイントに対応したピン穴を有する基板を1枚だ
けにすることもできる。
また、中継ピンの構造も変形し得る。
これ以外にも、この発明はその要旨を逸脱しない範囲内
で適宜変形して実施し得るものである。
また、この発明の格子変換器は、基板試験装置以外にお
ける同様の格子変換の用途に使用することも可能である
[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば格子変換器は、
正規格子点にピン穴を有する第1の基板の一面に対向さ
せて、試験すべき回路基板のテストポイントに対応した
位置にピン穴を形成した少なくとも1枚の第2の基板を
固定し、この第2の基板のピン穴に対応した第1の基板
のピン穴に一致する位置にだけピン穴を有するマスク体
を第1の基板の前記一面に接近対向させて固定し、第1
と第2の基板および前記マスク体の対応するピン穴に中
継ピンを貫通せしめる構成とされるから、中継ピンの誤
挿入が起こりに<<、また中継ピンの挿通作業が容易な
格子変換器を安価に実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による格子変換器の一実施例の〜部を
省略して示す概略断面正面図、第2図は取り外し可能な
スペーサの■−■線切断端而図面第3図は中継ピンの一
部を破断した拡大概略正面図である。 10・・・格子変換器、!2,14.16・・・基板、
17・・・マスクフィルム、12A、14A、16A。 17A・・・ピン穴、18・・・ブローバボード、20
・・・プローブピン、22・・・検査すべき回路基板、
28・・・結合軸、28,30.32・・・スペーサ、
40・・・中継ピン、42・・・脱落防IE用カラー。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)正規格子点にピン穴を有する第1の基板の一面に
    対向させて、試験すべき回路基板のテストポイントに対
    応した位置にピン穴を有する少なくとも1枚の第2の基
    板を固定し、この第2の基板のピン穴に対応した前記第
    1の基板のピン穴に一致した位置にだけピン穴を有する
    マスク体を前記第1の基板の前記一面に接近対向させて
    固定し、前記第1と第2の基板および前記マスク体の対
    応するピン穴に中継ピンを貫通せしめてなることを特徴
    とする格子変換器。
  2. (2)第1の基板と第2の基板の間隔が可変であること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の格子変換器。
JP60284207A 1985-12-19 1985-12-19 格子変換器 Pending JPS62144079A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60284207A JPS62144079A (ja) 1985-12-19 1985-12-19 格子変換器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60284207A JPS62144079A (ja) 1985-12-19 1985-12-19 格子変換器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62144079A true JPS62144079A (ja) 1987-06-27

Family

ID=17675547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60284207A Pending JPS62144079A (ja) 1985-12-19 1985-12-19 格子変換器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62144079A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015025749A (ja) * 2013-07-26 2015-02-05 株式会社日本マイクロニクス プローブカード

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015025749A (ja) * 2013-07-26 2015-02-05 株式会社日本マイクロニクス プローブカード

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3388307B2 (ja) プローブカード及びその組立方法
JP3859841B2 (ja) 電気回路基板のテスト用アダプター
JPH01143977A (ja) 印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ
JPS62144079A (ja) 格子変換器
JP3117266U (ja) 各種の電気特性に適用且つ微小測定ポイントを持つ測定モジュール
KR100604416B1 (ko) 평판형 디스플레이 검사용 장치
JPS62144078A (ja) 格子変換器
JPH0530141Y2 (ja)
JPS62144080A (ja) 格子変換器
US5898313A (en) Test fixture for two sided circuit boards
JPS62144077A (ja) 中継ピン
JP5193506B2 (ja) プローブユニット及び検査装置
TWI720769B (zh) 測試設備及其活動式連結機構
JPH022901A (ja) 配線基板端子ピンの長さ検査機構
JPH0430547Y2 (ja)
KR20090111655A (ko) 평판표시소자 검사용 프로브 조립체
JPH05183024A (ja) 製品評価装置
TWM593550U (zh) 測試設備及其活動式連結機構
JPH0441342Y2 (ja)
JPH06783Y2 (ja) 回路基板検査装置のピンボ−ド
JPH034031Y2 (ja)
JPH0729636Y2 (ja) 半導体ウェハー検査装置
JPH01295183A (ja) 治具接続装置と接続手段
JPH065263B2 (ja) プリント回路基板検査装置の変換治具
JPH01162176A (ja) 検査装置