KR100604416B1 - 평판형 디스플레이 검사용 장치 - Google Patents

평판형 디스플레이 검사용 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100604416B1
KR100604416B1 KR1020060032282A KR20060032282A KR100604416B1 KR 100604416 B1 KR100604416 B1 KR 100604416B1 KR 1020060032282 A KR1020060032282 A KR 1020060032282A KR 20060032282 A KR20060032282 A KR 20060032282A KR 100604416 B1 KR100604416 B1 KR 100604416B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
guide
flat panel
panel display
test block
shorting
Prior art date
Application number
KR1020060032282A
Other languages
English (en)
Inventor
이재형
Original Assignee
주식회사 코디에스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 코디에스 filed Critical 주식회사 코디에스
Priority to KR1020060032282A priority Critical patent/KR100604416B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100604416B1 publication Critical patent/KR100604416B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13458—Terminal pads
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 비주얼 테스트시 패널에 불량 상태가 발견되는 경우 쇼팅 테스트용 블록을 LM 가이드를 이용하여 불량이 난 위치의 그로스용 테스트 패드로 이동시켜 그로스용 테스트 패드가 쇼팅되도록 하여 불량 상태가 발견된 영역의 불량상태를 재확인할 수 있도록 하는 평판형 디스플레이 검사용 장치에 관한 것으로서, 평판 디스플레이 검사용 장치에 있어서, 하단부에 소정 간격으로 이격되어 고정 결합되는 복수의 비주얼 검사용 블록(2)을 가지는 플레이트(4); 상기 플레이트(4) 상부에 부착, 고정되는 제1 LM 가이드 레일(6); 상기 제1 LM 가이드 레일(6)에 결합되어, 상기 제1 LM 가이드 레일(6)을 따라 좌측 또는 우측 방향으로 이동 가능한 제1 LM 가이드(8); 상기 제1 LM 가이드(8)에 결합되어 상기 제1 LM 가이드(8)와 연동하는 고정부재(12); 상기 고정부재(12)의 측단부에 부착, 고정되는 제2 LM 가이드 레일(14); 상기 제2 LM 가이드 레일(14)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드 레일(14)을 따라 상측 또는 하측 방향으로 이동 가능한 제2 LM 가이드(16); 상기 제2 LM 가이드(16)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드(16)와 연동하는 쇼팅 테스트용 블록(18);을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
평판, 디스플레이, 패널, 쇼팅 테스트용 블록, LM 가이드

Description

평판형 디스플레이 검사용 장치{APPARATUS FOR INSPECTION OF FLAT DISPLAY PANEL}
도 1은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이 검사용 장치를 설명하기 위한 사시도,
도 2는 도 1의 작동 예시도,
도 3은 도 1에 적용된 평판형 디스플레이 검사용 유닛을 이용하여 비주얼 테스트 과정이 이루어지도록 할 때의 단면도,
도 4는 도 1에 적용된 평판형 디스플레이 검사용 유닛을 이용하여 쇼팅 테스트 과정이 이루어지도록 할 때의 단면도,
도 5는 도 1에 적용된 고정부재와 쇼팅 테스트용 블록 위치 조절부의 연결상태를 설명하기 위한 부분 분해 사시도이다.
* 도면의 주요 부호에 대한 설명 *
2 : 비주얼 검사용 블록
4 : 플레이트
6 : 제1 LM 가이드 레일
8 : 제1 LM 가이드
12 : 고정부재
14 : 제2 LM 가이드 레일
16 : 제2 LM 가이드
18 : 쇼팅 테스트용 블록
20 : 홈
22 : 통공
24 : 위치조정 바
26 : 두부
28 : 탄성부재
30 : 패널
32 : 비주얼 테스트용 패드
34 : 그로스 테스트용 패드
60 : 쇼팅 테스트용 블록 위치 조절부
62 : 미세 조정부재
64 : 고정체결부재
66 : 결합부재
본 발명은 평판형 디스플레이 검사용 장치에 관한 것이다.
더욱 상세하게는 비주얼 테스트시 패널에 불량 상태가 발견되는 경우 쇼팅 테스트용 블록을 LM 가이드를 이용하여 불량이 난 위치의 그로스용 테스트 패드로 이동시켜 그로스용 테스트 패드가 쇼팅되도록 하여 불량 상태가 발견된 영역의 불량상태를 재확인할 수 있도록 하는 평판형 디스플레이 검사용 장치에 관한 것이다.
액정 디스플레이(LCD)와 같은 평판형 디스플레이 장치는 생산과정 중에 평판형 디스플레이 장치에 사용되는 패널의 불량여부를 검사하는 과정이 수행된 후, 조립되어 평판형 디스플레이 장치로 조립된다.
즉, 조립 전의 평판 디스플레이 패널의 경우 비주얼 테스트 과정을 통해 패널의 배선 불량 상태를 검사하고, 이 후 그로스 테스트 과정을 통해 평판 디스플레이 패널에서 드라이브 아이시(Drive IC)가 부착되는 검사용 패드에 검사용 프로브를 접촉시킨 후 드라이브 아이시에서 검사용 프로브로 인가되는 전원 및 제어신호를 검사용 패드를 통해 패널부로 인가시켜 평판 디스플레이 패널에 그로스 테스트화면이 출력되도록 한 후 평판 디스플레이 패널의 불량상태를 검사하게 된다.
상기와 같이 비주얼 테스트 과정에서 패널의 배선 불량 상태가 발생할 때 그대로 불량 패널로 판정하여 폐기시키지 않고, 별도의 테스트 과정을 제공하여 오인에 따른 양품의 패널을 폐기시키지 않도록 하는 기술이 요구되고 있다.
본 발명은 상기와 같은 요구에 부응하여 안출된 것으로서 본 발명의 목적은 비주얼 테스트시 패널에 불량 상태가 발견되는 경우 쇼팅 테스트용 블록을 LM 가이드를 이용하여 불량이 난 위치의 그로스용 테스트 패드로 이동시켜 그로스용 테스트 패드가 쇼팅되도록 하여 불량 상태가 발견된 영역의 불량상태를 재확인할 수 있도록 하는 평판형 디스플레이 검사용 장치를 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일 실시예는, 평판 디스플레이 검사용 장치에 있어서, 하단부에 소정 간격으로 이격되어 고정 결합되는 복수의 비주얼 검사용 블록(2)을 가지는 플레이트(4); 상기 플레이트(4) 상부에 부착, 고정되는 제1 LM 가이드 레일(6); 상기 제1 LM 가이드 레일(6)에 결합되어, 상기 제1 LM 가이드 레일(6)을 따라 좌측 또는 우측 방향으로 이동 가능한 제1 LM 가이드(8); 상기 제1 LM 가이드(8)에 결합되어 상기 제1 LM 가이드(8)와 연동하는 고정부재(12); 상기 고정부재(12)의 측단부에 부착, 고정되는 제2 LM 가이드 레일(14); 상기 제2 LM 가이드 레일(14)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드 레일(14)을 따라 상측 또는 하측 방향으로 이동 가능한 제2 LM 가이드(16); 상기 제2 LM 가이드(16)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드(16)와 연동하는 쇼팅 테스트용 블록(18);을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
상기 쇼팅 테스트용 블록(18)의 상단부는, "I" 형상을 갖도록 복수의 홈(20)이 형성되어 있는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)의 홈(20)에 일단이 연결되고, 타단이 상기 고정부재(12)의 돌출된 끝단 하측단부에 연결되는 복수의 탄성부재가 마련되어 있는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 고정부재(12)의 돌출된 끝단부에, 통공(22)이 형성되어 있다.
그리고, 일단부는 상기 통공(22)을 통해 쇼팅 테스트용 블록(18)의 중심축상에 고정되고, 타단부는 상기 통공(22)을 통해 고정부재(12)의 외부로 노출되는 위치조정 바(24)와, 외부로 노출된 상기 위치조정 바(24)의 타단부에 두(頭)부(26)가 마련되는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)은, 판재형상의 그로스 테스트 수단을 갖는 것이 바람직하다.
상기 판재형상의 그로스 테스트 수단은, 전도성 고무이다.
그리고 상기 평판 디스플레이 검사용 장치는, 상기 고정부재(12)의 절곡 단부에 체결부재에 의해 결합, 고정되는 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)와, 작업자의 조작에 의해 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)가 플레이트(4)에 고정되도록 하는 복수의 고정체결부재(64)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 평판 디스플레이 검사용 장치는, 상기 복수의 고정체결부재(64) 사이에 마련되어, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)를 미세하게 조정할 수 있도록 하는 미세조정부재(62)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 미세조정부재(62)는, 편심볼트인 것이 바람직하다.
상기 평판 디스플레이 검사용 장치는, 상기 고정부재(12)의 절곡 단부에는 볼 플런저(70)가 마련되고, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)의 상기 볼 플런저(70)와 대향되는 위치에는 상기 볼 플런저(70)와 결합되는 볼버튼(72)이 마련되어 있는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 평판형 디스플레이 검사용 장치의 바람직한 실시예를 설명한다.
본 발명에 따른 평판 디스플레이 검사용 장치(100)는, 첨부 도면 도 1에 도시된 바와 같이 하단부에 소정 간격으로 이격되어 고정 결합되는 복수의 비주얼 검사용 블록(2)을 가지는 플레이트(4)와, 상기 플레이트(4) 상부에 부착, 고정되는 제1 LM 가이드 레일(6)과, 상기 제1 LM 가이드 레일(6)에 결합되어, 상기 제1 LM 가이드 레일(6)을 따라 좌측 또는 우측 방향으로 이동 가능한 제1 LM 가이드(8)와, 상기 제1 LM 가이드(8)에 결합되어 상기 제1 LM 가이드(8)와 연동하는 고정부재(12)와, 상기 고정부재(12)의 측단부에 부착, 고정되는 제2 LM 가이드 레일(14)과, 상기 제2 LM 가이드 레일(14)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드 레일(14)을 따라 상측 또는 하측 방향으로 이동 가능한 제2 LM 가이드(16)와, 상기 제2 LM 가이드(16)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드(16)와 연동하는 쇼팅 테스트용 블록(18)과, 상기 고정부재(12)의 절곡 단부에 체결부재에 의해 결합, 고정되는 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)와, 작업자의 조작에 의해 상기 쇼팅 테스트용 블록 위 치 조정부(60)가 플레이트(4)에 고정되도록 하는 복수의 고정체결부재(64)와, 상기 복수의 고정체결부재(64) 사이에 마련되어, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)를 미세하게 조정할 수 있도록 하는 미세조정부재(62)로 구성된다.
상기 미세조정부재(62)는 복수의 고정체결부재(64)에 의해 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)가 플레이트(4)에 고정되기 전에 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)의 현재 위치를 미세하게 조정할 수 있도록 한다.
상기 미세조정부재(62)는 편심볼트로서, 상기 편심볼트는 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)이 좌우 0.25mm 만큼 이동될 수 있도록 한다.
그리고, 상기 고정부재(12)의 절곡 단부에는 볼 플런저(70)가 마련되고, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)의 상기 볼 플런저(70)와 대향되는 위치에는 상기 볼 플런저(70)와 결합되는 볼버튼(72)이 마련되어 있어, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)가 상기 고정부재(12)에 고정될 수 있도록 한다.
상기 쇼팅 테스트용 블록(18)의 상단부는, "I" 형상을 갖도록 복수의 홈(20)이 형성되어 있다.
그리고, 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)의 홈(20)에 일단이 연결되고, 타단이 상기 고정부재(12)의 돌출된 끝단 하측단부에 연결되는 복수의 탄성부재(28)가 마련되어 있다.
그리고, 상기 고정부재(12)의 돌출된 끝단부에, 통공(22)이 형성되어 있다.
그리고, 일단부는 상기 통공(22)을 통해 쇼팅 테스트용 블록(18)의 중심축상에 고정되고, 타단부는 상기 통공(22)을 통해 고정부재(12)의 외부로 노출되는 위 치조정 바(24)와, 외부로 노출된 상기 위치조정 바(24)의 타단부에 두(頭)부(26)가 마련된다.
그리고, 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)은, 판재형상의 그로스 테스트 수단을 갖는다.
상기 판재형상의 그로스 테스트 수단은, 전도성 고무이다.
상기와 같이 구성된 평판 디스플레이 패널 검사용 장치의 작용에 대해 설명하면 다음과 같다.
첨부 도면 도 1 및 도 3에 도시된 바와 같이 플레이트(4)에 소정 간격으로 이격 상태로 설치된 비주얼 검사용 블록(2)을 평판 디스플레이 패널(30)의 비주얼 테스트용 패드(32) 상에 접촉시켜 비주얼 테스트가 이루어지도록 한다.
상기 비주얼 테스트 과정에서 평판 디스플레이 패널(30)의 일정 부분에서 불량이 발생된 것으로 판정되면, 작업자는 첨부 도면 도 2에 도시된 바와 같이 불량이 발생된 영역에 위치되어 있는 그로스 테스트용 패드(34)로 쇼팅 테스트용 블록(18)을 이동시킨다. 즉, 작업자가 LM 가이드(8)에 힘을 가하면, LM 가이드(8)는 LM 가이드 레일(6)을 따라 이동하게 되고 결국은 LM 가이드(8)에 결합되어 있는 쇼팅테스트용 블록(18)이 이동하게 된다. 이때, 상기 고정부재(12)의 절곡 단부에 체결부재에 의해 결합, 고정되어 있는 절곡된 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60) 또한 상기 고정부재(12)와 함께 연동되어 이동하게 된다.
상기와 같이 작업자가 LM 가이드(8)를 LM 가이드 레일(6)을 따라 이동시키다 가 쇼팅 테스트용 블록(18)이 불량이 발생된 영역에 구비되어 있는 그로스 테스트용 패드(34) 상부에 위치하면 LM 가이드(8)에 가하던 힘을 해제시킨다. 그러면 LM 가이드(8)는 그 자리에 정지한다. 상기와 같이 LM 가이드(8)를 정지시킨 후 작업자는 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)를 좌우로 미세하게 이동시키면서 쇼팅 테스트용 블록(18)이 그로스 테스트용 패드(34)에 정확하게 위치되도록 한다. 즉, 상기 복수의 고정체결부재(64) 사이에는 편심볼트인 미세조정부재(62)가 마련되어 있기 때문에 상기 미세조정부재(62)를 이용하여 쇼팅 테스트용 블록(18)의 위치를 미세하게 조정할 수 있다. 상기 편심볼트는 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)이 좌우 0.25mm 만큼 이동될 수 있도록 한다.
상기와 같이 쇼팅 테스트용 블록(18)의 위치가 조정되면 작업자는 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)에 마련되어 있는 복수의 고정체결부재(64)인 나사를 조여 나사의 끝단부가 플레이트(4) 상부 면에 밀착되도록 함으로써 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)가 플레이트(4)에 고정되도록 한다.
그리고, 상기 고정부재(12)의 절곡 단부에는 볼 플런저(70)가 마련되고, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)의 상기 볼 플런저(70)와 대향되는 위치에는 상기 볼 플런저(70)와 결합되는 볼버튼(72)이 마련되어 있어, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)가 상기 고정부재(12)에 고정되도록 한다.
상기와 같이 제1 LM 가이드(8)를 정지시키고 쇼팅 테스트용 블록(18)의 위치를 조정한 후 , 첨부 도면 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이 작업자가 위치조정 바(24)의 두부(26)를 하방향으로 누르면, 쇼팅 테스트용 블록(18)이 고정되어 있는 제2 LM 가이드(16) 가이드가 제2 LM 가이드 레일(14)을 따라 하측 방향으로 이동하게 된다.
그러면 상기 일단이 고정부재(12)에 고정되어 있고, 타단이 쇼팅 테스트용 블록(18)에 고정되어 있는 스프링(18)이 늘어나면서 쇼팅 테스트용 블록(18)의 전도성 고무로 이루어진 테스트 수단(21)을 그로스 테스트용 패드(34)에 접촉시킨 후 테스트 과정이 이루어지도록 한다.
상기와 같이 테스트 과정이 완료되면 작업자는 위치조정 바(24)의 두부(26)로 가해주던 힘을 해제시키면 쇼팅 테스트용 블록(18)은 스프링(28)의 복원력에 의해 당겨지게 되고, 결국 LM 가이드(16)는 LM 가이드 레일(14)을 따라 상승하게 되며, 상기 위치조정 바(24)는 고정부재(12)의 통공(22)을 따라 위로 상승하게 된다.
이상의 본 발명은 상기 실시예들에 의해 한정되지 않고, 당업자에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 청구항에서 포함되는 본 발명의 취지와 범위에 포함된다.
상술한 바와 같은 본 발명의 평판형 디스플레이 검사용 장치에 따르면, 비주얼 테스트시 패널에 불량 상태가 발견되는 경우 쇼팅 테스트용 블록을 LM 가이드를 이용하여 불량이 난 위치의 그로스용 테스트 패드로 이동시켜 그로스용 테스트 패드가 쇼팅되도록 하여 불량 상태가 발견된 영역의 불량상태를 재확인할 수 있도록 하여, 오인에 따라 양품의 패널을 폐기시키는 것을 미연에 방지할 수 있도록 하는 효과가 있다.

Claims (11)

  1. 평판 디스플레이 검사용 장치에 있어서,
    하단부에 소정 간격으로 이격되어 고정 결합되는 복수의 비주얼 검사용 블록(2)을 가지는 플레이트(4);
    상기 플레이트(4) 상부에 부착, 고정되는 제1 LM 가이드 레일(6);
    상기 제1 LM 가이드 레일(6)에 결합되어, 상기 제1 LM 가이드 레일(6)을 따라 좌측 또는 우측 방향으로 이동 가능한 제1 LM 가이드(8);
    상기 제1 LM 가이드(8)에 결합되어 상기 제1 LM 가이드(8)와 연동하는 고정부재(12);
    상기 고정부재(12)의 측단부에 부착, 고정되는 제2 LM 가이드 레일(14);
    상기 제2 LM 가이드 레일(14)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드 레일(14)을 따라 상측 또는 하측 방향으로 이동 가능한 제2 LM 가이드(16);
    상기 제2 LM 가이드(16)에 결합되어, 상기 제2 LM 가이드(16)와 연동하는 쇼팅 테스트용 블록(18);
    을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)의 상단부는,
    "I" 형상을 갖도록 복수의 홈(20)이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 쇼팅 테스트용 블록(18)의 홈(20)에 일단이 연결되고, 타단이 상기 고정부재(12)의 돌출된 끝단 하측단부에 연결되는 복수의 탄성부재가 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 고정부재(12)의 돌출된 끝단부에,
    통공(22)이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사장치.
  5. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서,
    일단부는 상기 통공(22)을 통해 쇼팅 테스트용 블록(18)의 중심축상에 고정되고, 타단부는 상기 통공(22)을 통해 고정부재(12)의 외부로 노출되는 위치조정 바(24)와, 외부로 노출된 상기 위치조정 바(24)의 타단부에 두(頭)부(26)가 마련되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 쇼팅 테스트용 블록(18)은,
    판재형상의 그로스 테스트 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 판재형상의 그로스 테스트 수단은,
    전도성 고무인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 평판 디스플레이 검사용 장치는,
    상기 고정부재(12)의 절곡 단부에 체결부재에 의해 결합, 고정되는 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)와,
    작업자의 조작에 의해 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)가 플레이트(4)에 고정되도록 하는 복수의 고정체결부재(64)
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 평판 디스플레이 검사용 장치는,
    상기 복수의 고정체결부재(64) 사이에 마련되어, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)를 미세하게 조정할 수 있도록 하는 미세조정부재(62)
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 미세조정부재(62)는,
    편심볼트인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
  11. 제 9 항에 있어서, 상기 평판 디스플레이 검사용 장치는,
    상기 고정부재(12)의 절곡 단부에는 볼 플런저(70)가 마련되고, 상기 쇼팅 테스트용 블록 위치 조정부(60)의 상기 볼 플런저(70)와 대향되는 위치에는 상기 볼 플런저(70)와 결합되는 볼버튼(72)이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 장치.
KR1020060032282A 2006-04-10 2006-04-10 평판형 디스플레이 검사용 장치 KR100604416B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060032282A KR100604416B1 (ko) 2006-04-10 2006-04-10 평판형 디스플레이 검사용 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060032282A KR100604416B1 (ko) 2006-04-10 2006-04-10 평판형 디스플레이 검사용 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100604416B1 true KR100604416B1 (ko) 2006-07-25

Family

ID=37184485

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060032282A KR100604416B1 (ko) 2006-04-10 2006-04-10 평판형 디스플레이 검사용 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100604416B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100916218B1 (ko) 2008-11-25 2009-09-08 주식회사 코디에스 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치
KR102098652B1 (ko) * 2019-08-07 2020-04-10 주식회사 프로이천 디스플레이 패널의 테스트 장치
KR20220106496A (ko) * 2021-01-22 2022-07-29 주식회사 디앤에스시스템 검사 프로브 위치 고정 지그 및 그를 포함하는 위치 이동 장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100916218B1 (ko) 2008-11-25 2009-09-08 주식회사 코디에스 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치
KR102098652B1 (ko) * 2019-08-07 2020-04-10 주식회사 프로이천 디스플레이 패널의 테스트 장치
KR20220106496A (ko) * 2021-01-22 2022-07-29 주식회사 디앤에스시스템 검사 프로브 위치 고정 지그 및 그를 포함하는 위치 이동 장치
KR102433367B1 (ko) 2021-01-22 2022-08-18 주식회사 디앤에스시스템 검사 프로브 위치 고정 지그 및 그를 포함하는 위치 이동 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2007007544A1 (ja) プローブカード
JP2012181096A (ja) 接触子及び電気的接続装置
JP2007057439A (ja) プローブ装置及び被検査体とプローブとの接触圧の調整方法
KR100604416B1 (ko) 평판형 디스플레이 검사용 장치
KR100995811B1 (ko) 탐침의 미세 위치 조정이 가능한 프로브 유닛
KR100533193B1 (ko) 평판표시패널 검사용 프로브 장치
KR100767191B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
KR101189666B1 (ko) 평판디스플레이 검사용 프로브 유닛
KR101309620B1 (ko) 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트
CN112068042A (zh) 焊接金属片测试机构和测试方法
JPH048381Y2 (ko)
JPH0719812B2 (ja) 検査装置
KR101380375B1 (ko) 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치
KR101000456B1 (ko) 유지 및 보수가 용이한 프로브유닛
KR200408653Y1 (ko) 디스플레이 패널 검사용 프로브 장치
KR100657768B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
JP2003090849A (ja) 電子部品測定装置及び方法
JP2627393B2 (ja) 表示パネル用プローバ
JP5193506B2 (ja) プローブユニット及び検査装置
KR20120009711A (ko) 평판 표시 소자 검사 조립체
KR100684046B1 (ko) 액정디스플레이 검사기용 프로브조립체
KR20110138652A (ko) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
KR100899978B1 (ko) 프로브유닛과 니들
TWI714103B (zh) 一種使用平板顯示器檢查裝置的z軸進給器檢查探針接觸壓力的裝置
KR200365959Y1 (ko) 프로브 블록의 평탄화부가 구비된 평판표시소자 검사용프로브 조립체

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120626

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130719

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150522

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee