JP2012181096A - 接触子及び電気的接続装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一方の部材と他方の部材にそれぞれ接触するプランジャーを備えて一方の部材に接触するプランジャーを他方の部材に接触するプランジャーが挟んで、上記各部材間を電気的に導通させる接触子である。上記他方の部材に接触する各プランジャーに個別に付勢手段を設けた。また、電気的接続装置は、被検査体の電極に接触して試験を行う装置において、上記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、当該接触子として上記接触子を用いた。
【選択図】 図7
Description
上記実施形態では、第1プランジャー62を1つ、第2プランジャー63を2つ設けた例を説明したが、第1プランジャー62を2以上、第2プランジャー63を第1プランジャー62よりも1つ多い3以上設けてもよい。この場合も、上記実施形態同様の作用、効果を奏することができる。
Claims (7)
- 一方の部材と他方の部材にそれぞれ接触するプランジャーを備え、一方の部材に接触するプランジャーを他方の部材に接触するプランジャーが挟んで、上記各部材間を電気的に導通させる接触子であって、
上記他方の部材に接触する各プランジャーに個別に付勢手段を設けたことを特徴とする接触子。 - 請求項1に記載の接触子において、
上記各付勢手段が、大寸法の付勢手段と小寸法の付勢手段により構成されたことを特徴とする接触子。 - 請求項2に記載の接触子において、
上記小寸法の付勢手段により各プランシャーが支持されたことを特徴とする接触子。 - 請求項3に記載の接触子において、
上記各付勢手段が、その長さをそれぞれ異ならせたことを特徴とする接触子。 - 請求項3又は4に記載の接触子において、
上記小寸法の付勢手段が、1又は複数箇所に小径部を備え、当該小径部が上記すべてのプランジャーを摺動可能に支持することを特徴とする接触子。 - 請求項5に記載の接触子において、
上記小寸法の付勢手段が、その小径部を両側端部に備えた樽型に形成されたことを特徴とする接触子。 - 被検査体の電極に接触して試験を行う電気的接続装置において、
上記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、
当該接触子として上記請求項1乃至6のいずれか1項に記載の接触子を用いたことを特徴とする電気的接続装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011044087A JP5629611B2 (ja) | 2011-03-01 | 2011-03-01 | 接触子及び電気的接続装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011044087A JP5629611B2 (ja) | 2011-03-01 | 2011-03-01 | 接触子及び電気的接続装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012181096A true JP2012181096A (ja) | 2012-09-20 |
JP5629611B2 JP5629611B2 (ja) | 2014-11-26 |
Family
ID=47012414
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011044087A Active JP5629611B2 (ja) | 2011-03-01 | 2011-03-01 | 接触子及び電気的接続装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5629611B2 (ja) |
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JP5629611B2 (ja) | 2014-11-26 |
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A621 | Written request for application examination |
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