JPWO2019159349A1 - コンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケット - Google Patents

コンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケット Download PDF

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Abstract

【課題】電極と電極に接触する接触端子の頂部の接触ミスを無くし、検査機能を十分発揮できて検査ソケットの信頼性を向上させることができるコンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケットを提供する。【解決手段】電極3に接触する第2の接触端子7を互いに摩擦接触しながら摺動する一対の第2接触要素12aと一対の第3接触要素13aにより構成することにより、第2接触要素12aの頂点12atと第3接触要素13aの頂点13atが、電極3の半球状の先端部3aに十分接触して倣うことができるので、電極3と第2接触端子12aの頂部の接触ミスを無くすことができる。【選択図】図1

Description

本発明は、例えば、半導体集積回路の電気的特性を検査する際に使用されるコンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケットに関する。
近年、この種のコンタクトプローブは、被検査体に設けられた電極とプリント基板に設けられたランドとを電気的に接続するものであり、ランドに接触する第1の接触端子と、電極に接触する第2の接触端子と、第1の接触端子と第2の接触端子の間に設けられ、第1の接触端子と第2の接触端子を離反するよう付勢する弾性体と、を備えている。電極は、第2の接触端子の頂部に接触する半球状の先端部を有している。半導体集積回路の電気的特性を検査する際、電極と第2の接触端子の頂部の接触ミスが起生すると、本来合格と判定すべき被検査体が不合格と判定されたり、また逆に本来不合格と判定すべき被検査体が合格と判定されたりして、検査機能を発揮できず検査の信頼性が失われることにもなっていた。前述の電極と第2の接触端子の頂部の接触ミスは、電極と第2の接触端子の頂部の形状のばらつきがあったり、検査ソケットを組み立てたときの電極と第2の接触端子の頂部の位置関係が所定の位置からずれていた場合には、発生することになっていた。
この原因は、電極が半球状であり、また第2の接触端子の頂部が固定された二股状突起からなっているためである(例えば、特許文献1参照)。
特開2016−75709号公報
しかしながら、従来のコンタクトプローブは、以下に示すような課題があった。
従来のコンタクトプローブにおいては、第2の接触端子の頂部が二股状の突起からなっており、この突起は固定されている。
このため、半球状の電極と突起がずれていた場合、すなわち、突起の中心線と電極の中心線がずれていた場合には、前述したように半導体集積回路の電気的特性を検査する際、電極と第2の接触端子の頂部の接触ミスが起生して、検査機能を十分発揮できず検査ソケットの信頼性を失うことになっていた。
本発明は、従来の課題を解決するためになされたものであり、第2の接触端子を互いに摩擦接触しながら摺動する第2接触要素と第3接触要素により構成することにより、電極と第2接触端子の頂部の接触ミスを無くし、検査機能を十分発揮できて検査ソケットの信頼性を向上させるようにすることができるコンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケットを提供することを目的とする。
本発明に係わるコンタクトプローブは、被検査体に設けられた電極とプリント基板に設けられたランドとを電気的に接続するコンタクトプローブであって、前記ランドに接触する第1の接触端子と、前記電極に接触する第2の接触端子と、第1の接触端子と第2の接触端子の間に設けられ、第1の接触端子と第2の接触端子を離反するよう付勢する弾性体と、を備え、前記第1の接触端子は、平面状の金属板で形成された第1接触要素によって構成され、前記第2の接触端子は、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第1接触要素の一部を挟持し、前記第1接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第2接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の外側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第3接触要素と、によって構成され、前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができ、前記弾性体は、第3接触要素の一部を囲むよう設けられ、前記第1接触要素を前記ランドに弾性的に押し当てるとともに前記第2接触要素および第3接触要素を前記電極に弾性的に押し当てるようにしたコイルばねによって構成されている。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述のように構成されているので、
前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができるので、前記電極への接触要素の数が増えることになり、前記電極への接触ミスを皆無にすることができる。その結果、前記コンタクトプローブによる検査性能を確実に向上させることができる。
さらに、本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記電極が前記第2接触要素および前記第3接触要素に接触する半球状の先端部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極の先端部に接触する少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の頂点の間隔は、前記第3接触要素の頂点の間隔よりも小さくしているので、本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が電極の半球状の先端部の形状に倣うことができる。この結果、前記第2接触要素および前記第3接触要素の前記電極への接触ミスを皆無にして前記第2接触要素および前記第3接触要素を前記電極に安定して接触させることができる。
さらに、本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記電極が前記第2接触要素および前記第3接触要素に接触する半球状の先端部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極の先端部に接触する少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の頂点の高さは、前記第3接触要素の高さより低くして前記第2接触要素の頂点および前記第3接触要素の頂点に高低差をつけている。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、前記第2接触要素および前記第3接触要素のそれぞれの2つの頂点が半球状の先端部の形状に倣うことができ、前記第2接触要素および前記第3接触要素の前記電極への接触ミスを皆無にして前記第2接触要素および前記第3接触要素を前記電極に安定して接触させることができる。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記電極が前記第2接触要素および前記第3接触要素に接触する半球状の先端部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極に接触する少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の頂点の間隔は、前記第3接触要素の頂点の間隔よりも小さく、前記第2接触要素の頂点の高さは、前記第3接触要素の高さより低く、前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が半球状の先端部の形状に倣うことができるよう前記第2接触要素の頂点および前記第3接触要素の頂点に高低差をつけている。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極に接触する前記第2接触要素および前記第3接触要素のそれぞれの2つの頂点が半球状の先端部の形状に良好に倣うことができ、前記第2接触要素および前記第3接触要素の前記電極への接触ミスを皆無にして前記第2接触要素および前記第3接触要素を前記電極に安定して接触させることができる。
本発明に係わるコンタクトプローブは、被検査体に設けられた電極とプリント基板に設けられたランドとを電気的に接続するコンタクトプローブであって、 前記ランドに接触する第1の接触端子と、前記電極に接触する第2の接触端子と、第1の接触端子と第2の接触端子の間に設けられ、第1の接触端子と第2の接触端子を離反するよう付勢する弾性体と、を備え、前記第1の接触端子は、平面状の金属板で形成された第1接触要素によって構成され、前記第2の接触端子は、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第1接触要素の一部を挟持し、前記第1接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第2接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の外側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第3接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第3接触要素の外側に位置し、前記第3接触要素に摩擦接触した一対の第4接触要素と、によって構成され、前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができ、前記弾性体は、前記第4接触要素の一部を囲むよう設けられ、前記第1接触要素を前記ランドに弾性的に押し当てるとともに前記第2接触要素、第3接触要素および前記第4接触要素を前記電極に弾性的に押し当てるようにしたコイルばねによって構成されている。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記第1の接触端子は、さらに、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第3接触要素の外側に位置し、前記第3接触要素に摩擦接触した第4接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が尖った1つの頂点を有し、前記第2接触要素の内側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触し、前記電極と第1接触要素の間で前記第1接触要素によって前記電極側に押圧されるよう設けられた中央センター接触要素と、を有し、前記第4接触要素および前記中央センター接触要素は、前記第3接触要素、前記第1接触要素に相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができる。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、第4接触要素と前記中央センター接触要素をさらに追加することにより、前記第2接触要素、前記第3接触要素、前記第4接触要素および前記中央センター接触要素を前記電極に接触させることができるので、前記電極に接触する接触要素の数を増やすことができ前記接触要素の前記電極への接触ミスを皆無にして前記接触要素を前記電極にさらに確実に接触させることができる。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記電極に近接した前記第2接触要素の先端部と前記第3接触要素の先端部を囲むよう設けられ、前記第2接触要素および第3接触要素の先端部を放射外方に移動しないよう保持した保持部材をさらに備えている。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、前記保持部材を追加することによって前記第2接触要素の先端部および前記第3接触要素の先端部を放射外方に移動しないよう、すなわち、前記第2接触要素の先端部および前記第3接触要素の先端部がばらけないよう、前記第2接触要素の先端部および前記第3接触要素の先端部の前記電極への接触力を低下させないよう、前記第2接触要素の先端部および前記第3接触要素の先端部の前記電極への接触ミスを皆無にすることができる。この結果、前記第2接触要素の先端部および前記第3接触要素の先端部を前記電極に確実に接触させることができる。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記電極に近接した前記第2接触要素の先端部、前記第3接触要素の先端部および前記第4接触要素の先端部を囲むよう設けられた保持部材をさらに備え、前記保持部材が、前記第2接触要素の先端部、前記第3接触要素の先端部および前記第4接触要素の先端部を放射外方に移動しないよう保持するようにしている。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、前記保持部材を追加することによって前記第2接触要素の先端部、前記第3接触要素の先端部および前記第4接触要素の先端部を放射外方に移動しないよう、すなわち、前記第2接触要素の先端部、前記第3接触要素の先端部および前記第4接触要素の先端部がばらけないよう、すなわち、前記第2接触要素の先端部および前記第3接触要素の先端部の前記電極への接触力を低下させないよう、にすることができる。この結果、前記第2接触要素の先端部、前記第3接触要素の先端部および前記第4接触要素の先端部を前記電極に確実に接触させることができる。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記第1接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に前記コイルばねの下部に係合して前記コイルばねを支持する第1接触要素突起部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に形成され、前記コイルばねにより前記電極側に付勢される第2接触要素突起部および第3接触要素突起部を有し、前記コイルばねは、前記第2接触要素および前記第3接触要素が前記ランドに接近するよう前記第1接触要素に対して移動したとき、前記第2接触要素突起部および前記第3接触要素突起部が前記第1接触要素突起部に接近することにより圧縮され、前記第2接触要素および前記第3接触要素が前記ランドから離隔するように前記第1接触要素が対して移動したとき、第2接触要素突起部および前記第3接触要素突起部が前記第1接触要素突起部から離隔することにより伸長されるようにしている。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記コイルばねの圧縮時および伸長時に前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしている。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記第1接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に前記コイルばねの下部に係合して前記コイルばねを支持する第1接触要素突起部を有し、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に形成され、前記コイルばねにより前記電極側に付勢される第2接触要素突起部、第3接触要素突起部および第4接触要素突起部を有し、前記コイルばねは、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素が前記ランドに接近するよう前記第1接触要素に対して移動したとき、前記第1接触要素突起部と第2接触要素突起部,前記第3接触要素突起部および前記第4接触要素突起部が互いに接近することにより圧縮され、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素が前記ランドから離隔するように前記第1接触要素が対して移動したとき、前記第1接触要素突起部と第2接触要素突起部、前記第3接触要素突起部および前記第4接触要素突起部が互いに離隔することにより伸長されるようにしている。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記コイルばねの圧縮時および伸長時に前記第1接触要素、前記第2接触要素、前記第3接触要素および第4接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしている。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、前記コイルばねの弾性の作用により前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が半球状の先端部の形状に相互に独立して摺動しながら倣うことができるため、前記第2接触要素および前記第3接触要素の前記電極への接触ミスを皆無にして前記第2接触要素および前記第3接触要素を前記電極に安定して接触させることができる。
本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記コイルばねは、前記第3接触要素を囲んで密集して巻かれた密集巻部と、前記密集部と前記第3接触要素の先端部の間に位置し、前記第3接触要素の先端部を囲んで粗く巻かれた第1粗巻部と、前記密集部と前記第1接触要素の底部の間に位置し、前記第1接触要素の底部を囲んで粗く巻かれた第2粗巻部と、を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、少なくともその両側面に前記第1粗巻部から外方に突出する突起部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしている。
本発明に係わるコンタクトプローブは、前述の効果に加え次のような効果を得ることができる。すなわち、本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記コイルばねは、前記第4接触要素を囲んで密集して巻かれた密集巻部と、前記密集部と前記第4接触要素の先端部の間に位置し、前記第4接触要素の先端部を囲んで粗く巻かれた第1粗巻部と、前記密集部と前記第1接触要素の底部の間に位置し、前記第1接触要素の底部を囲んで粗く巻かれた第2粗巻部と、を有し、前記第4接触要素は、少なくともその両側面に前記第1粗巻部から外方に突出する突起部を有し、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしている。
本発明に係わる検査ソケットは、前述のコンタクトプローブと、コンタクトプローブを収納する収納部が形成された筐体と、電極が設けられた被検査体を保持する被検査体保持部と、ランドが設けられたプリント基板と、を備え、電極およびランドがコンタクトプローブの中心線上に位置している。
本発明に係わるコンタクトプローブの第1実施例を示し、その一部断面で示した側面図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第1実施例を示し、図1のA−A矢視図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第1実施例を示し、図1のB−B矢視図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第1実施例を示し、コンタクトプローブの斜視図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第1実施例を示し、本発明に係わるコンタクトプローブの構成要素である第1接触要素、第2接触要素および第3接触要素の平面図である。 図6Aおよび図6Bは、本発明に係わるコンタクトプローブの第1実施例を示し、図6Aは、第2接触要素および第3接触要素がランドに接近するよう第1接触要素に対して移動したとき、第2接触要素突起部および第3接触要素突起部が下側の第1接触要素突起部に距離S1まで接近することにより圧縮された圧縮状態を示し、図6Bは、第2接触要素および第3接触要素が下側の第1接触要素突起部から距離S2まで離隔するように第1接触要素に対して移動したとき、第2接触要素突起部および第3接触要素突起部が下側の第1接触要素突起部から離隔することにより伸長される伸長状態を、示す。 本発明に係わるコンタクトプローブの第1実施例を示し、コンタクトプローブの構成要素であるコイルばねが、密巻部、第1粗巻部および第2粗巻部からなることを示したその側面図である。 図8A乃至図8Dは、第1実施例のコンタクトプローブを用いて被検査体を検査する工程を示し、図8Aは、被検査体2がコンタクトプローブに未装着状態である第1工程、図8Bは、被検査体がコンタクトプローブに装着された装着状態である第2工程、図8Cは、被検査体が下降して半田ボールが第2接触要素および第3接触要素に接触した状態である第3工程、および、図8Dは、被検査体がさらに下降して第2接触要素および第3接触要素を押圧し、コイルばねを圧縮した第4工程を示す。 本発明に係わるコンタクトプローブの第2実施例を示し、その一部断面で示した側面図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第2実施例を示し、図9のC−C矢視図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第2実施例を示し、図9のD−D矢視図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第2実施例を示し、コンタクトプローブの斜視図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第2実施例を示し、コンタクトプローブの構成要素である第1接触要素、第2接触要素、第3接触要素および第4接触要素の平面図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第3実施例を示し、中央センター接触要素11bの一実施例を示すその断面図である。 図14のE−E矢視図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第4実施例を示し、第2接触要素の先端部と第3接触要素の先端部がばらけないよう保持する保持部材の側面図である。 本発明に係わるコンタクトプローブの第5実施例を示し、第2接触要素の先端部、第3接触要素の先端部および第4接触要素の先端部がばらけないよう保持する保持部材の側面図である。
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。
第1実施例
図1乃至図5は、第1実施例のコンタクトプローブを示し、図1乃至図5において、コンタクトプローブ1は、被検査体2に設けられた半田ボール3と、プリント基板5に設けられたランド4とを電気的に接続するものである。半田ボール3は、本発明における電極を構成する。
コンタクトプローブ1は、ランド4に接触する第1の接触端子6と、半田ボール3に接触する第2の接触端子7と、第1の接触端子6と第2の接触端子7の間に設けられ、第1の接触端子6と第2の接触端子7を離反するよう付勢する弾性体15と、を備えている。第1の接触端子6および第2の接触端子7は、筐体8内に収納されている。コンタクトプローブ1は、被検査体2の検査時には、半田ボール3およびランド4の中心線上に位置している。
第1の接触端子6は、平面状の金属板で形成された第1接触要素11aによって構成される。第1接触要素11aは、その両側、すなわち、半田ボール3に近接した上部とランド4に近接した下部に互いに上下に離隔し、両側に突出して形成された2つの第1接触要素突起部11apを有する。上側の第1接触要素突起部11apは、筐体8の上部に形成された筐体突起部8aの下面に係合できるようにして第1接触要素11aが筐体8に収納されている。下側の第1接触要素突起部11apは、後述するコイルばね16の下部係合部16hに係合してコイルばね16を支持している。
また、第2の接触端子7は、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点12atを有し、第1接触要素11aの一部を挟持し、第1接触要素11aに摩擦接触するよう設けられた一対の第2接触要素12aと、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点13atを有し、第2接触要素12aの外側に位置し、第2接触要素12aに摩擦接触するよう設けられた一対の第3接触要素13aと、によって構成されている。
第2接触要素12aは、その両側、すなわち、半田ボール3に近接した上部とランド4に近接した下部に互いに上下に離隔し、両側に突出して形成された第2接触要素突起部12apを有する。上側の第2接触要素突起部12apは、筐体8の上部に形成された筐体突起部8aの下面に係合できるようにして第2接触要素12aが筐体8に収納されている。下側の第2接触要素突起部12apは、後述するコイルばね16の下部係合部16hに係合してコイルばね16を支持している。
また、同様に、第3接触要素13aは、その両側、すなわち、半田ボール3に近接した上部とランド4に近接した下部に互いに上下に離隔し、両側に突出して形成された第3接触要素突起部13apを有する。上側の第3接触要素突起部13apは、筐体8の上部に形成された筐体突起部8aの下面に係合できるようにして第3接触要素13aが筐体に8に収納されている。下側の第3接触要素突起部13apは、後述するコイルばね16の下部係合部16hに係合してコイルばね16を支持している。
第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aは、図5に詳示するように、平面状である。このため、第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aは、相互に面接触で摩擦接触することができ、半田ボール3とランド4に相対的に接近および離隔するよう容易に移動することができるようになっている。
半田ボール3は、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aに接触する半球状の先端部3aを有する。第2接触要素12aの頂点12atの間隔dは、第3接触要素13aの頂点13atの間隔Dよりも小さくしている。第2接触要素12aの頂点12atの間隔dと第3接触要素13aの頂点13atの間隔Dを前述のようにしたため、第2接触要素12aの頂点12atと第3接触要素13aの頂点13atが、半田ボール3の半球状の先端部3aに十分接触して倣うことができる。
また、第2接触要素12aの頂点12atの高さhは、第3接触要素13aの頂点13atの高さHより低くして、第2接触要素12aの頂点12atと第3接触要素13aの頂点13atに高低差をつけている。ここで、第2接触要素12aの頂点12atの高さhとは、第2接触要素突起部12apの上面から頂点12atまでの長さであり、また、第3接触要素13aの頂点13atの高さHとは、第3接触要素突起部13apの上面から頂点13atまでの長さである。
前述した第2接触要素12aの頂点12atの間隔dと第3接触要素13aの頂点13atの間隔Dが異なることによる効果に加えて、第2接触要素12aの頂点12atと第3接触要素13aの頂点13atの高低差により、第2接触要素12aの頂点12atと第3接触要素13aの頂点13atが、半田ボール3の半球状の先端部3aにより十分接触して倣うことができる。
また、弾性体15は、第3接触要素13aの一部を囲むよう設けられ、第1接触要素11aをランド4に弾性的に押し当てるとともに第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを半田ボール3に弾性的に押し当てるようにしたコイルばね16によって構成されている。コイルばね16は、第3接触要素13aの一部を囲んで、筐体8内に収納されている。
コイルばね16は、均一な線材で同一の巻ピッチで巻いたものでもよいが、図7に示すように構成されたものでもよい。
すなわち、コイルばね16は、図7に示すように、第3接触要素13aの中央部を囲んで密集して巻かれた密巻部16aと、密巻部16aと第3接触要素13aの上側の第3接触要素突起部13apの間に位置し、第3接触要素13aの上部を囲んで粗く巻かれた第1粗巻部16bと、密巻部16aと第3接触要素13aの下側の第3接触要素突起部13apの間に位置し、第3接触要素13aの下部を囲んで粗く巻かれた第2粗巻部16cと、を有する。
密巻部16aは、第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aがばらけないよう第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを保持しており、第1粗巻部16bおよび第2粗巻部16cは、第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを摩擦接触させながら第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを相互に独立して摺動させるよう保持している。
さらに、コイルばね16は、第1接触要素突起部11ap、第2接触要素突起部12ap、第3接触要素突起部13apの下面に係合する上部係合部16gと、第1接触要素突起部11ap、第2接触要素突起部12ap、第3接触要素突起部13apの上面に係合する下部係合部16hと、を有する。
コイルばね16は、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aがランド4に接近するよう第1接触要素11aに対して移動したとき、第2接触要素突起部12apおよび第3接触要素突起部13apが下側の第1接触要素突起部11apに距離S1まで接近することにより圧縮され(図6A参照)、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aが下側の第1接触要素突起部11apから距離S2まで離隔するように第1接触要素11aが対して移動したとき、第2接触要素突起部12apおよび第3接触要素突起部13apが下側の第1接触要素突起部11apから離隔することにより伸長される(図6B参照)。
このように、コイルばね16の圧縮は、半田ボール3が第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを下方に押圧してランド4に接近するよう移動させることにより行われる。また、コイルばね16の伸長は、半田ボール3が第2接触要素12aおよび第3接触要素13aの下方への押圧を解放してランド4から離隔するよう移動させることにより行われる。
このように、コイルばね16の圧縮時に、第1接触要素11aがランド4に弾性的に押し当てられるとともに第2接触要素12aおよび第3接触要素13aが半田ボール3に弾性的に押し当てられる。このため、半田ボール3は、第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを通して、すなわち、コンタクトプローブ1を通して、ランド4に電気的に接続されるように半田ボール3、第1接触要素11a、第2接触要素12a、第3接触要素13aおよびコイルばね16を配置している。
このように構成された第1実施例のコンタクトプローブにおいては、次のような効果を有する。
すなわち、一対の第2接触要素12aおよび一対の第3接触要素13aのそれぞれの2つ、合計8つの頂点12atおよび13atが、前述のように、異なる間隔、高低差があり、半田ボール3の先端部3aに対して可動であるため、半田ボール3の先端部3aの形状に倣うことができ、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aの半田ボール3への接触ミスを皆無にして第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを半田ボール3に安定して接触させることができる。
図8A乃至図8Dは、第1実施例のコンタクトプローブ1を用いて被検査体2を検査する工程を示し、図8Aは、被検査体2がコンタクトプローブ1に未装着状態である第1工程、図8Bは、被検査体2がコンタクトプローブ1に装着された装着状態である第2工程、図8Cは、被検査体2が下降して半田ボール3が第2接触要素12aおよび第3接触要素13aに接触した状態である第3工程、および、図8Dは、被検査体2がさらに下降して第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを押圧し、コイルばね16を圧縮した第4工程を示す。
図8Aに示す第1工程においては、被検査体2がコンタクトプローブ1に未装着状態である。図示の通りであり、説明の必要がない。
図8Bに示す第2工程においては、被検査体2がコンタクトプローブ1に装着された装着状態である。被検査体2の半田ボール3は、コンタクトプローブ1およびランド4の直上、すなわち、第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aの直上に位置する。
図8Cに示す第3工程においては、半田ボール3が第2接触要素12aおよび第3接触要素13aに接触しているので、第2接触要素突起部12apおよび第3接触要素突起部13apは、同一高さに位置している。
したがって、コイルばね16は、伸長したままで圧縮されていないので、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aは、第1接触要素11aに対して相対移動していない、すなわち、静止している。このため、第2接触要素12aの頂点12atおよび第3接触要素13aの頂点13atが半球状の半田ボール3の先端部3aに接触する。第1接触要素11aの上面は、半田ボール3の先端部3aから離隔している。
第4工程においては、被検査体2がさらに下降して第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを押圧し、コイルばね16が圧縮されるので、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aは、互に摩擦接触しながらコイルばね16に対抗して第1接触要素11aに対して相対移動し、第2接触要素突起部12apおよび第3接触要素突起部13apは第1接触要素突起部11apに距離S1まで接近する。すなわち、第1接触要素11aがランド4に弾性的に押し当てられるとともに第2接触要素12aおよび第3接触要素13aが半田ボール3に弾性的に押し当てられる。
このとき、半田ボール3がコンタクトプローブ1からずれていた場合、半田ボール3の中心線がコンタクトプローブ1の中心線に一致しないでずれていた場合には、第2接触要素12aの頂点12atおよび第3接触要素13aの頂点13atが半田ボール3の先端部3aに接触しない接触ミスが発生し、半導体集積回路の電気的特性を検査する際、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aが半田ボール3に電気的接続されない可能性がある。
しかしながら、第1実施例のコンタクトプローブ1は、下記のように構成されているので、第2接触要素12aの頂点12atおよび第3接触要素13aの頂点13atが半球状の半田ボール3の先端部3aに接触して倣うことができ、半導体集積回路の電気的特性を検査する際、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aが半田ボール3に電気的接続される。
(1)第2の接触端子7は、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点12atを有し、第1接触要素11aの一部を挟持し、第1接触要素11aに摩擦接触するよう設けられた一対の第2接触要素12aと、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点13atを有し、第2接触要素12aの外側に位置し、第2接触要素12aに摩擦接触するよう設けられた一対の第3接触要素13aによって構成され、第1接触要素11a、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aは、相互に摩擦接触しながら半田ボール3とランド4に相対的に接近および離隔するよう移動することができ、
(2)半田ボール3が第2接触要素12aおよび第3接触要素13aに接触する半球状の先端部3aを有し、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aは、それぞれ半田ボール3に接触する少なくとも2つの頂点12atおよび13atを有し、第2接触要素12aの頂点12atの間隔は、第3接触要素13aの頂点13atの間隔よりも小さくし、
(3)第2接触要素12aの頂点12atの高さは、第3接触要素13aの頂点13atの高さより低くして第2接触要素12aの頂点12atおよび第3接触要素13aの頂点13atに高低差をつけている。
この結果、第2接触要素12aおよび第3接触要素13aの半田ボール3への接触ミスを皆無にして第2接触要素12aおよび第3接触要素13aを半田ボール3に安定して接触させることができる。したがって、検査機能を十分発揮でき検査ソケットの信頼性を向上させることができる。
第2実施例
図9乃至図13は、コンタクトプローブの第2実施例を示すものである。
第2実施例におけるコンタクトプローブおいては、図9乃至図13に示すように、第2の接触端子7は、さらに、第4接触要素14aを有している。
第4接触要素14aは、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点14atを有し、第3接触要素13aの外側に位置し、第3接触要素13aに相互に摩擦接触しながら半田ボール3に相対的に接近および離隔するよう移動するようになっている。
第4接触要素14aは、第2接触要素12a、第3接触要素13aの形状と同様に、その両側、すなわち、半田ボール3に近接した上部とランド4に近接した下部に互いに上下に離隔し、両側に突出して形成された第4接触要素突起部14apを有する。第4接触要素14aの頂点14atの間隔Q(図11参照)は、第3接触要素13aの頂点13atの間隔Dよりも大きくしている。また、第4接触要素14aの頂点14atの高さR(図10参照)は、第3接触要素13aの頂点13atの高さH(図10参照)より高くして、第2接触要素12aの頂点12at、第3接触要素13aの頂点13atおよび第4接触要素14aの頂点14atに高低差をつけて第4接触要素14aを第2接触要素12a、第3接触要素13aに対して配置している。ここで、第4接触要素14aの頂点14atの高さRとは、第4接触要素突起部14apの上面から頂点14atまでの長さである。このため、第2接触要素12aの頂点12at、第3接触要素13aの頂点13atおよび第4接触要素14aの頂点14atが半田ボール3の先端部3aの形状に十分倣うことができる。
コイルばね16は、第1実施例と同様に、第4接触要素14aの中央部を囲んで密集して巻かれた密巻部16aと、密巻部16aと第4接触要素14aの上側の第4接触要素突起部14apの間に位置し、第4接触要素14aの上部を囲んで粗く巻かれた第1粗巻部16bと、密巻部16aと第4接触要素14aの下側の第4接触要素突起部14apの間に位置し、第4接触要素14aの下部を囲んで粗く巻かれた第2粗巻部16cと、を有する。
密巻部16aは、第1接触要素11a、第2接触要素12a、第3接触要素13aおよび第4接触要素14aがばらけないよう第1接触要素11a、第2接触要素12a、第3接触要素13aおよび第4接触要素14aを保持しており、第1粗巻部16bおよび第2粗巻部16cは、第1接触要素11a、第2接触要素12a、第3接触要素13aおよび第4接触要素14aを摩擦接触させながら第1接触要素11a、第2接触要素12a、第3接触要素13aおよび第4接触要素14aを相互に独立して摺動させるよう保持している。
このように、コイルばね16の弾性作用により、第1接触要素11aをランド4に弾性的に押し当てるとともに第2接触要素12a、第3接触要素13a、および第4接触要素14aを半田ボール3に弾性的に押し当てることができる。
第1実施例に第4接触要素14aが加わった第2実施例の作用は、第1実施例の作用に第4接触要素14aの作用が加わっただけであるので、第2実施例の作用の説明は、以下省略する。
なお、第2実施例のコンタクトプローブおいては、半田ボール3への接触要素の数をさらに増加させてもよい、すなわち、n個まで増加させてもよい。n個まで増加した接触要素は、半田ボール3への接触ミスをさらに確実に皆無にすることができる。
第3実施例
図14および図15は、コンタクトプローブの第3実施例を示すものである。
第3実施例に係わるコンタクトプローブおいては、第1の接触端子6は、図14および図15に示すように、さらに、中央センター接触要素11bを有する。中央センター接触要素11bは、平面状の金属板で形成され、一対の第2接触要素12aの内側に位置し、第2接触要素12aに摩擦接触し、半田ボール3と第1接触要素11aの間で第1接触要素11aによって半田ボール3側に弾性的に押圧されるよう第1接触要素11aの上部に設けられている。
第1接触要素11aの上部には中央センター接触要素11bの下部が収納される溝11ab(図14参照)が形成されており、この溝11abの深さは、中央センター接触要素11bの往復動ができる程度にしている。第4接触要素14aおよび中央センター接触要素11bは、それぞれ第3接触要素13aおよび第2接触要素12aに相互に摩擦接触しながら半田ボール3とランド4に相対的に接近および離隔するよう移動するようにしている。
中央センター接触要素11bは、その両側に突出して形成された2つの中央センター接触要素突起部11bpを有する。中央センター接触要素突起部11bpは、筐体8の上部に形成された筐体突起部8aの下面に係合できるようにして筐体に8に収納されている。中央センター接触要素突起部11bpは、コイルばね16の上部係合部16gに係合している。
中央センター接触要素11bが前述のように構成されているので、図8Dに示すように、被検査体2がさらに下降して第2接触要素12aおよび第3接触要素13aが半田ボール3に押圧したときには、中央センター接触要素11bも第2接触要素12aおよび第3接触要素13aと一緒になってコイルばね16を圧縮することができる。
このため、中央センター接触要素11bも第2接触要素12aおよび第3接触要素13aとともに半田ボール3に弾性的に押圧して、中央センター接触要素11bの頂点11btも第2接触要素12aの頂点12atおよび第3接触要素13aの頂点13atと一緒に半田ボールを押圧するため、半田ボール3への接触ミスを皆無にして半田ボール3に安定して接触させることができる。したがって、検査機能を十分発揮でき検査ソケットの信頼性を向上させることができる。
第4実施例および第5実施例
図16および図17は、それぞれコンタクトプローブの第4実施例および第5実施例を示すものである。
また、図16に示す第4実施例のコンタクトプローブは、半田ボール3に近接した第2接触要素12aの先端部12asおよび第3接触要素13aの先端部13asを囲むよう設けられた保持部材21を備えている。この保持部材21は、第2接触要素12aの先端部12asおよび第3接触要素13aの先端部13asを放射外方に移動しないよう、すなわち、ばらけないよう保持するようにしている。
また、図17に示す第5実施例のコンタクトプローブは、半田ボール3に近接した第2接触要素12aの先端部12as、第3接触要素13aの先端部13asおよび第4接触要素14aの先端部14asを囲むよう設けられた保持部材21をさらに備えている。この保持部材21は、第2接触要素12aの先端部12as、第3接触要素13aの先端部13asおよび第4接触要素14aの先端部14asを放射外方に移動しないよう、すなわち、ばらけないよう保持するようにしている。
この以上説明したように、本発明に係わるコンタクトプローブは、被検査体に設けられた電極とプリント基板に設けられたランドとを電気的に接続するコンタクトプローブであって、前記ランドに接触する第1の接触端子と、前記電極に接触する第2の接触端子と、第1の接触端子と第2の接触端子の間に設けられ、第1の接触端子と第2の接触端子を離反するよう付勢する弾性体と、を備え、前記第1の接触端子は、平面状の金属板で形成された第1接触要素によって構成され、前記第2の接触端子は、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第1接触要素の一部を挟持し、第1接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第2接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の外側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第3接触要素と、によって構成され、前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができ、前記弾性体は、第3接触要素の一部を囲むよう設けられ、前記第1接触要素を前記ランドに弾性的に押し当てるとともに前記第2接触要素および第3接触要素を前記電極に弾性的に押し当てるようにしたコイルばねによって構成されているので、前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができるので、前記電極への接触要素の数が増えることになり、前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が電極の半球状の先端部の形状に良好に倣うことができ、前記電極への接触ミスを皆無にすることができる。その結果、前記コンタクトプローブによる検査性能を確実に向上させることができる。
また、本発明に係わるコンタクトプローブは、前記電極が前記第2接触要素および前記第3接触要素に接触する半球状の先端部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極に接触する少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の頂点の間隔は、前記第3接触要素の頂点の間隔よりも小さく、前記第2接触要素の頂点の高さは、前記第3接触要素の高さより低く、前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が前記電極の半球状の先端部の形状に倣うことができるよう前記第2接触要素の頂点および前記第3接触要素の頂点に高低差をつけているので、前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が電極の半球状の先端部の形状にさらに良好に倣うことができ、前記第2接触要素および前記第3接触要素の前記電極への接触ミスをさらに皆無にして前記第2接触要素および前記第3接触要素を前記電極に安定して接触させることができる。
また、本発明に係わるコンタクトプローブにおいては、前記第1の接触端子は、さらに、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第3接触要素の外側に位置し、前記第3接触要素に摩擦接触した第4接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が尖った1つの頂点を有し、前記第2接触要素の内側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触し、前記電極と第1接触要素の間で前記コイルばねによって前記電極側に押圧されるよう設けられた中央センター接触要素と、を有し、前記第4接触要素および前記中央センター接触要素は、前記第3接触要素、前記第1接触要素に相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができるので、前記電極への接触要素の数がさらに増えることになり、前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が電極の半球状の先端部の形状にさらに良好に倣うことができ、前記電極への接触ミスを皆無にすることができる。その結果、前記コンタクトプローブによる検査性能を確実に向上させることができる。
本発明に係わるコンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケットは、電極と第2接触端子の頂部の接触ミスを無くして電極とランドの完全な電気的接続を達成することにより、検査機能を十分発揮できて検査ソケットの信頼性を向上させるようにすることができるので、コンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケットとして、有用である。
1 コンタクトプローブ
2 被検査体
3 半田ボール(電極)
3a 半田ボール(電極)の先端部
4 ランド
5 プリント基板
6 第1の接触端子
7 第2の接触端子
8 筐体
8a 筐体突起部
11a 第1接触要素
11at 第1接触要素の頂点
11ap 第1接触要素突起部
11b 中央センター接触要素
11ab 溝
11bt 中央センター接触要素の頂点
11bp 中央センター接触要素突起部
12a 第2接触要素
12at 第2接触要素の頂点
12ap 第2接触要素突起部
12as 第2接触要素の先端部
13a 第3接触要素
13at 第3接触要素の頂点
13ap 第3接触要素の突起部
13as 第3接触要素の先端部
14a 第4接触要素
14at 第4接触要素の頂点
14ap 第4接触要素の突起部
14as 第4接触要素の先端部
15 弾性体
16 コイルばね
16a 密巻部
16b 第1粗巻部
16c 第2粗巻部
16g コイルばねの上部係合部
16h コイルばねの下部係合部
21 保持部材

Claims (16)

  1. 被検査体に設けられた電極とプリント基板に設けられたランドとを電気的に接続するコンタクトプローブであって、
    前記ランドに接触する第1の接触端子と、
    前記電極に接触する第2の接触端子と、
    前記第1の接触端子と前記第2の接触端子の間に設けられ、前記第1の接触端子と前記第2の接触端子を離反するよう付勢する弾性体と、
    を備え、
    前記第1の接触端子は、平面状の金属板で形成された第1接触要素によって構成され、
    前記第2の接触端子は、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第1接触要素の一部を挟持し、前記第1接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第2接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の外側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第3接触要素と、によって構成され、前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができ、
    前記弾性体は、前記第3接触要素の一部を囲むよう設けられ、前記第1接触要素を前記ランドに弾性的に押し当てるとともに前記第2接触要素および前記第3接触要素を前記電極に弾性的に押し当てるようにしたコイルばねによって構成されたことを特徴とするコンタクトプローブ。
  2. 前記電極が前記第2接触要素および前記第3接触要素に接触する半球状の先端部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極の先端部に接触する少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の頂点の間隔は、前記第3接触要素の頂点の間隔よりも小さくしたことを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  3. 前記電極が前記第2接触要素および前記第3接触要素に接触する半球状の先端部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極の先端部に接触する少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の頂点の高さは、前記第3接触要素の高さより低くして前記第2接触要素の頂点および前記第3接触要素の頂点に高低差をつけたことを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  4. 前記電極が前記第2接触要素および前記第3接触要素に接触する半球状の先端部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、それぞれ前記電極に接触する少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の頂点の間隔は、前記第3接触要素の頂点の間隔よりも小さく、前記第2接触要素の頂点の高さは、前記第3接触要素の高さより低く、前記第2接触要素および前記第3接触要素の頂点が前記電極の半球状の先端部の形状に倣うことができるよう前記第2接触要素の頂点および前記第3接触要素の頂点に高低差をつけたことを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  5. 被検査体に設けられた電極とプリント基板に設けられたランドとを電気的に接続するコンタクトプローブであって、
    前記ランドに接触する第1の接触端子と、
    前記電極に接触する第2の接触端子と、
    前記第1の接触端子と前記第2の接触端子の間に設けられ、前記第1の接触端子と前記第2の接触端子を離反するよう付勢する弾性体と、
    を備え、
    前記第1の接触端子は、平面状の金属板で形成された第1接触要素によって構成され、
    前記第2の接触端子は、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第1接触要素の一部を挟持し、前記第1接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第2接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第2接触要素の外側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触するよう設けられた一対の第3接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第3接触要素の外側に位置し、前記第3接触要素に摩擦接触した一対の第4接触要素と、によって構成され、前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができ、
    前記弾性体は、前記第4接触要素の一部を囲むよう設けられ、前記第1接触要素を前記ランドに弾性的に押し当てるとともに前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素を前記電極に弾性的に押し当てるようにしたコイルばねによって構成されたことを特徴とするコンタクトプローブ。
  6. 前記第4接触要素の頂点の間隔は、前記第3接触要素の頂点の間隔よりも大きく、前記第4接触要素の頂点の高さは、前記第3接触要素の高さより高く、前記第2接触要素の頂点、前記第3接触要素の頂点および前記第4接触要素の頂点が前記電極の半球状の先端部の形状に倣うことができるよう前記第2接触要素の頂点、前記第3接触要素の頂点および前記第4接触要素の頂点に高低差をつけたことを特徴とする請求項5に記載のコンタクトプローブ。
  7. 前記第1の接触端子は、さらに、平面状の金属板で形成され、先端が二股状に分かれて少なくとも2つの頂点を有し、前記第3接触要素の外側に位置し、前記第3接触要素に摩擦接触した第4接触要素と、平面状の金属板で形成され、先端が尖った1つの頂点を有し、前記第2接触要素の内側に位置し、前記第2接触要素に摩擦接触し、前記電極と前記第1接触要素の間で前記コイルばねによって前記電極側に押圧されるよう設けられた中央センター接触要素と、を有し、前記第4接触要素および前記中央センター接触要素は、前記第3接触要素、前記第1接触要素に相互に摩擦接触しながら前記電極と前記ランドに相対的に接近および離隔するよう移動することができることを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  8. 前記電極に近接した前記第2接触要素の先端部と前記第3接触要素の先端部を囲むよう設けられ、前記第2接触要素および前記第3接触要素の先端部を放射外方に移動しないよう保持した保持部材をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  9. 前記電極に近接した前記第2接触要素の先端部、前記第3接触要素の先端部および前記第4接触要素の先端部を囲むよう設けられた保持部材をさらに備え、前記保持部材が、前記第2接触要素の先端部、前記第3接触要素の先端部および前記第4接触要素の先端部を放射外方に移動しないよう保持するようにしたことを特徴とする請求項5に記載のコンタクトプローブ。
  10. 前記第1接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に前記コイルばねの下部に係合して前記コイルばねを支持する第1接触要素突起部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に形成され、前記コイルばねにより前記電極側に付勢される第2接触要素突起部および第3接触要素突起部を有し、前記コイルばねは、前記第2接触要素および前記第3接触要素が前記ランドに接近するよう前記第1接触要素に対して移動したとき、前記第2接触要素突起部および前記第3接触要素突起部が前記第1接触要素突起部に接近することにより圧縮され、前記第2接触要素および前記第3接触要素が前記ランドから離隔するように前記第1接触要素が対して移動したとき、第2接触要素突起部および前記第3接触要素突起部が前記第1接触要素突起部から離隔することにより伸長されるようにしたことを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  11. 前記コイルばねの圧縮時および伸長時に前記第1接触要素、前記第2接触要素および前記第3接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしたことを特徴とする請求項10に記載のコンタクトプローブ。
  12. 前記第1接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に前記コイルばねの下部に係合して前記コイルばねを支持する第1接触要素突起部を有し、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素は、前記コイルばねの外方に突出するよう少なくともその両側面に形成され、前記コイルばねにより前記電極側に付勢される第2接触要素突起部、第3接触要素突起部および第4接触要素突起部を有し、前記コイルばねは、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素が前記ランドに接近するよう前記第1接触要素に対して移動したとき、前記第1接触要素突起部と第2接触要素突起部、前記第3接触要素突起部および前記4接触要素突起部が互いに接近することにより圧縮され、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素が前記ランドから離隔するように前記第1接触要素が対して移動したとき、前記第1接触要素突起部と第2接触要素突起部、前記第3接触要素突起部および前記4接触要素突起部が互いに離隔することにより伸長されるようにしたことを特徴とする請求項5に記載のコンタクトプローブ。
  13. 前記コイルばねの圧縮時および伸長時に前記第1接触要素、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしたことを特徴とする請求項12に記載のコンタクトプローブ。
  14. 前記コイルばねは、前記第3接触要素を囲んで密集して巻かれた密集巻部と、前記密集部と前記第3接触要素の先端部の間に位置し、前記第3接触要素の先端部を囲んで粗く巻かれた第1粗巻部と、前記密集部と前記第1接触要素の底部の間に位置し、前記第1接触要素の底部を囲んで粗く巻かれた第2粗巻部と、を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素は、少なくともその両側面に前記第1粗巻部から外方に突出する突起部を有し、前記第2接触要素および前記第3接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしたことを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  15. 前記コイルばねは、前記第4接触要素を囲んで密集して巻かれた密集巻部と、前記密集部と前記第4接触要素の先端部の間に位置し、前記第4接触要素の先端部を囲んで粗く巻かれた第1粗巻部と、前記密集部と前記第1接触要素の底部の間に位置し、前記第1接触要素の底部を囲んで粗く巻かれた第2粗巻部と、を有し、前記第4接触要素は、少なくともその両側面に前記第1粗巻部から外方に突出する突起部を有し、前記第2接触要素、前記第3接触要素および前記第4接触要素が、相互に独立して摺動できるようにしたことを特徴とする請求項5に記載のコンタクトプローブ。
  16. 請求項1から請求項15までのいずれか1項に記載のコンタクトプローブと、
    前記コンタクトプローブを収納する収納部が形成された筐体と、
    前記電極が設けられた前記被検査体を保持する被検査体保持部と、
    前記ランドが設けられた前記プリント基板と、
    を備え、
    前記電極および前記ランドが前記コンタクトプローブの中心線上に位置していることを特徴とする検査ソケット。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001337128A (ja) * 2000-05-29 2001-12-07 Fujitsu Ltd 半導体試験装置
JP2008157904A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Shuichi Ikeda 電気テスト用接触子
WO2012098837A1 (ja) * 2011-01-19 2012-07-26 ユニテクノ株式会社 検査ソケット
JP2012181096A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び電気的接続装置
US8547128B1 (en) * 2012-05-06 2013-10-01 Jerzy Roman Sochor Contact probe with conductively coupled plungers
JP2014197544A (ja) * 2009-09-28 2014-10-16 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
JP2016008835A (ja) * 2014-06-23 2016-01-18 株式会社日本マイクロニクス 電気的接触子及び電気的接続装置
JP2017142138A (ja) * 2016-02-09 2017-08-17 オーキンス エレクトロニクス カンパニー,リミテッド プローブピンおよび異方導電性部材

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001337128A (ja) * 2000-05-29 2001-12-07 Fujitsu Ltd 半導体試験装置
JP2008157904A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Shuichi Ikeda 電気テスト用接触子
JP2014197544A (ja) * 2009-09-28 2014-10-16 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
WO2012098837A1 (ja) * 2011-01-19 2012-07-26 ユニテクノ株式会社 検査ソケット
JP2012181096A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び電気的接続装置
US8547128B1 (en) * 2012-05-06 2013-10-01 Jerzy Roman Sochor Contact probe with conductively coupled plungers
JP2016008835A (ja) * 2014-06-23 2016-01-18 株式会社日本マイクロニクス 電気的接触子及び電気的接続装置
JP2017142138A (ja) * 2016-02-09 2017-08-17 オーキンス エレクトロニクス カンパニー,リミテッド プローブピンおよび異方導電性部材

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