TWM529168U - 測試治具之改良 - Google Patents

Description

測試治具之改良

本創作係有關一種測試治具之改良，尤指一種具有結構補強功效之測試治具改良。

以電子產品來說，產品於構裝完成前必須進行電性功能測試，以確保出廠之電子產品於功能上的完整性；其中，以各式電子產品中的電路板，或者晶圓或半導體元件為例，為確保其品質上的製造良率，均會利用到電路測試治具對於內部積體電路是否異常進行檢測，其主要透過電路測試治具之量測點接觸到受測之電路板、晶圓或半導體元件(以下統稱受測元件)，使量測點接觸受測元件內部積體電路之相對應的輸入點與輸出點，然後經由電路測試治具傳輸測試信號至訊號檢知系統，以精確測試出量測點失效位置，藉以測試受測元件之積體電路是否異常。

一般習知測試治具，係在一治具上預設有複數支撐板以及於支撐板內設置有若干支探針，該若干支探針且係配合受測元件底面之各檢測點位置設置；另，在治具的下方係設有一底座，及在底座的四周係配置有接頭，而該等接頭且係與電路測試機之排線相連接導通。當檢測受測元件時，係預先將電路測試機之排線插入接頭，續將受測元件對應放置在治具的探針上，藉由探針與被測物底面之檢測點接觸後，電路測試機便可顯示受測元件是否有斷路、短路或其他不良等現象。

當受測元件下壓於探針實施檢測時，其瞬間碰觸之衝擊力道係藉由該等探針之彈性變形減緩，而該等探針受壓吸收撞擊外力時，該衝擊力常常使得支撐板形成板翹，不僅影響探針伸縮變形之順暢性，更影響測試品質。

有鑑於此，本創作提供一種具有結構補強功效不會發生板翹之測試治具改良，為其主要目的者。

本創作中測試治具至少包含有：探針支撐體、框體、探針、補強板以及與該探針連接之配線，探針支撐體具有第一、第二支撐體；框體係配置於該第一、第二支撐體之間，讓該第一、第二支撐體之間形成一間距；探針係配置於該第一、第二支撐體，且前端部露出於該第一支撐體外表面形成一檢測端；補強板係配置於該第一支撐體與該框體之間。

本創作利用補強板之設置具有結構補強之功效，且可避免發生板翹現象，提升耐用性，並可確保探針伸縮變形之順暢性，以及確保測試品質。

依據上述技術特徵，所述第一支撐體設有上下相鄰之第一、第二支持板，該第一、第二支持板分別設有第一、第二穿孔；該第二支撐體設有上下相鄰之第三、第四支持板，該第三、第四支持板分別設有第三、第四穿孔；該補強板設有第五穿孔；而該探針係穿設於該第一、第二、第三、第四、第五穿孔內。

依據上述技術特徵，所述第五穿孔之孔徑大小係大於該第一、第二、第三、第四穿孔之孔徑大小。

依據上述技術特徵，所述第一、第二穿孔係呈中心對位方式配置。

依據上述技術特徵，所述第三、第四穿孔係呈錯位配置。

依據上述技術特徵，所述第三穿孔之中心軸向位置係較遠離該第一、第二穿孔之中心軸向位置。

依據上述技術特徵，所述配線與該探針係藉由一接頭形成連接。

依據上述技術特徵，所述補強板係為不銹鋼板材。

為利 貴審查員瞭解本創作之技術特徵、內容與優點及其所能達成之功效，茲將本創作配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而其中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本創作實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係解讀、侷限本創作於實際實施上的權利範圍，合先敘明。

請參閱第1圖所示為本創作中測試治具的第一結構示意圖。首先，本創作測試治具10至少包含有：探針支撐體1、框體2、補強板3、探針4以及配線5，其中：

探針支撐體1具有第一、第二支撐體11、12，其中，該第一支撐體11設有上下相鄰之第一、第二支持板111、112，該第一、第二支持板111、112分別設有第一、第二穿孔113、114；該第二支撐體12設有上下相鄰之第三、第四支持板121、122，該第三、第四支持板121、122分別設有第三、第四穿孔123、124。

框體2係配置於該第一、第二支撐體11、12之間，讓該第一、第二支撐體11、12之間形成一間距21。

補強板3係配置於該第一支撐體11與該框體2之間，該補強板設有第五穿孔31，該第五穿孔31之孔徑大小係大於該第一、第二、第三、第四穿孔113、114、121、122之孔徑大小，而該補強板3可以為不銹鋼板材。

探針4係配置於該第一、第二支撐體11、12內，如圖所示之實施例中，該探針4二端係分別穿設於該第一、第二、第三、第四、第五穿孔113、114、121、122、31內，且前端部露出於該第一支撐體11外表面形成一檢測端41，該探針4之中段部42則位於該框體2所圍成之間距21處。

配線5係與該探針4連接，該配線5與該探針4係藉由一接頭6形成連接，而該接頭另端則可連接電路測試裝置(圖未示)。

使用時，請同時參閱第2圖所示，一受測元件7係放置於二測試治具10之間，且相對於二測試治具之檢測端41，由檢測端41與受測元件7之檢測點接觸，電路測試裝置便可顯示受測元件是否有斷路或不良等現象。因本創作配置有補強板3，而該補強板3之位置係位於第一支撐體11與該框體2之間，當探針4與受測元件7接觸，其衝擊力讓探針之中段部42變形時，如第3圖所示，利用補強板3具有結構補強之功效，且可避免發生板翹現象，不僅提升耐用性，並可確保探針伸縮變形之順暢性，以及確保測試品質。

再者，該第一、第二穿孔113、114係呈中心對位方式配置，該第三、第四穿孔123、124係呈錯位配置，亦即該第一、第二穿孔113、114之中心皆位於同一軸向位置處，該第三、第四穿孔123、124之中心則位於不同軸向位置處，且該第三穿孔123之中心軸向位置係較遠離該第一、第二穿孔113、114之中心軸向位置；讓該等探針4因受壓而彈性變形時，其最大變形部位在其中段部42，而該中段部42因受壓變形能統一朝相同方向變形，避免產生空間上的衝突，並防止相鄰兩測試探針之中段部42會有相互干擾之缺失。

綜上所述，本創作提供一較佳可行測試治具之改良，爰依法提呈新型專利之申請；本創作之技術內容及技術特點巳揭示如上，然而熟悉本項技術之人士仍可能基於本創作之揭示而作各種不背離本案創作精神之替換及修飾。因此，本創作之保護範圍應不限於實施例所揭示者，而應包括各種不背離本創作之替換及修飾，並為以下之申請專利範圍所涵蓋。

10‧‧‧測試治具
1‧‧‧探針支撐體
11‧‧‧第一支撐體
111‧‧‧第一支持板
112‧‧‧第二支持板
113‧‧‧第一穿孔
114‧‧‧第二穿孔
12‧‧‧第二支撐體
121‧‧‧第三支持板
122‧‧‧第四支持板
123‧‧‧第三穿孔
124‧‧‧第四穿孔
2‧‧‧框體
21‧‧‧間距
3‧‧‧補強板
31‧‧‧第五穿孔
4‧‧‧探針
41‧‧‧檢測端
42‧‧‧中段部
5‧‧‧配線
6‧‧‧接頭
7‧‧‧受測元件

第1圖所示為本創作中測試治具的第一結構示意圖。 第2圖所示為本創作中測試治具的第二結構示意圖。 第3圖所示為本創作中測試治具的結構放大示意圖。

10‧‧‧測試治具

124‧‧‧第四穿孔

1‧‧‧探針支撐體

2‧‧‧框體

11‧‧‧第一支撐體

21‧‧‧間距

111‧‧‧第一支持板

3‧‧‧補強板

112‧‧‧第二支持板

31‧‧‧第五穿孔

113‧‧‧第一穿孔

4‧‧‧探針

114‧‧‧第二穿孔

41‧‧‧檢測端

12‧‧‧第二支撐體

42‧‧‧中段部

121‧‧‧第三支持板

5‧‧‧配線

122‧‧‧第四支持板

6‧‧‧接頭

123‧‧‧第三穿孔

Claims (8)

1. 一種測試治具之改良，至少包含： 探針支撐體，具有第一、第二支撐體； 框體，係配置於該第一、第二支撐體之間，讓該第一、第二支撐體之間形成一間距； 補強板，係配置於該第一支撐體與該框體之間； 探針，係配置於該第一、第二支撐體，且前端部露出於該第一支撐體外表面形成一檢測端；以及 配線，係與該探針連接。
2. 如請求項1所述測試治具之改良，其中，該第一支撐體設有上下相鄰之第一、第二支持板，該第一、第二支持板分別設有第一、第二穿孔；該第二支撐體設有上下相鄰之第三、第四支持板，該第三、第四支持板分別設有第三、第四穿孔；該補強板設有第五穿孔；而該探針係穿設於該第一、第二、第三、第四、第五穿孔內。
3. 如請求項2所述測試治具之改良，其中，該第五穿孔之孔徑大小係大於該第一、第二、第三、第四穿孔之孔徑大小。
4. 如請求項2所述測試治具之改良，其中，該第一、第二穿孔係呈中心對位方式配置。
5. 如請求項2至4任一項所述測試治具之改良，其中，該第三、第四穿孔係呈錯位配置。
6. 如請求項5所述測試治具之改良，其中，該第三穿孔之中心軸向位置係較遠離該第一、第二穿孔之中心軸向位置。
7. 如請求項1至4任一項所述測試治具之改良，其中，該配線與該探針係藉由一接頭形成連接。
8. 如請求項1至4任一項所述測試治具之改良，其中，該補強板係為不銹鋼板材。