TWM558359U - 測試針座之探針結構改良 - Google Patents

Abstract

本創作為有關一種測試針座之探針結構改良，該針座之穿置空間二側為分別設有複數第一穿孔及複數第二穿孔，且複數第一穿孔及複數第二穿孔中插設有複數探針，而各探針一端設有供擋止於第一穿孔外周緣處之擋止部，而探針相對於擋止部另端設有供穿過複數第二穿孔處之對接部，其因擋止部為止擋於第一穿孔外周緣處，所以可利用擋止部來有效控制複數探針之對接部露出於第二穿孔外部的長度，進而節省複數探針裝設時間，且同時增加複數探針出針的準確率，藉此使複數探針可與外部待測物確實形成電性接觸，以達到提升檢測作業準確度之效果。

Description

測試針座之探針結構改良

本創作係提供一種測試針座之探針結構改良，尤指探針一端設有供擋止於針座的第一穿孔外周緣處之擋止部，以藉由擋止部來有效控制複數探針之對接部露出於第二穿孔外部的長度，進而節省複數探針裝設時間及提升複數探針出針的準確率，藉此提升檢測作業時之準確度。

按，目前印刷電路板(PCB)、晶圓、液晶顯示器(LCD)或積體電路晶片(IC)等電子元件封裝前，通常會利用檢測機台之複數探針(Probe)來進行電性表現或可靠度等性能檢測作業，以得知電子元件是否有缺陷，進而有效提前篩選出不良品，便可提升後續的製程製造良率，藉此避免材料、時間上的浪費，以具有降低整體生產成本之效果。

再者，請參閱第五圖所示，係為習用之側視剖面圖，由圖中可清楚看出，該檢測裝置A位於電路板A1一側處裝設有針座B，並於針座B二側表面分別穿設有複數上通孔B1及複數下通孔B2，且複數上通孔B1及複數下通孔B2中穿設有複數探針C，即可利用複數探針C來對預設待測物(如：印刷電路板、晶圓、液晶顯示器或積體電路晶片等電子元件)進行檢測作業，然而，由於複數探針C為一根一根插設於針座B 上，所以複數探針C插設於針座B上時容易產生些許誤差，以致於無法精確的控制複數探針C於複數下通孔B2處的出針長度，導致需要多一步驟調整出針的長度，才能使複數探針C準確進行檢測作業，從而浪費許多時間，以及組裝上的成本。

是以，要如何設法解決上述習用之缺失與不便，即為相關業者所亟欲研究改善之方向所在。

故，創作人有鑑於上述缺失，乃搜集相關資料，經由多方評估及考量，並以從事於此行業累積之多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種測試針座之探針結構改良的新型專利者。

本創作之主要目的乃在於該針座之穿置空間二側為分別設有複數第一穿孔及複數第二穿孔，且複數第一穿孔及複數第二穿孔中插設有複數探針，而各探針一端設有供擋止於第一穿孔外周緣處之擋止部，而探針相對於擋止部另端設有供穿過複數第二穿孔處之對接部，其因擋止部為止擋於第一穿孔外周緣處，所以可利用擋止部來有效控制複數探針之對接部露出於第二穿孔外部的長度，進而節省複數探針裝設時間，且同時增加複數探針出針的準確率，藉此使複數探針可與外部待測物確實形成電性接觸，以達到提升檢測作業準確度之目的。

本創作之次要目的乃在於該探針為可透過外徑較大之擋止部來確實與檢測裝置電路板底面之接點形成電性接觸，以達到提升電性接觸穩定性之目的。

本創作之另一目的乃在於該針座內之至少一片墊片中穿設 有複數探針，當複數探針於檢測作業時，即可藉由至少一片墊片來增加穩定性，以降低複數探針於檢測作業中所產生之晃動情形，進而使複數探針能精準地與外部待測物表面之複數檢測點形成電性接觸，藉此達到維持測試的精確度之目的。

本創作之再一目的乃在於該針座為可透過取出至少一片墊片的方式，來維持複數探針之對接部露出於第二基材外部的長度，以增加複數探針的使用壽命，進而達到調整出針量、節省材料成本之目的。

本創作之又一目的乃在於該複數探針表面上為設有阻隔層，其阻隔層可防止複數探針於傳輸的過程中所產生之電磁波、靜電或雜訊等干擾，藉此確保整體訊號傳輸的穩定性與可靠度，進而達到穩定使用及不易毀損之目的。

1‧‧‧針座

10‧‧‧穿置空間

11‧‧‧第一基材

111‧‧‧第一穿孔

12‧‧‧第二基材

121‧‧‧第二穿孔

13‧‧‧墊片

131‧‧‧通孔

14‧‧‧片體

141‧‧‧容置孔

2‧‧‧探針

21‧‧‧擋止部

211‧‧‧擋塊

22‧‧‧對接部

23‧‧‧阻隔層

3‧‧‧檢測裝置

31‧‧‧電路板

311‧‧‧接點

312‧‧‧錫球

32‧‧‧檢測電路板

321‧‧‧金屬接點

A‧‧‧檢測裝置

A1‧‧‧電路板

B‧‧‧針座

B1‧‧‧上通孔

B2‧‧‧下通孔

C‧‧‧探針

第一圖 係為本創作之側視剖面圖。

第二圖 係為本創作第一圖a部份之放大圖。

第三圖 係為本創作墊片取出時之側視剖面圖。

第四圖 係為本創作墊片取出後之側視剖面圖。

第五圖 係為習用之側視剖面圖。

為達成上述目的及功效，本創作所採用之技術手段及其構造，茲繪圖就本創作之較佳實施例詳加說明其特徵與功能如下，俾利完全瞭解。

請參閱第一、二、三、四圖所示，係為本創作之側視剖面圖、第一圖a部份之放大圖、墊片取出時之側視剖面圖及墊片取出後之側視剖面圖，由圖中可清楚看出，本創作係包括針座1及複數探針2，其中：該針座1為包括第一基材11及第二基材12，並於第一基材11與第二基材12之間形成有穿置空間10，且第一基材11及第二基材12表面分別設有複數第一穿孔111及複數第二穿孔121，而第一基材11與第二基材12之間結合有至少一片絕緣材質製成並位於穿置空間10中之墊片13，且墊片13上對位於複數第一穿孔111處設有複數通孔131，再於第一基材11外表面上設有絕緣材質製成之片體14，而片體14上對位於複數第一穿孔111處設有容置孔141，且容置孔141的孔徑為大於第一穿孔111的孔徑。

該探針2為由導電材質製成，並於探針2一端設有擋止部21，且擋止部21具有呈T字型之擋塊211，而探針2相對於擋止部21另端則設有對接部22，且探針2位於擋止部21與對接部22間之表面上設有阻隔層23。

上述探針2一端為可透過電鑄或電鍍等成形方式來形成出擋止部21之擋塊211，惟，有關探針2成形出擋止部21的方式很多，凡其它未脫離本創作所揭示之技藝精神下所完成之均等變化與修飾變更，均應包含於本創作所涵蓋之專利範圍中。

且上述探針2之阻隔層23為由可供阻隔電磁訊號材質製成，例如：聚四氟乙烯(Polytetrafluoroethene )，俗稱鐵氟龍。

本創作於組裝時，係可先將複數探針2之對接部22穿入至針座1第一基材11之複數第一穿孔111中，並將複數探針2持續朝針座1之第二基材12方向穿設，以使各探針2之對接部22穿入於針座1之穿置空間10內，且通過至少一片墊片13之通孔131處，再從第二基材12之第二穿孔121處穿出，此時，該探針2之擋止部21即會擋止於第一基材11之第一穿孔111外周緣處呈一定位，且擋止部21之擋塊211同時位於片體14之容置孔141中呈一限位，藉此完成本創作之組裝。

當本創作於實際使用時，係可應用於半導體晶圓、印刷電路板(PCB)或液晶顯示器(LCD)等電子零件、設備之檢測裝置3上，其針座1為裝設於檢測裝置3上，且複數探針2可透過擋止部21來與檢測裝置3電路板31底面之複數接點311形成電性連接，而該電路板31為可利用複數錫球312來與檢測電路板32形成電性連接，且檢測電路板32便可藉由周圍頂面之複數金屬接點321來與外部檢測儀器(圖中未示出)形成電性連接，當外部檢測儀器啟動時，即可將複數探針2之對接部22抵觸至外部待測物(如：晶圓、印刷電路板或液晶顯示器等；圖中未示出)表面之複數檢測點上形成電性接觸，並進行檢測作業，而複數探針2便會獲取電性測試訊號與電源訊號，再傳輸至檢測裝置3之電路板31，並經由檢測電路板32傳輸至外部檢測儀器，以得知外部待測物是否具有缺陷。

而當複數探針2長時間進行檢測作業，以使對接部22受 到磨損而縮短時，其可將針座1之第二基材12拆卸下來，並將至少一片墊片13向外取出，再將第二基材12裝回，即可使複數探針2之對接部22露出於第二基材12外部的長度增加，以使複數探針2可供再次進行檢測之作業。

本創作為具有下列之優點：

(一)該複數探針2結合於針座1上時，其各探針2為可透過外徑較大之擋止部21來止擋於第一基材11之第一穿孔111外周緣處，藉以利用擋止部21來有效控制複數探針2之對接部22露出於第二基材12外部的長度，進而節省複數探針2裝設時間，且同時增加複數探針2出針的準確率，藉此使複數探針2可與外部待測物確實形成電性接觸，以達到提升檢測作業準確度之效果。

(二)該探針2之擋止部21的外徑較大，所以即可確實與檢測裝置3電路板31底面之接點311形成電性接觸，進而達到提升電性接觸穩定性之效果。

(三)該複數探針2為穿設於針座1之至少一片墊片13中，所以當複數探針2於檢測作業時，即可透過至少一片墊片13來增加穩定性，以降低複數探針2於檢測作業中所產生之晃動情形，進而使複數探針2能精準地與外部待測物表面之複數檢測點形成電性接觸，藉此維持測試的精確度。

(四)該針座1為可透過取出至少一片墊片13來維持複數探針2之對接部22露出於第二基材12外部的長度，藉以增加複數探針2的使用壽命，進而達到調整出針量、節省材料成本之效用。

(五)該複數探針2表面上為設有阻隔層23，其阻隔層23可有效防止複數探針2於傳輸的過程中所產生之電磁波、靜電或雜訊等，以防止發生構件間相互干擾之情形，藉此確保整體訊號傳輸的穩定性與可靠度，進而達到穩定使用及不易毀損之效果。

上述詳細說明為針對本創作一種較佳之可行實施例說明而已，惟該實施例並非用以限定本創作之申請專利範圍，凡其它未脫離本創作所揭示之技藝精神下所完成之均等變化與修飾變更，均應包含於本創作所涵蓋之專利範圍中。

綜上所述，本創作測試針座之探針結構改良於使用時，為確實能達到其功效及目的，故本創作誠為一實用性優異之創作，為符合新型專利之申請要件，爰依法提出申請，盼 審委早日賜准本案，以保障創作人之辛苦創作，倘若 鈞局審委有任何稽疑，請不吝來函指示，創作人定當竭力配合，實感德便。

Claims (3)

1. 一種測試針座之探針結構改良，係包括針座及複數探針，其中：該針座內部為形成有穿置空間，並於針座二側表面分別設有連通至穿置空間內之複數第一穿孔及複數第二穿孔；該複數探針為插設於複數第一穿孔及複數第二穿孔中，且各探針一端設有供擋止於第一穿孔外周緣處且與預設檢測設備形成電性接觸之擋止部，而探針相對於擋止部另端則設有供穿過複數第二穿孔處並與預設待測物形成電性接觸之對接部。
2. 如申請專利範圍第1項所述測試針座之探針結構改良，其中該針座為包括第一基材及第二基材，並於第一基材與第二基材之間形成有穿置空間，且第一基材與第二基材表面上分別設有複數第一穿孔及複數第二穿孔，再於第一基材與第二基材之間結合有至少一片絕緣材質製成並位於穿置空間中之墊片，且墊片上對位於複數第一穿孔處設有複數通孔，而第一基材外表面上設有絕緣材質製成之片體，而片體上對位於複數第一穿孔處設有孔徑大於第一穿孔的孔徑且供擋止部置入之容置孔。
3. 如申請專利範圍第1項所述測試針座之探針結構改良，其中該探針之擋止部為具有透過電鑄或電鍍方式成形之T字型擋塊，且探針位於擋止部與對接部間之表面上設有供阻隔電磁訊號之阻隔層。