CN208367060U

CN208367060U - 测试针座的探针结构

Info

Publication number: CN208367060U
Application number: CN201820021395.7U
Authority: CN
Inventors: 陈福全
Original assignee: Ambrose Crown Technology Industrial Co Ltd
Current assignee: Ambrose Crown Technology Industrial Co Ltd
Priority date: 2018-01-05
Filing date: 2018-01-05
Publication date: 2019-01-11
Anticipated expiration: 2028-01-05

Abstract

本实用新型提供一种测试针座的探针结构，该针座的穿置空间二侧为分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，且复数第一穿孔及复数第二穿孔中插设有复数探针，而各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处的对接部，其因挡止部为止挡于第一穿孔外周缘处，所以可利用挡止部来有效控制复数探针的对接部露出于第二穿孔外部的长度，进而节省复数探针装设时间，且同时增加复数探针出针的准确率，如此使复数探针可与外部待测物确实形成电性接触，以达到提升检测作业准确度的效果。

Description

测试针座的探针结构

技术领域

本实用新型涉及一种测试针座的探针结构，尤指探针一端设有供挡止于针座的第一穿孔外周缘处的挡止部，以凭借挡止部来有效控制复数探针的对接部露出于第二穿孔外部的长度，进而节省复数探针装设时间及提升复数探针出针的准确率，如此提升检测作业时的准确度。

背景技术

目前印刷电路板(PCB)、晶圆、液晶显示器(LCD)或集成电路晶片(IC)等电子元件封装前，通常会利用检测机台的复数探针(Probe)来进行电性表现或可靠度等性能检测作业，以得知电子元件是否有缺陷，进而有效提前筛选出不良品，便可提升后续的制程制造合格率，如此避免材料、时间上的浪费，以具有降低整体生产成本的效果。

再者，请参阅图5所示，是现有的侧视剖面图，由图中可清楚看出，该检测装置A位于电路板A1一侧处装设有针座B，并在针座B二侧表面分别穿设有复数上通孔B1及复数下通孔B2，且复数上通孔B1及复数下通孔B2中穿设有复数探针C，即可利用复数探针C来对预设待测物(如：印刷电路板、晶圆、液晶显示器或集成电路晶片等电子元件)进行检测作业，然而，由于复数探针C为一根一根插设于针座B上，所以复数探针C插设于针座B上时容易产生些许误差，以致于无法精确的控制复数探针C于复数下通孔B2处的出针长度，导致需要多一步骤调整出针的长度，才能使复数探针C准确进行检测作业，从而浪费许多时间，以及组装上的成本。

是以，要如何设法解决上述现有的缺失与不便，即为相关业者所亟欲研究改善的方向所在。

实用新型内容

因此，本实用新型设计人有鉴于上述缺失，乃搜集相关资料，经由多方评估及考量，并以从事于此行业累积的多年经验，经由不断试作及修改，始设计出此种测试针座的探针结构的新型专利。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种测试针座的探针结构，其特征是包括针座及复数探针，其中：

该针座内部形成有穿置空间，并在针座二侧表面分别设有连通至穿置空间内的复数第一穿孔及复数第二穿孔；

该复数探针插设于复数第一穿孔及复数第二穿孔中，且各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处且与预设检测设备形成电性接触的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处并与预设待测物形成电性接触的对接部。

所述测试针座的探针结构，其中：该针座包括第一基材及第二基材，并在第一基材与第二基材之间形成有穿置空间，且第一基材与第二基材表面上分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，在第一基材与第二基材之间结合有至少一片绝缘材质制成并位于穿置空间中的垫片，且垫片上对位于复数第一穿孔处设有复数通孔，而第一基材外表面上设有绝缘材质制成的片体，而片体上对位于复数第一穿孔处设有孔径大于第一穿孔的孔径且供挡止部置入的容置孔。

所述测试针座的探针结构，其中：该探针的挡止部具有通过电铸或电镀方式成形的T字型挡块，且探针位于挡止部与对接部间的表面上设有供阻隔电磁信号的阻隔层。

本实用新型的主要优点在于该针座的穿置空间二侧为分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，且复数第一穿孔及复数第二穿孔中插设有复数探针，而各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处的对接部，其因挡止部为止挡于第一穿孔外周缘处，所以可利用挡止部来有效控制复数探针的对接部露出于第二穿孔外部的长度，进而节省复数探针装设时间，且同时增加复数探针出针的准确率，如此使复数探针可与外部待测物确实形成电性接触，以达到提升检测作业准确度的目的。

本实用新型的次要优点在于该探针为可通过外径较大的挡止部来确实与检测装置电路板底面的接点形成电性接触，以达到提升电性接触稳定性的目的。

本实用新型的另一优点在于该针座内的至少一片垫片中穿设有复数探针，当复数探针于检测作业时，即可凭借至少一片垫片来增加稳定性，以降低复数探针于检测作业中所产生的晃动情形，进而使复数探针能精准地与外部待测物表面的复数检测点形成电性接触，如此达到维持测试的精确度的目的。

本实用新型的再一优点在于该针座为可通过取出至少一片垫片的方式，来维持复数探针的对接部露出于第二基材外部的长度，以增加复数探针的使用寿命，进而达到调整出针量、节省材料成本的目的。

本实用新型的又一优点在于该复数探针表面上为设有阻隔层，其阻隔层可防止复数探针于传输的过程中所产生的电磁波、静电或杂讯等干扰，如此确保整体信号传输的稳定性与可靠度，进而达到稳定使用及不易毁损的目的。

附图说明

图1是本实用新型的侧视剖面图。

图2是本实用新型图1的a部份的放大图。

图3是本实用新型垫片取出时的侧视剖面图。

图4是本实用新型垫片取出后的侧视剖面图。

图5是现有的侧视剖面图。

附图标记说明：1-针座；10-穿置空间；11-第一基材；111-第一穿孔；12-第二基材；121-第二穿孔；13-垫片；131-通孔；14-片体；141-容置孔；2-探针；21-挡止部；211-挡块；22-对接部；23-阻隔层；3-检测装置；31-电路板；311-接点；312-锡球；32-检测电路板；321-金属接点；A-检测装置；A1-电路板；B-针座；B1-上通孔；B2-下通孔；C-探针。

具体实施方式

为达成上述目的及功效，本实用新型所采用的技术手段及其构造，兹绘图就本实用新型的较佳实施例详加说明其特征与功能如下，以利完全了解。

请参阅图1、图2、图3、图4所示，是本实用新型的侧视剖面图、图1 a部份的放大图、垫片取出时的侧视剖面图及垫片取出后的侧视剖面图，由图中可清楚看出，本实用新型包括针座1及复数探针2，其中：

该针座1包括第一基材11及第二基材12，并在第一基材11与第二基材12之间形成有穿置空间10，且第一基材11及第二基材12表面分别设有复数第一穿孔111及复数第二穿孔121，而第一基材11与第二基材12之间结合有至少一片绝缘材质制成并位于穿置空间10中的垫片13，且垫片13上对位于复数第一穿孔111处设有复数通孔131，在第一基材11外表面上设有绝缘材质制成的片体14，而片体14上对位于复数第一穿孔111处设有容置孔141，且容置孔141的孔径为大于第一穿孔111的孔径。

该探针2为由导电材质制成，并在探针2一端设有挡止部21，且挡止部21具有呈T字型的挡块211，而探针2相对于挡止部21另一端则设有对接部22，且探针2位于挡止部21与对接部22间的表面上设有阻隔层23。

上述探针2一端为可通过电铸或电镀等成形方式来形成出挡止部21的挡块211，然而，有关探针2成形出挡止部21的方式很多，凡其它未脱离本实用新型所揭示的技艺精神下所完成的均等变化与修饰变更，均应包含于本实用新型所涵盖的专利范围中。

且上述探针2的阻隔层23为由可供阻隔电磁信号材质制成，例如：聚四氟乙烯(Polytetrafluoroethene)，俗称铁氟龙。

本实用新型于组装时，可先将复数探针2的对接部22穿入至针座1第一基材11的复数第一穿孔111中，并将复数探针2持续朝针座1的第二基材12方向穿设，以使各探针2的对接部22穿入于针座1的穿置空间10内，且通过至少一片垫片13的通孔131处，再从第二基材12的第二穿孔121处穿出，此时，该探针2的挡止部21即会挡止于第一基材11的第一穿孔111外周缘处呈一定位，且挡止部21的挡块211同时位于片体14的容置孔141中呈一限位，如此完成本实用新型的组装。

当本实用新型于实际使用时，可应用于半导体晶圆、印刷电路板(PCB)或液晶显示器(LCD)等电子零件、设备的检测装置3上，其针座1为装设于检测装置3上，且复数探针2可通过挡止部21来与检测装置3电路板31底面的复数接点311形成电性连接，而该电路板31为可利用复数锡球312来与检测电路板32形成电性连接，且检测电路板32便可凭借周围顶面的复数金属接点321来与外部检测仪器(图中未示出)形成电性连接，当外部检测仪器启动时，即可将复数探针2的对接部22抵触至外部待测物(如：晶圆、印刷电路板或液晶显示器等；图中未示出)表面的复数检测点上形成电性接触，并进行检测作业，而复数探针2便会获取电性测试信号与电源信号，再传输至检测装置3的电路板31，并经由检测电路板32传输至外部检测仪器，以得知外部待测物是否具有缺陷。

而当复数探针2长时间进行检测作业，以使对接部22受到磨损而缩短时，其可将针座1的第二基材12拆卸下来，并将至少一片垫片13向外取出，再将第二基材12装回，即可使复数探针2的对接部22露出于第二基材12外部的长度增加，以使复数探针2可供再次进行检测的作业。

本实用新型具有下列的优点：

(一)该复数探针2结合于针座1上时，其各探针2为可通过外径较大的挡止部21来止挡于第一基材11的第一穿孔111外周缘处，以利用挡止部21来有效控制复数探针2的对接部22露出于第二基材12外部的长度，进而节省复数探针2装设时间，且同时增加复数探针2出针的准确率，如此使复数探针2可与外部待测物确实形成电性接触，以达到提升检测作业准确度的效果。

(二)该探针2的挡止部21的外径较大，所以即可确实与检测装置3电路板31底面的接点311形成电性接触，进而达到提升电性接触稳定性的效果。

(三)该复数探针2为穿设于针座1的至少一片垫片13中，所以当复数探针2于检测作业时，即可通过至少一片垫片13来增加稳定性，以降低复数探针2于检测作业中所产生的晃动情形，进而使复数探针2能精准地与外部待测物表面的复数检测点形成电性接触，如此维持测试的精确度。

(四)该针座1为可通过取出至少一片垫片13来维持复数探针2的对接部22露出于第二基材12外部的长度，以增加复数探针2的使用寿命，进而达到调整出针量、节省材料成本的效用。

(五)该复数探针2表面上为设有阻隔层23，其阻隔层23可有效防止复数探针2于传输的过程中所产生的电磁波、静电或杂讯等，以防止发生构件间相互干扰的情形，如此确保整体信号传输的稳定性与可靠度，进而达到稳定使用及不易毁损的效果。

以上说明对本实用新型而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解，在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可作出许多修改、变化或等效，但都将落入本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种测试针座的探针结构，其特征是包括针座及复数探针，其中：

该复数探针插设于复数第一穿孔及复数第二穿孔中，且各探针一端设有供挡止于第一穿孔外周缘处且与预设检测设备形成电性接触的挡止部，而探针相对于挡止部另一端设有供穿过复数第二穿孔处并与预设待测物形成电性接触的对接部；

该探针的挡止部具有通过电铸或电镀方式成形的T字型挡块，且探针位于挡止部与对接部间的表面上设有供阻隔电磁信号的阻隔层。

2.根据权利要求1所述测试针座的探针结构，其特征在于：该针座包括第一基材及第二基材，并在第一基材与第二基材之间形成有穿置空间，且第一基材与第二基材表面上分别设有复数第一穿孔及复数第二穿孔，在第一基材与第二基材之间结合有至少一片绝缘材质制成并位于穿置空间中的垫片，且垫片上对位于复数第一穿孔处设有复数通孔，而第一基材外表面上设有绝缘材质制成的片体，而片体上对位于复数第一穿孔处设有孔径大于第一穿孔的孔径且供挡止部置入的容置孔。