CN106546868A - B2b连接器无损下针测试方法及装置 - Google Patents

B2b连接器无损下针测试方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN106546868A
CN106546868A CN201610895476.5A CN201610895476A CN106546868A CN 106546868 A CN106546868 A CN 106546868A CN 201610895476 A CN201610895476 A CN 201610895476A CN 106546868 A CN106546868 A CN 106546868A
Authority
CN
China
Prior art keywords
adapter
pin
testing
needle
tested
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201610895476.5A
Other languages
English (en)
Inventor
申亚锋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd
Priority to CN201610895476.5A priority Critical patent/CN106546868A/zh
Publication of CN106546868A publication Critical patent/CN106546868A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes

Abstract

本申请公开了一种B2B连接器无损下针测试方法及装置，其中测试方法包括：在测试时，仅使测试针的径向侧部与被测连接器上的PIN针接触连接。本申请这种测试方法及装置，在保证B2B连接器测试准确度的同时，还能够保证B2B连接器的结构在测试过程中不会被测试针损坏。

Description

B2B连接器无损下针测试方法及装置
技术领域
本申请涉及B2B连接器质量测试技术领域，尤其是一种B2B连接器无损下针测试方法及装置。
背景技术
常用的B2B连接器(board to board板到板连接器)，通常包括连接器本体和本体上设置的多个PIN针(或称连接端子)。连接端子之间连接有导线。在将连接端子安装在连接器本体过程中，存在损坏的风险。越是小型化的连接器，安装过程中连接端子损坏的风险就越高。损坏的情况有可能是连接端子与导线脱离连接，也有可能是连接端子未安装到位。无论是那种损坏，都会影响连接器的正常使用。
因此，需要对B2B连接器进行测试，以测试连接器的连接端子是否安装正确，是否可以正常导电等等。
现有技术中，对B2B连接器进行测试时，均使用测试针的轴向最端部接触连接器。若要保证测试针与连接器的充分接触，必须具有足够大的出针量。由于测试针与连接器的接触点为测试针的轴向最端部，大的出针量在很大程度上损坏了连接器的结构。
目前客户对产品的品质要求逐渐提高，并要求测试环境下的B2B连接器无损坏。针对这一要求，现有的做法是，通过减少测试坏境中出针量来实现。然而，减少出针量致使测试针不能和B2B连接器充分的接触，导致测试的不稳定和误测，而需要重测，是产品成本增加和浪费。
发明内容
本申请的目的是：针对上述问题，提出一种B2B连接器无损下针测试方法及装置，在保证B2B连接器测试准确度的同时，还能够保证B2B连接器在测试过程中不会被测试针损坏。
为了达到上述目的，本申请的技术方案是：
本申请提供的这种B2B连接器无损下针测试方法，在测试时，仅使测试针的径向侧部与被测连接器上的PIN针接触连接。
在本申请的一些优选实施例中，在测试时，仅使测试针探测端的径向侧部与被测连接器上的PIN针接触连接。
在本申请的又一些优选实施例中，所述测试针的探测端采用外凸的半球型结构。
在本申请的又一些优选实施例中，在测试时，仅使测试针的径向侧部与被测连接器上的PIN针的径向侧部接触连接。
在本申请的一些实施例中，所述被测连接器为手机连接器。
本申请提供的这种B2B连接器无损下针测试装置，包括测试定位器件，所述测试定位器件的顶部制有用于定位被测连接器位置的连接器定位槽，所述连接器定位槽的槽底贯通开设有若干个竖直向下延伸的、用于定位插设测试针的插针孔；所述连接器定位槽和插针孔的位置如此设置：当所述被测连接器被定位放置于所述连接器定位槽中，所述测试针自下而上贯通插入所述插针孔中并与所述被测连接器相抵触后，仅保证所述测试针径向侧部与所述被测连接器上的PIN针接触连接。
在本申请的一些优选实施例中，所述连接器定位槽和插针孔的位置如此设置：当所述被测连接器被定位放置于所述连接器定位槽中，所述测试针自下而上贯通插入所述插针孔中并与所述被测连接器相抵触后，仅保证所述测试针顶端的径向侧部与所述被测连接器上的PIN针的径向侧部接触连接。
所述插针孔一般至少设置有两个。
所述连接器定位槽一般为矩形槽。
本申请的优势在于：
1、由于在测试过程中，测试针与被测连接器的接触面为测试针的径向侧部，而非“针尖端”，当出针量增加时，测试针可轻易滑过被测连接器的表面，而不会损坏被测连接器的结构。
2、进一步地，被测连接器上PIN针与测试针的接触面为PIN针的径向侧面，当出针量增加时，测试针与被测连接器上PIN针的接触面积增大，进而在保证测试准确性的同时，还能够满足客户对产品品质的要求，同时也不会造成资源的浪费，由可以降低产品的成本。
附图说明
图1为本申请实施中测试方法及测试装置的示意图。
其中：1-测试定位器件，1a-连接器定位槽，1b-插针孔，2-测试针，3-被测连接器，3a-PIN针。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本申请作进一步详细说明。本申请可以以多种不同的形式来实现，并不限于本实施例所描述的实施方式。提供以下具体实施方式的目的是便于对本申请公开内容更清楚透彻的理解，其中上、下、左、右等指示方位的字词仅是针对所示结构在对应附图中位置而言。
然而，本领域的技术人员可能会意识到其中的一个或多个的具体细节描述可以被省略，或者还可以采用其他的方法、组件或材料。在一些例子中，一些实施方式并没有描述或没有详细的描述。
此外，本文中记载的技术特征、技术方案还可以在一个或多个实施例中以任意合适的方式组合。对于本领域的技术人员来说，易于理解与本文提供的实施例有关的方法的步骤或操作顺序还可以改变。因此，附图和实施例中的任何顺序仅仅用于说明用途，并不暗示要求按照一定的顺序，除非明确说明要求按照某一顺序。
参照图1所示，本实施例这种B2B连接器无损下针测试方法，其相比于传统测试方法的关键改进在于：在测试时，仅使测试针2的径向侧部与被测连接器3(B2B连接器，本实施例中该被测连接器3具体为手机连接器)上的PIN针3a接触连接。
由于在测试过程中，测试针2与被测连接器3的接触面为测试针的径向侧部，而非“针尖端”，当出针量增加时，测试针2可轻易滑过被测连接器3的表面，而不会损坏被测连接器3的结构，进而在保证测试准确性的同时，还能够满足客户对产品品质的要求，同时也不会造成资源的浪费，由可以降低产品的成本。
为了进一步提高测试针2与被测连接器3上PIN针3a的接触面积，同时保证在测试针出针量增大时，二者的接触面积也随之增大，在测试时，最好使PIN针3a与测试针2的接触部位为PIN针3a的径向侧部，如图1。也就是说，在测试时，仅使测试针2的径向侧部与被测连接器3上的PIN针3a的径向侧部接触连接。
为了进一步减小测试针2对被测连接器3的测试损伤，本实施例将所述测试针2的探测端设置成外凸的半球型结构，并在测试时，仅使测试针2探测端的径向侧部与被测连接器3上的PIN针3a接触连接，如图1。
为了便于上述测试方法的实施例，本实施例还提供了一种B2B连接器无损下针测试装置，其结构如图1所示。该装置包括一个测试定位器件1，测试定位器件1的顶部制有用于定位被测连接器3位置的连接器定位槽1a，连接器定位槽1a的槽底贯通开设有多个(一般至少为两个)竖直向下延伸的、用于定位插设测试针2的插针孔1b。插针孔1b用于定位测试针2的插针方向。
所述连接器定位槽1a和插针孔1b的位置如此设置：当所述被测连接器3被定位放置于所述连接器定位槽1a中，所述测试针2自下而上贯通插入所述插针孔1b中并与所述被测连接器3相抵触后，仅保证所述测试针2径向侧部与所述被测连接器3上的PIN针3a接触连接(言外之意，测试针的轴向尖端不会与被测连接器接触)。
具体地，所述连接器定位槽1a和插针孔1b的位置如此设置：当所述被测连接器3被定位放置于所述连接器定位槽1a中，所述测试针2自下而上贯通插入所述插针孔1b中并与所述被测连接器3相抵触后，仅保证所述测试针2顶端的径向侧部与所述被测连接器3上PIN针3a的径向侧部(而非PIN针的尖端部位)接触连接。
参照图1所示，实际应用时，首先将被测连接器3定位放置于连接器定位槽1a中，并使被测连接器3上的PIN针3a朝下布置。然后将测试针2自下而上插入插针孔1b中并使其继续向上移动，当测试针2顶端的径向侧部接触到PIN针3a后，测试针2停止上移，便可进行测试。若想增大测试针2与PIN针3a的接触面积，以提高测试准确度，可继续上移测试针2。由于测试针2与被测连接器3的接触面为测试针的径向侧部，而被测连接器3上PIN针3a与测试针2的接触面为PIN针3a的径向侧面，继续上移测试针2(出针量增加)时，测试针2可轻易滑过(二者始终接触)PIN针3a的侧面，而不会损坏被测连接器3的结构，进而在保证测试准确性的同时，还能够满足客户对产品品质的要求。
所述连接器定位槽1a的形状结构可根据被测连接器3的形状结构来设计，考虑到大多数被测连接器3的本体结构均矩形，故本实施例将所述连接器定位槽1a设计为矩形槽。
以上内容是结合具体的实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换。

Claims (9)

1.一种B2B连接器无损下针测试方法，其特征在于，在测试时，仅使测试针(2)的径向侧部与被测连接器(3)上的PIN针(3a)接触连接。
2.根据权利要求1所述的B2B连接器无损下针测试方法，其特征在于，在测试时，仅使测试针(2)探测端的径向侧部与被测连接器(3)上的PIN针(3a)接触连接。
3.根据权利要求2所述的B2B连接器无损下针测试方法，其特征在于，所述测试针(2)的探测端为外凸的半球型结构。
4.根据权利要求1所述的B2B连接器无损下针测试方法，其特征在于，在测试时，仅使测试针(2)的径向侧部与被测连接器(3)上的PIN针(3a)的径向侧部接触连接。
5.根据权利要求1至4中任一所述的B2B连接器无损下针测试方法，其特征在于，所述被测连接器(3)为手机连接器。
6.一种B2B连接器无损下针测试装置，其特征在于，包括测试定位器件(1)，所述测试定位器件(1)的顶部制有用于定位被测连接器(3)位置的连接器定位槽(1a)，所述连接器定位槽(1a)的槽底贯通开设有若干个竖直向下延伸的、用于定位插设测试针(2)的插针孔(1b)；所述连接器定位槽(1a)和插针孔(1b)的位置如此设置：当所述被测连接器(3)被定位放置于所述连接器定位槽(1a)中，所述测试针(2)自下而上贯通插入所述插针孔(1b)中并与所述被测连接器(3)相抵触后，仅保证所述测试针(2)径向侧部与所述被测连接器(3)上的PIN针(3a)接触连接。
7.根据权利要求6所述的B2B连接器无损下针测试装置，其特征在于，所述连接器定位槽(1a)和插针孔(1b)的位置如此设置：当所述被测连接器(3)被定位放置于所述连接器定位槽(1a)中，所述测试针(2)自下而上贯通插入所述插针孔(1b)中并与所述被测连接器(3)相抵触后，仅保证所述测试针(2)顶端的径向侧部与所述被测连接器(3)上的PIN针(3a)的径向侧部接触连接。
8.根据权利要求6所述的B2B连接器无损下针测试装置，其特征在于，所述插针孔(1b)至少设置有两个。
9.根据权利要求6所述的B2B连接器无损下针测试装置，其特征在于，所述连接器定位槽(1a)为矩形槽。
CN201610895476.5A 2016-10-13 2016-10-13 B2b连接器无损下针测试方法及装置 Withdrawn CN106546868A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610895476.5A CN106546868A (zh) 2016-10-13 2016-10-13 B2b连接器无损下针测试方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610895476.5A CN106546868A (zh) 2016-10-13 2016-10-13 B2b连接器无损下针测试方法及装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106546868A true CN106546868A (zh) 2017-03-29

Family

ID=58368813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610895476.5A Withdrawn CN106546868A (zh) 2016-10-13 2016-10-13 B2b连接器无损下针测试方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106546868A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108387763A (zh) * 2018-05-04 2018-08-10 苏州市运泰利自动化设备有限公司 一种b2b连接器测试装置
CN112394206A (zh) * 2019-08-14 2021-02-23 华为技术有限公司 测试针组件及测试装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5620346A (en) * 1994-03-03 1997-04-15 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector and connector testing apparatus
US6081124A (en) * 1997-03-31 2000-06-27 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Testing unit for connector testing
CN1941517A (zh) * 2005-09-29 2007-04-04 住友电装株式会社 连接器及连接器组件
TW201042265A (en) * 2009-05-21 2010-12-01 Ro-Ger Chen Flat head probe test socket
CN102403642A (zh) * 2010-09-07 2012-04-04 株式会社友华 连接器连接用检查夹具
CN202259809U (zh) * 2011-09-29 2012-05-30 康而富控股股份有限公司 具有侦测功能的电连接器
CN204203401U (zh) * 2014-11-14 2015-03-11 深圳市明信测试设备有限公司 一种公座连接器测试装置
CN206161768U (zh) * 2016-10-13 2017-05-10 深圳市燕麦科技股份有限公司 B2b连接器无损下针测试装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5620346A (en) * 1994-03-03 1997-04-15 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector and connector testing apparatus
US6081124A (en) * 1997-03-31 2000-06-27 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Testing unit for connector testing
CN1941517A (zh) * 2005-09-29 2007-04-04 住友电装株式会社 连接器及连接器组件
TW201042265A (en) * 2009-05-21 2010-12-01 Ro-Ger Chen Flat head probe test socket
CN102403642A (zh) * 2010-09-07 2012-04-04 株式会社友华 连接器连接用检查夹具
CN202259809U (zh) * 2011-09-29 2012-05-30 康而富控股股份有限公司 具有侦测功能的电连接器
CN204203401U (zh) * 2014-11-14 2015-03-11 深圳市明信测试设备有限公司 一种公座连接器测试装置
CN206161768U (zh) * 2016-10-13 2017-05-10 深圳市燕麦科技股份有限公司 B2b连接器无损下针测试装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108387763A (zh) * 2018-05-04 2018-08-10 苏州市运泰利自动化设备有限公司 一种b2b连接器测试装置
CN112394206A (zh) * 2019-08-14 2021-02-23 华为技术有限公司 测试针组件及测试装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101233415B (zh) 集成电路测试座
DE60124536T2 (de) Prüfsonde und verbindungsstecker
JP6515003B2 (ja) インターフェース装置、インターフェースユニット、プローブ装置及び接続方法
KR200471076Y1 (ko) 전자부품 테스트용 소켓
JP2014513278A (ja) 半導体デバイスの検査装置
DE102006021468A1 (de) Schnittstellenaufbau und Trockengas einschließende Vorrichtung, die diesen verwendet
JP2016038207A (ja) ポゴピン用プローブ部材
CN206161768U (zh) B2b连接器无损下针测试装置
CN106546868A (zh) B2b连接器无损下针测试方法及装置
JP2001235486A (ja) 検査用プローブ、及び該検査用プローブを備えた検査装置
US10866275B2 (en) Automatic test equipment (ATE) contactor adaptor
CN205827366U (zh) 台式机内存条测试保护转接装置
TW201825920A (zh) 用於ｄｃ參數測試的垂直式超低漏電流探針卡
CN104460061A (zh) 测试探头及测试设备
TWM478824U (zh) 探針式檢測裝置之訊號轉接線
US9410986B2 (en) Testing jig
KR101949841B1 (ko) 커넥터 테스트용 멀티 프로브핀
CN202351345U (zh) 一种pcb板上细间距排针的测试装置
KR101479929B1 (ko) 고주파 성능이 향상된 반도체 테스트 장비용 니들블럭
TWI402509B (zh) 扁頭探針測試連接器
US20220349958A1 (en) Working state determination of electronic components
CN206479563U (zh) 探头装置
CN206002798U (zh) 一种短路棒治具的压头结构
CN215986366U (zh) 一种主板全面电性能测试装置
US20130137311A1 (en) Connector assembly

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20170329